JPH04170722A - 光学的情報記録制御装置 - Google Patents

光学的情報記録制御装置

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JPH04170722A
JPH04170722A JP2297985A JP29798590A JPH04170722A JP H04170722 A JPH04170722 A JP H04170722A JP 2297985 A JP2297985 A JP 2297985A JP 29798590 A JP29798590 A JP 29798590A JP H04170722 A JPH04170722 A JP H04170722A
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Wataru Masuda
渉 増田
Hironori Masuda
増田 博則
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光デイスク装置や光カード装置等の光学的に
記録を行う光学的情報記録装置の記録制御装置に関する
ものである。
従来の技術 光学的に情報を記録する装置のなかで、光磁気記録方式
は記録膜として磁性膜を用い、記録担体の基材にはさま
れたこの記録膜にレーザ光を当て、記録膜を熱して温度
を上げ記録膜の保持力を低下させ記録膜の磁化の方向を
外部磁界の方向に揃えることにより情報を記録する。こ
の記録膜のキニーリー温度は200℃前後と比較的低く
、記録信号の品質を良くするため、記録膜の温度にょり
記録時のレーザパワーを特に微妙に制御する必要がある
。映像をFM変調した信号を、アナログで記録する場合
は特に記録膜温度に対するレーザパワーの制御が再生し
たときの信号のC/N等に影響を与え、映像品質を保つ
ために重要になっている。そのため、特開昭59−14
0647号や特開平1−191326号のように記録担
体の環境温度や記録担体温度を検知し、記録時のレーザ
パワーを制御する方法が提案されている。
発明が解決しようとする課題 しかし、記録担体は一般に、記録膜をはさんで基板と保
護膜が付いている構造になっており、記録膜そのものの
温度を正確に測定することは不可能であり、記録担体の
周囲温度や基板温度をもって記録膜の温度としている。
記録装置内の温度は、外部温度より数℃、設置環境によ
っては10℃前後高くなる。また記録担体の保管方法に
よっては記録担体装着時の記録担体と装置の温度差はさ
らに広がる可能性がある。
このように、記録担体と記録装置内の温度差が大きいと
、記録担体装着後、記録担体の温度が装置内温度と一致
する過程で、記録担体の基板と記録膜である磁性膜との
温度差か大きくなり、記録担体の基板温度をモニターし
て記録パワーを制御する方法でも、記録担体装着直後の
数分間は記録膜の温度を正確に把握することは不可能で
あり、記録パワーを記録膜の温度に対して最適値に設定
できなく、C/Nやエラーレートの悪い信号を記録して
しまうという課題がある。
課題を解決するための手段 このため本発明の光学的情報記録制御装置は、光学的情
報記録担体の温度を検出する第1の温度検出器と、記録
装置内の温度を検出する第2の温度検出器と、記録担体
の装着を検出する装着検出器と、記録担体と記録装置内
の温度差による第1の温度検出器の検出温度と記録担体
の記録膜との温度差が許容値以下になるまでの時間を記
した遅延時間テーブルと、記録担体の装着時に第1の温
度検出器と第2の温度検出器とから検出された温度の差
に対応した遅延時間テーブルから読み出した時間だけ遅
延して記録許可信号を出力する記録判定手段とから構成
している。
作用 かかる構成により、光学的情報記録担体を装着後、記録
担体の温度と記録装置内の温度の差に対応した、記録担
体の温度と記録担体内の記録膜の温度差が許容値以下に
なる時間だけ経過後、記録を可能にする。これにより記
録担体の装着後の記録パワー制御が不可能な時に、情報
を記録することを禁止し、C/Nが低い信号を記録する
ことを防止できる。
実施例 以下、本発明の実施例について説明する。
本実施例の構成は、第1図に示したように記録担体8の
温度を検出する第1の温度検出器1と、記録装置内の温
度を検出する第2の温度検出器2と、記録担体8の装着
を検出する装着検出器3と、記録担体8と記録装置内の
温度差による第1の温度検出器1の検出温度と第4図に
示す記録担体8の記録膜83との温度差が第1の温度検
出器による記録パワー制御の許容値以下になるまでの時
間を記した遅延時間テーブル4と、中央演算装置、プロ
グラムを格納している読み出し専用メモリ、書き込み/
読み出しができるメモリ、A/D変換器、入出力ポート
等を備えたマイクロコンピュータ(図示せず)により実
現し、装着検出器により記録担体の装着を検出後、第1
の温度検出器1と第2の温度検出器2とから検出された
温度の差を検出し、遅延時間テーブル4から読み出した
遅延時間だけ遅延して記録許可信号を出力する記録判定
手段5、および記録許可信号により光学ヘッド7の記録
制御回路に入力する記録指令をゲートするゲート6とか
ら構成されている。
本実施例の動作を第8図を用いて第1図の記録判定手段
5のプログラムを示すフローチャートをもとに説明する
。記録担体8が装着されたことを、反射型光センサーを
用いた装着検出器3(詳細は第7図で説明する。)で検
出しくステップ51)、記録担体8の第1の温度検出器
1(詳細は第5図、第6図で説明する。)で検出した記
録担体8の基板温度Aとダイオードの温度特性を利用し
た温度センサー用ICを用いた第2の温度検出器2で検
出した装置内温度Bをマイクロコンビ二一夕のA/D変
換器で数値化したあと読み込む(ステップ52.53)
、記録担体8の基板温度Aと装置内温度Bの温度差Cを
算出しくステップ54)、あらかじめ測定されマイクロ
コンピュータの読み出し専用メモリに格納しである、記
録担体8の温度と装置内温度の差に対する第1の温度検
出器1の記録担体の検出温度と記録膜83の温度の差が
温度による記録パワー制御の許容誤差以下になる時間の
関係を示す遅延時間テーブル4から前記温度差Cに対応
する遅延時間を読み出す(ステップ55)。ステップ5
5で読み出した遅延時間だけ待ち(ステップ56)、記
録許可信号をマイクロコンピュータのI10ポートから
ゲート6に出力し、記録指令を許可する(ステップ57
)。
本実施例で使用した光磁気方式の記録担体8の基本構造
は、第4図に示すように記録担体表面から基板84.保
護膜82、磁性膜でできている記録膜83.保護膜82
9反射膜81の順で構成されており、実際にはこの構造
のものが2枚貼り合わせになっている。レーザ光は基板
側から記録膜に焦点を合わせ照射され、記録再生を行っ
ている。
記録担体8の記録膜83の温度を実使用時に直接測定す
ることは不可能であり、基板84を介してしか記録膜8
3の温度を測定できないことは第4図を見れば明らかで
ある。また、記録担体8を温度の異なる記録装置内に装
着した後の第1の温度検出器1で測定した記録担体8の
温度と記録膜83の温度の関係は第3図に示すようにな
っており、記録担体装着直後は基板84の温度変化に対
し記録膜83の温度変化は遅れ温度差が生じ、記録担体
の温度による記録パワーの制御を行った場合、誤差が大
きくなり記録した信号品質は悪くなることがわかる。
遅延時間テーブル4には装置内温度と記録担体8の保存
温度の差をパラメータとして第3図の特性を測定した結
果から求めた値を記入しである。
記録担体8の温度を測定する第1の温度検出器1は、サ
ーモバイル(熱電堆)を使用している。
第5図はサーモバイルを用いた温度検出器の働きを説明
するもので、記録担体8から放射された赤外線が、赤外
線透過材料で作られたフィルタ12を通してサーモバイ
ル13に入射する。サーモバイル13は赤外線を吸収し
熱せられ、この熱を電気信号に変換する。11はサーモ
バイルを取り巻くキャップである。
第6図はサーモバイルの略断面図であり、熱に感じる薄
膜16上に熱電対14があり、また薄膜16の中央部に
赤外線の吸収体である金具15があり赤外線の入射によ
り薄膜16の温度が金具15のある中央部を山にして上
昇する。この薄膜16の中央と周辺の温度差により熱電
対14に起電力が発生する。17は基板である。
また温度検出器自体の温度を内蔵されたダイオードを温
度センサーとして用い検出し、検出出力の補償をしてい
る。
第7図は装着検出器3の実施例であり、発光ダイオード
101から放射した光が記録担体8に反射してフォトト
ランジスタ102に入射し、装着信号を出力する。10
3,104は抵抗、105は2値化用のトランジスタで
ある。
本実施例では、2種類の温度検出器を用いているが、第
2図のように記録担体8がないときは、記録装置のフレ
ームに熱的に接触した金属板20の温度を検出し、記録
担体8が装着したときには記録担体8の温度を測定する
ようにし、さらに装着前の温度検出器1の出力を記憶す
る記憶手段1゜を用いれば1つの温度検出器でも実現で
きる。
21は表示手段であり、記録可能になるまでの残り時間
や現在のアドレスを切り替えて表示するLEDである。
本実施例では、光デイスク装置を用いて説明したが、光
カードや光テープ装置等への応用は本発明の範囲内であ
り、さらに、記録可能までの時間を装置の表示手段や、
CRT画面上に表示し利用者に知らしめることも本発明
の応用として考えられるものである。
発明の効果 このように本発明によれば、装置内温度の温度検出器と
、記録担体の温度検出器と、記録担体装着後の記録担体
の温度と記録担体の記録膜温度の温度差が許容値以下に
なる時間を示す遅延時間テーブルと、記録担体装着後、
遅延時間テーブルから読み出した記録担体と装置内温度
の差に対応した遅延時間だけ記録を禁止する記録判定手
段とを具備しているので、保存温度が装置内温度と異な
る記録担体を装着した直後の、記録担体の温度と記録担
体内の記録膜との温度差が大きく配録担体の温度での記
録パワー制御が不可能な期間に記録を行うことを防止で
き、C/Nやエラーレート等の再生品質の悪い信号を記
録すること、すなわち、記録の失敗をなくすことができ
、システムの信頼性が向上する。
また、記録禁止期間も装着時の記録担体と装置温度の差
に応じた最短時間に設定できるので、システムの効率の
悪化を最低限に抑えられる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は本発明の光学的情報記録制御装置の一
実施例を示すブロック図、第3図は記録担体装着後の記
録担体基板と記録膜の温度差の時間との関係を示す図、
第4図は記録担体の基本構造を示す図、第5図はサーモ
パイルを用いた第1の温度検出器の働きを説明する図、
第6図はサーモバイルの略断面図、第7図は装着検出器
の回路図、第8図は記録判定手段のプログラムを示すフ
ローチャートである。 1・・・・・・第1の温度検出器、2・・・・・・第2
の温度検出器、3・・・・・・装着検出器、4・・・・
・・遅延時間テーブル、5・・・・・・記録判定手段、
6・・・・・・ゲート、7・・・・・・光学ヘッド、8
・・・・・・光学的情報記録担体、9・・・・・・ディ
スクモータ、10・・・・・・記憶手段。 代理人の氏名 弁理士小蝦治明 ほか2名f41図 第2図 第3図 第4図 凸 L−丁”−も ψ   ? 職 第8図 0量 =L Slよ、3(ト S2、−−−− 功・′ 5i3、−[ ケ F3部 智パ 55、」 L廿 □1 ゾロ、〒5升子 51、 h進取8午 閣1

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光学的情報記録担体の温度を検出する第1の温度
    検出器と、記録装置内の温度を検出する第2の温度検出
    器と、前記記録担体の装着を検出する装着検出器と、前
    記記録担体と記録装置内の温度差による前記第1の温度
    検出器の検出温度と前記記録担体の記録膜の温度差が許
    容値以下になるまでの時間を記した遅延時間テーブルと
    、前記装着検出器により前記記録担体の装着を検出後、
    前記第1の温度検出器と前記第2の温度検出器とから検
    出された温度の差に対応する前記遅延時間テーブルから
    読み出した遅延時間だけ遅延して記録許可信号を出力す
    る記録判定手段とを具備したことを特徴とする光学的情
    報記録制御装置。
  2. (2)第1、第2の温度検出器の代わりに、光学的情報
    記録担体が装着されたときは前記記録担体の温度を検出
    し、装着されていないときは記録装置内の温度を検出す
    るように配置された温度検出器と、前記記録担体の装着
    前の温度検出器の出力を記憶する記憶手段とを具備した
    ことを特徴とする請求項1記載の光学的情報記録制御装
    置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004109667A1 (ja) * 2003-06-09 2004-12-16 Fujitsu Limited 光学記憶媒体のデータ保証方法及びその光学記憶装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004109667A1 (ja) * 2003-06-09 2004-12-16 Fujitsu Limited 光学記憶媒体のデータ保証方法及びその光学記憶装置
US7212478B2 (en) 2003-06-09 2007-05-01 Fujitsu Limited Data assurance method for optical storage media and optical storage device

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