JPH04192483A - 半導体アレイレーザ装置 - Google Patents

半導体アレイレーザ装置

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JPH04192483A
JPH04192483A JP32419690A JP32419690A JPH04192483A JP H04192483 A JPH04192483 A JP H04192483A JP 32419690 A JP32419690 A JP 32419690A JP 32419690 A JP32419690 A JP 32419690A JP H04192483 A JPH04192483 A JP H04192483A
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JP
Japan
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heat sink
bonded
oscillation
substrate
type gaas
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Pending
Application number
JP32419690A
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English (en)
Inventor
Takeshi Kamisato
神里 武
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は半導体アレイレーザ装置に関するものである
〔従来の技術〕
第3図(a)は従来のZn拡散型ストライプレーザを用
いた半導体アレイレーザ装置の構成図、第3図(b)、
(C)はそれぞれレーザ発振動作時のエレメントに対応
する活性層のバンド幅と発振波長を示す図である。図に
おいて、(1)はn型電極、(2)はn型GaAs:+
ンタクト層、(3)はp型Ajl’ YGal−YAS
上クラッド層(4)はAfGa+−zAs活性層、(5
)はn型、A I yGa 1−yAsAsワクラフ1
層6)はn型GaAs基板、(7)はn型電極、(8)
はハンダ、(9)はヒートシンク、GO+は発振時の活
性層のバンド幅、ODは発振時の発振波長、α2は電流
圧入前の活性層のバント幅、03はZn拡散領域である
次に動作について説明する。初めに半導体レーザの動作
を以下に説明する。n型電極(1)とn型電極(7)に
電圧を印加すると、p型であるZn拡散領域a3からp
型上クラッド層(3)へ電流か流れ、電流はZn拡散領
域直下の活性層(4)へ閉し込められる。閉し込められ
た電流は正孔と電子の再結合により光を発光する。発生
した光はへき開端面によって共振を起こしレーザ発振に
至る。特に発振波長はZn拡散領域直下の活性層のエネ
ルギーバンドギャップ差に相当する波長となる。
アレイレーザの動作についても上記単素子レーザと同し
発振動作を行う。しかし、レーザ発振時の連続動作させ
た場合、中央部分のレーザか熱の放熱効果か悪いために
、活性層のパントギャップか第2図(b)のようにせば
まり、発振波長は長波側にずれ、全エレメントか同一の
発振波長とならず、補正か光学系で必要であった。
〔発明か解決しようとする課題〕
従来の半導体アレイレーザ装置は以上のように構成され
ているので、発振動作中に中央部分のレーザ素子の放熱
効果が悪いために、中央付近の素子波長か長波側にずれ
てしまい、光ディスク等での使用時に使い難い等の問題
点かあった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たちのて、発振動作中に発振波長を均一化した半導体ア
レイレーザ装置を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係わる半導体アレイレーザ装置は、基板を凹
状にしてヒートシンつてサンドイッチ状に組立て、素子
中央部の放熱効果を向上するようにしたものである。
〔作用〕
この発明による半導体アレイレーザ装置は、レーザ発振
時に熱的影響で長波側にずれるのを補正することか可能
となり、均一な発振波長か得られる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図(a)はこの発明による半導体アレイし一ザ装置の構
成図、第1図(b)、(C1はそれぞれ第1図(a)の
各エレメントに対応するバンド幅、及び発振時の発振波
長を示す図である。
図において、(1)はp型電極、(2)はn型GaAs
 コンタクト層、(3)はp型I Ga1−yAsクラ
ット層、(4)はn型AI!ZGal−ZAS活性層、
(5)はn型Al1yGa、−yAsAsワクラッド層
6)はn型GaAs基板、(7)はn型基板、(8)は
ハンダ、(9)はヒートシンク、C0)は発振時の活性
層のバンド幅、0υは発振時の発振波長、03はZn拡
散領域である。
次に動作について説明する。第1図(alに示す半導体
アレイレーザ装置か、レーザ発振時作に至るまでの動作
については従来のものと同様である。
しかし、この発明の半導体アレイレーザ装置では、裏面
のn型GaAs基板(6)を凹状に形成し、かつn3!
!!GaAs基板(6)と対向する一方のヒートシンク
(9)も凸にする構成としたので、レーザチップの中央
部分からの熱の放熱か良好になされる。従って、中央部
分と端部分のエレメントの発振波長に差か生じず、波長
の均一化か図れる。
ここで、基板厚か薄くなるはと、サンドイッチ状に組立
ての場合放熱効果か良くなるのは、実際にシュミレーシ
ョン等で確認されている。第2図はJ−down組立を
上下にヒートシンク(9)、(9)によって、サンドイ
ッチ状に組立した場合の基板厚対熱抵抗の関係を示す曲
線図である。図示のように、ヒートシンク(9)、(9
)でサンドイッチ状に組立てた場合、単なるJ−dow
n組立てよりも、基板厚が75μm以下になると、急激
に熱抵抗か小さくなることが分かる。従って、n型Ga
As基板裏面側を凹状としその凹面の上に凸状のヒート
シンク(9)で接合させ、またエピタキシャル結晶表面
側は通常のヒートシンク(9)で接合させて、サンドイ
ッチ状に組立てれば、基板厚の薄い中央付近はと熱抵抗
は小さくなり、放熱が良くなる。
なお、上記実施例においては、拡散ストライプレーザを
使ったアレイの場合について説明したか、他の構造のレ
ーザに適用しても、上記実施例と同様の効果を一期待て
きる。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば、基板の裏面側を凹状
にしその凹面の上に凸状のヒートシンクで接合させ、エ
ピタキシャル結晶表面側は通常のヒートシンクで接合し
たサンドイッチ状とし、中央行近の熱抵抗を小さくする
ので、発振動作時に発振波長か熱影響で不均一になるの
を防ぐことか可能となり、波長選択性を向上する効果か
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)はこの発明の一実施例による半導体アレイ
レーザ装置の構成図、第1図(b)、(C)はそれぞれ
レーザ発振動作時の各エレメントに対応する活性層のバ
ンド幅と発振波長を示す図、第2図は基板厚と熱抵抗の
関係を示す曲線図、第3図(a)〜(C1は従来の半導
体アレイレーサ装置の構成図、及び各エレメントに対応
する活性層のバンド幅と発振波長を示す図である。 図において、(1)はn型電極、(2)はn型GaAs
:+ ンタクト層、(3)はp型AA yGal−yA
sクラット層、(4)はn型AI!zGa、−As活性
層、(5)はn型A j’ yGa l −yAs下ク
ラッド層、(6)はn型GaAs基板、(7)はn型電
極、(8)はハンダ、(9)はヒートシンク、α0)は
発振時の活性層のハント幅、ODは発振時の発振波長、
α3はZn拡散領域である。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  アレイレーザをヒートシンクによってサンドイッチ状
    に組立てるものにおいて、レーザの基板面を凹状に、上
    記基板面と対向するヒートシンクを凸状にして、レーザ
    チップ中央部の熱抵抗を両端部の熱抵抗よりも小さくし
    たことを特徴とする半導体アレイレーザ装置。
JP32419690A 1990-11-26 1990-11-26 半導体アレイレーザ装置 Pending JPH04192483A (ja)

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