JPH04198822A - レーザ光の波長検出方法及び装置 - Google Patents

レーザ光の波長検出方法及び装置

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Publication number
JPH04198822A
JPH04198822A JP33223890A JP33223890A JPH04198822A JP H04198822 A JPH04198822 A JP H04198822A JP 33223890 A JP33223890 A JP 33223890A JP 33223890 A JP33223890 A JP 33223890A JP H04198822 A JPH04198822 A JP H04198822A
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JP
Japan
Prior art keywords
etalon
interference fringes
laser oscillation
oscillation light
photodetector array
Prior art date
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Pending
Application number
JP33223890A
Other languages
English (en)
Inventor
Eisho Shibata
柴田 栄章
Takeshi Oko
大股 健
Yoshito Uehara
上原 義人
Mitsugi Terada
寺田 貢
Yasuo Oeda
靖雄 大枝
Yuichiro Terashi
雄一郎 寺師
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsui Petrochemical Industries Ltd
Original Assignee
Mitsui Petrochemical Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はレーザ光の波長検出方法及び装置に係り、特に
エタロンを使用する形式のものに関する。
〔従来の技術〕
近へ LSIの高密度化に伴い、エキシマレーザを狭帯
域化して配線パターンを形成するリングラフィが注目さ
れている。しかしエキシマレーザはその構造上、波長安
定性に欠けるという問題があるため波長を安定化する装
置が必要である。この波長安定化装置としては発振光の
波長を計測し、その計測結果に基づいてレーザ発振装置
にフィードバック制御をかける方法が一般的である。
ところで、レーザの波長は使用環境や機械的振動等の外
乱によって微妙に変動するためこの波長をいかに高精度
に計測するかが発振波長安定化の鍵となる。レーザ波長
を測定する方法としては種々あるが、比較的簡便で精度
が得られる方法としてエタロン(ファブリペローエタロ
ン)を用いたものがある。この方法は、レーザ光をエタ
ロンに入射させ、第5図に示すよう番へ 透過光が描く
干渉縞20の半径部分を一次元フォトディテクタアレイ
21上に照射する。一次元フォトディテクタアレイ21
はCCD等の感光素子(エレメント)を多数配列したも
ので、干渉縞20の濃淡を信号の強度として出力する。
そして、これら受光素子(エレメント)に与えられた番
号(アドレス)を基礎として各種の演算処理を施し波長
を算出する。
なお、エタロンは気温や湿度の変化によって屈折率が変
動するため、基準の波長を有する基準レーザ発振光を用
いて誤差を補正する方法もある。
これは、基準レーザ発振光と被測定レーザ発振光とをエ
タロン21に導入し、前記基準レーザ発振光による同心
円状干渉縞と被測定レーザ発振光による同心円状干渉縞
との位置差を計測することにより被測定レーザ発振光の
波長を計測するものである。この場合、基準レーザ発振
光と被測定レーザ発振光とは同時または個別に入射して
測定する。
なお、レーザを必要な部分に配光する場合にはバンドル
型光ファイバを用いている。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが、前記した従来の方法でIJ  いずれも干渉
縞と一次元フォトディテクタアレイとの位置関係に絶対
的な精度が要求されるため誤差が大きいという問題があ
る。
即ち、単純な位置調整ミスは勿幕 装置に熱膨張や機械
的振動が加わった場合において頃 干渉縞と一次元フォ
トディテクタアレイとに位置的誤差が生し 正規の位置
と異なった部分に干渉縞が照射されることとなるから前
記受光素子のエレメント番号(アドレス)に狂いが生じ
るからである。
しかも、伝送効率上有利なため用いられているバンドル
型光ファイバは、マルチモードタイプの光ファイバを2
0本程度束ねて構成されているため、光フアイバ内で干
渉が生じ易い。このため一次元フォトディテクタアレイ
にはいくつものモードが混然と発生し強度分布が生じる
こととなる。
さらにこれに伴って出力のピークレベルも変動するため
、絶対波長の正確な換算が困難になるという問題がある
。特に、HeNeレーザはコヒーレンスが良好であるた
め、ファイバーガイドを曲げるまたは振動させる要因が
あればこの問題が顕在化することとなる。
本発明は前記事項に鑑みてなされたもので、干渉縞と一
次元フォトディテクタアレイとの位置関係や光学系に若
干の誤差を生じても、波長を正確に測定することができ
るとともに、測定精度の安定化を図ることができるよう
にしたレーザ光の波長検出方法及び装置を提供すること
を技術的課題とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は前記技術的課題を解決するために、以下のよう
な方法とした 即ち、第1の方法として、被測定レーザ発振光を、シン
グルモード光ファイバを介してエタロンに導入する。
このエタロンから導出された同心円状干渉縞を、その円
の最大直径に対応する位置に配置した一次元フォトディ
テクタアレイ上に照射する。そして、この干渉縞の直径
を計測することにより波長を計測する。
次に第2の方法として、基準レーザ発振光と被測定レー
ザ発振光とをシングルモード光ファイバを介してエタロ
ンに導入する。
このエタロンから導出された各レーザ発振光による同心
円状干渉縞を、そのエタロンから導出された各同心円状
干渉縞の直径部分を包含する位置に配置した一次元フォ
トディテクタアレイ上に照射する。
そして、前記基準レーザ発振光による同心円状干渉縞と
被測定レーザ発振光による同心円状干渉縞との直径の差
を計測することにより被測定レーザ発振光の波長を計測
する。
前記基準レーザ発振光と被測定レーザ発振光とをエタロ
ンに導入する場合、これらを同時に入射してもよいし、
個別に入射してもよい。
さらに 前記技術的課題を解決するために、以下のよう
な装置とした 即ち、第1の構成として、被測定レーザ発振光を導入す
るシングルモード光ファイバと、このシングルモード光
ファイバからの出力光を入光するエタロンを設け、この
エタロンlのレーザ発振光導出側に一次元フォトディテ
クタアレイを配置する。
この一次元フォトディテクタアレイに一次元フォトディ
テクタアレイ上に照射された同心円状干渉縞の位置を測
定する測定手段を接続する。
そして、前記一次元フォトディテクタアレイはエタロン
から導出された同心円状干渉縞の直径部分を包含する位
置に配置してレーザ光の波長検出装置とした また、第2の構成として、基準レーザ発振光と被測定レ
ーザ発振光とを導入するシングルモード光ファイバと、
このシングルモード光ファイバからの出力光を入光する
エタロンを設ける。そしてこのエタロンのレーザ発振光
導出側に一次元フォトディテクタアレイを配置する。
この一次元フォトディテクタアレイに一次元フォトディ
テクタアレイ上に照射された各レーザ発振光による同心
円状干渉縞の位置を測定する測定手段を接続する。
そして、前記一次元フォトディテクタアレイはエタロン
から導出された各同心円状干渉縞の直径部分を包含する
位置に配置してレーザ光の波長検出装置とした さらにシングルモード光ファイバの入射側に凸レンズを
介挿することが好ましい。
なお、前記一次元フォトディテクタアレイはスタティッ
ク型またはダイナミック型のいずれも使用することがで
きる。
また、これらの方法及び装置は、エキシマレーザは勿論
のことあらゆるレーザ装置に適用することができる。
〔作用〕
一次元フォトディテクタアレイはエタロンから導出され
た同心円状干渉縞の直径部分を包含する位置に配置され
ているので、一次元フォトディテクタアレイは同心円状
干渉縞の直径、またはそれに極めて近い弦の距離を検出
することができる。
したがって、同心円状干渉縞ど一次元フォトディテクタ
アレイとの相対位置がずれたとしても、同心円状干渉縞
の直径そのものが変動することはなく、−次元フォトデ
ィテクタアレイ上に照射される同心円状干渉縞の直径を
正確に検出することができる。エタロンへの入射光と干
渉縞の直径とは1対lの対応関係があることが知られて
いるがら、前記装置により得られた同心円状干渉縞の直
径に基づき波長を算出することができる。ここで、エタ
ロンにはシングルモード光ファイバで選択されたモード
のみが入光するため干渉縞に強度の分布や変動が生じる
ことがなく、安定度や精度が良好となる。
また、第2の構成例で(戴 さらに精度を向上させるこ
とができる。
即ち、エタロンからは基準レーザ発振光と被測定レーザ
発振光とによる2組の同心円状干渉縞が得ら枳 光学系
のズレと使用環境の状態変化のいずれに対しても和瓦に
同傾向の変位を生ずる。光学系にズレが生じた場合には
、一次元フォトディテクタアレイで測定されるのは干渉
縞の弦になる。
干渉縞は円形であるから直径と弦の長さは比例する。し
たがって基準レーザ発振光と被測定レーザ発振光とによ
る2組の同心円状干渉縞の寸法比を波長データとして使
用すれば光学系の位置ズレに関係なく正確な測定ができ
る。一方、使用環境の変化による屈折率の変化に対して
も2組の同心円状干渉縞は同一の比率で影響を受けるた
め、両者間の誤差は相殺され容易に補正される。
この例でも、不要なモードはフィルタリングされるため
安定度や精度が良好となる。
なお、前記シングルモード光ファイバとエタロンとの間
に凸レンズを介挿した構成としたもので版 シングルモ
ードのレーザを効率的に集光でき伝送損失を低く抑さえ
ることができる。
〔実施例〕
本発明の実施例を第1図ないし第5図に基づいて説明す
る。
く第1実施例〉 第1実施例を第1は 第2図及び第5図により説明する
被測定レーザ発振光10はシングルモード光ファイバ4
を介して伝送さ法 シングルモード光ファイバ4の先端
に配置された拡散光学系11を介して拡散さ枳 エタロ
ン1に入射される。このエタロン1から導出された導出
光は同心円状干渉縞Cをなしており、この同心円状干渉
縞Cはその最大直径に略等しい長さの一次元フォトディ
テクタアレイ2に照射される。一次元フォトディテクタ
アレイ2は可能な限り同心円状干渉縞Cの直径位置に配
置する。この一次元フォトディテクタアレイ2には測定
手段3を接続されている。この測定手段3は一次元フォ
トディテクタアレイ2の照度情報を入力とし その情報
をコンピュータで処理するものである。具体的には第2
図に示すようE。
一次元フォトディテクタアレイ2の2点に現れる最大照
度点を計測しそのアドレスを減算することにより同心円
状干渉MCの直径を検出することができる。ここで前記
シングルモード光ファイバ4の働きにより不要なモード
は除去されるため、必要な干渉縞だけを得ることができ
る。
前記シングルモード光ファイバ4は単線であり、全体が
スリーブSに被われている。シングルモード光ファイバ
はマルチモード型に比較してコア径が小さく開口数(N
A)が小さいため一般に結合効率が低い。このため、そ
の先端には第5図に示すように石英またはガラス製の凸
レンズ5が取り付けられている。この凸レンズ5によっ
てレーザ光+L  シングルモード光ファイバ4のNA
に合うよう収束さ札 結合効率を向上させることができ
る。
〈第2実施例〉 第2実施例を第3図及び第4図により説明するカC1前
記第1実施例で説明した部分と同一部分には同一符号を
付してその説明を省略する。
拡散光学系11の前段には基準レーザ発振光Rと被測定
レーザ発振光10とを同軸で導入するためのプリズムP
が配置され各レーザ発振光はエタロン1に入射される。
すると、エタロンlからは第4図に示すように基準レー
ザ発振光Rと被測定レーザ発振光10とによる夫々の同
心円状干渉綿CS RCが得られる。そして、一次元フ
ォトディテクタアレイ2のアドレスから、同心円状干渉
縞Cの最内周線の直径はD2、D3(ピーク値)間、同
心円状干渉縞CRの最内周線の直径はDl、D4 (ピ
ーク値)を得る。
そして(D3−D2)/ (D4−DI)の演算を行う
ことによって波長値のデータが得られる。
このよう番ミ エタロンに基準レーザ発振光と被測定レ
ーザ発振光とを導入するように構成することによって光
学系の位置ズレや精度に影響を受けることなく極めて高
精度な波長測定ができる。なお、プリズムPを用いず各
レーザ発振光を交互に入射するようにしてもよい。
〔発明の効果〕
本発明によれば、同心円状干渉縞の直径を測定するよう
にしたので、光学系の位置ズレに影響を受けることなく
正確に測定することができる。また、被測定レーザ発振
光を、シングルモード光ファイバを介してエタロンに導
入するため、不要なモードがフィルタリングされ一次元
フォトディテクタアレイに安定な干渉縞を描かせること
ができ、極めて高精度な波長測定ができる。
なお、エタロンに基準レーザ発振光と被測定レーザ発振
光とを導入する構成を採れば、光学系の位置ズレや精度
に影響を受けることはない。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第5図は本発明の実施例を示し、第1図は
第1実施例に示す装置の側面は 第2図はその動作原理
を示し 同心円状干渉縞と一次元フォトディテクタアレ
イの出力分布との関係を示す1 第3図は第2実施例に
示す装置の側面は第4図はその動作原理を示し、同心円
状干渉縞と一次元フォトディテクタアレイの出方分布と
の関係を示す尺 第5図はシングルモード光ファイバの
先端部の形状を示す断面は 第6図は従来のレーザ光の
波長検出方法の原理を示し、同心円状干渉縞と一次元フ
ォトディテクタアレイの出方分布との関係を示す図であ
る。 1 ・エタロン、 2 ・一次元フォトディテクタアレイ、3 測定手段、 4・シングルモード光ファイバ、 5 凸レンズ。 特許出願人 三井石油化学工業株式会社代理人 弁理士
 佐 藤 宗 徳 同     遠  山     勤 向 松倉秀実 第1図 距章 第2図 第3図 距駐 第4図 第5図 距離 第6図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定レーザ発振光を、シングルモード光ファイ
    バを介してエタロンに導入し、このエタロンから導出さ
    れた同心円状干渉縞を、その円の最大直径に対応する位
    置に配置した一次元フォトディテクタアレイ上に照射し
    、この干渉縞の直径を計測することにより波長を計測す
    ることを特徴とするレーザ光の波長検出方法。
  2. (2)基準レーザ発振光と被測定レーザ発振光とを、シ
    ングルモード光ファイバを介してエタロンに導入し、こ
    のエタロンから導出された各レーザ発振光による同心円
    状干渉縞を、そのエタロンから導出された各同心円状干
    渉縞の直径部分を包含する位置に配置した一次元フォト
    ディテクタアレイ上に照射し、基準レーザ発振光による
    同心円状干渉縞と被測定レーザ発振光による同心円状干
    渉縞との直径の差を計測することにより被測定レーザ発
    振光の波長を計測することを特徴とするレーザ光の波長
    検出方法。
  3. (3)被測定レーザ発振光を導入するシングルモード光
    ファイバと、このシングルモード光ファイバからのレー
    ザ光が入光するエタロンを設け、このエタロンのレーザ
    発振光導出側に一次元フォトディテクタアレイを配置し
    、この一次元フォトディテクタアレイに一次元フォトデ
    ィテクタアレイ上に照射された同心円状干渉縞の位置を
    測定する測定手段を接続し、前記一次元フォトディテク
    タアレイはエタロンから導出された同心円状干渉縞の直
    径部分を包含する位置に配置されていることを特徴とす
    るレーザ光の波長検出装置。
  4. (4)基準レーザ発振光と被測定レーザ発振光とがシン
    グルモード光ファイバを介して導入される光入力部を有
    するエタロンを備え、このエタロンのレーザ発振光導出
    側に一次元フォトディテクタアレイを配置し、この一次
    元フォトディテクタアレイに一次元フォトディテクタア
    レイ上に照射された各レーザ発振光による同心円状干渉
    縞の位置を測定する測定手段を接続し、前記一次元フォ
    トディテクタアレイはエタロンから導出された各同心円
    状干渉縞の直径部分を包含する位置に配置されているこ
    とを特徴とするレーザ光の波長検出装置。
  5. (5)シングルモード光ファイバとエタロンとの間に凸
    レンズを介挿したことを特徴とする請求項3または4に
    記載のレーザ光の波長検出装置。
JP33223890A 1990-11-29 1990-11-29 レーザ光の波長検出方法及び装置 Pending JPH04198822A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995011432A1 (fr) * 1993-10-22 1995-04-27 Komatsu Ltd. Detecteur de longueur d'onde pour laser excimere
JPH11289116A (ja) * 1998-02-03 1999-10-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd エタロン評価方法及びエタロン評価装置並びにレ―ザ発振器

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995011432A1 (fr) * 1993-10-22 1995-04-27 Komatsu Ltd. Detecteur de longueur d'onde pour laser excimere
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