JPH04164264A - 電位センサ - Google Patents
電位センサInfo
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- JPH04164264A JPH04164264A JP29155990A JP29155990A JPH04164264A JP H04164264 A JPH04164264 A JP H04164264A JP 29155990 A JP29155990 A JP 29155990A JP 29155990 A JP29155990 A JP 29155990A JP H04164264 A JPH04164264 A JP H04164264A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 60
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract description 10
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract description 10
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 3
- 230000035939 shock Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 101150015217 FET4 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電位センサに関し、特に静電界の強度検出や帯
電量の測定等に使用する電位センサに関する。
電量の測定等に使用する電位センサに関する。
従来の電位センサには直流増幅型と交流増幅型があり、
以下順に説明する。まず直流増幅型電位センサの一例の
回路図を第5図に示す。このタイプの電位センサは、被
測定物19から放射される電気力線3を導入するための
検出孔18を有するケース2と、電気力線3を受ける検
出電極部1と、検出電極部1に発生した直流電圧信号を
増幅するプリアンプ7とから構成されている。この時、
検出電極部1に発生する直流電圧信号eは、被測定物j
9の電位をE (V) 、被測定物19と検出電極部1
との間のインピーダンスをZI+検出電極部1とグラン
ド間のインピーダンスを22とすると、e−EX (Z
2 /Zl +Z2 )となる。但し、通常Zl〉〉Z
2なのでeは微小電圧となり、これを入力インピーダン
スが高く、ゲインの大きなプリアンプ7で直流電圧増幅
して出力を得ている。
以下順に説明する。まず直流増幅型電位センサの一例の
回路図を第5図に示す。このタイプの電位センサは、被
測定物19から放射される電気力線3を導入するための
検出孔18を有するケース2と、電気力線3を受ける検
出電極部1と、検出電極部1に発生した直流電圧信号を
増幅するプリアンプ7とから構成されている。この時、
検出電極部1に発生する直流電圧信号eは、被測定物j
9の電位をE (V) 、被測定物19と検出電極部1
との間のインピーダンスをZI+検出電極部1とグラン
ド間のインピーダンスを22とすると、e−EX (Z
2 /Zl +Z2 )となる。但し、通常Zl〉〉Z
2なのでeは微小電圧となり、これを入力インピーダン
スが高く、ゲインの大きなプリアンプ7で直流電圧増幅
して出力を得ている。
次に交流増幅型について述べる。このタイプの電位セン
サは、被測定物から放射される電気力線を導入するため
の検出孔を備えたケースと、このケース内に入ってくる
電気力線を一定の周期で遮断するチョッパ部と、チョッ
パ部を駆動する機械振動子部と、この遮断された電気力
線を受けて交流信号を取り出すための検出電極部とから
構成されている。
サは、被測定物から放射される電気力線を導入するため
の検出孔を備えたケースと、このケース内に入ってくる
電気力線を一定の周期で遮断するチョッパ部と、チョッ
パ部を駆動する機械振動子部と、この遮断された電気力
線を受けて交流信号を取り出すための検出電極部とから
構成されている。
第6図(a、)、(b)は、それぞれ交流増幅型電位セ
ンサの一例の平面断面図および側面断面図である。
ンサの一例の平面断面図および側面断面図である。
この電位センサにおけるチョッパには駆動用の圧電セラ
ミック14を接着した音叉振動子13を使用している。
ミック14を接着した音叉振動子13を使用している。
音叉振動子13の先端部にあるチョッパ部12でケース
2に形成された検出孔18からの電気力線3が遮断され
る。この電気力線3を検出する検出電極部1は、基板1
1に固定されている。すなわち、チョッパ部12および
基板11には所定位置に音叉振動子13の駆動端子17
と信号出力端子15および接地端子16とが取付けられ
ており、この駆動端子17と圧電セラミック14との間
は所定の内部配線が施されている。
2に形成された検出孔18からの電気力線3が遮断され
る。この電気力線3を検出する検出電極部1は、基板1
1に固定されている。すなわち、チョッパ部12および
基板11には所定位置に音叉振動子13の駆動端子17
と信号出力端子15および接地端子16とが取付けられ
ており、この駆動端子17と圧電セラミック14との間
は所定の内部配線が施されている。
上述した従来の電位センサにおいて、まず直流増幅型で
は、検出電極部に発生する信号が微小な直流電圧であり
、しかもインピーダンスか高いため、直流増幅回路のオ
フセット、ドリフトの影響が大きく、出力変動が太きく
SlN比が良くないという欠点があった。
は、検出電極部に発生する信号が微小な直流電圧であり
、しかもインピーダンスか高いため、直流増幅回路のオ
フセット、ドリフトの影響が大きく、出力変動が太きく
SlN比が良くないという欠点があった。
次に交流増幅型は、音叉振動子の機械的な振動を利用し
ているため、音叉振動子の寸法を小さくすることが難し
く、小型化の妨げとなっていた。
ているため、音叉振動子の寸法を小さくすることが難し
く、小型化の妨げとなっていた。
また、音叉振動子の駆動に圧電セラミックを使用してい
るため、外部からの衝撃に対して強度が低く、クラック
発生等の故障が多かった。さらに電位センサ内部で、圧
電セラミックの振動電気信号が放射ノイズを発生させ、
高インピーダンスに保たれた検出電極部とカップリング
して出力ノイズを発生されるといった欠点があった。
るため、外部からの衝撃に対して強度が低く、クラック
発生等の故障が多かった。さらに電位センサ内部で、圧
電セラミックの振動電気信号が放射ノイズを発生させ、
高インピーダンスに保たれた検出電極部とカップリング
して出力ノイズを発生されるといった欠点があった。
本発明の電位センサは、電位センサのケースの一部に設
けられ被測定物から放射される電気力線を導入する検出
孔と、前記電気力線を受ける検出電極部とを有し前記検
出電極部から検出された電位である検出電極信号を増幅
して出力する電位センサにおいて、交流信号を発生する
発振器と、前記検出電極部とグランド間に接続され前記
発振器からの信号により前記検出電極部とグランド間の
インピーダンスが変化するFET回路とを有している。
けられ被測定物から放射される電気力線を導入する検出
孔と、前記電気力線を受ける検出電極部とを有し前記検
出電極部から検出された電位である検出電極信号を増幅
して出力する電位センサにおいて、交流信号を発生する
発振器と、前記検出電極部とグランド間に接続され前記
発振器からの信号により前記検出電極部とグランド間の
インピーダンスが変化するFET回路とを有している。
第1の実施態様においては、前記FET回路は、ドレイ
ンが前記検出電極部にゲートか前記発振器の出力端にソ
ースが抵抗を介してグランドに接続されたFETである
。この実施態様においては、FETのゲート端子に発振
器より交流電圧を与えると、ドレイン・ソース間のイン
ピーダンスも交番的に変化し、結果的に検出電極部とグ
ランド間のインピーダンスが交番的に変化するため、検
出電極部に交流の信号が発生する。
ンが前記検出電極部にゲートか前記発振器の出力端にソ
ースが抵抗を介してグランドに接続されたFETである
。この実施態様においては、FETのゲート端子に発振
器より交流電圧を与えると、ドレイン・ソース間のイン
ピーダンスも交番的に変化し、結果的に検出電極部とグ
ランド間のインピーダンスが交番的に変化するため、検
出電極部に交流の信号が発生する。
第2の実施態様においては、前記FET回路は、ゲート
が前記検出電極部にソースがグランドにドレインがバイ
アス電圧を付加した前記発振器の出力端に抵抗を介して
接続され前記ゲートには6一 予め定められた直流電位が与えられたFETであり、且
つ前記FETのドレインがインピーダンス変換された前
記検出電極信号の出力端とされている。この実施態様に
おいては、検出電極部に発生した直流電圧はFETのゲ
ート・ソース間電圧となり、FETのドレイン電流を制
御できる。するとソース接地増幅器となり、検出電極部
から入力される電位信号の振幅が発振器の出力する周波
数の信号で制御され、交流電圧の信号がドレイン端子に
発生する。このインピーダンス変換された交流電圧信号
を増幅・整流・平滑することで被測定物の電位に比例し
た電位センサ出力が得られる。
が前記検出電極部にソースがグランドにドレインがバイ
アス電圧を付加した前記発振器の出力端に抵抗を介して
接続され前記ゲートには6一 予め定められた直流電位が与えられたFETであり、且
つ前記FETのドレインがインピーダンス変換された前
記検出電極信号の出力端とされている。この実施態様に
おいては、検出電極部に発生した直流電圧はFETのゲ
ート・ソース間電圧となり、FETのドレイン電流を制
御できる。するとソース接地増幅器となり、検出電極部
から入力される電位信号の振幅が発振器の出力する周波
数の信号で制御され、交流電圧の信号がドレイン端子に
発生する。このインピーダンス変換された交流電圧信号
を増幅・整流・平滑することで被測定物の電位に比例し
た電位センサ出力が得られる。
次に本発明について図面を参照して説明する。
まず第3図に示す電位センサの原理図によって動作原理
を説明する。被測定物19の帯電電位をE(V)、被測
定物19と検出電極部1との間のインピーダンスをZ
z検出電極部1とグランド間のインピーダンスを22と
すれば、検出電極部1には(Z2/ (Z、+Z2))
・E (V)の電圧が生じる。通常Z、l>22であ
るが、Z2を交番的に変化させれば、検出電極部1には
微小ではあるが増幅の容易な交流電圧信号が発生し、一
般のプリアンプ7によって増幅できる。
を説明する。被測定物19の帯電電位をE(V)、被測
定物19と検出電極部1との間のインピーダンスをZ
z検出電極部1とグランド間のインピーダンスを22と
すれば、検出電極部1には(Z2/ (Z、+Z2))
・E (V)の電圧が生じる。通常Z、l>22であ
るが、Z2を交番的に変化させれば、検出電極部1には
微小ではあるが増幅の容易な交流電圧信号が発生し、一
般のプリアンプ7によって増幅できる。
第1図は本発明の第1の実施例の回路図、第2図はその
側面断面図である。被測定物から放射される電気力線3
の一部がケース2に設けられた検出孔18により取り込
まれ、検出電極部1はそれを受けて電圧を発生する。発
振回路5では、FET4が適正に動作するような値の直
流バイアス。
側面断面図である。被測定物から放射される電気力線3
の一部がケース2に設けられた検出孔18により取り込
まれ、検出電極部1はそれを受けて電圧を発生する。発
振回路5では、FET4が適正に動作するような値の直
流バイアス。
交流電圧2周波数の信号を発生し、FET4のゲート端
子に加える。これによってドレインが検出電極部1に接
続されたFET4のドレイン・ソース間のインピーダン
スZ2は、発振回路5の周波数で交番的に変化する。こ
のインピーダンスZ2の変化によって検出電極部1には
微小な交流電圧、即ち検出電極信号が発生する。これだ
けでも電位センサの基本機能は満たすが、本実施例では
実用的にケース2に収容された基板1.1に設けられた
付加回路も示している。検出電極部1上に発生した交流
信号(検出電極信号)はプリアンプ7によってインピー
ダンス変換された後、交流増幅器8によって増幅される
。この出力は発振回路5の出力信号により周期的にゲー
トされるFET9によって同期検波整流された後、ロー
パスフィルタ型増幅器10によって平滑され、直流電圧
出力が電位センサの出力として端子20から得られる。
子に加える。これによってドレインが検出電極部1に接
続されたFET4のドレイン・ソース間のインピーダン
スZ2は、発振回路5の周波数で交番的に変化する。こ
のインピーダンスZ2の変化によって検出電極部1には
微小な交流電圧、即ち検出電極信号が発生する。これだ
けでも電位センサの基本機能は満たすが、本実施例では
実用的にケース2に収容された基板1.1に設けられた
付加回路も示している。検出電極部1上に発生した交流
信号(検出電極信号)はプリアンプ7によってインピー
ダンス変換された後、交流増幅器8によって増幅される
。この出力は発振回路5の出力信号により周期的にゲー
トされるFET9によって同期検波整流された後、ロー
パスフィルタ型増幅器10によって平滑され、直流電圧
出力が電位センサの出力として端子20から得られる。
次に本発明の第2の実施例について説明する。
第4図は本発明の第2の実施例を示す回路図である。主
要部の構造は、第2図に示された第1の実施例とほぼ同
じである。被測定物19から放射された電気力線3は、
検出孔18を通って検出電極部1に到達する。検出電極
部1は、抵抗器23を介して基準電源21と接続され、
予め定められた一定の電位に保たれているが、電気力線
3の到達数によって検出電極部1の電位が変化する。そ
の信号が検出電極部1に接続されているプリアンプ7内
のFET24のゲートに伝わる。バイアス電源22によ
って正電位にバイアスされた発振回路5からは、所定の
周波数の信号が抵抗器25を通じてFET24のドレイ
ン端子に辻する。検出電極1の電位でFET24のドレ
イン電流が制御されるので、ドレイン端子には発振回路
5の周波数で振動する検出電極信号がインピーダンス変
換されて現れる。この検出電極信号は、交流電圧増幅器
8で増幅される。この出力は発振器5の出力信号によっ
て同期的にゲートされるFET9によって同期検波整流
された後、ローパスフィルタ型増幅器10によって平滑
され、被測定物19の電位に比例した直流電圧信号が電
位センサ出力として端子20から得られる。
要部の構造は、第2図に示された第1の実施例とほぼ同
じである。被測定物19から放射された電気力線3は、
検出孔18を通って検出電極部1に到達する。検出電極
部1は、抵抗器23を介して基準電源21と接続され、
予め定められた一定の電位に保たれているが、電気力線
3の到達数によって検出電極部1の電位が変化する。そ
の信号が検出電極部1に接続されているプリアンプ7内
のFET24のゲートに伝わる。バイアス電源22によ
って正電位にバイアスされた発振回路5からは、所定の
周波数の信号が抵抗器25を通じてFET24のドレイ
ン端子に辻する。検出電極1の電位でFET24のドレ
イン電流が制御されるので、ドレイン端子には発振回路
5の周波数で振動する検出電極信号がインピーダンス変
換されて現れる。この検出電極信号は、交流電圧増幅器
8で増幅される。この出力は発振器5の出力信号によっ
て同期的にゲートされるFET9によって同期検波整流
された後、ローパスフィルタ型増幅器10によって平滑
され、被測定物19の電位に比例した直流電圧信号が電
位センサ出力として端子20から得られる。
以上説明したように本発明は、発振回路とFETによっ
て、検出電極部とグランド間のインピーダンスを交番的
に変化させることで、被測定物の帯電電位に比例した交
流電圧信号が検出電極部上に発生し、この信号を増幅す
ることで電位を検出できる。つまり、音叉等の機械振動
子を用いずに帯電電位を増幅の容易な交流信号に変換し
、信号処理できる効果がある。従って小型化が容易、ノ
イズが少ない、振動、衝撃にすぐれる他、発振器の出力
周波数における帯域制限・同期検波が可能となり、S/
N比も向上できるという効果を有する。
て、検出電極部とグランド間のインピーダンスを交番的
に変化させることで、被測定物の帯電電位に比例した交
流電圧信号が検出電極部上に発生し、この信号を増幅す
ることで電位を検出できる。つまり、音叉等の機械振動
子を用いずに帯電電位を増幅の容易な交流信号に変換し
、信号処理できる効果がある。従って小型化が容易、ノ
イズが少ない、振動、衝撃にすぐれる他、発振器の出力
周波数における帯域制限・同期検波が可能となり、S/
N比も向上できるという効果を有する。
第1図は本発明の第1の実施例の回路図、第2図はその
側面断面図、第3図は電位センサの原理図、第4図は第
2の実施例の回路図、第5図は従来例(直流増幅型)の
回路図、第6図(a)。 (b)はそれぞれ従来例の平面断面図および側面断面図
である。 1・・・検出電極部、2・・・ケース、3・・・電気力
線、4・・・FET、5・・・発振回路、6・・・抵抗
器、7・・・プリアンプ、8・・・交流電圧増幅器、9
・・・FET110・・・ローパスフィルタ型増幅器、
11・・・基板、12・・・チョッパ部、13・・・音
叉振動子、14・・・圧電セラミック、15・・・信号
出力端子、16・・・接地端子、17・・・駆動端子、
18・・・検出孔、19・・・被測定物、20・・・端
子、21・・・基準電源、22・・・バイアス電源、2
3・・・抵抗器、24・・・FET125・・・抵抗器
。
側面断面図、第3図は電位センサの原理図、第4図は第
2の実施例の回路図、第5図は従来例(直流増幅型)の
回路図、第6図(a)。 (b)はそれぞれ従来例の平面断面図および側面断面図
である。 1・・・検出電極部、2・・・ケース、3・・・電気力
線、4・・・FET、5・・・発振回路、6・・・抵抗
器、7・・・プリアンプ、8・・・交流電圧増幅器、9
・・・FET110・・・ローパスフィルタ型増幅器、
11・・・基板、12・・・チョッパ部、13・・・音
叉振動子、14・・・圧電セラミック、15・・・信号
出力端子、16・・・接地端子、17・・・駆動端子、
18・・・検出孔、19・・・被測定物、20・・・端
子、21・・・基準電源、22・・・バイアス電源、2
3・・・抵抗器、24・・・FET125・・・抵抗器
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、電位センサのケースの一部に設けられ被測定物から
放射される電気力線を導入する検出孔と、前記電気力線
を受ける検出電極部とを有し前記検出電極部から検出さ
れた電位である検出電極信号を増幅して出力する電位セ
ンサにおいて、交流信号を発生する発振器と、前記検出
電極部とグランド間に接続され前記発振器からの信号に
より前記検出電極部と前記グランド間のインピーダンス
が変化するFET回路とを有することを特徴とする電位
センサ。 2、前記FET回路は、ドレインが前記検出電極部にゲ
ートが前記発振器の出力端にソースが抵抗を介してグラ
ンドに接続されたFETであることを特徴とする請求項
1記載の電位センサ。 3、前記FET回路は、ゲートが前記検出電極部にソー
スがグランドにドレインがバイアス電圧を付加した前記
発振器の出力端に抵抗を介して接続され前記ゲートには
予め定められた直流電位が与えられたFETであり、且
つ前記FETのドレインがインピーダンス変換された前
記検出電極信号の出力端とされていることを特徴とする
請求項1記載の電位センサ。 4、請求項1又は2又は3記載の電位センサと、前記検
出電極部から検出されて増幅された検出電極信号を前記
発振器からの同期信号によって同期検波整流する同期検
波回路とを有することを特徴とする電位センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29155990A JPH04164264A (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 電位センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29155990A JPH04164264A (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 電位センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04164264A true JPH04164264A (ja) | 1992-06-09 |
Family
ID=17770489
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29155990A Pending JPH04164264A (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 電位センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04164264A (ja) |
-
1990
- 1990-10-29 JP JP29155990A patent/JPH04164264A/ja active Pending
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