JPH04171936A - Psg膜の形成方法 - Google Patents
Psg膜の形成方法Info
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Landscapes
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、半導体製造プロセスにおける平坦化絶縁膜、
特にPSG (リンシリケートガラス)膜の形成方法に
関する。
特にPSG (リンシリケートガラス)膜の形成方法に
関する。
[発明の概要]
本発明は、PSG膜の形成方法において、高次のアルコ
キシドを含有する有機シリコン化合物及び低次のアルコ
キシドを含有する混合された有機シリコン化合物で成る
シリコンソースと、前記シリコンソース中の、低次のア
ルコキシドを含有する有機シリコン化合物よりも高次の
アルコキシドを含有する有機リン化合物で成るリンソー
スとを混合したソース溶液を、基板上に塗布し、次いで
、前記ソース溶液を複数の温度段階で加熱することによ
り、 リンの溶出がなく、低温な熱処理にて膜質の良好なPS
G膜を形成し得るようにしたものである。
キシドを含有する有機シリコン化合物及び低次のアルコ
キシドを含有する混合された有機シリコン化合物で成る
シリコンソースと、前記シリコンソース中の、低次のア
ルコキシドを含有する有機シリコン化合物よりも高次の
アルコキシドを含有する有機リン化合物で成るリンソー
スとを混合したソース溶液を、基板上に塗布し、次いで
、前記ソース溶液を複数の温度段階で加熱することによ
り、 リンの溶出がなく、低温な熱処理にて膜質の良好なPS
G膜を形成し得るようにしたものである。
[従来の技術]
近年、半導体デバイスの高密度化が進む中で層間膜の平
坦化は、重要な課題となっている。従来、アルミニウム
(A J)配線下の層間膜の平坦化方法としては、PS
G膜の形成及びリフロープロセスにより対応してきた。
坦化は、重要な課題となっている。従来、アルミニウム
(A J)配線下の層間膜の平坦化方法としては、PS
G膜の形成及びリフロープロセスにより対応してきた。
斯かるPSG膜の形成方法としては、主に、以下に説明
する2つの方法が知られている。
する2つの方法が知られている。
(i)テトラエトキシシラン(T E OS )−トリ
メチルフォスフェート(TMP)−酸素(02)系ガス
を用いた減圧CVD法、又は、シラン(SIH4)
O□−ホスフィン(PH3)系ガスを用いた減圧CVD
法を行なう。
メチルフォスフェート(TMP)−酸素(02)系ガス
を用いた減圧CVD法、又は、シラン(SIH4)
O□−ホスフィン(PH3)系ガスを用いた減圧CVD
法を行なう。
(it)TEOSとTMPの混合液を基板上にコーティ
ングして、次にリフローを行なう。
ングして、次にリフローを行なう。
[発明か解決しようとする課題]
しかしながら、上記従来方法の(i)にあっては、PS
G膜の初期のカバレージが悪いため、リフロー後の形状
が悪くなり、プロセスが制限される問題点がある。
G膜の初期のカバレージが悪いため、リフロー後の形状
が悪くなり、プロセスが制限される問題点がある。
また、上記従来方法の(ii)にあっては、コーティン
グしたことで初期平坦性が向上し、リフロー後の形状が
改善するものの、TEOSとTMPの混合による偏在に
起因して膜中に微細な疎密が生じ、膜質が悪くなる問題
を有する。このため、膜中のリン(P)が、洗浄工程等
で溶出し易く、850℃以上のりフロー工程による緻密
化が必要となる。斯るリン溶出の問題は、上記従来方法
(i)においても同様である。
グしたことで初期平坦性が向上し、リフロー後の形状が
改善するものの、TEOSとTMPの混合による偏在に
起因して膜中に微細な疎密が生じ、膜質が悪くなる問題
を有する。このため、膜中のリン(P)が、洗浄工程等
で溶出し易く、850℃以上のりフロー工程による緻密
化が必要となる。斯るリン溶出の問題は、上記従来方法
(i)においても同様である。
ところで、半導体デバイスが高集積化、高密度化するに
伴ない、プロセスの低温化は増々要求されている。例え
ば、0.3μm付近の浅いソース・ドレイン接合を得る
温度としては上記した850℃以上のりフロー温度では
高すぎるため、浅い接合を形成できるプロセスの開発が
望まれている。
伴ない、プロセスの低温化は増々要求されている。例え
ば、0.3μm付近の浅いソース・ドレイン接合を得る
温度としては上記した850℃以上のりフロー温度では
高すぎるため、浅い接合を形成できるプロセスの開発が
望まれている。
このような要請に伴ない、最近では、リン溶出の防止策
として、5t−0−P結合を有するリン(P)ソースを
用いる検討も行なわれているが、この方法ではSi/P
の比が固定されているので、高濃度のリンのドーピング
が困難となる問題点がある。因みに、第1図は、PSG
膜中の一リン濃度[P]とPSG膜の流動温度(η)と
の関係を示したものであり、このグラフよりリン濃度が
低いとPSGの流動温度が上昇することが判る。
として、5t−0−P結合を有するリン(P)ソースを
用いる検討も行なわれているが、この方法ではSi/P
の比が固定されているので、高濃度のリンのドーピング
が困難となる問題点がある。因みに、第1図は、PSG
膜中の一リン濃度[P]とPSG膜の流動温度(η)と
の関係を示したものであり、このグラフよりリン濃度が
低いとPSGの流動温度が上昇することが判る。
本発明は、このような従来の問題点に着目して創案され
たものであって、洗浄等によるリンの溶出を防止する゛
と共に、膜室が良好な平坦化PSG膜の形成方法を得ん
とするものである。
たものであって、洗浄等によるリンの溶出を防止する゛
と共に、膜室が良好な平坦化PSG膜の形成方法を得ん
とするものである。
[課題を解決するための手段]
そこで、本発明は、高次のアルコキシドを含有する有機
シリコン化合物及び低次のアルコキシドを含有する混合
された有機シリコン化合物で成るシリコンソースと、前
記シリコンソース中の、低次のアルコキシドを含有する
有機シリコン化合物よりも高次のアルコキシドを含有す
る有機リン化合物で成るリンソースとを混合したソース
溶液を、基板上に塗布し、次いで、前記ソース溶液を複
数の温度段階で加熱することを、その解決手段としてい
る。
シリコン化合物及び低次のアルコキシドを含有する混合
された有機シリコン化合物で成るシリコンソースと、前
記シリコンソース中の、低次のアルコキシドを含有する
有機シリコン化合物よりも高次のアルコキシドを含有す
る有機リン化合物で成るリンソースとを混合したソース
溶液を、基板上に塗布し、次いで、前記ソース溶液を複
数の温度段階で加熱することを、その解決手段としてい
る。
[作用〕
ソース溶液中には、
1)高次のアルコキシドを含有する有機シリコン化合物
2)低次のアルコキシドを含有する有機シリコン化合物
3)上記2)の有機シリコン化合物よりも高次のアルコ
キシドを含有する有機リン化合物が含まれ、このソース
溶液を基板に塗布した後、複数の温度段階で加熱するこ
とにより、脱溶媒。
キシドを含有する有機リン化合物が含まれ、このソース
溶液を基板に塗布した後、複数の温度段階で加熱するこ
とにより、脱溶媒。
上記2)における低次のアルコキシドの熱分解及び5i
−0−5i結合形成、高次のアルコキシドの熱分解及び
5t−0−P結合形成を順次多段的に行なうことが可能
となる。因みに、アルコキシドの分解温度は、アルコキ
シド構造により一義的に決まり、一般に高次の構造を有
するにつれて高温となる。このように5t−0−3i結
合形成の後に5i−0−P結合形成が行なわれるため、
膜質が良好となると共に、リン(P)が結合中に組み込
まれるため、PSG膜の洗浄等によるリン溶出を防止さ
れる。
−0−5i結合形成、高次のアルコキシドの熱分解及び
5t−0−P結合形成を順次多段的に行なうことが可能
となる。因みに、アルコキシドの分解温度は、アルコキ
シド構造により一義的に決まり、一般に高次の構造を有
するにつれて高温となる。このように5t−0−3i結
合形成の後に5i−0−P結合形成が行なわれるため、
膜質が良好となると共に、リン(P)が結合中に組み込
まれるため、PSG膜の洗浄等によるリン溶出を防止さ
れる。
[実施例]
以下、本発明に係るPSG膜の形成方法を実施例に基づ
いて説明する。
いて説明する。
本実施例においては、シリコンソースとしてテトラエト
キシシラン(TE01)とトリエトキシブトキシシラン
を用い、リンソースとしてトリブトキシホスフィンを用
いる。
キシシラン(TE01)とトリエトキシブトキシシラン
を用い、リンソースとしてトリブトキシホスフィンを用
いる。
テトラエトキシシランは、低次のアルコキシドであるエ
トキシ基(OC2H5)を有し、Sl (OC2H6)
4の示性式で表わされる。
トキシ基(OC2H5)を有し、Sl (OC2H6)
4の示性式で表わされる。
また、トリエトキシブトキシシランは、高次アルコキシ
ドであるブトキシ基(OC4H9)を有し、S i
(OC2H5) s ■ QC,He の示性式で表わされる。
ドであるブトキシ基(OC4H9)を有し、S i
(OC2H5) s ■ QC,He の示性式で表わされる。
リンソースとしてのトリブトキシホスフィンは、上記し
たシリコンソース中のテトラエトキシシランの有するア
ルコキシドよりも高次のアルコキシドであるブトキシ基
(OC4H9)を有し、P (OC4H1l)sの示性
式で表わされる。
たシリコンソース中のテトラエトキシシランの有するア
ルコキシドよりも高次のアルコキシドであるブトキシ基
(OC4H9)を有し、P (OC4H1l)sの示性
式で表わされる。
そして、これらのシリコンソース及びリンツースを以下
に示す配合比で溶媒(エタノール)に溶解させてソース
溶液を作成する。
に示す配合比で溶媒(エタノール)に溶解させてソース
溶液を作成する。
テトラエトキシシラン ・・70moA’%トリエ
トキシブトキシシラン・・20mo1%トリブトキシホ
スフィン ・・・l QmoA’%次に、このソース
溶液を基板(ウェハ)上に所望の厚さに塗布する。
トキシブトキシシラン・・20mo1%トリブトキシホ
スフィン ・・・l QmoA’%次に、このソース
溶液を基板(ウェハ)上に所望の厚さに塗布する。
この後、150℃程度の温度でベーキングを行ない、ソ
ース溶液の溶媒であるエタノールを揮発させて塗布膜の
脱溶媒を行なう。
ース溶液の溶媒であるエタノールを揮発させて塗布膜の
脱溶媒を行なう。
次に、300℃のアニールを行ない、テトラエトキシシ
ランとトリエトキシブトキシシランにおけるシリコン(
St)とエトキシ基(OC2H5)と結合(Si 0
C2H5)を熱分解させると共に、0 0C4
H9 一5i−0−8i −0 QC4H,0 で示されるような5i−0−3i結合を形成させる。
ランとトリエトキシブトキシシランにおけるシリコン(
St)とエトキシ基(OC2H5)と結合(Si 0
C2H5)を熱分解させると共に、0 0C4
H9 一5i−0−8i −0 QC4H,0 で示されるような5i−0−3i結合を形成させる。
その後、アニール温度を370℃に上げてアニールを施
し、S 1−QC4H0結合及びトリブトキシホスフィ
ンにおけるP−QC4H,結合を熱分解させ、同時に −S i −0−S i −0 で示されるような5t−0−P結合を形成させる。
し、S 1−QC4H0結合及びトリブトキシホスフィ
ンにおけるP−QC4H,結合を熱分解させ、同時に −S i −0−S i −0 で示されるような5t−0−P結合を形成させる。
このようにして、アルコキシドの熱分解温度に差をつけ
ることで、5i−0−8L結合と5i−0−P結合の形
成を別々に行ない、リン(P)の確実な結合を得たこと
により、PSG膜からのりンの溶出が防止される。
ることで、5i−0−8L結合と5i−0−P結合の形
成を別々に行ない、リン(P)の確実な結合を得たこと
により、PSG膜からのりンの溶出が防止される。
なお、かかるPSG膜の形成後は、必要に応じてアニー
ルを施してもよい。
ルを施してもよい。
以上、実施例について説明したか、本発明は、これに限
らず各種の変更が可能であることは言うまでもない。
らず各種の変更が可能であることは言うまでもない。
例えば、上記実施例においては、高次のアルコキシドを
有する有機シリコン化合物として、トリエトキシブトキ
シシランを用いたが、 S t −(OC,H2,、l)ゆ 1 (n<3.3≧m>1(OC
、H2!+l) a−m X≧3)の示性式で
示す有機シリコン化合物であれば適用可能であり、これ
に用いる有機リン化合物としては、上記有機シリコン化
合物より熱分解温度の高いアルコキシドを含有する必要
がある。また、アニール温度等については、用いるソー
スに応じて適宜設定されるものである。
有する有機シリコン化合物として、トリエトキシブトキ
シシランを用いたが、 S t −(OC,H2,、l)ゆ 1 (n<3.3≧m>1(OC
、H2!+l) a−m X≧3)の示性式で
示す有機シリコン化合物であれば適用可能であり、これ
に用いる有機リン化合物としては、上記有機シリコン化
合物より熱分解温度の高いアルコキシドを含有する必要
がある。また、アニール温度等については、用いるソー
スに応じて適宜設定されるものである。
[発明の効果コ
本発明に係るPSG膜の形成方法に依れば、ソ−ス溶液
を基板上に塗布(コーティング)することにより平坦性
を得ることが出来ると共に、PSGIM!中のリンが結
合により担持されているため膜質が良く、このため洗浄
等を施してもリン溶出がなく、後にアニール(リフロー
)を施す場合でもアニール(リフロー)温度の上昇が抑
えられる効果がある。
を基板上に塗布(コーティング)することにより平坦性
を得ることが出来ると共に、PSGIM!中のリンが結
合により担持されているため膜質が良く、このため洗浄
等を施してもリン溶出がなく、後にアニール(リフロー
)を施す場合でもアニール(リフロー)温度の上昇が抑
えられる効果がある。
第1図はPSGにおけるリン濃度と流動温度との関係を
示すグラフである。 ソ″:4/i [P] リン濃度と5先勧l崖との間イ釆k /r、Tり°ラフ
第1図
示すグラフである。 ソ″:4/i [P] リン濃度と5先勧l崖との間イ釆k /r、Tり°ラフ
第1図
Claims (1)
- (1)高次のアルコキシドを含有する有機シリコン化合
物及び低次のアルコキシドを含有する混合された有機シ
リコン化合物で成るシリコンソースと、 前記シリコンソース中の、低次のアルコキシドを含有す
る有機シリコン化合物よりも高次のアルコキシドを含有
する有機リン化合物で成るリンソースとを混合したソー
ス溶液を、基板上に塗布し、次いで、前記ソース溶液を
複数の温度段階で加熱することを特徴とするPSG膜の
形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30044690A JPH04171936A (ja) | 1990-11-06 | 1990-11-06 | Psg膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30044690A JPH04171936A (ja) | 1990-11-06 | 1990-11-06 | Psg膜の形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04171936A true JPH04171936A (ja) | 1992-06-19 |
Family
ID=17884900
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30044690A Pending JPH04171936A (ja) | 1990-11-06 | 1990-11-06 | Psg膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04171936A (ja) |
-
1990
- 1990-11-06 JP JP30044690A patent/JPH04171936A/ja active Pending
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