JPH04188444A - 光記録カード - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 し産業上の利用分野」 この発明は光記録カードに関するものである。

近年、ＩＤカードやキャッシュカードやバンクカードと
して各種の情報記録媒体を用いて情報を記録したカード
が普及している。

［従来の技術］ この種のカードには、個人データや発行会社のデータ等
の各種の情報を記録する必要があり、初期の段階におい
ては、その様な情報を可視的な文字や記号で記録してお
り、また、後期の段階においては、磁気を利用した電気
信号で記録しているが、改ざんの防止や情報量の増加に
対応できず、そのために、近年、光記録技術を応用した
光記録カードが開発されている。

この光記録カードは、光記録媒体（例えば、有機色素及
び低融点金属等）をカード基材に挟み込んだ構成となっ
ており、光記録媒体の光学反射率を変えることによって
情報を記録・再生するもので従来から知られている光記
録カードは、透明保護基材と裏打ちり材の間に光記録媒
体を挟み込んだ構成となっている。

カードの形状および寸法は、日本事務機械工業会規格（
ＪＢＭＳ−３３９（光メモリカード））やＤ　Ｅ　Ｌ　
Ａ　（Ｄｒｅｘｅｒ　Ｅｕｒｏｐｅａｎ　Ｌｉｃｅｎｓ
ｅｅｓ＾５ｓｏｃｉａｔｉｏｎ　）等で規格案が提案、
横開されている。

［発明が解決しようとする課題］ 従来から用いられている光記録カードのデータ読み取り
書き込み装置は、光記録カードをデータ読み取り書き込
み装置内で固定し読み取り書ぎ込み部を往復駆動し光記
録カードのデータの記録・再生を行う方式と、データ読
み取り書き込み装置のデータ読み取り書き込み部を固定
し光記録カードを往復搬送し光記録カードのデータの記
録・再生を行う方式があり、後者の方式のデータ読み取
り書き込み装置が、その各機構部の構成が簡単なために
広く用いられている。

この発明は後者の方式のデータ読み取り書き込み装置を
用いて光記録カードのデータを記録・再生する際、光記
録カード表面に付着したゴミや汚れやカード表面のキズ
に起因しないエラー（原因不明のエラー）が発生するこ
とがあった。

この原因不明のエラーは、シークエラー（指定されたト
ラックを検出できないエラーでフォーカシング、トラッ
キング系が定まらず、安定した駆動ができないという機
械的なエラーを指す。）やベリファイエラー（指定され
たトラックのデータを読み取ることはできるが、記録し
たピットに誤りが多く、データを正確に再生できないエ
ラーを指す。）が発生する比率が高く、また、エラーの
相関関係を見てみるとシークエラーとベリファイエラー
は連動して発生する傾向（シークエラーとベリファイエ
ラーはサーボ系（カードの搬送系）にある点で共通の要
因を持っているものと考えられる。）にあるものと推測
することができる。

また、シークエラーとベリファイエラーのうち特にシー
クエラーが発生するとその後のデータの記録・再生が困
難となり光記録カードに記録されたデータの安全性、信
頼性に不安があった。。

この発明は、上記の如き事情に鑑みてなされたものであ
って、シークエラーやベリファイエラーが発生しにくい
光記録カードを提供することを目的とするものである。

し課題を解決するための手段］ この目的に対応して、発明者は種々の実験を試みこの光
記録カードを発明したものである。

すなわち、この発明の光記録カードは、ＪＩＳ−Ｘ６３
０１　（ｌ気ストライブ付クレジットカード）で規定さ
れるカードであって、ＪＩＳ−に７２０３（硬質プラス
チックの曲げ試験方法）で規定される３点曲げ試験方法
で表される前記カードの剛性が２．０ｘ１０’［Ｎ／Ｔ
ｒＬ］以上であることを特徴とすることにより上記問題
を解決したものである。

［作用〕 この発明の光記録カードは、光記録カードを搬送してデ
ータの記録・再生を行う方式のデータ読み取り書き込み
装置のカードの搬送系において、カードの往復運動時の
慣性モーメントがカードの折り返し点で最大となり、こ
の慣性モーメントが光記録カードを振動させシークエラ
ーとベリファイエラーが発生していることが分り、光記
録カードの剛性を２．０ｘｌＯ’［Ｎ／ＴＩｔ１以上と
することでカードの往復運動時の折り返し点での慣性モ
ーメントの影響を受けず、従って、データの記録・再生
時の光記録カードの振動を押えられシークエラーとベリ
ファイエラーを低下させることができる。

し実施例コ 以下、この発明の詳細な実施例を第１図を用いて説明す
る。

第１図において、１は光記録カードである。

光記録カード１は透明保護基材２と裏打ち基材３とを接
＠層４によって貼合接着して構成されており、透明保護
基材２と裏打ち基材３との間に例えば低融点金属（Ｔｅ
）等の記録膜５とその記録ｌＩ５の保護膜６とを挟み込
んだ構成になっている。

この光記録力〜ドのデータを記録・再生する場合には、
データ読み取り書き込み装置に光記録カードを挿入し、
読み取り書き込み部の間を光記録カードがカード搬送系
で往復運動される。

このとき、データ読み取り書き込みＨ置によって読み取
られた光記録カードの読み取り波形を検査してみると、
往動と復動の折り返し点でシークエラーとベリファイエ
ラーが顕著に発生していることが観測された。このカー
ド搬送系の折り返し点で、光記録カードに加わる慣性モ
ーメントが最大となり、その結果光記録カードを振動さ
せシークエラーとベリファイエラーが発生するものと考
えられる。

すなわち、カードを搬送させる方式の光記録カードのデ
ータ読み取り書き込み装置において発生するエラーは、
光記録カードが振動することによって起るものと考えら
れる。

そこで、複数種の剛性を変えた光記録カードをカードを
搬送させる方式の光記録カードのデータ読み取り書き込
み装置を用いて光記録カードの読み取り波形の検査を行
った。

その結果、データ読み取り書き込み装置内で光記録カー
ドの剛性が高くすることにより光記録カードの振動を抑
えることができることが判明し、また、光記録カードの
剛性が１．７ｘｌＯ−７［Ｎ／コ］より大きくなるとエ
ラーの発生率が極端に減少し、２．０Ｘ１０’［Ｎ／ゴ
］以上で飽和状態になることがわかった。

［実験例］ 本実験では、Ｊ　ＩＳ−に７２０３　（硬質プラスチッ
ク曲げ試験方法）で規定される３点曲げ試験方法を用い
て光記録カードの剛性の測定を行った。

第３図は、ＪＩＳ−に７２０３で規定される３点曲げ試
験方法に準拠した装置の例である。

サンプルカードは、各々の測定点に対して１０枚作成し
その平均値を測定結果とした。

また、サンプルカードの形状および寸法は、Ｊ　ｌ５−
Ｘ６３０１　（ｌｌｌ！１気ストライストライブ付クレ
ジットカードしたもので、これは、日本事務機械工業会
規格ＬＩＢＭＳ−８３９（光メモリカード））及びＤ　
Ｅ　Ｌ　Ａ　（Ｄｒｅｘｅｒ　ＥｕｒｏｐｅａｎＬｉｃ
ｅｎｓｅｅｓ　Ａｓ５ｏｃｉａｔｉｏｎ　）等で提案さ
れているものと同等の形状及び寸法である。

更に、サンプルカードの光学記録面の反射率は、日本事
務機械工業会規格及びＤＥＬＡで提案されている反射率
（絶対反射率に対して４０±３％）に準拠したものを用
いた。

本実験は、光記録カードのごみや汚れに起因するエラー
を取り除くために、クリーンルーム内に光記録カードの
データ読み取り書き込み装置を設置し、光記録カードの
読み取り波形の検査を行った。

本実験に用いた光記録カードのデータ読み取り書き込み
装置の特性は、 データ読み取り波長　　　　８３０　［ｎｍ］データ読
取りスポット径（１／ｅ２）　３　［μｍ］データ記録
速度　　　　　　　　４　［Ｋｂｉｔ／ｓｅｃ］テータ
再生速度　　　　　　　３２［にｂｉｔ／５ｅｃｌデー
タ記録パワー　　　　１２．Ｏ［ｍＷ］データ再生パワ
ー　　　　　０．５　［ｍＷ］である。

次に、実験結果を表１及び第２表に示す。

上記実験結果は、各々剛性に対応するサンプルカードを
１０枚作成し、その゛シークエラー及びベリファイエラ
ーの平均値を示したものである。また、光記録カードの
データ記録領域を５つのエリア＜Ａ−Ｅ）に分はエリア
ごとのエラー数も表した。

このエリアの区分は、データ読み取り書き込み装置内で
のカード押え機構が、エラーに影響を及ぼすか否かを確
認するために区分したものである。

この結果から、カード押え機構はエラー発生の原因とな
っていないことがわかる。

次にこの本実験で用いたサンプルカードの構成について
説明する。

サンプルカードは、厚さが４００［μｍ］のポリカーボ
ネート製の透明保護基材の内面にＴｅ合金の記録膜とそ
の記録膜を塩化ごニリデンで保護膜を形成し、低温硬化
型接着剤（バイロン５５０）で接着層を形成し、接着層
を介して裏打ち基材を貼合接着し構成され、各々のサン
プルカードの裏打ち基材の材質を剛性の低いものから高
いものへ変えることによって剛性の異なるサンプルカー
ドを作成した。

サンプルカード■の裏打ち基材は、厚み３５Ｑ［μｍ］
のポリエチレンを用いた。

サンプルカード■の裏打ち基材は、厚み３５０［μｍ］
の塩化ビニルを用いた。

サンプルカード■の裏打ち基材は、厚み１００［μＴｒ
Ｌ１のポリエチレンテレフタレートを厚みが１００［μ
ｍ］の塩化ビニルでポリエチレンテレフタレートの両側
を挟み積層貼合したものを用いた。

サンプルカード■の裏打ち基材は、厚み１８８［μＴｒ
Ｌ］のポリエチレンテレフタレートと厚みが１８８［μ
ｍ］の塩化ビニルで積層貼合したものを用いた。

サンプルカード■の裏打ち基材は、厚み３５０［μｍ］
のポリエチレンテレフタレートを用いた。

また、データの記録・再生位置Ａ〜Ｅは第２図に示すよ
うに光記録カードの記録膜を上から５等分したエリアで
ある。

本実験による実験結果を第４図に示す。

第４図から分るように光記録カードのｆ−夕の記録・再
生時のエラーは、カードの剛性を徐々にに高めていくと
１．７Ｘ１０−１［Ｎ／ｍｌ−１，８ｘ１０’ＩＮ／Ｔ
ｄ］の間で急激に減少していることがわかる。また、カ
ードの剛性を２．０Ｘ１０−７［Ｎ／ＴＩｔ］以上が実
用域であると考えられる。

更に、透明保護基材に厚みが４００［μｍ］のガラス板
を用い、塩化ビニルの裏打ち基材を貼合したものでの実
験も行った。この実験では、シークエラー及びベリファ
イエラーは全く見られなかった。

このことからも、カードの剛性を上げることでシークエ
ラーやベリファイエラーによるデータの記録・再生時の
エラーをなくすことができることを示している。

［発明の効果］ この発明は、光記録カードの剛性を２．０×１０−７［
Ｎ／ＴＩｔ］以上としたことで、カードを往復搬送する
タイプのデータ読み取り書き込み装置でデータの記録・
再生を行った場合でも、光記録カードに作用し、ｔｆＩ
性モーメントに起因するカードの振動を押えることがで
き、サーボ系（カードの搬送系）に起因づるシークエラ
ーとベリファイエラーを抑え、低下させることができる
ので、データの記録・再生時に発生するエラーが低く、
信頼性の＾い光記録カードを得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は光記録カードの断面説明図、第２図は光記録カ
ードの平面説明図、第３図は３点曲げ試験方法を示す説
明図、及び第４図は３点曲げ試験の結果を示すグラフで
ある。 １・・・光記録カード、　２・・・透明保護基材、３・
・・裏打ち基材、　４・・・接着層、　５・・・記録膜
、６・・・保護膜 第１図 第２図 ）、

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. ＪＩＳ−Ｘ６３０１（磁気ストライプ付クレジットカー
   ド）で規定されるカードであつて、ＪＩＳ−Ｋ７２０３
   （硬質プラスチックの曲げ試験方法）で規定される３点
   曲げ試験方法で表される前記カードの剛性が２．０×１
   ０＾−＾７［Ｎ／ｍ＾２］以上であることを特徴とする
   光記録カード