JPH04180031A - 液晶表示装置 - Google Patents

液晶表示装置

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Publication number
JPH04180031A
JPH04180031A JP2310342A JP31034290A JPH04180031A JP H04180031 A JPH04180031 A JP H04180031A JP 2310342 A JP2310342 A JP 2310342A JP 31034290 A JP31034290 A JP 31034290A JP H04180031 A JPH04180031 A JP H04180031A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
thin film
film transistor
crystal display
electrode
Prior art date
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Pending
Application number
JP2310342A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasushi Narushige
泰 鳴重
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2310342A priority Critical patent/JPH04180031A/ja
Publication of JPH04180031A publication Critical patent/JPH04180031A/ja
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  • Liquid Crystal (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は非線形素子を用いて液晶を駆動する、いわゆる
アクティブマトリクス方式のとりわけ高密度の液晶表示
装置のアクティブマトリクス基板の構造に関するもので
ある。
従来の技術 従来、液晶表示装置(LCD)は時計、電卓を中心とし
て利用されてきたが、今後の新規用途分野としてはテレ
ビ、ビデオモニター、ビデオグロジェクションシステム
、ビューファインダーといった映像表示分野や、コンピ
ュータ用の端末・ラップトツブパソコンの表示デバイス
など、大画面化、高密度化といった大容量表示の要求が
高まってきている。これらの要求に対し、液晶駆動方式
として非線形素子(たとえは薄膜トランジスタなど)を
画素毎に設けたいわゆるアクティブマトリクス方式によ
りフルカラーで高精細度、高画質の液晶表示パネルが実
現されている。
このような動向の中でアクティブマトリクス方式の非線
形素子は半導体微細加工技術を用いて形成されるが、よ
り高精細度の画像表示を達成するためと、画素欠陥不良
に対する冗長性を高めるために、1画素に複数の非線形
素子を形成するなど設計ルールをより小さくした高密度
の液晶パネルか開発されている。
たとえば液晶ビューファインダーなどに用いられている
超小型高密度液晶パネルでは約60ミクロンから80ミ
クロンのピッチで画素か形成され、従来の液晶テレビジ
ョンに比して5倍から7倍の高密度化かはかられ実用化
されている。
以下図面を参照しながら上述した従来の液晶表示装置の
アクティブマトリクス基板の構造の一例について説明す
る。
第2図は絶縁性基板上に形成されたアクティブマトリク
ス方式の薄膜トランジスタと液晶さらに対抗電極の等価
回路を模式的に示したものであり、第3図(a)は1画
素の平面図、第3図fb)は第3図[a)のA−A線断
面図を示している。第2図に示すように、液晶表示装置
のアクティブマトリクス基板は、絶縁性基板1と対向電
極2との間に液晶セル3および電界効果型トランジスタ
4かマトリクス状に配列されて構成されている。なお、
5は走査線群、6は信号線群、7は対向電極である。
各画素においては、第3図(a)、 (b)に示すよう
に、絶縁性基板1、たとえばカラス基板上に、ゲート配
線8がCr金属で1000Aバタン形成されているとと
もに、画素電極9かITO(InSn酸化T!IJ)で
1000Aバタン形成されている。そして、これらの上
に、プラズマCVD法により第1のシリコン窒化膜10
か400OA、非晶質半導体層11が50OA、第2の
シリコン窒化膜12が100OA連続堆積されており、
この第2のシリコン窒化膜12はチャンネル保護層とし
てバタン化されている。しかる後に、画素型[;9にコ
ンタクトを取るためのコンタクトホール13がバタン形
成され、ソース電極14とドレイン電極15か同時にバ
タン形成されて構成されている。このとき、ソース電極
14とドレイン電極15は配線の低抵抗化のためにAρ
で形成され、コンタクトホール13の段差的400OA
をカバーするために700OAの膜厚を必要とする。
以上のように構成されたアクティブマトリクス基板では
画素電極9の平坦部と薄膜トランジスタの最高部の段差
か約1ミクロン生ずる。
発明か解決しようとする課題 しかしながら上記のような従来構成では画素密度か高く
なり画素ピッチが小さくなるほど、薄膜トランジスタ、
特にソース電極配線の段差が液晶の配向処理に一般的に
使われるラビング処理(ナイロンの毛ブラシで擦る処理
)において液晶の配向性を著しく損ない、コントラスト
の低下、配向部れによるムラ・シミといった表示画像の
品質を著しく低下させる問題点を有していた。
本発明は上記問題を解決するもので、高密度ピッチの画
素における液晶の配向性が改善されて表示品質が損なわ
れない液晶表示装置を提供することを目的とするもので
ある。
課題を解決するための手段 上記問題を解決するために本発明の液晶表示装置は、基
板に凹部を形成し、この凹部に薄膜トランジスタ、ゲー
ト配線、ソース配線のうち少なくとも一つを形成したも
のである。
作用 上記構成によって、画素電極と薄膜トランジスタ、画素
電極の最高部がほぼ同レベルに形成されたアクティブマ
トリクス基板を得ることかでき、液晶の配向処理に用い
られるラビング処理の際、画素電極部の非配向部(シャ
ドーとよぶ)が低減せしめることが可能となり、特に画
素ピッチが100ミクロン以下の高密度液晶表示装置に
おいて表示品質を確保することができる。
実施例 以下本発明の液晶表示装置について、図面を参照しなが
ら説明する。
第1図は本発明の一実施例における液晶表示装置のアク
ティブマトリクス基板の1画素部の断面図を示すもので
あり、従来と同じものには同符号を付し、その説明は省
略する。第1図において、1はカラス基板で、写真食刻
技術を用いて凹部1aかバタン加工されている。このと
きエツチング方法としてドライエッチまたは薬液を用い
たウェットエッチか用いられるが、ウェットエッチでは
バッフアートフッ酸またはフッ酸と硝酸の混合液でエツ
チングされている。エツチングレートは約2000Aか
ら10000 A毎分であり約1ミクロンの凹パタンを
得るには1分から5分の処理時間で食刻される。そして
、この凹部1aに、非晶質半導体層11や第2のシリコ
ン窒化膜12、ソース電極9、ゲート配線8、ドレイン
電極15などが形成されている。なお、凹部1aか形成
された後に、従来と同様に、非晶質半導体層11やシリ
コン窒化膜10゜12からなる薄膜トランジスタおよび
ゲート配線8、ソース配線14、画素電極9が形成され
る。
上記構成により、ガラス基板1に凹部1aを形成し、こ
の凹部1aに薄膜トランジスタやソース電極9、ゲート
配線8を形成することによって画素電極9の高さと薄膜
トランジスタの高さをほぼ同レベルにすることか可能で
あり、液晶の配向性を高めて表示品質を向上することか
できる。
発明の効果 以上のように本発明によれば、薄膜トランジスタを設け
る基板に凹部を形成し、この基板に薄膜トランジスタ、
ソース電極、ゲート電極を形成することによって画素電
極の高さと薄膜トランジスタの高さをほぼ同レベルにす
ることか可能であり、液晶の配向性か高められ、特に高
密度液晶表示装置の表示品質を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における液晶表示装置のアク
ティブマトリクス基板の1画素の断面図、第2図は従来
の液晶表示装置の概略構成図、第3図(a)は従来の液
晶表示装置の1画素の平面図、第3図(b)は第3図(
a)のA−A線断面図である。 1・・・カラス基板、1a・・・凹部、8・・・ゲート
配線、9・・・画素電極、10・・・第1のシリコン窒
化膜、11・・・非晶質半導体層、12・・・第2のシ
リコン窒化膜、14・・・ソース電極、15・・・ドレ
イン電極。 代理人   森  本  義  弘 第1図 /  −−一力゛う大暑(娘( lダ0.−ドレ4ン亀不し 第2図 /

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、一対の基板間に液晶が封入され、これらの基板の一
    方の基板上にマトリクス状に配列された薄膜トランジス
    タと、この薄膜トランジスタのソース電極に接続されて
    なるソース配線と、前記薄膜トランジスタのゲート電極
    に接続されてなるゲート配線と、前記薄膜トランジスタ
    のドレイン電極に接続されてなる画素電極とを有する液
    晶表示装置において、前記基板に凹部を形成し、この基
    板の凹部に、前記薄膜トランジスタ、前記ゲート配線、
    前記ソース配線のうち少なくとも一つを形成した液晶表
    示装置。
JP2310342A 1990-11-15 1990-11-15 液晶表示装置 Pending JPH04180031A (ja)

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US6977422B2 (en) 2000-06-26 2005-12-20 Nec Lcd Technologies, Ltd. Method of deforming a pattern and semiconductor device formed by utilizing deformed pattern
US7030467B2 (en) 2000-06-26 2006-04-18 Nec Lcd Technologies, Ltd. Method of deforming a pattern and semiconductor device formed by utilizing deformed pattern
US7060623B2 (en) 2000-06-26 2006-06-13 Nec Lcd Technologies, Ltd. Method of deforming a pattern and semiconductor device formed by utilizing deformed pattern
US7554164B2 (en) 2000-06-26 2009-06-30 Nec Lcd Technologies, Ltd. Semiconductor device having a gap between a gate electrode and a dummy gate electrode
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