JPH0416729B2 - - Google Patents

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JPH0416729B2
JPH0416729B2 JP57209052A JP20905282A JPH0416729B2 JP H0416729 B2 JPH0416729 B2 JP H0416729B2 JP 57209052 A JP57209052 A JP 57209052A JP 20905282 A JP20905282 A JP 20905282A JP H0416729 B2 JPH0416729 B2 JP H0416729B2
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Japan
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pressure
volume
diaphragm
cavity
casing
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JP57209052A
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Akira Ishii
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication of JPS5999230A publication Critical patent/JPS5999230A/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L13/00Devices or apparatus for measuring differences of two or more fluid pressure values
    • G01L13/02Devices or apparatus for measuring differences of two or more fluid pressure values using elastically-deformable members or pistons as sensing elements
    • G01L13/025Devices or apparatus for measuring differences of two or more fluid pressure values using elastically-deformable members or pistons as sensing elements using diaphragms

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は低圧側および高圧側の両被測定流体の
差圧を検出しその差圧に応じた電気信号を出力す
る差圧伝送器の改良に関する。
〔発明の技術的背景〕
先ず、第1図を参照して従来の差圧伝送器を説
明する。高圧側被測定流体が流入する流入口1a
を有するフランジ1と、低圧側被測定流体が流入
する流入口2aを有するフランジ2とは、それぞ
れ受圧ダイアフラム3および4を介してケーシン
グ5,6および7に密着固定されている。このケ
ーシング5,6,7の受圧ダイアフラム3,4側
には、それぞれ受圧ダイアフラム座3A,4Aが
形成されている。また、ケーシング5,6,7の
フランジ1,2との接続部は、シール部材8によ
つて液密にシールされている。また、前記ケーシ
ング5,6間には、中間ダイアフラム9が介在さ
れている。そして、この中間ダイアフラム9と前
記受圧ダイアフラム3とによつて第1の圧力室1
0が形成されており、この第1の圧力室10内に
は圧力伝達媒体12が充填されている。同様に中
間ダイアフラム9と前記受圧ダイアフラム4とに
よつて第2の圧力室11が形成されており、この
第2の圧力室11内には圧力伝達媒体12が充填
されている。また、前記ケーシング7内には感圧
素子13が設けられており、この感圧素子13
は、それぞれ連通孔14,15を介して第1の圧
力室10および第2の圧力室11から圧力伝達媒
体12を介して伝達される差圧を検知して電気信
号に変換し、リード線16を介して外部に出力す
る構成となつている。
従つて、高圧側より流入口1aを介して圧力P
1が、同時に低圧側より流入口2aを介して圧力
P2(ただしP1>P2とする)が供給されると、
それぞれ受圧ダイアフラム3,4および圧力伝達
媒体12を介して感圧素子13および中間ダイア
フラム9に前記圧力P1,P2が加わる。そし
て、中間ダイアフラム9は低圧側にたわみ、感圧
素子13は前記圧力P1とP2の差圧を感知し、
この差圧に応じた出力信号を外部に出力する。
次に、前記圧力P1とP2との差がさらに大き
くなつた場合には前記中間ダイアフラム9はさら
に低圧側にたわみ、このたわみによつて圧力伝達
媒体12,12が移動した容積分だけ受圧ダイア
フラム3,4も低圧側にたわむ。前記圧力P1と
P2の差がさらに大きくなると、受圧ダイアフラ
ム3は受圧ダイアフラム座3Aに着座する。従つ
て、これ以上差圧が大きくなつても受圧ダイアフ
ラム3は移動不可能であるために圧力伝達媒体1
2にもそれ以上の圧力が伝達されないことにな
る。これは、前記感圧素子13に検出範囲があ
り、この検出範囲を越えた差圧が感圧素子13に
加わると感圧素子13が破壊する恐れがあるの
で、検出範囲を越えた差圧が感圧素子に加わらな
いように保護しようとするものである。
受圧ダイアフラム3が受圧ダイアフラム座3A
に着座したときの差圧(以後は過圧保護作動圧力
と称する)は、受圧ダイアフラム3の硬さと、受
圧ダイアフラム3,4と受圧ダイアフラム座3
A,4Aとでそれぞれ囲まれた空〓部20(以
後、第1の空〓部20と称する)の容積に依存し
ている。この第1の空〓部20の容積は、前記受
圧ダイアフラム3,4が前記圧力伝達媒体12の
周囲温度変化に伴う膨脹あるいは収縮により移動
するために変化し、それによつて過圧保護作動圧
力が変化てしまう。一般に、例えば半導体感圧素
子の場合は、測定範囲の最大差圧と破壊差圧との
比が1:3〜1:6程度と小さいために前記過圧
保護作動圧力の温度による変化率を使用温度範囲
内で多くとも±50%以内に抑える必要があつた。
以下、この圧力変化率を±50%とした根拠につ
いて説明する。以上のように最大差圧ど破壊差圧
との比が1:3〜1:6程度としたが、これは常
温(例えば25℃)での圧力の変化率であるが、温
度変化による差圧変動があつても前記変化率の範
囲に納まつていなければならない。すなわち、使
用温度範囲が例えば−50℃〜100℃であると仮定
し、常温にて差圧が最大差圧を越えてダイアフラ
ムが着座している場合であつても、温度が100℃
まで変化したときに破壊差圧を越えてはならず、
逆に温度が−50℃まで変化したときには最大差圧
以下、つまり正常測定域まで下がらないことが必
要である。何んとなれば、破壊差圧を越えたとき
には半導体感圧素子が破壊してしまい、一方、正
常測定域まで下がつた場合には誤測定となつてし
まうためである。そのためには、流体体積、つま
り流体圧力が温度変化に比例することから、中心
温度である常温25℃において最大差圧と破壊差圧
との中間差圧にあつて受圧ダイアフラムが着座す
るように設定したとき、使用温度範囲内において
圧力変化率が±50%以内に抑える必要があり、そ
の値を越えれば上述した不具合が生じてくる。
そこで、従来は第1の空〓部20の容積を大き
くとることにより、過圧保護作動圧力の温度によ
る変化率を小さく抑えていた。
〔背景技術の問題点〕
上記構成によると、第1の空〓部20の容積を
大きくすることは、中間ダイアフラム9の移動量
を大きくしてそれによつて中間ダイアフラム9に
加わる応力を大きくすることになる。その結果、
ヒステリシスが増大し過大差圧印加後の出力に誤
差が生じてしまうという不具合があつた。
〔発明の目的〕
本発明の目的とするところは、過圧保護作動圧
力の温度による変化率を小さくし、かつ、中間ダ
イアフラムに作用する応力を小さくすることによ
り、ヒステリシスの低減化を図り、これによつて
過大差圧印加後の出力誤差を小さくし全使用温度
範囲内で安定した測定を実現する差圧伝送器を提
供することにある。
〔発明の概要〕
本発明による差圧伝送器は、ケーシングと、こ
のケーシングを挟むようにしてそれぞれ密着固定
され被測定流体が流入する流入口を有する一対の
フランジと、この一対のフランジと前記ケーシン
グとの間に設けられた一対の受圧ダイアフラム
と、この一対の受圧ダイアフラム間のケーシング
内に設けられた中間ダイアフラムと、この中間ダ
イアフラムと前記一対の受圧ダイアフラムとの間
にそれぞれ形成された第1および第2の圧力室
と、この第1および第2の圧力室間のケーシング
内に設置され第1および第2の圧力室の圧力差を
検出して電気信号に変換して出力する所定の過大
差圧の印加によつて破壊する感圧体とを備えた差
圧伝送器において、高圧側の前記受圧ダイアフラ
ムとこの高圧側受圧ダイアフラムに対向するケー
シング面であるダイアフラム座とで囲む第1の空
〓部の容積をV1、前記中間ダイアフラムとこの
中間ダイアフラムに対向する低圧側に位置するケ
ーシング面であるダイアフラム座とで囲む第2の
空〓部の容積をV2、前記中間ダイアフラムとこ
の中間ダイアフラムに対向する高圧側に位置する
ケーシング面であるダイアフラム座とで囲む容積
およびそれ以外の高圧側に属する圧力伝達媒体が
充填される容積からなる第3の空〓部の容積を
V3としたとき、これら第1ないし第3の空〓部
の容積V1、V2およびV3の間には、1.5V1≦V2
2V1およびV3≦3.7V1なる関係が満足するように
前記第1ないし第3の空〓部を形成した構成であ
る。
すなわち、V1を小さくし、かつ、V2およびV3
が1.5V1≦V2≦2V1およびV3≦3.7V1を満足する
ように構成することにより過圧保護作動圧力の温
度による変化を小さくする構成である。
従つて、過圧保護作動圧力の温度による変化を
小さくすることができ、確実に±50%以内に抑え
ることができる。そして、V1を小さくすること
により中間ダイアフラムの移動量を抑制し、それ
によつて中間ダイアフラムに加わる応力を小さく
することができ、これによつてヒステリシスを低
減させ、過大差圧印加後の出力誤差を小さくする
ことができる。さらに、全体の圧力伝達媒体の体
積が小さくなるので、体積膨脹或いは収縮量が小
さくなり、温度誤差、静圧誤差が小さくなり安定
した測定を行うことができる。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例について第2図を参照
して説明する。高圧側被測定流体が流入する流入
口101Aを有するフランジ101と、低圧側被
測定流体が流入する流入口102Aを有するフラ
ンジ102とは、それぞれ受圧ダイアフラム10
3および104を介してケーシング105に密着
固定されている。また、このケーシング105に
は、それぞれ受圧ダイアフラム座103A,10
4Aが形成されている。そして、ケーシング10
5のフランジ101,102との接続部は、シー
ル部材108によつて液密にシールされている。
そして、前記ケーシング105には中間ダイアフ
ラム109が介在されている。この中間ダイアフ
ラム109と前記受圧ダイアフラム103とによ
つて第1の圧力室110が形成されており、この
第1の圧力室110内にはシリコーン油等からな
る圧力伝達媒体112が充填されている。同様に
中間ダイアフラム109と前記受圧ダイアフラム
104とによつて第2の圧力室111が形成され
ており、この第2の圧力室111内には圧力伝達
媒体112が充填されている。また、前記ケーシ
ング105内には、感圧体としての半導体感圧素
子113が感圧素子取付け基台117を介して取
付けられている。この感圧素子取付け基台117
には中継基板118が設置されている。
そして、図示左側の流入口101Aから導入さ
れる高圧は、受圧フランジ103、第1の圧力室
110、連通孔114を通つて半導体感圧素子1
13の図示右側側面部に与えられ、一方、図示右
側の流入口102Aから導入される低圧は、受圧
ダイアフラム104、連通孔115、第2の圧力
室111を通つて半導体感圧素子113の図示左
側面部に与えられる。従つて、半導体感圧素子1
13は、圧力伝達媒体112を介して第1の圧力
室110および第2の圧力室111の圧力の差圧
を検出して電気信号に変換した後、中継基板11
8およびリード線116を介して外部に出力する
構成となつている。また、受圧ダイアフラム10
3と受圧ダイアフラム座103Aとで囲む空〓部
120、受圧ダイアフラム104と受圧ダイアフ
ラム座104Aとで囲む空〓部120(以後、第
1の空〓部120と称する)の容積V1は、小さ
く構成されており1c.c.となつている。そして、中
間ダイアフラム109の両面にそれぞれ対向する
ケーシング105面はそれぞれ所定の空〓を有し
て中間ダイアフラム109に合つた形状に形成さ
れている。これは、中間ダイアフラム109とこ
の中間ダイアフラム109に対向する低圧側に位
置するケーシング面であるダイアフラム座とで囲
む第2の空〓部121(以後、第2の空〓部12
1と称する)の容積をV2を大きくし、 1.5V1≦V2≦2V1 を満足させるためである。
さらに、前記中継基板118とケーシング10
5との間には絶縁部材119が充填されている。
これは、前記中間ダイアフラムとこの中間ダイア
フラムに対向する高圧側に位置するケーシング面
であるダイアフラム座とで囲む容積およびそれ以
外の高圧側に属する圧力伝達媒体が充填される容
積からなる空〓部122(以後、第3の空〓部1
22と称する)の容積V3をできるだけ大きくし、 V3≦3.7V1 を満足させるためである。
因みに、例えば高圧側における第1の空〓部1
20の容積V1は第3図aに示す黒塗り部分に相
当し、第2の空〓部分121の容積V2は第3図
bに示す黒塗り部分に相当し、また第3の空〓部
122の容積V3は第3図cに示す黒塗り部分に
相当する。
次に、上記2つの条件である1.5V1≦V2≦2V1
V3≦3.7V1の背景について説明する。圧力伝達媒
体112の体膨脹係数をβ、温度変化をΔTとす
ると、容器の膨脹を無視するとすれば第1の空〓
部120の容積V1の温度変化による変化量ΔV
は、 ΔV=(V1+V2+V3)・β・ΔT ……(A) で表される。(ただし、このとき受圧ダイアフラ
ム103,104の硬さは、中間ダイアフラム1
09の硬さに比べて極めて大きく、総ての空〓部
に充填されている圧力伝達媒体112の温度変化
による体積変化分は、総て受圧ダイアフラム10
3,104の移動で吸収されるものとする。) 従つて、第1の空〓部120の変化率をεとす
ると、前記式(A)より ε=ΔV/V1 ={1+(V2+V3)/V1}・β・ΔT ……(B) で表される。シリコーン油からなる圧力伝達媒体
112の体膨脹係数βは1×10-3(CC/CC/℃)
程度であり、ΔTは差圧伝送器の使用温度範囲が
−50℃〜100℃とするとその中心温度、つまり常
温(25℃)からの最大の変化巾は75℃である。従
つて、前記式(B)においてβ・ΔTは、 β・ΔT=1×10-3×75=7.5×10-2 となり、 ε={1+(V2+V3)/V1}×7.5×10-2……(C) となる。この(C)式において仮にV2+V3がほぼ0
であつてもεは0.075となり7.5%の容積変化が生
ずる。ここで第2の空〓部121の容積V2は、
中間ダイアフラム109の移動量分の容積を有す
る必要があるのでV2>V1である必要がある。ま
た仮にV2+V3=V1としても前記式(C)よりεは
0.15となり15%の容積変化が生ずることになる。
そして、前述したように過圧保護作動圧力の変化
幅は約±50%以内に抑える必要がある。従つて、
前記式(C)より 0.5={1+(V2+V3)/V1} ×7.5×10-2 ……(C′) となり、この(C′)より {(V2+V3)/V1}≦5.7 ……(D) に設定する必要がある。また、V2は原理的に V2≧1.5V1 ……(E) である必要があり、この条件を満足できない場合
には、過圧保護機能が総ての使用温度範囲で満足
できなくなる。またV2の上限をV2≦2V1とする
と前記(E)式より 1.5V1≦V2≦2V1 ……(E′) となる。この式(E′)のV2を前記式(D)に代入し
て消去し、V1とV3との関係を求めると、 V3≦3.7V1 ……(F) となる。以上の理由から第2の空〓部121の容
積V2を1.5V1≦V2≦2V1とし、第3の空〓部12
2の容積V3をV3≦3.7V1としたのである。
さらに、式1.5V1≦V2≦2V1なる関係とした根
拠について具体的に説明する。受圧ダイアフラム
103の受けた圧力は、中間ダイアフラム109
を変位させ、第2の圧力室111の体積を圧縮さ
せる。このとき、第1の空〓部120の容積V1
と第2の空〓部121の容積V2とが等しい場合、
圧力が所定量を越えると、両ダイアフラム10
3,109はそれぞれダイアフラム座に同時に着
座するが、V1>V2の場合には中間ダイアフラム
109が先に着座してしまい、感圧素子113に
過大圧力の印加を許してしまう。従つて、V1
V2とは少なくとも最低限V1≦V2の関係になけれ
ばならず、しかも100℃の温度変化の場合でも、
第2の空〓部121の容積V2はV1の温度変化に
よる膨脹を吸収しなければならないので、+50%
とする必要がある。ゆえに、最終的にはV1とV2
の関係は1.5V1≦V2が下限条件となる。一方、上
限は、過大圧力防止印加の意味からすれば上限な
しといえる。しかし、小型、軽量を達成するため
には、1.5V1≦V2の条件を満足しつつ必要最小限
の容積とする必要がある。そこで、本発明では、
その上限を2V1としたが、これはダイアフラムの
材質、加工、取付け等により個々にバラツキが生
じる最小公倍数として求めたものであつて、V2
≦2V1とすることにより通常の工程で製造した製
品であれば十分に前記バラツキを吸収可能なもの
である。従つて、当該上限は理論上から求めたも
のでなく、経験的な観点から求めたものであり、
特に小型、軽量化を達成するための必要条件であ
る。
次に、V3≦3.7V1の根拠は前記条件の上限であ
るV2=2V1を前記(D)式に代入して求めたものであ
る。
すなわち、第1の空〓部120の容積V1を1
c.c.以下とする。そして、ケーシング105の中間
ダイアフラム109との対向面は中間ダイアフラ
ム109の形状に合わせた波形とすることにより
第2の空〓部121の容積V2を1.5V1≦V2≦2V1
を満足させるようにし、さらに中継基板118と
ケーシング105との間に絶縁部材119を充填
させて第3の空〓部122の容積V3をV3≦3.7V1
を満足させるようにした構成である。
従つて、過圧保護作動圧力の温度による変化を
小さくすることができ、確実に±50%以内に抑え
ることができる。そして、第1の空〓部120の
容積V1を小さくすることにより中間ダイアフラ
ム109の移動量を抑制することができ、それに
よつて中間ダイアフラム109に加わる応力を小
さくしヒステリシスを低減させ、過大差圧印加後
の出力誤差を小さくすることができる。さらに、
全体の圧力伝達媒体の体積が小さくなるので体積
棒脹或いは収縮量が小さくなり温度誤差、静圧誤
差が小さくなり安定した測定を行うことができ
る。
なお、V2およびV3が前記2つの条件1.5V1
V2≦2V1、V3≦3.7V1を満足するように構成する
には前記実施例以外にも種々の方法が考えられ
る。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、高圧側の
受圧ダイアフラムとこの高圧側受圧ダイアフラム
に対向するケーシング面であるダイアフラム座と
で囲む第1の空〓部の容積をV1、前記中間ダイ
アフラムとこの中間ダイアフラムに対向する低圧
側に位置するケーシング面であるダイアフラム座
とで囲む第2の空〓部の容積をV2、前記中間ダ
イアフラムとこの中間ダイアフラムに対向する高
圧側に位置するケーシング面であるダイアフラム
座とで囲む容積およびそれ以外の高圧側に属する
圧力伝達媒体が充填される容積からなる第3の空
〓部の容積をV3としたとき、これら容積V1,V2
およびV3が1.5V1≦V2≦2V1およびV3≦3.7V1
満足するように構成することにより、過圧保護作
動圧力の温度による変化を小さくする構成であ
る。 従つて、過圧保護作動圧力の温度による
変化を小さくでき、確実に±50%以内に抑えるこ
とができる。そして、V1を小さくすることによ
り中間ダイアフラムの移動量を抑制しそれによつ
て中間ダイアフラムに加わる応力を小さくし、こ
れによつてヒステリシスを低減化させて過大差圧
印加後の出力誤差を小さくできる。さらに、全体
の圧力伝達媒体の体積が小さくなるので体積膨脹
或いは収縮量が小さくなり、ひいては温度誤差、
静圧誤差を小さくでき、全使用温度範囲内で安定
した測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の差圧伝送器の構成を示す断面
図、第2図は本発明の一実施例を示す差圧伝送器
の断面図、第3図a〜cは差圧伝送器の各空〓部
の容積を説明する図である。 101,102……フランジ、101A,10
2A……流入口、103,104……受圧ダイア
フラム、105……ケーシング、109……中間
ダイアフラム、110……第1の圧力室、111
……第2の圧力室、113……半導体感圧素子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ケーシングと、このケーシングを挟むように
    してそれぞれ密着固定され被測定流体が流入する
    流入口を有する一対のフランジと、この一対のフ
    ランジと前記ケーシングとの間に設けられた一対
    の受圧ダイアフラムと、この一対の受圧ダイアフ
    ラム間のケーシング内に設けられた中間ダイアフ
    ラムと、この中間ダイアフラムと前記一対の受圧
    ダイアフラムとの間にそれぞれ形成された第1お
    よび第2の圧力室と、この第1および第2の圧力
    室間のケーシング内に設置され第1および第2の
    圧力室の圧力差を検出して電気信号に変換して出
    力する所定の過大差圧の印加によつて破壊する感
    圧体とを備えた差圧伝送器において、 前記圧力室の一方の一部であつて前記受圧ダイ
    アフラムとこの受圧ダイアフラムに対向するケー
    シング面であるダイアフラム座とで囲む第1の空
    〓部の容積をV1、前記圧力室の他方の一部であ
    つて前記中間ダイアフラムとこの中間ダイアフラ
    ムに対向するケーシング面であるダイアフラム座
    とで囲む第2の空〓部の容積をV2、前記圧力室
    の一方であつて前記第1の空〓部の容積V1およ
    び前記第2の空〓部の容積V2以外の容積からな
    る第3の空〓部の容積をV3としたとき、これら
    第1ないし第3の空〓部の容積V1,V2およびV3
    の間には、1.5V1≦V2≦2V1およびV3≦3.7V1
    る関係が満足するように前記第1ないし第3の空
    〓部を形成することを特徴とする差圧伝送器。 2 第1の空〓部の容積V1が1c.c.以下であるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の差圧
    伝送器。
JP20905282A 1982-11-29 1982-11-29 差圧伝送器 Granted JPS5999230A (ja)

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JPS60185130A (ja) * 1984-03-02 1985-09-20 Hitachi Ltd 半導体差圧発信器

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JPS5322483A (en) * 1976-03-24 1978-03-01 Ict Instruments Transducer assembly for differential pressure measurement

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JPS5999230A (ja) 1984-06-07

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