JPH0329802A - 干渉計 - Google Patents

干渉計

Info

Publication number
JPH0329802A
JPH0329802A JP2147508A JP14750890A JPH0329802A JP H0329802 A JPH0329802 A JP H0329802A JP 2147508 A JP2147508 A JP 2147508A JP 14750890 A JP14750890 A JP 14750890A JP H0329802 A JPH0329802 A JP H0329802A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
etalon
optical fiber
interferometer
fiber
interferometer according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2147508A
Other languages
English (en)
Inventor
Gerhard Leuchs
ゲルハルト・ロイクス
Martin Kerner
マルティン・ケルナー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from AT139489A external-priority patent/AT396180B/de
Application filed by Individual filed Critical Individual
Publication of JPH0329802A publication Critical patent/JPH0329802A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02055Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
    • G01B9/02075Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration of particular errors
    • G01B9/02078Caused by ambiguity
    • G01B9/02079Quadrature detection, i.e. detecting relatively phase-shifted signals
    • G01B9/02081Quadrature detection, i.e. detecting relatively phase-shifted signals simultaneous quadrature detection, e.g. by spatial phase shifting
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02055Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
    • G01B9/0207Error reduction by correction of the measurement signal based on independently determined error sources, e.g. using a reference interferometer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/45Multiple detectors for detecting interferometer signals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/60Reference interferometer, i.e. additional interferometer not interacting with object
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/70Using polarization in the interferometer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、干渉計(配置)に関するものであり、さらに
詳しくは、レーザ光源から発せされた光線を測定光線と
参照光線に分割するための光束分割器(ビーム・スブリ
ッタ)を少なくとも1つ備えた光源と、参照光路を通る
参照光線および、これと分かれて気体状の周囲媒体中を
貫通し、可動式の測定用反射鏡によって導かれる測定光
路を通る測定光線を干渉させるための再結合装置と、再
結合装置から発せられた光干渉信号の少なくとも1つを
分析するために、光検出器を少なくとも1つ備えた検出
装置から構成され、とくに可動部分の間隔あるいは移動
距離を測定するための干渉計に関するものであり、また
、ここでこの干渉計は、変動する環境条件を把握もしく
は補正するため、反射面の間の空間が周囲媒体と連通し
、光導波路を通るレーザ光源からの光線によって照射さ
れる既知の長さの静止エタロンを少なくとも1つ備えて
いる。
[従来の技術] 測定光線が周囲媒体(ほとんどの場合は空気)中を貰通
ずる測定光路上を通るような干渉計では、干渉計測結果
はまず、この周囲媒体中の光波長(以下では簡単に空気
波長と呼ぶ)の単位で表わされる。例えば、測定用反射
鏡の移動距離をメートル法で表わすためには、レーザ光
源の発光周波数と周囲媒体の屈折率に左右される空気波
長を正確に知っておく必要がある。発光周波数が分かっ
ている場合には、周囲媒体の圧力、温度、および湿度を
把握し、これを公式に当てはめて屈折率を計算すること
ができる。このようないわゆるパラメータ法の欠点は、
発光周波数をできるだけ正確に知っておかねばならない
ことと、空気成分など、圧力、温度、および湿度以外の
パラメータが屈折率やさらには空気波長に影響を与える
ことである。
既知の長さの測定基準と空気波長を干渉測定で比較する
ことによって、空気波長を直接測定することができる。
静的な測定基準としては、既知の基準間隔を置いて2つ
の反射面が配置されたいわゆるエタロン(ブロッック・
ゲージ)が適しており、また、ここでこのエタロンは「
開放竹」である、すなわち反射面の間の空間が周囲媒体
と連通している。変動する環境条件(周囲媒体の屈折率
)の把握および補正のためこのようなエタロンを使用す
る場合には、2種類の別々の問題が生じる。第1に、エ
タロンの反射面の間(エタロンが複数である場合には、
各エタロンの間)が、測定光路と事実上同じ環境条件に
なければならない。
従来の装置では、測定光路から離れた位置で干渉111
を構戚する他の光学機器の近くにエタロンが配置される
ことが多く、とくにエタロン内の周囲媒体と測定光路上
の周囲媒体の温度や湿度が巽なる恐れがあり、したがっ
て測定結果の精度が低下する可能性があった。
環境条件を把握し、もしくは補正するため、1つあるい
はそれ以上のエタロンを用いる場合に生しるもう1つの
問題は、角“度調節に対する感度の問題である。干渉信
号を測定する光路差は、予想される通り、エタロンの長
さ(2つの反射面の間隔)だけでなく、光線が干渉計に
入射する角度にも影響される。角度の許容誤差は、干渉
計およびエタロンの長さの精度をどの程度に設定するか
によって決まる。典型的なエタロンは、長さが約l c
mで、相対的な空気波長精度がlロ−7であり、この場
合には、角度の最大許容誤差は15分(共線照射エタロ
ン)もしくは数秒(拡散照射エタロン)である。いずれ
にしても、従来の構造の干渉計では、実際の使用で角度
の精度要求を満たすことは困難である。
プレー1・形の支持抽板上に組み込んだ光導波路を持つ
干渉計が、すでに知られている(DE−OS 37+5
 6271。この干渉計では、環境条件の輔正に原理的
に適合するように、空気を満たした装置が支持基板に接
続され、支持基板の表面とともに一種のエタロンを形成
している。ただ、この「エタロン」は、測定光路から離
れた位置にある支持基板の横に固定されており、「エタ
ロン」内と測定光路上の環境条件(とくに温度と湿度)
を必ずしも同じにすることはできない。しかし、正確な
測定結果を得るには、このような前提条件がとうしても
必要である。
1l l2 本発明の課題は、1つあるいはそれ以上のエタロンを用
いて測定光路上の変動ずる環境条件を把握もしくは補正
することができ、また、測定光路」ユの実際の空気波長
を正確に測定できる、小型で操作が簡単な、とくに産業
用の位置測定に適した、冒頭で述べたような種類の干渉
計を提供することである。
本発明によれば、jつあるいはそれ以上のエタロンに接
続する光導波路を、レーザ光源から発せられた光源を誘
導する可とう性の光ファイバとすることによってこの課
題が解決される。
可とう性の光ファイバにエタロンを接続することによっ
て、費用がかかる調節用の光学部品を用いずにエタロン
を測定光路部分もしくはその近くに配置することができ
、また、1つあるいはそれ以上のエタロンの反射面の間
の環境条件を測定光路上と事実」―同じにすることがで
きる。
媒体条件についてみると、屈折率の相対差が可動部分の
位置変化の測定精度要求と同じかそれ以下であれば、ど
んな場合であってもその媒体条件は実質的に同じである
。例えば、1mの移動距離で測定誤差を0.1  lb
m以下にしたい場合、媒体条件を実質的に同じと見なす
ためには、上記のような屈折率の相対差が △n/n 
 < 10−’でなければならない。
また、測定光路上の媒体の圧力、温度、おJ;び湿度、
あるいは成分が変化した場合に、エタロン内の拡散過程
によって「同じ」環境条件になるまで待たなければなら
ないようでは望ましい装置とはいえない。したがって、
とくに、各エタロンに2つの開口部を設け、換気装置に
よって発生させた気流が1つあるいはそれ以上のエタロ
ン内を通るようにする。
実際には、エタロンの反射面に対する角度を調節できる
保持器に、ファイバのエタロン側の先端を調節して取り
付ける。こうすることによって前述したエタロンの角度
調節に対ずる感度の問題を解決し、エタロンの実際の位
置に関係なく常に正確な角度調節を行なうことができる
。したがって、離れて配置された別の光学機器との関係
でエ1 4 クロンを調節する必要はなく、エタロンは、測定光路の
近くの適切な位置に自由に配置することができる。実際
に使用する場合には、これは大変重要な長所である。
本発明の好ましい実施例では、1つあるいはそれ以上の
エタロンを接続する可とう性光ファイバを単一モード光
導波路、とくに単一モード・グラス・ファイバとする。
互いに平行に向かい合った光線が、平行に並んだ反射面
に対して垂直に、エタロンの2つの反射面の間の空間に
入るよう、光ファイバのエタロン側の先端とエタロンの
2つの反射面の1つとの間に規準レンズを配置する共線
照射エタロンの場合に単一モードの光導波路を用いると
、適切な精度の規準レンズを通過して結像した後に、エ
タロンの共線照射に最適の波面を形成するような、明確
な波面が単一モード光導波路内に存在するという効果が
ある。
立体的な干渉リング・パターンを分析する拡散照射エタ
ロンの場合には、干渉リングは原理的に、拡散光源の位
置ではなく、エタロンの空間的l 5 位置と方向、およびエタロンの後ろで干渉リング配列を
作り出すレンズに影響される。均一に照射された干渉リ
ング配列を得るためには、あらゆる角度の均一な光線を
エタロンに供給することが重要である。これまでは、レ
ンズを通じて検査用光線を拡散させることによってこの
均一な光線供給を達威しようとしてきた。しかし、立体
的な干渉リング配列を正確に測定するには、レンズだけ
でなく、光線の波面も非常に高品質でなければならない
。こうしないと、干渉リング配列は均一に照射されず、
また、正しい分析もできない。このため、光線が完全に
拡散してからエタロンに入るように、すりガラス板を通
じてエタロンを照射する試みも行なわれた。干渉性のレ
ーザ光線をすりガラスに照射すると、干渉リング配列が
明確に写るレンズ焦点面に不規則なスペックル・パター
ンが生じ、これがリング配列と重なり合って干渉リング
の位置の正確な分析ができなくなる。本発明の好ましい
実施例では、一方の先端をエタロンの反射面の1つから
決まった間隔のところに固定、もl 6 しくは調節できる単一モード光ファイバを通じてエタロ
ンを照射し、また、単一モード光ファイバから出る円錐
形の光でエタロンを照射することによってこのような問
題を解決する。単一モード光導波路(例えば単一モード
・グラス・ファイバ)の先端は完全な点光源である。こ
うすることにより、正確で、均一に照射された干渉リン
グ配列を簡単な方法で得ることができる。
単一モード光ファイバの先端からそれ、部分的反射を行
なう反射面を通じて出てくる等傾角干渉は、この反射面
の後ろで収束レンズによって結像させ、また、とくにこ
のレンズの焦点面の光軸の半径方向の外側には、干渉リ
ング配列を把握する光検出装置を配置する。
変動する環境条件を補正するため、本発明の好ましい実
施例では、周囲媒体中の波長が一定に保たれるように、
1つあるいはそれ以上のエタロンの反射面の間にある周
囲媒体の屈折率にしたがってレーザ光源の周波数を変化
させる。このように空気波長を一定に保てば、エタロン
から発せられる干渉信号を一定に保つことだけが問題と
なり、したがってこの干渉信号が簡単に分析できるよう
になるが、拡散照射エタロンの場合には、例えば干渉リ
ング配列の1つを把握する差動型ダイオードによってこ
れが可能になる。この場合には、把握される干渉リング
が差動型ダイオードの中心に常に正確に位置し、空気波
長が一定に保たれるよう、差動型ダイオードから発せら
れる信号によって、電子調節装置が光源の周波数を調節
することができる。
本発明の好ましい実施例によって、レーザ共振器が周波
数を選んで共線照射エタロンからの光線を再結合させる
ようなレーザ・ダイオードを光源として用いれば、発光
周波数で再結合光線と反応するというレーザ・ダイオー
ドの特徴を有利に利用することができる。エタロンから
選択的にレーザ・ダイオードのレーザ共振2xに入り、
選択的に再結合した周波数によって、決まった範囲内の
レーザ・ダイオードの発光周波数がこの周波数に調節さ
れる。前述した光の再結合によるレーザ・ダイオードの
調節は、エタロンが把握した空気波長に従って、レーザ
・ダイオードの発光波長を左右する作動パラメータ(投
入電流の大きさ、使用温度)を調節する電子調節によっ
て補助することができる。
1つあるいはそれ以上のエタロンの取扱いを簡単にする
には、エタロンと反対側の光ファイバ先端とレーザ光源
からの光線を導く光ファイバをファイバ・コネクタによ
って取外し可能なように接続することが望ましい。この
ような接続部は、例えば、レーザ・ダイオードおよび/
あるいは分析用電子部品を収容するハウジングに設ける
ことができる。こうすれば、エタロンはただ「取り付け
る」だけでよい。エタロンへ続くグラス・ファイバの測
定光路部分から光源までの長さを調節するには、本発明
の好ましい実施例によれば、エタロンに接続する光ファ
イバと光源の間に別の光ファイバを配置し、その光源側
の先端を第1のファイバ・コネクタによってレーザ光源
からの光ファイバと分離できるように接続し、また、エ
タロン側の先端を第2のファイバ・コネクタによってエ
タロンへ続く光ファイバと分離できるJ:うに接続ずる
ことが望ましい。このJ;うに別の光ファイバを用いれ
ば、そのときの空間的状況に合わせてグラス・ファイバ
の長さを簡Jl5−に調節でき、また、グラス・ファイ
バの取り付けも簡単になる。
本発明の好ましい実施例では、エタロンと光源の間の光
ファイバの光路の全長は、少なくとも 1mであり、ま
た、できれば少なくとも 10m以上あることが望まし
い。このような特徴によって、光源とエタロンの第1反
射面との間に形成される「準エタロン」で再結合した邪
魔な光がレーザ光源へ戻るのを防止する。光ファイバの
光路長を長くするには、適切な長さの別の光ファイバを
接続すればよいが、こうすることによって「準エタロン
」からの最大反射を、準連続的な再結合が必要な波長精
度の範囲内でしか問題にならない程度に抑え、必要な波
長精度の範囲内ではこれがレーザ光源、とくに再結合に
対して敏感なレーザ・ダイオドの発光周波数に影響を与
えないようにする。
l 9 2 0 比較的短い距離(反射面の間隔が数mmの範囲内)から
の干渉信号(例えば干渉リングの位置)が必要な精度で
測定できない場合、もしくは一定に維持できない場合に
は、より厳密な干渉パターン分析が可能な、長さが10
倍から30倍ほどの第2のエタロンを組み入れることが
できる(階段式エタロン)。
以下に、発明の長所と詳細について、図を用いて詳しく
説明する。
第1図に示した干渉計は、干渉計ヘッドlと、干渉計ヘ
ッド1にレーザ光線を供給ずるためのレーザ・ダイオー
ド2と、干渉計ヘッド1から出る干渉信号を分析するた
めの検出装置3を備えている。干渉計ヘッド1は、ハウ
ジング4によって覆われており、その内部に単一モード
・グラス・ファイバで接続された複数の光学部品を備え
ているが、以下ではこの光学部品について詳しく説明す
る。レーザ・ダイオード2から発せられたレーザ光線は
、光ファイバ6を通って光束分割器7に到達し、ここで
d円定光線と参照光線に分割される。測定光線は、グラ
ス・ファイバ8および減結合レンズ9(屈折率分布形レ
ンズ)を経由して、干渉計ヘッドの外側に位置し、周囲
媒体を貫通ずる測定光路上を通過する。参り召光線は、
干渉計ヘッド1の中の参照ファイバ10を通る。矢印1
1の方向に移動可能な部分(図示せず)には再帰反射鏡
12を取り付ける。測定光線は、再帰反射鏡12によっ
て反射し、位置を変えて干渉計ヘッド】へ戻る。測定光
線は、前述のレンズとは別の収束レンズ13を通過し、
グラス・ファイバ14に入る。ファイバ結合器として設
計した再結合装置l5の中で、測定光路から戻ってきた
測定光線と参照ファイバ10によって導かれた参照光線
を干渉させる。再結合装置15の2つの相補的な出口1
6および17には、2つの別々の光束分割器18オよび
19を接続する。
位相のずれた干渉信号は、偏光フィルタ20a − d
を通り、検出装置3へ続く光ファイバ21a − dへ
伝わる。それぞれ互いに90度ずつ位相がずれているこ
の4つの干渉信号をもとに、既知の方法によって、再帰
反射鏡12の移動距離のほか、その柊2 2 動方向や、干渉信号の変調振幅が算出される。ここで説
明する干渉計は、互いに直角に交わる2つの偏光によっ
て作動する。したがって、レーザ・ダイオードの直線偏
光光線から互いに直角に交わる2つの偏光を持つ光線を
作り出すため、偏光子22を取り付ける。どちらの偏光
成分も同じ光路をたどる。また、一方の偏光方向の位相
を他方に対して90度ずらすため、参照ファイバ10に
 ん/4プレートを配置する。
検出装置3は、4個の光検出器24a − dを備えて
いる。この4個の光検出器24a − dによって光干
渉信号を電気干渉信号に変換し、これを電子装置によっ
て分析する。測定結果(再帰反射鏡12の位置)は、表
示装置25で表示する。
レーザ・ダイオード2は、光源および分析装置ハウジン
グ27の内部を断熱壁26によって区切ってできた小室
内に配置する。
以下で詳しく述べるが、変動する環境条件(測定光路上
の周囲媒体の屈折率の変動)を補正するため、静止エタ
ロン41の部分透過性の反射面42と43の間にある空
間は、開口部44によって周囲媒体と連通させる。エタ
ロン41の長さ(平行に並んだ部分透過性反射面42と
43の間隔)は既知のものであり、通常は数mmである
。熱膨張係数が無視できるほど小さい素材(例えばガラ
スセラミックス)でできたリング45を用いて、2つの
反射面42と43を既知の望ましい間隔に保つ。本発明
によれば、レーザ・ダイオード2からの光線を導き、図
面上ではエタロン41のすぐ近くまで(他のすべての光
ファイバと同様)1本の線で示された、可とう性光ファ
イバ46にエタロンを接続する。この光ファイバ46に
よって、費用のかかる調節用の光学部品を用いずに、エ
タロンを測定光路部分の適切な位置に、適切な向きで配
置することができる。
再帰反射鏡l2は測定光路に沿って移動するが、こうす
ることによって、測定光路上と反射面42および43の
間とを事実上同じ環境条件(屈折率)にすることができ
る。
反射面42および43に対してグラス・ファイバの先端
を完全に調節できるよう、ファイバ先端は、2 3 2 4 間隔保持器4&に取り付けたリング状の保持装置47に
よって保持する。こうすることによって、必要な精度の
光照射角度が常に保証される。
この実施例では、光ファイバ46は、先端が理想的な点
光源となる単一モード・グラス・ファイバである。この
ため、反射面43の後ろには、レンズ49を通じて結像
し、正確で、均一に照射された干渉リング配列が生じる
。この干渉リング配列のうちの1つの干渉リングを、レ
ンズと同様に保持器51で固定された差動型ダイオード
50が把握し、さらにこれは、把握した干渉リングの位
置に従って、プラグ58を用いて取り付けた導線52を
通じて信号をレーザ・ダイオードー調節装置3lへ供給
する。
レーザ・ダイオード2の発光周波数は、一方で投入電流
と温度によって調節し、他方でエタロン41からの光の
再結合によって周波数選択的に干渉計ヘッド1の中で調
節する。間隔が約5 mmであるエタロン41の反射面
42と43の間には、測定光路上と同じ周囲媒体を入れ
る。周囲媒体の屈折率が変化し、それによってエタロン
41内の空気波長が変化すると、差動型ダイオード50
が把握する干渉リングの位置も変化する。これをもとに
して、調節装置3lが,投入電流工とレーザ・ダイオー
ド温度T(ベルチェ素子31′)によってレーザ・ダイ
オードの作動温度を変化させ、測定光路上(およびエタ
ロン内)の空気波長が一定に保たれるようにレーザ・ダ
イオードの発光周波数を調節する。
このような発光周波数の電子的調節に加えて、レーザ・
ダイオードの光学的調節が行なわれるが、この場合には
、エタロン41の反射面の間の周囲媒体の屈折率に従っ
て光線を周波数選択的にレーザ・ダイオードへ再結合さ
せ、その光線によってレーザ・ダイオードをその周波数
で発光させる。このような光再結合信号を得るには、第
2図に示したような共線照射エタロンが望ましいと考え
られる。
本発明の好ましい実施例によれば、エタロンへ接続する
光ファイバ46と、光束分割器54を通じてレーザ光線
を供給する光ファイバ55との間に別の光ファイバ53
を配置し、その光源側の先端を第1のファイバ・コネク
タ56によってハウジング27のところで光ファイバ5
5と分離できるように接続し、また、そのエタロン側の
先端をエタロンへ続く光ファイバ46と分離できるよう
に接続する。このような別の光ファイバを用いれば、取
付けが簡単になり、そのときの状況に応じて長さが調節
でき、破損したときには簡単に交換することができる。
レーザ・ダイオードの発光周波数が、例えばレーザ・ダ
イオード共振器の表面とエタロン41の第l反射面との
間に形成される「準エタロン」から発生ずるような、調
節不能の周波数選択的な再結合によって好ましくない影
響を受けないよう、レーザ・ダイオード2とエタロン4
1の間に、少なくとも in  の光路長がある光ファ
イバ53を配置する。
同様の考えから、レーザ・ダイオード2と干渉計ヘッド
1との間に、少なくとも lm  の光路長がある光フ
ァイバ32を配置する。
レーザ光線を干渉計ヘッドに供給する単一モド光ファイ
バ32と、光ファイバ21a − dからの光干渉信号
を光検出器24a − dに供給する4本のプラスチッ
ク製光ファイバ33a − dは、外被36で周囲を包
んで1本のケーブルにする。ファイバ・ケーブル35は
、光源側先端を2つの部分から成る多重ファイバ・コネ
クタ37によって光源/分析装置ハウジング27の中の
光ファイバと分離できるように接続する。詳細に説明す
ると、レーザ・ダイオードから伸びる光ファイバ38は
、単一モード・グラス・ファイバ33と分離できるよう
に接続する。ファイバ・ケーブル35内の4本のプラス
チック製光ファイバ33a − dは、プラグ37によ
って、光検出器24a − dへ伸びる光ファイバと接
続する。
ファイバ・ケーブル35の干渉計ヘッド側の先端には、
ファイバ・ケーブル35の各ファイバと干渉計ヘッド内
の刻応ずる光ファイバを接続するための第2のファイバ
・コネクタ40を取付ける。詳細に説明すると、単一モ
ード・グラス・ファイバ322 7 2 8 は、ブラグ40によって単一グラス・ファイバ6と接続
する。さらに、光ファイバ21a − dと、ファイバ
・ケーブル35内の光ファイバ33a − dを光学的
に接続する。ファイバ・ケーブル35は、そのときの使
用条件に応じて最低限必要な光路長さを考慮して簡単に
調節でき、取付けが簡単で、また、損傷が起こったとき
に簡単に短時間で交換することができる。交換するとき
には、費用のかかる調整作業を必要としないので、ファ
イバ・ケーブルをユーザー自身の手で交換することでき
る。
第2図は共線照射エタロン41の実施例を示したもので
あり、これによれば、レーザ光源から発せられた光線を
導き、第1図で示した実施例と同様に少なくともエタロ
ンを測定光路の近くに配置できるだけの長さを持ったグ
ラス・ファイバ46にこれを接続する。
エタロン41の周囲を囲む媒体が変化した場合に、測定
光路上とエタロン41内の条件とをできるだけ短い時間
で同しにするため、エタロン41に2つの開口部44と
86を設け、換気装置86によって発生させた気流がエ
タロン41内を通れるようにする。気流は、測定中は流
さない。
第2図に示したエタロンは、屈折率分布形レンズとして
設計した規準レンズ59を備えており、これとグラス・
ファイバ46の先端とを保持器によって正確に調節して
連結する。屈折率分布形レンズ59の出口側の平らな表
面は、鏡を形成するよう処理し、エタロン41の2つの
部分反射性反射面42および43のうちの一方として機
能させる。反射面42と43の間は、開口部44を備え
た、熱膨張係数の非常に小さいリング45を用いて、明
確に限定された既知の間隔に保つ。部分反射性反射面4
3を通過する光線の振幅内に含まれる、エタロン内の環
境条件についての情報は、導線52によって調節/分析
装置と接続された光検出器60によって把握する。
レーザ光源の強度の変動による影響を受けないようにす
るには、レーザ光源の強度を把握し、エタロン41から
の干渉信号をその参照信号と照らし合わせて分析するこ
とが望ましい。これは第3図に示した実施例によって可
能となる。X形ファイバ結合器6lを、その第l接続部
61aで、レーザ光源からの光線を導く光ファイバ62
と接続する。
ファイバ結合器6lへ供給された光線は、第2接続部6
lbで接続された光ファイバ46へ伝わる光線と、第3
接続部61cで接続された光ファイバ63へ伝わる光線
とに分かれる。光ファイバ63は、導線65を通じてレ
ーザ光源の強度に応じた電気参照信号を供給する光検出
器64へと伸びている。エタロン41から出た干渉信号
は、再結合して光ファイバ46へ戻り、ファイバ結合器
61f7q第4接続部61dを通って光ファイバ66へ
達し、さらに導線68を通じて電気干渉信号を供給する
光検出器67へと伝わるが、この電気干渉信号は、導線
65を伝わる電気信号とともに、図示されていないレー
ザ光源用の電子分析回路もしくは調節回路によって分析
される。エタロン41から出た再結合信号は、環境条件
に応じた周波数選択的な再結合信号として、光ファイバ
62を通じてレーザ光源へ戻る。
干渉パターンを把握する場合の精度を高めるために、長
さの異なる2つあるいはそれ以上のエタロンを配置し、
最も短いエタロンから順に干渉信号情報を連続的に明確
化していくことができる。
第4図に示した実施例では、第1図に示したエタロンと
原理的に同じ構造で、長さが異なる2つのエタロン41
と41′が配置されている。グラス・ファイバ69を通
じて供給された光線は、光束分割器70によって、光フ
ァイバ46と46′へ進む光線に分割される。短い方の
エタロンは、開口部44を備えた間隔リング45によっ
て保持された部分反射性の反射面42と43を備えてい
る。単一モード・グラス・ファイバ46の先端は、間隔
保持器48に取付けられた、グラスファイバの一部をま
わりから押える保持部品47によって保持する。図示し
ていない手段によって保持されたレンズ49の焦点面に
は干渉リング配列が生じるが、これを光検出器50によ
って把握する。
長い方のエタロン41′は、短い方のエタロン41と原
理的に同じ構造であるため、対応する部品にはエタロン
41と同じ参照番号を用いたが、エタロン41′の方の
参照番号にはダッシュ(′)を付し3l 3 2 てある。
第4図に示した階段式エタロンは、エタロン内部と周囲
の空気とが連通ずるよう、開口部72および72′ を
備えたハウジング7l内に収容されている。
エタロン内部と周囲空気との連通は、換気装置86によ
って72 − 44’ − 85′− 44 − 85
 − 73  と流れる気流を発生させることによって
容易になる。
名目上静的な測定基準(エタロン)を用いた干渉測定に
よる比較では、空気の屈折率に対する周囲の影響を把握
、もしくは補正しなければならない。基準となる長さ(
通気口付きエタロンの間隔保持器の長さ)自体が周囲の
影響、とくに温度の影響を受けてしまうため、完全に静
的なエタロンを実現することは非常に困難である。しか
し、熱膨張係数が非常に小さい特製ガラスセラミックス
のような適切な素材を用いれば、エタロンに対する周囲
の影響を lロ−6以下に抑えることができる。ただ、
このような主としてエタロンの温度依存性によって生じ
る不正確さは、測定距離が短い場合には許容できるが、
測定距離が数メートルに及ぶような場合には大きすぎる
と考えられる。
当然の結果として、周波数安定性アルゴンイオン・レー
ザの場合と同じように、エタロンの温度を安定させる方
法が考えられるが、これだとエタロン内と実際の測定光
路上の空気の温度が同じにならず、したがって波長も異
なり、正しい測定ができなくなるため、この方法は望ま
しくない。
したがって、長さの基準(エタロン)を絶対的に安定さ
せることはあきらめ、エタロンの、さらに厳密にいえば
、2つの反射面42と43の間隔保持器の温度を測定す
ることによって測定精度を改善する。このため、第5図
のように、間隔リング45の穴に温度感知器80を配置
する。エタロンの長さが温度によってどの程度変化する
かが分かつていれば、測定結果を修正することができる
。この方法によって測定精度を高める場合には、エタロ
ンの間隔保持器に用いる素材の熱膨張係数の低さはあま
り問題ではなく、素材の縦方向の熱膨張係数が分かって
いることの方が重要である。したがって、熱膨張係数が
多少大きくても、費用の安い素材を使用することができ
る。温度測定には、導線81によって電気発振器回路に
組み込まれ、その温度依存性の共振周波数が把握される
ような水晶温度感知器80がとくに適している。とくに
望ましいのは、優れた、ほとんど直線的な周波数・温度
特性曲線を示す音叉・水晶発振子である。この発振子は
、比較的簡単な発振子回路で調節することができる。こ
のような温度測定装置の本質的な特長は、電力消費が小
さいことや、長期安定性、およびサイズが小さいことで
ある。
特定の材質の加工部材の長さを測定する場合には、エタ
ロンの間隔保持器を加工部材と同じ素材で製造すること
によって、エタロンの熱膨張を補正できると考えられる
。こうすることによって同じ温度下では加工部材とエタ
ロンが相対的に同じ長さだけ変化するようになり、した
がって加工部材の熱膨張を計算する必要がなくなり、さ
らにこれが自動的に補正される。
第1図に示したエタロンと第5図に示したエタロンとは
、単一モー1!・グラス・ファイバ46の先端とエタロ
ンの間に、グラス・ファイバ46から出た光線の拡散を
減少させ、すべての光線をリング配列の偏心部分(斜線
部83)に集中させるレンズを配置した点が異なる。こ
の場合には、レンズ82を通りほぼ共線的となった光束
が、反射而42と43に直角に交わる直線に対して小さ
い角度で(すなわち、やや斜めに)エタロン41内へ入
る。完全に拡散した光線でエタロンをn.6射した場合
には、点線で示した配列84のようなリング配列が得ら
れるが、これとは対照的に第5図の配置のエタロンの場
合、斜線部83の光強度を高めることができ、第5図に
は示していないが、この部分に差動型光ダイオードを配
置することができる。このようにエタロンをほぼ共線的
に明射することによって局所的な光強度を高めれば、差
動型光ダイオードによって横方向の干渉パターンの位置
をさらに確実に高い信頼度で把握することができる。
第5図の配11tの装置を外被で包んだものを示し35 3 6 たのが第5図aであるが、ここでは、換気装置86が空
気変動の補正だけでなく、回路部分90の冷却の役割も
果す。各測定ごとに換気装置86の始動と停止を繰り返
す必要がないよう、換気装置86ぱ作動状態のまま空気
を開口部88および89から吸弓し、エタロン41内の
気流を磁気バルブ87で遮断する。
上記の実施例では、1つあるいはそれ以上のエタロンか
らi−tた十渉信弓を、空気波長が一定に保たれるよう
環境条件に従って光源周波数を調節するために利用する
。空気波長を一定に保つことによって、エタロンから得
られる干渉信号の「読取りjが容易になる。また、原理
的には、例えば光線が通過するエタロンの後ろに設けた
ダイオード領域を通じて、空気波長あるいは周囲媒体の
屈折率を絶えず把握し、これを電子分析回路で計算し、
?flt iTEずることも可能である。
本発明は、上記各実施例の構造上の方法に限定されるも
のではない。エタロンの構造やエタロンに接続する光フ
ァイバの配置については、多くの方法が考えられ、また
、可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、干渉計ヘッドへ通じ、またそこから伸びる光
ファイバ・ケーブルの一部を拡大して示した、本発明に
よる干渉計配置の実施例であり、第2図は、グラス・フ
ァイバに接続された共線照射エタロンの実施例であり、
第3図は、共線明射エタロンからの干渉イ51号を分析
するための配置の略図であり、第4図は、長さが異なる
2つのエタロンから構成される階段式エタロンの略図で
あり、第5図は、さらに別の実施例の略図であり、また
、第5図aは、第5図による実施例を外被で覆ったもの
である。 (ほ力)3ノL)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、レーザ光源から発せられた光線を測定光線と参照光
    線に分割するための光束分割器(ビーム・スプリッタ)
    を少なくとも1つ備えた光源と、参照光路を通る参照光
    線および、これと分かれて気体状の周囲媒体中を貫通し
    、可動式の測定用反射鏡によって導かれる測定光路を通
    る測定光線を干渉させるための再結合装置と、再結合装
    置から発せられた光干渉信号の少なくとも1つを分析す
    るために、光検出器を少なくとも1つ備えた検出装置か
    ら構成され、また、変動する環境条件を把握もしくは補
    正するため、反射面の間の空間が周囲媒体と連通し、光
    導波路を通るレーザ光源からの光線によって照射される
    既知の長さの静止エタロンを少なくとも1つ備え、1つ
    あるいはそれ以上のエタロン(41あるいは41′)と
    接続する光導波路が、レーザ光源(2)からの光線を導
    く可とう性の光ファイバ(46あるいは46′)である
    ことを特徴とする、とくに可動部分の間隔あるいは移動
    距離を測定するための干渉計。 2、エタロンに接続する各可とう性光ファイバ(46、
    46′)が、それ自体は既知の単一モード光導波路であ
    り、望ましくはそれが単一モード・グラス・ファイバで
    あることを特徴とする、特許請求項1記載の干渉計。 3、エタロンに接続する光ファイバ(46)のエタロン
    側の先端が、ファイバ・コネクタ(57)によってレー
    ザ光源(2)からの光線を導く光ファイバ(53)と分
    離できるよウに接続されていることを特徴とする、特許
    請求項1あるいは2記載の干渉計。 4、エタロン(41)に接続する光ファイバ(46)と
    レーザ光源(2)との間に別の光ファイバ(53)を配
    置し、その光源側の先端が第1のファイバ・コネクタ(
    56)によってレーザ光源(2)から伸びる光ファイバ
    (55)と分離できるように接続され、また、エタロン
    側の先端が第2のファイバ・コネクタ(57)によって
    エタロン(41)へ伸びる光ファイバ(41と分離でき
    るように接続されていることを特徴とする、特許請求項
    3記載の干渉計。 5、エタロン(41)と光源(2)の間の光ファイバ(
    55,53,46)の光路の全長が少なくとも1mであ
    り、望ましくはこれが少なくとも10m以上であること
    を特徴とする、特許請求項1−3記載の干渉計。 6、別の光ファイバ(53)の光路長が少なくとも1m
    であり、望ましくはこれが10mであることを特徴とす
    る、特許請求項4および5記載の干渉計。 7、それぞれ可とう性光ファイバ(46あるいは46′
    )に接続し、長さが異なる2つあるいはそれ以上の開放
    性エタロン(41、41′)を備えていることを特徴と
    する、特許請求項1−4記載の干渉計。 8、エタロン(41)側のファイバ先端が、エタロン(
    41)の反射面(42、43)に対し、望ましくは調節
    可能な保持装置(47)で調節されていることを特徴と
    する、特許請求項1−7記載の干渉計。 9、エタロン(41)を照射する望ましくは単一モード
    光ファイバ(46)の先端からエタロンの一方の反射面
    (42)までの間隔が一定であるか、もしくは一定に調
    節でき、また、光ファイバ(46)から拡散する円錐形
    の光線によってエタロン(41)を照射することを特徴
    とする、特許請求項1−8記載の干渉計。 10、他方の反射面(43)の後ろに収束レンズ(49
    )が配置され、その焦点面の、望ましくは光軸の半径方
    向の外側に干渉リング配列を把握する光検出装置(50
    )が配置されていることを特徴とする、特許請求項9記
    載の干渉計。 11、光検出装置が差動型ダイオード(50)であるこ
    とを特徴とする、特許請求項10記載の干渉計。 12、光ファイバ(46)とエタロンの間に、光ファイ
    バ(46)から出る円錐形の光線の拡散を減少させるレ
    ンズ(82)が配置され、また、レンズ(82)を通過
    してほぼ共線的となった光束が、エタロン(41)の2
    つの反射面(42、43)に直角に交わる直線に対しあ
    る一定の角度でエタロン(41)内へ入射することを特
    徴とする、特許請求項9−11記載の干渉計。 13、光ファイバ(46)のエタロン側の先端とエタロ
    ン(41)の2つの反射面(42、43)の一方(42
    )との間に規準レンズ(59)が配置され、ここを通っ
    た光線が互いに平行に、また、平行に並んだ反射面(4
    2、43)に対して直角に、エタロン(41)の2つの
    反射面(42、43)の間にある空間に入射することを
    特徴とする、特許請求項1−8記載の干渉計。 14、規準レンズが屈折率分布形レンズ(59)であり
    、その平らな表面が鏡になるように処理され、また、エ
    タロンの一方の反射面(42)を形成することを特徴と
    する、特許請求項13記載の干渉計。 15、エタロン(41)の第2反射面(43)の後ろに
    、エタロン(41)から供給される干渉信号を把握する
    光検出器(60)が配置されていることを特徴とする、
    特許請求項13あるいは14記載の干渉計。 16、エタロン(41)と規準レンズ(59)の間にX
    形ファイバ結合器(61)が配置され、これがその第1
    接続部(61a)によってレーザ光源からの光線を導く
    光ファイバ(62)に接続され、その向い側に位置する
    第2接続部(61b)によってエタロン(41)へ伸び
    る光ファイバ(46)に接続され、第2接続部の隣に位
    置する第3接続部によって第1光検出器(64)へ伸び
    る光ファイバ(63)に接続され、また、第1接続部の
    隣に位置する第4接続部(61d)によって第2光検出
    器(67)へ伸びる光ファイバ(66)に接続されてい
    ることを特徴とする、特許請求項13あるいは14記載
    の干渉計。17、1つ(41)あるいは2つ以上の(4
    1、41′)エタロンの反射面(42、43あるいは4
    2′、43′)の間にある周囲媒体の屈折率に従って、
    周囲媒体の波長が一定に保たれるようレーザ光源(2)
    の周波数を変化させることを特徴とする、特許請求項1
    −16記載の干渉計。 18、レーザ光源がレーザ・ダイオード(2)であり、
    少なくとも1つのエタロン(41)から出た光線が、1
    つ(41)あるいは2つ以上の(41、41′)エタロ
    ンの反射面(42、43あるいは42′、43′)の間
    にある周囲媒体の屈折率に従って、レーザ・ダイオード
    (2)のレーザ共振器において周波数選択的に再結合す
    ることを特徴とする、特許請求項17記載の干渉計。 19、エタロンが、2つの反射面(42、43)の間隔
    保持器(45)の温度を把握するための温度感知器(8
    0)を備えていることを特徴とする、特許請求項1−1
    8記載の干渉計。 20、温度感知器が間隔保持器(45)の穴に備えられ
    ていることを特徴とする、特許請求項19記載の干渉計
    。 21、温度感知器が電気発振器回路内に配置された水晶
    発振子・温度感知器であり、とくにこれが音叉・水晶発
    振子(45)であることを特徴とする、特許請求項19
    あるいは20記載の干渉計。 22、1つあるいはそれ以上のエタロン(41、41′
    )内の気体状の媒体を交換するための装置を備えてるこ
    とを特徴とする、前記の特許請求項記載の干渉計。 23、各エタロン(41、41′)が2つの開口部(4
    4あるいは44′および85あるいは85′)を備え、
    換気装置(86)によって1つあるいはそれ以上のエタ
    ロン(41、41′)を通る気流を発生させることを特
    徴とする、特許請求項22記載の干渉計。 24、測定中は換気装置(86)を停止状態とできるこ
    とを特徴とする、特許請求項23記載の干渉計。 25、換気装置(86)を作動状態としたまま、1つあ
    るいはそれ以上のエタロン(41、41′)を通る気流
    が遮断できることを特徴とする、特許請求項23記載の
    干渉計。
JP2147508A 1989-06-07 1990-06-07 干渉計 Pending JPH0329802A (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
AT139489A AT396180B (de) 1989-06-07 1989-06-07 Interferometeranordnung
AT1394/89 1989-06-07
AT2083/89 1989-09-06
AT208389 1989-09-06

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0329802A true JPH0329802A (ja) 1991-02-07

Family

ID=25595731

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2147508A Pending JPH0329802A (ja) 1989-06-07 1990-06-07 干渉計

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5177566A (ja)
EP (1) EP0401576B1 (ja)
JP (1) JPH0329802A (ja)
DE (1) DE59001953D1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5305476A (en) * 1990-04-13 1994-04-26 The Nisshin Oil Mills, Ltd. Shower bathing device
JP2008505495A (ja) * 2004-06-29 2008-02-21 サイマー インコーポレイテッド ガス放電レーザの出力光の干渉性を低減させる方法及び装置

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0546071B1 (en) * 1990-08-31 1995-12-27 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Interference microscope
DE4230748C2 (de) * 1992-09-14 1997-01-16 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Interferometrisches Meßverfahren sowie für seine Durchführung geeignete Laserinterferometeranordnung
US5394244A (en) * 1992-10-06 1995-02-28 Excel Precision Inc. Ambient air refracture index measuring device
AT399222B (de) * 1992-10-19 1995-04-25 Tabarelli Werner Interferometrische einrichtung zur messung der lage eines reflektierenden objektes
JPH06229922A (ja) * 1993-02-02 1994-08-19 Agency Of Ind Science & Technol 高精度空気屈折率計
US5420687A (en) * 1993-10-04 1995-05-30 Science Solutions Inc. Interferometer with processor for linearizing fringers for determining the wavelength of laser light
US5543916A (en) * 1993-10-04 1996-08-06 Science Solutions, Inc. Interferometer with alignment assembly and with processor for linearizing fringes for determining the wavelength of laser light
US5870197A (en) * 1996-10-24 1999-02-09 Nikon Corporation Precision stage interferometer system with local single air duct
US6870975B1 (en) 2001-11-14 2005-03-22 Fiber Optic Systems Technology, Inc. Fiber optic sensor usable over wide range of gage lengths
US6804008B1 (en) 2001-11-14 2004-10-12 Fiber Optic Systems Technology, Inc. Fiber optic sensing instrument and system with fiber of adjustable optical path length and method of using it
DE102009035386B4 (de) * 2009-07-30 2011-12-15 Cochlear Ltd. Hörhilfeimplantat
US9438006B2 (en) 2012-05-21 2016-09-06 Raytheon Company Compact Raman generators
WO2014116840A1 (en) * 2013-01-23 2014-07-31 California Institute Of Technology Miniature tunable laser spectrometer for detection of a trace gas
US11387620B2 (en) 2020-11-18 2022-07-12 Raytheon Company Compact Raman laser capable of efficient operation at low peak powers with good beam quality

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4329058A (en) * 1979-01-22 1982-05-11 Rockwell International Corporation Method and apparatus for a Fabry-Perot multiple beam fringe sensor
GB2136952B (en) * 1983-03-16 1987-05-07 Standard Telephones Cables Ltd Fabry perot sensor
US4974961A (en) * 1986-09-12 1990-12-04 Jackson David A Optical fibre measuring system
DE3706347A1 (de) * 1987-02-27 1988-09-08 Fraunhofer Ges Forschung Laserinterferometer zur interferometrischen laengenmessung
US4733967A (en) * 1987-03-19 1988-03-29 Zygo Corporation Apparatus for the measurement of the refractive index of a gas
US4806016A (en) * 1987-05-15 1989-02-21 Rosemount Inc. Optical displacement sensor
US4909629A (en) * 1987-07-07 1990-03-20 Kabushiki Kaisha Topcon Light interferometer
US4813783A (en) * 1987-11-03 1989-03-21 Carl-Zeiss-Stiftung Interferometer system for making length or angle measurements
DE3918812A1 (de) * 1988-06-13 1989-12-28 Kerner Anna Entfernungsmessendes heterodynes interferometer

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5305476A (en) * 1990-04-13 1994-04-26 The Nisshin Oil Mills, Ltd. Shower bathing device
JP2008505495A (ja) * 2004-06-29 2008-02-21 サイマー インコーポレイテッド ガス放電レーザの出力光の干渉性を低減させる方法及び装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP0401576A3 (de) 1991-04-10
DE59001953D1 (en) 1993-08-19
EP0401576A2 (de) 1990-12-12
EP0401576B1 (de) 1993-07-14
US5177566A (en) 1993-01-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0329802A (ja) 干渉計
US8971360B2 (en) Light source, and optical coherence tomography module
US5172185A (en) Device for determining or stabilizing the wavelength of laser light in a gaseous ambient medium
US6937346B2 (en) Wavemeter having two interference elements
US5103572A (en) Feeler pin using an optical contact sensor
KR19990006703A (ko) 광 피크 오프로서의 불평형 광섬유 미켈슨 간섭계
CN111742190B (zh) 干涉仪中的光束引导
US12025502B2 (en) Spectroscopic polarimeter and device for automatically adjusting optical path difference
US6765676B1 (en) Simultaneous compensation of source and detector drift in optical systems
EP0260894A1 (en) Optical fibre measuring system
US5757486A (en) Digital camera image sensor positioning apparatus including a non-coherent light interferometer
CN203117457U (zh) 一种光纤导出式的干涉仪激光光源系统
US7423766B1 (en) Interferometric optical profiler
US5757485A (en) Digital camera image sensor positioning method including a non-coherent interferometer
CN103197382A (zh) 一种光纤导出式的干涉仪激光光源系统
RU2498226C1 (ru) Волоконно-оптическая сенсорная система
TW202134599A (zh) 藉雷射頻率偏移之快速相位移干涉
JP2002359430A (ja) 波長安定化光源及び校正方法
KR102124764B1 (ko) 일체형 분광편광 측정장치 및 이를 포함하는 분광편광 측정 시스템
JP6447986B1 (ja) 反射光測定装置
KR102158520B1 (ko) 분광편광계의 광경로차를 자동으로 조절하는 장치
RU2141621C1 (ru) Интерферометрическое устройство для измерения физических параметров прозрачных слоев (варианты)
JP2000180135A (ja) 干渉計測装置
CN115683361A (zh) 基于单f-p标准具监测激光器出光波长的装置及方法
Brief et al. State of the Art characterization of optical components for DWDM applications