JPH03105725A - 光学的記録装置 - Google Patents

光学的記録装置

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JPH03105725A
JPH03105725A JP1242959A JP24295989A JPH03105725A JP H03105725 A JPH03105725 A JP H03105725A JP 1242959 A JP1242959 A JP 1242959A JP 24295989 A JP24295989 A JP 24295989A JP H03105725 A JPH03105725 A JP H03105725A
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JP
Japan
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recording
temperature
disk
recording medium
signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP1242959A
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English (en)
Inventor
Yasuhiko Ishikawa
石川 康彦
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は光学的記録装置に関し、さらに詳しくは、光デ
ィスクや光カード等のように,光ビームの照射により発
生する熱を利用して情報の記録を行なうことのできる装
置に関する (従来の技術) 周知のように、光ディスクや光カードにあっては,例え
ば,記録媒体上への光ビームの照射による加熱作用を利
用して凹凸反射面から成るピッ1一を形威したりあるい
はそのピットを消去して,このピットの有無による光学
的反射率の変化を信9として取り出し、情報の読み取り
が行なえるようになっている. ところで、上述した光ビームを用いた記録装置にあって
は,その装置の使用環境温度が一定した状態で使用され
ることは少なく、例えば.ある温度範囲内で使用される
ことが多い. 従って、使用環境温度範四が広い状態で信号を記録しよ
うとした場合,同じ条件下での加熱を行った場合,環境
温度が低いと光ビームの光量不足により不十分な記録が
得られ、また、環境温度が高いと光ビームの光量が強す
ぎて記録部分が破壊されてしまう虞れがある. そこで,従来では、例えば、特開昭64 − 4256
号公報等に示されているように、信号記録再生特性に対
する温度変動を補償するための装置が提案されている. すなわち、上記公報に記載の装置は、光ビームによる記
録再生構造Aと,この記録再生構造での半導体レーザに
おける翻動出力を環境温度により設定する温度補償構造
Bとを備えている。
上述した装置における記録再生構造Aは、情報の記録時
、信号入力端子1からの信号を処理する信号処理回路2
を備え、この処理回路2からの出力が半導体レーザ駆動
回路3に導入されて半導体レーザ4の光量設定が行なわ
れるようになっているや 上述した処理回路2に入力された信号に応じて半導体レ
ーザー4から出射されるレーザー光は、レンズ系5を通
過して偏光ビームスプリッタ6で反射され、λ/4波長
板7および絞りレンズ8を介してビーム径を絞られた状
態でディスク10に照射されて記録を実行するようにな
っている。
一方,上述した絞りレンズ8においては、フォーカス素
子9によりディスク10の面振れに追随して動くように
なっており、光ビームを常にディスク10上での合焦の
ために変位できるようにしてある. また、情報の再生時には、半導体レーザ4を,記録時よ
りも弱い一定レベルの光を出力ように動作させ、ディス
クlOより反射された光ビームは,λ/4波長板7およ
び偏光ビームスプリッタ6を通過して受光器11に入射
される.受光器11に入射した光から得られる電気信号
はヘッドアンプ12で増幅され、復調器を含めた信号処
理回路13を介して信号出力端子14から再生信号とし
て出力される。
以上が上述した光学的記録装置における記録再生構造A
の構或および動作である. 一方、上述した温度補償構造Bは、第3図に示すように
、温度センサl5とこのセンサl5に接続してあるセン
サ出力処理回路16とを備えており、温度センサ15は
、ディスク10の近傍に配置され,ディスク10の近傍
付近の温度を検出するためのものであり,また、センサ
出力処理回路l6は、温度センサl5によるディスク1
0近傍の温度に応じて半導体レーザ4の駆動出力を設定
するための出力信号を半導体レーザ駆動回路3に出力す
るようになっている. 上述したセンサ出力処理回W&16では、ディスク10
の近傍における温度が低温の場合には,半導体レーザ4
の発光パワーを高出力とするように,また、上記温度が
高温の場合には、半導体レーザ4の発光パワーを低出力
とするように出力設定が行なわれる. 従って、上述した記録再生装置においては、ディスク1
0の使用環境温度に応じて最適な信号記録再生特性が得
られるように半導体レーザでの出力、換言すれば,発光
パワーが調整されることになる.また、上述したディス
ク10は、第4図に示す構造とされている. すなわち、ディスクlOは,案内溝2lが予め設けてあ
る光硬化性樹脂22を基板20上に配置して構威され、
この光硬化性樹脂22の上面には、記録媒体23がコー
ティングされることで設けてある。
上述した基板20は、スペーサ24を介して記録面を内
側に向けた状態で同一のもの2枚を対向させて一体化す
ることでエアサンドウィッチ状を成している, このような構造のディスクlOは,光ビームが基板20
を透過して記録媒体23上、すなわちディスク面上にス
ポット集光できるようになっている.また、上述したデ
ィスク10は、エアサンドウィッチ状を成しているもの
であるが、これとは別に、例えば、第5図に示すように
,光磁気ディスクのような密着型のディスクに応用する
こともできる。
上述した光磁気ディスクは、基板20上に下側保護層2
6(SiN, SiO等)、磁性層27 (TbFeC
o等)、上側保護層2g(SiN. SiO等)、有機
保護層29(アクリル酸樹脂等)を備えて形成してある
. そして、ディスク10は、基板20を上下に位置さるこ
てとで構成してあり,中心部の外側には、モータのチャ
ッキングのためのハブIOAが設けてあり、実際の情報
の記録は、磁性層27上で行なわれるようになっている
. (発明が解決しようとする課題) ところで,前述したような光ビームの照射による加熱作
用を利用して情報の記録・消去を行なう光ディスクに対
する記録装置にあっては、次のような問題があった。
すなわち、記録・消去の際の半導体レーザの信号記録再
生特性は、使用環境温度の変動を補償することを前提と
しており、このための温度変動の検知は、第3図から明
らかなように、ディスク10の近傍位置の温度を検知す
ることで行なわれていが、実際の情報の記録位置,換言
すれば、光ビームのスポット位置は、記録媒体23上、
すなわち、ディスク10の内部であるために,実際の記
録位置での温度変動を検知していないことになる.つま
り,記録媒体23すなわち、ディスク10の記録部に該
当する位置から温度センサl5との間には,第4図示の
ように、光硬化性樹脂22、基板20および基板外面と
温度センサ15との間の空隙が存在しているので、この
間での温度分布の差異により情報の記録位置での正確な
温度検出ができず,これにより信号記録再生特性の温度
変動に対する補償は必ずしも適当とはいえないことにな
る。
そこで、本発明の目的は,上述した従来の光学的記録装
置における問題に鑑み、記録位置での温度変動を正確に
検出することができ、これにより、信号記録再生特性に
たいする温度変動の補償を適正に行なえる光学的記録装
置を得ることにある。
(!It題を解決するための手段) この目的を達成するため、本発明は、光ビームの照射に
より発生する熱を利用して情報の記録等が行なわれる記
録層を備えた記録媒体の内部における上記情報記録位置
あるいはその近傍に設けられていて、その箇所の温度を
検知する温度センサと、上記温度センサからの出力を記
録装置本体側での上記光ビームに対する開動出力制御の
ための信号として処理する手段とを備えることを提案す
るものである。
また、本発明は、上記処理手段において,温度センサか
らの出力に応じて記録媒体に対し照射する光ビームの強
度を変化させることを提案するものである. さらに、本発明は、上述した光学的記録装置において、
温度センサは、記録媒体の異常温度の検出を行なうこと
を提案するものである。
(作 用) 本発明によれば,記録媒体内で実際に光ビームが照射さ
れる位置での温度変動が検出される.また、本発明によ
れば、実際の光ビームの照射位置での温度変動に応じて
光ビームの駆動出力が設定される。
さらに本発明によれば、記録媒体における光ビーム照射
位置での異常温度が検知される.(実 施 例) 以下、第1図および第2図において本発明実施例の詳細
を説明する. 第1図は本発明実施例による光学的記録装置における要
部を示す第3図相当のブロック図であり、第3図に示し
た構成部品と同じものについては同符号により示してあ
る。
すなわち、本実施例による光学的記録装置1は、従来の
光学的記録装置と同様に、記録再生構造Aと温度補償構
造Bとを備えており、記録再生構造Aは,情報の記録時
、信号入力端子1からの信号を処理する信号処理回路2
を備え、この処理回路2からの出力が半導体レーザ馳動
回路3に導入されて半導体レーザ4の光量設定が行なわ
れるようになっている. 上述した処理回路2に入力された信号に応じて半導体レ
ーザー4から出射されるレーザー光は、レンズ系5を通
過して偏光ビームスプリッタ6で反射され、λ/4波長
板7および絞りレンズ8を介してビーム径を絞られた状
態でディスクlOに照射されて記録を実行するようにな
っている。
一方,上述した絞りレンズ8においては、フォーカス素
子9によりディスク10の面振れに追随して動くように
なっており.光ビームを常にディスク10上での合焦の
ために変位できるようにしてある. また、情報の再生時には、半導体レーザ4を、記録時よ
りも弱い一定レベルの光を出力ように動作させ、ディス
ク10より反射された光ビームは,λ/4波長板7およ
び偏光ビームスプリッタ6を通過して受光器11に入射
される.受光器11に入射した光から得られる電気信号
はヘッドアンプl2で増幅され,復調器を含めた信号処
理回路13を介して信号出力端子14から再生信号とし
て出力される.以上が上述した光学的記録装置における
記録再生構造Aの構或および動作である. 一方、上述した温度補償構造Bは,温度センサl50お
よびセンサ出力処理回路l6とで構成してある. すなわち、温度センサ150は,ディスク10の内部に
おいて対向配置してある基板20同士の間に存在するエ
アギャップ内に位置しており、このエアギャップ内で、
例えば、スペーサ24に端部を固定してある温度センサ
保持部材31により保持されるようになっている. そして、この温度センサ150は,例えば、アルメルー
クロメル等による熱伝対や半導体センサのように、温度
によって電導体の抵抗が変化する素子により構或してあ
り、記録媒体23上に照射された光スポット近傍の温度
すなわちディスク内面の温度を検出するようになってい
る. 上述した温度センサ150は、センサ出力処理回路16
と電気的接続されているが、この接続のための構造とし
ては、温度センサ150からのリード線150Aの端末
に接合され、モータl7よるチャッキングに用いられる
ディスクlO側のハブIOAに設けられている接触子1
8センサ出力処理回路l6に結線されているリード線1
6Aの端末に接合され、モータl7側に位置して上記接
触子18と摺接関係にある接触子19とで構或してあり
、温度センサ150からの出力がセンサ出力処理回路1
6に入力されるようになっている. そして,センサ出力処理回路16は、ディスク内部にお
ける光スポット位置での温度変動に応じて半導体レーザ
4の出力パワーを設定するためのものであり、温度セン
サ150からの出力信号により、半導体レーザ4の光パ
ワーを,ディスク内面の温度が低温の場合には高出力と
し、そして上述した内面温度が高温の場合には、上述し
た光パワーを低出力とするようになっている. また、このセンサ出力処理回路16は,ディスク内での
異常温度、つまり、ディスクに劣化を来すような温度を
検出した場合の信号を図示しない制御回路に出力するよ
うになっており,これによりディスクの劣化防止および
ディスクの隙動装置に対する熱的な悪影響を及ぼさない
ようになっている。
本実施例は以上のような構成であるから、半導体レーザ
を用いた光ビームの照射を行って情報の記録を行う場合
,ディスク内部での光スポット位置での使用環境温度が
逐一、温度センサ150によリセンサ出力処理回路16
に出力され、この温度の検出結果に応じてセンサ出力処
理回路16から半導体レーザ駆動回路3に対して半導体
レーザ4の光パワーを設定される. また、上述した光ディスク4は、エアギャップを有する
構造のものであるが、この構造のものに代えて、第2図
示のように、密着型のディスクのものを適用することも
可能である. すなわち、密着型のディスクは、構造上、エアギャップ
が存在していないので,温度センサ150は,接着剤3
0の中に埋め込まれる状態で設置される. そして、温度センサ150からの出力は,第1図に示し
た場合と同様に、接触子26、27を介してセンサ出力
処J?Ii回g16に導入され、半導体レーザ廃動回路
3に対する出力制御が行われる。
なお,上述した実施例は,光ディスクのみに限らず,光
ビームの照射による加熱作用を利用して情報の記録を行
う記録媒体、例えば、光カードに対しても適用できるこ
ともちろん可能である。
(発明の効果) 以上、本発明によれば、光ビームの照射による加熱作用
を利用して情報の記録を行う場合において、記録を行わ
れる記録媒体の使用環境温度をその記録媒体における光
ビームの照射位置に相当する位置で検知するようにした
ので、信号記録再生特性に影響する温度変動を、近似的
にではなく、実際値として求めることが可能になる。
また、本発明によれば、記録用光ビームが実際に照射さ
れる位置での温度変動に基づいて半導体レーザの光パワ
ーに対する補償を行うことができることにより、情報記
録に対する信頼性を向上させることができる。
さらに、本発明によれば,単に、温度変動のみならず、
その温度が異常温度であることをも検知することができ
るので、ディスクの劣化やあるいは半導体レーザの馳動
部の熱的悪影響を未然に防止することができる.
【図面の簡単な説明】
第1図(^)は本発明実施例による光学的記録装置の要
部を示すブロック図、第1図(B)は、第1図(A)に
おける符号■で示す部分の拡大断面図、第2図は本発明
実施例による光学的記録装置を適用するディスクの変形
例を示す断面図、第3図は従来の光学的記録装置の要部
を示す第1図(A)相当のブロック図,第4図は光学的
記録装置に適用されるディスクの一例を説明するための
部分断面図、第5図は第4図に示したディスクとは異な
る構造のディスクを説明するための断面図である,1・
・・信号入力端子、3・・・半導体レーザ翻動回路、4
・・・半導体レーザ、6・・・偏光ビームスプリツタ、
7・・・λ/4波長板,8・・・絞りレンズ、10・・
・ディスク、l6・・・センサ出力処理回路、20・・
・基板、22・・・光硬化性樹脂、23・・・記録媒体
、24・・・スペーサ、3l・・・保持部材,l50・
・・温度センサ。 第1図 第2図 第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光ビームの照射により発生する熱を利用して情報の
    記録等が行なわれる記録層を備えた記録媒体の内部にお
    ける上記情報記録位置あるいはその近傍に設けられてい
    て、その箇所の温度を検知する温度センサと、 上記温度センサからの出力を記録装置本体側での上記光
    ビームに対する駆動出力制御のための信号として処理す
    る手段と を備えていることを特徴とする光学的記録装置。 2、請求項1記載の光学的記録装置において、処理手段
    は、温度センサからの出力に応じて記録媒体に対して照
    射する光ビームの強度を変化させることを特徴とする光
    学的記録装置。 3、請求項1記載の光学的記録装置において、温度セン
    サは、記録媒体の異常温度の検出を行なうことを特徴と
    する光学的記録装置。
JP1242959A 1989-09-19 1989-09-19 光学的記録装置 Pending JPH03105725A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1242959A JPH03105725A (ja) 1989-09-19 1989-09-19 光学的記録装置

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JP1242959A JPH03105725A (ja) 1989-09-19 1989-09-19 光学的記録装置

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JPH03105725A true JPH03105725A (ja) 1991-05-02

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ID=17096777

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JP1242959A Pending JPH03105725A (ja) 1989-09-19 1989-09-19 光学的記録装置

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JP (1) JPH03105725A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8079913B2 (en) 2005-09-22 2011-12-20 Ntn Corporation Slide-type constant velocity universal joint

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8079913B2 (en) 2005-09-22 2011-12-20 Ntn Corporation Slide-type constant velocity universal joint

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