JPH04198778A - Array amplifier - Google Patents
Array amplifierInfo
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- JPH04198778A JPH04198778A JP2331109A JP33110990A JPH04198778A JP H04198778 A JPH04198778 A JP H04198778A JP 2331109 A JP2331109 A JP 2331109A JP 33110990 A JP33110990 A JP 33110990A JP H04198778 A JPH04198778 A JP H04198778A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、例えば多チャンネルのセンサからのアナログ
信号を処理するのに用いられるアレイ増幅器に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Field of Industrial Application> The present invention relates to an array amplifier used for processing analog signals from, for example, multi-channel sensors.
〈従来の技術〉
多チャンネルのセンサからの各信号を、それぞれ変換・
増幅するアレイ増幅器は、近年、アナログＬＳＩ技術を
用いて高密度に集積化されつつある。このようにＬＳＩ
化されたアレイ増幅器は、多チャンネルのセンサ数に相
当する入力パッドを備えており、各センサとの接続は、
一般にその各入力パッドにワイヤボンディングを施した
り、あるいははんだバンブを形成することによって行わ
れる。また、ＬＳＩ化された各増幅器の良否判定も、各
入力パッドにブローバの針を接触させて、その入力パッ
ドからテスト信号を入力することによって行われるの一
般的である。<Conventional technology> Each signal from a multi-channel sensor is converted and
In recent years, array amplifiers for amplification have been becoming more densely integrated using analog LSI technology. In this way, LSI
The integrated array amplifier is equipped with input pads corresponding to the number of multi-channel sensors, and the connections to each sensor are as follows:
This is generally done by wire bonding or forming solder bumps on each input pad. Furthermore, the quality of each LSI amplifier is generally determined by bringing a blower needle into contact with each input pad and inputting a test signal from the input pad.
〈発明が解決しようとする課題〉
ところで、ＬＳＩ化された従来のアレイ増幅器において
は、配線基板にＬＳＩを実装してしまうと、各チャンネ
ルごとにテスト信号を入力することは困難であった。す
なわち、テスト信号用の入力パッドを各チャンネルごと
に設けると、入力端子数が大幅に増加し、ＬＳＩ自体が
大きくなるばかりでなく、そのＬＳＩおよび基板上の配
線の引き回しも非常に難しくなる。このため、現状では
テスト信号用の入力パッドは全チャンネル共通のものを
一つだけ設けて、その共通の入力パッドからテスト信号
を入力する方式が採用されている。<Problems to be Solved by the Invention> By the way, in a conventional array amplifier implemented as an LSI, once the LSI is mounted on a wiring board, it is difficult to input a test signal for each channel. That is, when input pads for test signals are provided for each channel, the number of input terminals increases significantly, which not only increases the size of the LSI itself, but also makes it extremely difficult to route the wiring on the LSI and the board. For this reason, at present, a method is adopted in which only one input pad for test signals is provided that is common to all channels, and the test signal is input from that common input pad.
ところが、このような方式によると、例えばクロストー
クの測定などのような各チャンネルごとにテスト信号を
個別に入力することを必要とするテストを行うことは実
質的に不可能であった。However, according to this method, it is virtually impossible to perform a test that requires inputting a test signal individually for each channel, such as crosstalk measurement.
〈課題を解決するための手段〉
本発明は、上記の従来の問題点を解決すべくなされたも
ので、その構成を実施例に対応する図面を参照しつつ説
明すると、本発明は、複数個の増幅器１・・・４が集積
化されてなるアレイ増幅器において、各増幅器１・・・
４の入力部にそれぞれスイ・ソチ１ｂ・・・４ｂを介し
て接続された一つのテスト信号入力パッドと、その各ス
イッチの開閉をそれぞれ個別に制御する制御回路２１・
・・２４が形成されていることによって特徴づけられる
。<Means for Solving the Problems> The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems.The structure of the present invention will be explained with reference to drawings corresponding to embodiments. In an array amplifier in which amplifiers 1...4 are integrated, each amplifier 1...
One test signal input pad is connected to the input section of each of the test signal input pads 1b, 4b, and 4b, respectively, and a control circuit 21.
...It is characterized by the formation of 24.
く作用〉
各スイッチ１ｂ・・・４ｂの開閉動作を制御するすると
により、各増幅器１・・−４のうち、いずれかをテスト
信号入力パッド３に選択的に接続することができる。こ
こで、制御回路２１・・・２４は、例えば入力パッド４
および５を用いて外部入力信号によりその駆動を制御す
ることか可能で、従って、実装完了後においても、各増
幅器１・・・４をそれぞれ個別にテストすることを実現
できる。しかも、新たに設ける入力パッドの数は、例え
ば三つ程度と少なくて済む。Effects> By controlling the opening and closing operations of the switches 1b...4b, any one of the amplifiers 1...-4 can be selectively connected to the test signal input pad 3. Here, the control circuits 21...24 control the input pad 4, for example.
and 5 can be used to control their driving by external input signals. Therefore, it is possible to individually test each of the amplifiers 1 to 4 even after the implementation is completed. Furthermore, the number of newly provided input pads can be as small as, for example, about three.
〈実施例〉 本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。<Example> Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings.
図面は本発明実施例の回路構成を示すプロ・ｙり図であ
る。The drawing is a professional diagram showing the circuit configuration of an embodiment of the present invention.
アレイ化された増幅器１・・・４の入力部は、それぞれ
アナログスイッチ１ａ・・・４ａを介して入カッくラド
１１・・・１４に接続されている。また、各増幅器１・
・・４の入力部には、それぞれアナログスイッチ１ｂ・
・・４ｂを介して一つのテスト信号人カノク・ラド３が
接続されている。さらに各増幅器１・・・４の出力側に
は、それぞれ出力パッド６１・・・６４がそれぞれ接続
されている。The input sections of the arrayed amplifiers 1...4 are connected to input circuits 11...14 via analog switches 1a...4a, respectively. In addition, each amplifier 1.
・The input section of 4 has analog switches 1b and 4, respectively.
...One test signal person Kanok Rad 3 is connected via 4b. Further, output pads 61...64 are connected to the output side of each amplifier 1...4, respectively.
各増幅器１・・・４の入力側に接続された一対のアナロ
グスイッチ、例えば増幅器１の入力側のスイッチ１ａお
よび１ｂのドライブ入力端子は、伴にＤフリップフロッ
プ２１の出力端子Ｑに接続されており、Ｄフリップフロ
ップ２１の出力値が［Ｌ」のときにはスイッチ１ａが「
閉」にスイッチ１ｂが［開Ｊになり、一方、出力値が［
Ｈ」のときには反転してスイッチ１ａが「開」にスイッ
チ１ｂが「閉」となる。そして、他の増幅器２，３およ
び４０入力側に接続されたスイッチ２ａ・・・４ａおよ
び２ｂ・・・４ｂも、それぞれＤフリップフロップ２２
．２３および２４の各出力に従って同様に動作する。Drive input terminals of a pair of analog switches connected to the input side of each amplifier 1 . Therefore, when the output value of the D flip-flop 21 is [L], the switch 1a is
switch 1b becomes [open J], while the output value becomes [
When the signal is "H", the switch 1a is "open" and the switch 1b is "closed". The switches 2a...4a and 2b...4b connected to the input sides of the other amplifiers 2, 3, and 40 are also connected to the D flip-flop 22.
．． It operates similarly according to each output of 23 and 24.
Ｄフリップフロップ２１の入力端子りにはＤ入力パッド
４が接続されている。またこの一番目のＤフリップフロ
ップ２１の出力端子Ｑは二番目のＤフリップフロップ２
２の入力端子りに接続され、以下、同様にして四番目ま
での各Ｄフリップフロップ２２．２３および２４がそれ
ぞれ相互に接続されている。また、各Ｄフリップフロッ
プ２１・・・２４のそれぞれの入力端子Ｃは一つのＣ入
力パッド５に接続されている。A D input pad 4 is connected to the input terminal of the D flip-flop 21. Also, the output terminal Q of this first D flip-flop 21 is connected to the second D flip-flop 2.
Thereafter, the D flip-flops 22, 23 and 24 up to the fourth are connected to each other in the same way. Further, each input terminal C of each D flip-flop 21 . . . 24 is connected to one C input pad 5 .
以上の増幅器１・・・４．アナログスイッチ１ａ・・・
４ａおよび１ｂ・・・４ｂならびにＤフリップフロップ
２１・・・２４は一枚のチップにＬＳＩ化されており、
入力パッド１１・・・１４．出力パッド６１・・・６４
、テスト信号入力パッド３ならびにＤおよびＣ入力パッ
ド４および５は、そのチップの所定位置に形成される。The above amplifiers 1...4. Analog switch 1a...
4a and 1b...4b and D flip-flops 21...24 are integrated into one chip,
Input pads 11...14. Output pads 61...64
, test signal input pad 3 and D and C input pads 4 and 5 are formed at predetermined locations on the chip.
次に、各部の動作とともに本発明実施例の作用を述べる
。Next, the operation of each part and the effect of the embodiment of the present invention will be described.
まず、各Ｄフリップフロップ２１・・・２４はＣ入力に
よって制御され、Ｄ入力によりその出力値Ｑがシリアル
にロードされる。従ってＤ入力を適宜に設定してＤフリ
ップフロップ２１・・・２４のいずれかを、「Ｈ」にロ
ードすることにより、そのロードしたレジスタに対応す
る増幅器をテスト信号入力パッド３に接続することがで
きる。例えば、Ｄフリップフロップ２１のみを「Ｈ」に
ロードすると、アナログスイッチ１ａが「開」にスイッ
チ１ｂが「閉」となって増幅器１のみがテスト信号入力
パッド３に接続される。そして、この状態において、増
幅器１をテスト動作させた時には、他の増幅器２・・・
３間において、どの程度のクロストークが存在するかを
チエツクすることができる。First, each D flip-flop 21...24 is controlled by a C input, and its output value Q is serially loaded by the D input. Therefore, by appropriately setting the D input and loading any of the D flip-flops 21...24 to "H", the amplifier corresponding to the loaded register can be connected to the test signal input pad 3. can. For example, when only the D flip-flop 21 is loaded to "H", the analog switch 1a is "open" and the switch 1b is "closed", so that only the amplifier 1 is connected to the test signal input pad 3. In this state, when the amplifier 1 is tested, the other amplifiers 2...
It is possible to check how much crosstalk exists between the three.
あるいは逆に、増幅器２・・・３を同時動作させた時に
は、増幅器１の出力は安定であるか否かをチエツクする
ことができる。Or conversely, when amplifiers 2...3 are operated simultaneously, it is possible to check whether the output of amplifier 1 is stable.
ここで、アナログＬＳＩチップにおいては、実装状態に
よってその特性が変化する場合がしばしばあり、実装完
了後において例えばクロストーク等の測定を行えること
が望まれているが、このような実装完了後のテストは従
来では不可能であった。これに対し、上述したように本
発明実施例においてはそれも可能となる。Here, the characteristics of analog LSI chips often change depending on the mounting state, and it is desired to be able to measure, for example, crosstalk after mounting is completed. was previously impossible. On the other hand, as described above, this is also possible in the embodiments of the present invention.
また、以上の本発明実施例においては、テスト用端子と
して新たに追加されるパッド数は三つのみで済み、基板
上の配線の引き回し等を比較的容易に行うことができる
。しかも、ＬＳＩチップ内の増幅器の数および実装され
るＬＳＩチップの数に関係なく、そのパッド数を一定に
できるという利点もある。Further, in the above-described embodiment of the present invention, only three pads are newly added as test terminals, and wiring on the board can be routed relatively easily. Furthermore, there is an advantage that the number of pads can be kept constant regardless of the number of amplifiers in the LSI chip and the number of LSI chips mounted.
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によれば、ＬＳＩ化した複
数の増幅器の各入力部を、それぞれスイッチを介して一
つのテスト信号入力パッドに接続するとともに、その各
スイッチをそのＬＳＩチップの外部入力信号によりそれ
ぞれ個別に開閉制御し得るよう構成したので、例えばテ
スト信号入力パッドとスイッチを制御するための二つの
制御信号入力パッドの合計三つのパッドを追加するだけ
でよく、ＬＳＩチップ実装完了後において、各増幅器の
動作をそれぞれ個別にチエツクすることか可能となる。<Effects of the Invention> As described above, according to the present invention, each input section of a plurality of LSI amplifiers is connected to one test signal input pad via a switch, and each of the switches is connected to one test signal input pad. Since the LSI chip is configured so that it can be individually controlled to open and close by external input signals, it is only necessary to add a total of three pads, for example, a test signal input pad and two control signal input pads for controlling the switch, and the LSI chip After chip mounting is completed, it is possible to check the operation of each amplifier individually.
これによって、従来では困雌とされていた各増幅器間に
おけるクロスストーク等の測定の実現が可能なった。ま
た、ＬＳＩチップ実装前において動作テストを行う場合
、従来では、ブローバの針が互いに近接した状態となり
、特にクロストークの測定においては、そのブローバ針
の相互の干渉により測定精度があまり良くなかったが、
本発明によると、テスト信号入力パッドにより任意のチ
ャンネルに信号を導入できるため、その測定を高精度に
行うことも可能となる。This makes it possible to measure crosstalk between amplifiers, which has been considered difficult in the past. Furthermore, when performing an operation test before mounting an LSI chip, conventionally, the blower needles were placed close to each other, and the measurement accuracy was not very good, especially when measuring crosstalk, due to mutual interference between the blower needles. ,
According to the present invention, since a signal can be introduced into any channel using the test signal input pad, it is also possible to perform measurement with high precision.
図面は本発明実施例の回路構成を示すブロック図である
。
１・・・４・・・増幅回路
１ａ・・・４ａ・・・アナログスイッチ１ｂ・・・４ｂ
・・・アナログスイッチ２１・・・２４・・・Ｄフリッ
プフロップ３・・・テスト信号入力パッド
４・・・Ｄ入力パッド
５・・・Ｃ入力パッド
１１・・・１４・・・入力パッド
６１・・・６４・・・出力パッド
特許出願人 株式会社島津製作所代 理−人
弁理士 西１）新The drawing is a block diagram showing the circuit configuration of an embodiment of the present invention. 1...4...Amplification circuit 1a...4a...Analog switch 1b...4b
...Analog switch 21...24...D flip-flop 3...Test signal input pad 4...D input pad 5...C input pad 11...14...Input pad 61...・・・64・・・Output pad patent applicant Shimadzu Corporation Agent
Patent Attorney Nishi 1) Arata
Claims (1)
て、上記各増幅器の入力部にそれぞれスイッチを介して
接続された一つのテスト信号入力パッドと、その各スイ
ッチの開閉をそれぞれ個別に制御する制御回路が形成さ
れていることを特徴とするアレイ増幅器。In an array amplifier in which a plurality of amplifiers are integrated, one test signal input pad is connected to the input section of each of the amplifiers through a switch, and a control circuit individually controls opening and closing of each of the switches. An array amplifier characterized in that:
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2331109A JP3024214B2 (en) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | Array amplifier |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
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|---|---|
| JPH04198778A true JPH04198778A (en) | 1992-07-20 |
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Family Applications (1)
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| JP2331109A Expired - Fee Related JP3024214B2 (en) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | Array amplifier |
Country Status (1)
| Country | Link |
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Families Citing this family (1)
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|---|---|---|---|---|
| JP2023015658A (en) | 2021-07-20 | 2023-02-01 | 株式会社東芝 | Multi-channel switch IC |
-
1990
- 1990-11-28 JP JP2331109A patent/JP3024214B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3024214B2 (en) | 2000-03-21 |
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