JPH04160004A - 酸化物超電導体及びその製造方法 - Google Patents
酸化物超電導体及びその製造方法Info
- Publication number
- JPH04160004A JPH04160004A JP2282178A JP28217890A JPH04160004A JP H04160004 A JPH04160004 A JP H04160004A JP 2282178 A JP2282178 A JP 2282178A JP 28217890 A JP28217890 A JP 28217890A JP H04160004 A JPH04160004 A JP H04160004A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- oxide
- substrate
- superconductor
- superconducting layer
- oxide superconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 title claims abstract description 56
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 39
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 21
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 23
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 12
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 8
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 7
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 6
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 5
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 5
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000003513 alkali Substances 0.000 claims description 3
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims description 3
- 229910052747 lanthanoid Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 150000002602 lanthanoids Chemical class 0.000 claims description 3
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 25
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 24
- 239000000463 material Substances 0.000 description 18
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 13
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 12
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 11
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 10
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 10
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 10
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 9
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 8
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 8
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 7
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 6
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical compound [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 5
- 238000007751 thermal spraying Methods 0.000 description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 description 4
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 3
- 238000000975 co-precipitation Methods 0.000 description 3
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 3
- -1 organic acid salts Chemical class 0.000 description 3
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 3
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005751 Copper oxide Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 229910000431 copper oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 2
- 238000004898 kneading Methods 0.000 description 2
- 150000002823 nitrates Chemical class 0.000 description 2
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 2
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 2
- 238000007750 plasma spraying Methods 0.000 description 2
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 235000003140 Panax quinquefolius Nutrition 0.000 description 1
- 240000005373 Panax quinquefolius Species 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 229910009203 Y-Ba-Cu-O Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003570 air Substances 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 1
- 239000012792 core layer Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004679 hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001659 ion-beam spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000011812 mixed powder Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 150000003891 oxalate salts Chemical class 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010180 surface X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、基板上に酸化物超電導層を形成した酸化物超
電導体およびその製造方法に関する。
電導体およびその製造方法に関する。
[従来の技術]
高い臨界温度を持つ超電導体材料として、銅酸化物系の
La−Ba−Cu−0ペロブスカイト型構造の超電導体
が知られている(特開昭63−260853号、特開昭
63−190712号公報など)。
La−Ba−Cu−0ペロブスカイト型構造の超電導体
が知られている(特開昭63−260853号、特開昭
63−190712号公報など)。
その後、臨界温度が90に級のY−Ba−Cu−O[M
、 K、 Nu、 J、 R,Ashburn、 C,
J、 Torng。
、 K、 Nu、 J、 R,Ashburn、 C,
J、 Torng。
Y、 Q、Wand and C,W、 Ch
u : Phys、 Rev、 Lett、。
u : Phys、 Rev、 Lett、。
58 (1987) 908 )が発見され、液体窒素
を冷媒とする超電導技術の応用が期待されるようになっ
た。
を冷媒とする超電導技術の応用が期待されるようになっ
た。
より高い臨界温度を持つ超電導材料開発の進歩はめざま
しく、1988年には、B1−8r−Ca−Cu−0系
の酸化物(臨界温度110に級)が発見され(H,Ma
eda、 Y、 Tanaka、 M、 Fukuto
miand T、 Asano : Jpn、 Jr、
Appl、 Phys、 27(2988)L209
)、さらにTl−Ba−Ca−Cu−0系酸化物(臨界
温度120に級)が発見された[z、 Z。
しく、1988年には、B1−8r−Ca−Cu−0系
の酸化物(臨界温度110に級)が発見され(H,Ma
eda、 Y、 Tanaka、 M、 Fukuto
miand T、 Asano : Jpn、 Jr、
Appl、 Phys、 27(2988)L209
)、さらにTl−Ba−Ca−Cu−0系酸化物(臨界
温度120に級)が発見された[z、 Z。
Sheng and A、 M、 Hermann :
Nature 322 (1988)55〕。
Nature 322 (1988)55〕。
これらは、いずれも銅酸化物を含むペロブスカイトある
いはその類似の結晶構造をもつもので、その荷電キャリ
アはホールであることが知られている。
いはその類似の結晶構造をもつもので、その荷電キャリ
アはホールであることが知られている。
一方荷電キャリアが電子である系としてNd−Ce−C
u−0酸化物(20に級)が発見された(T、 Tok
ura、 H,Takagi、 S、 Uchida
: Nature337、345−347(1989)
) 。
u−0酸化物(20に級)が発見された(T、 Tok
ura、 H,Takagi、 S、 Uchida
: Nature337、345−347(1989)
) 。
これらの−船釣な製造法は、それぞれの構成元素の炭酸
塩もしくは酸化物を混合粉砕して粉末状にし、空気中、
酸素中あるいは還元雰囲気中で800〜1100℃、5
分〜数百時間焼成することにより得られる。しがし、Y
−B a−Cu−0゜B1−8r−Ca−Cu−0,T
l−Ba−Ca−Cu−0系に代表される層状あるいは
複合層状ペロブスカイト構造には、暦数の異なる複数の
超電導体が存在し、それぞれ異なった臨界温度を示す。
塩もしくは酸化物を混合粉砕して粉末状にし、空気中、
酸素中あるいは還元雰囲気中で800〜1100℃、5
分〜数百時間焼成することにより得られる。しがし、Y
−B a−Cu−0゜B1−8r−Ca−Cu−0,T
l−Ba−Ca−Cu−0系に代表される層状あるいは
複合層状ペロブスカイト構造には、暦数の異なる複数の
超電導体が存在し、それぞれ異なった臨界温度を示す。
これらの超電導材料においては、暦数の異なる構造の間
の自由エネルギーの変化が小さく、合成に際してそれぞ
れを選択的に分別合成するのは非常に困難である。
の自由エネルギーの変化が小さく、合成に際してそれぞ
れを選択的に分別合成するのは非常に困難である。
例えば、B1−8r−Ca−Cu−0系においては、B
+、S r2cuos (臨界温度7に:低温相)
、 B r z S rzc a Culom (臨界
温度80〜90に:中温相)、B 1tsrzca*c
uso+。
+、S r2cuos (臨界温度7に:低温相)
、 B r z S rzc a Culom (臨界
温度80〜90に:中温相)、B 1tsrzca*c
uso+。
(臨界温度110に:高温相)のそれぞれが超電導体で
あり、臨界温度の最も高いBi、Sr、Ca、Cu、O
,。を合成しようと原料の原子比を2:2:2:3に調
整しても、焼結体は中温相と高温相の混合状態に合成さ
れ、単一相を得ることは困難である。
あり、臨界温度の最も高いBi、Sr、Ca、Cu、O
,。を合成しようと原料の原子比を2:2:2:3に調
整しても、焼結体は中温相と高温相の混合状態に合成さ
れ、単一相を得ることは困難である。
また、これらの酸化物超電導体を配線、磁気シールド、
アンテナ、共振器などに応用するにあたっては、酸化物
超電導体を線状、膜状、板状などの構造体とする必要が
あり、そのためには、導電性および熱伝導性が優れた安
定化材と複合することが必要である。この場合の安定化
材としては一般に銅などが用いられる。
アンテナ、共振器などに応用するにあたっては、酸化物
超電導体を線状、膜状、板状などの構造体とする必要が
あり、そのためには、導電性および熱伝導性が優れた安
定化材と複合することが必要である。この場合の安定化
材としては一般に銅などが用いられる。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、前記酸化物超電導材料は固体塩基の性質
を有し、超電導体合成過程の熱処理により金属を酸化、
腐食し、該超電導体の組成変化を生じ、その結果、超電
導特性が著しく低下するため実用性が乏しかった。
を有し、超電導体合成過程の熱処理により金属を酸化、
腐食し、該超電導体の組成変化を生じ、その結果、超電
導特性が著しく低下するため実用性が乏しかった。
さらに、これらの酸化物超電導体の特徴として、その結
晶構造に由来する導電性の大きな異方性が挙げられるが
、超電導材料の結晶組織が特定の方向に配向していない
場合には、その結晶粒界が弱接合となって、大きな臨界
電流密度や磁界中での高い特性を得ることができない(
D、 Dia+os、 P。
晶構造に由来する導電性の大きな異方性が挙げられるが
、超電導材料の結晶組織が特定の方向に配向していない
場合には、その結晶粒界が弱接合となって、大きな臨界
電流密度や磁界中での高い特性を得ることができない(
D、 Dia+os、 P。
Chaudhari、 J、 Mannhart、 a
nd F、 K、 LeGoues。
nd F、 K、 LeGoues。
Phys、 Rev、 Lett、、61(2)、 2
19(1988))。
19(1988))。
酸化物超電導体を配線、磁気シールド材、アンテナ、共
振器などに応用するにあたっては、重要な特性である臨
界電流密度は、零磁界中で数百〜−万アンペア/cm”
程度であるが、磁界中での臨界電流密度は、この性能の
1/10〜1/1000と大きく低下し、必要性能を得
ることができない、このために結晶を配向させたり、結
晶粒界の組織制御をして粒界の弱接合性を除くことが考
えられる。
振器などに応用するにあたっては、重要な特性である臨
界電流密度は、零磁界中で数百〜−万アンペア/cm”
程度であるが、磁界中での臨界電流密度は、この性能の
1/10〜1/1000と大きく低下し、必要性能を得
ることができない、このために結晶を配向させたり、結
晶粒界の組織制御をして粒界の弱接合性を除くことが考
えられる。
結晶を配向させる技術としては、酸化物超電導体の溶融
凝固法が提案されている(S、 Jin、 T、 H。
凝固法が提案されている(S、 Jin、 T、 H。
Tiefel、 R,C,Sherwood、 G、
W、 Kammlott and S。
W、 Kammlott and S。
M、 Zahurak、 Appl、 Phys、 L
att、、 51.943(1987))。特に超電導
体は合成過程で溶融するので、基板の酸化腐食や反応を
抑制し、超電導体としての高い性能を維持して超電導性
を有する構造物とすることは重要な課題である。
att、、 51.943(1987))。特に超電導
体は合成過程で溶融するので、基板の酸化腐食や反応を
抑制し、超電導体としての高い性能を維持して超電導性
を有する構造物とすることは重要な課題である。
本発明の目的は、臨界温度が高く、特に磁界中での臨界
電流密度の高い、安定な酸化物超電導体およびその製造
方法を提供することにある。
電流密度の高い、安定な酸化物超電導体およびその製造
方法を提供することにある。
本発明の他の目的は、安定な酸化物超電導体を用いたデ
バイスを提供することにある。
バイスを提供することにある。
[課題を解決するための手段]
前記目的を達成できる本発明の要旨は下記のとおりであ
る。
る。
(1)基板と、該基板上に形成された酸化物超電導層を
有する酸化物超電導体において、前記酸化物超電導層が
、ペロブスカイト系の結晶構造を有する酸化物を介して
形成されていることを特徴とする酸化物超電導体。
有する酸化物超電導体において、前記酸化物超電導層が
、ペロブスカイト系の結晶構造を有する酸化物を介して
形成されていることを特徴とする酸化物超電導体。
(2)基板上に結晶構造が域ロブスカイト構造を持つ絶
縁性、半導電性あるいは導電性の酸化物を主成分とする
物質を成膜する工程、 該物質を緻密化する工程、 該物質上に酸化物超電導層を形成する工程、を含むこと
を特徴とする酸化物超電導体の製造方法。
縁性、半導電性あるいは導電性の酸化物を主成分とする
物質を成膜する工程、 該物質を緻密化する工程、 該物質上に酸化物超電導層を形成する工程、を含むこと
を特徴とする酸化物超電導体の製造方法。
本発明において、前記基板と酸化物超電導層の間に介在
させる酸化物がCa、Sr、Baの少なくとも一種を含
むペロブスカイト系の結晶構造を有するものである。
させる酸化物がCa、Sr、Baの少なくとも一種を含
むペロブスカイト系の結晶構造を有するものである。
また、該酸化物は、Mn、Ga、Ti、Cu。
Co、Ni、Feの少な(とも一種を含むのが好ましい
。
。
これらの物質は、それぞれの元素の□酸化物、硝酸塩、
炭酸塩、アンモニウム塩、ハロゲン化物、有機酸塩、有
機金属錯体などを用いることができる。中でも酸化物、
アンモニウム塩、−有機酸塩などが好ましい。
炭酸塩、アンモニウム塩、ハロゲン化物、有機酸塩、有
機金属錯体などを用いることができる。中でも酸化物、
アンモニウム塩、−有機酸塩などが好ましい。
これらの原料の混合方法は、後述の酸化物超電導体材料
の場合と同様にして調製することができる。即ちの混合
原料を予め高温で溶融し、これを急冷して非晶質物を作
成し、焼成することによって合成することもできる。
の場合と同様にして調製することができる。即ちの混合
原料を予め高温で溶融し、これを急冷して非晶質物を作
成し、焼成することによって合成することもできる。
一方、前記酸化物超電導層としては、一般式%式%
(但し、Aはアルカリ土類、ランタナイド、イツトリウ
ムアルカリの一種以上、Bは銅、ビスマス、鉛、タリウ
ム、錫の一種以上、0は酸素、ハロゲンの一種以上であ
り、Xは1.Yは0.5〜1、δは2〜3.5で表され
る。)で示される組成を有するものが用いられる。
ムアルカリの一種以上、Bは銅、ビスマス、鉛、タリウ
ム、錫の一種以上、0は酸素、ハロゲンの一種以上であ
り、Xは1.Yは0.5〜1、δは2〜3.5で表され
る。)で示される組成を有するものが用いられる。
前記原料A、Bは、酸化物、硝酸塩、炭酸塩、アンモニ
ウム塩、ハロゲン化物、有機酸塩、有機金属錯体などを
用いることができる。中でも酸化物、アンモニウム塩、
有機酸塩などが好ましい。
ウム塩、ハロゲン化物、有機酸塩、有機金属錯体などを
用いることができる。中でも酸化物、アンモニウム塩、
有機酸塩などが好ましい。
前記原料の混合は、各成分が均質に分散混合できれば特
に制限はな(、固体状の原料物質を直接混合粉砕する方
法や、原料物質の水溶液あるいは非水溶液から前記組成
物の前駆体である不溶性の混合水酸化物、混合蓚酸塩お
よび混合錯塩あるいはこれらを複合物を得ることができ
る方法、例えば、共沈法(逐次沈殿法、緊密共沈法)、
沈殿混練法などが挙げられる。
に制限はな(、固体状の原料物質を直接混合粉砕する方
法や、原料物質の水溶液あるいは非水溶液から前記組成
物の前駆体である不溶性の混合水酸化物、混合蓚酸塩お
よび混合錯塩あるいはこれらを複合物を得ることができ
る方法、例えば、共沈法(逐次沈殿法、緊密共沈法)、
沈殿混練法などが挙げられる。
また、原料物質の2〜3成分を予め共沈法や沈殿混練法
で調製した後に、残余の成分の溶液を含浸して合成する
こともできる。さらにまた、A。
で調製した後に、残余の成分の溶液を含浸して合成する
こともできる。さらにまた、A。
Bの二つ以上の混合原料を予め高温で溶融し、これを急
冷して非晶質物を作製し、これを焼成することによって
合成することもできる。
冷して非晶質物を作製し、これを焼成することによって
合成することもできる。
上記のような方法で調製された原料組成物は、粉末状あ
るいはベレットなどに成形し、700℃以上で焼成する
ことによフて得られる。この場合の雰囲気は、超電導性
を付与するために酸素、空気、アルゴン、窒素等が選ば
れる。またこのような焼成法で合成するときは焼成体を
再度粉砕して焼成する工程を複数回繰り返すことにより
、均質で体積率が高く、特性の優れた超電導体を形成す
ることができる。
るいはベレットなどに成形し、700℃以上で焼成する
ことによフて得られる。この場合の雰囲気は、超電導性
を付与するために酸素、空気、アルゴン、窒素等が選ば
れる。またこのような焼成法で合成するときは焼成体を
再度粉砕して焼成する工程を複数回繰り返すことにより
、均質で体積率が高く、特性の優れた超電導体を形成す
ることができる。
これにより前記酸化物超電導体の結晶のC軸が実質的に
基板面に対して垂直方向に配向し、結晶のa軸が実質的
に基板面の面内の特定方向に配向する。
基板面に対して垂直方向に配向し、結晶のa軸が実質的
に基板面の面内の特定方向に配向する。
なお、酸化物超電導体結晶内部に、該超電導体とは異な
る粒径が1μm以下の物質が分散されていてもよい。
る粒径が1μm以下の物質が分散されていてもよい。
前記の方法で調製された粉末状あるいはベレットなどに
成形し、700℃以上で焼成することによって合成され
た前記酸化物は、基板と膜状あるいは板状の酸化物超電
導層との間に介在させる。
成形し、700℃以上で焼成することによって合成され
た前記酸化物は、基板と膜状あるいは板状の酸化物超電
導層との間に介在させる。
該酸化物は、前記酸化物超電導層よりも高い融点を有す
ることが望ましい。
ることが望ましい。
基板上に前記酸化物層および前記酸化物超電導層を形成
する方法は、高速でしかも大面積の成膜に有効な厚農成
展法としては、化学蒸着法(CVD法)、プラズマスプ
レー法、イオンビームスパッタ法などが望ましい、該酸
化物層および酸化物超電導層の厚さは5μm以上に形成
することが好ましい。
する方法は、高速でしかも大面積の成膜に有効な厚農成
展法としては、化学蒸着法(CVD法)、プラズマスプ
レー法、イオンビームスパッタ法などが望ましい、該酸
化物層および酸化物超電導層の厚さは5μm以上に形成
することが好ましい。
以上の方法で形成した膜状あるいは板状超電導体は、さ
らに300℃以上で熱処理することにより、超電導特性
を向上することができる。
らに300℃以上で熱処理することにより、超電導特性
を向上することができる。
なお、本発明において、超電導層を形成する基板材料と
しては、金属基板が望ましい。
しては、金属基板が望ましい。
以上の酸化物超電導体を用いて、配線、磁気シールド、
アンテナ、共振器などの装置を構成することにより、安
定で、高性能な超電導応用装置およびシステムを実用化
することができる。
アンテナ、共振器などの装置を構成することにより、安
定で、高性能な超電導応用装置およびシステムを実用化
することができる。
[作用]
本発明の酸化物超電導体が優れた超電導特性を示すのは
、基板と酸化物超電導層との反応を抑制する酸化物層を
基板と酸化物超電導層との間に設けたことにある。
、基板と酸化物超電導層との反応を抑制する酸化物層を
基板と酸化物超電導層との間に設けたことにある。
該酸化物が超電導層と同様なペロブスカイト型の結晶構
造を有するためにバッファ層となり、超電導層のクラッ
ク等の発生を抑制し、超電導特性を向上させるものと考
える。
造を有するためにバッファ層となり、超電導層のクラッ
ク等の発生を抑制し、超電導特性を向上させるものと考
える。
[実施例]
次に本発明を実施例により説明する。
〔実施例 1〕
SrO,TiO,を出発原料として、それぞれのモル比
がSr:Ti=3:2になるようにメノウ製乳鉢のらい
かい機で20分混合粉砕する。これを磁性体アルミする
つぼにとり大気中950℃、20時間、さらにAr雰囲
気中1350℃、2時間焼成する。こうして得た焼結体
を更に前記らいかい機で20分粉砕し、得られた粉末を
メツシュのふるいにかけ、ふるいを通らなかった粉末を
再びらいかい機で粉砕する。こうした操作を3回繰返し
、粉末の平均粒度が84μmになるように調製する。
がSr:Ti=3:2になるようにメノウ製乳鉢のらい
かい機で20分混合粉砕する。これを磁性体アルミする
つぼにとり大気中950℃、20時間、さらにAr雰囲
気中1350℃、2時間焼成する。こうして得た焼結体
を更に前記らいかい機で20分粉砕し、得られた粉末を
メツシュのふるいにかけ、ふるいを通らなかった粉末を
再びらいかい機で粉砕する。こうした操作を3回繰返し
、粉末の平均粒度が84μmになるように調製する。
この粉末をプラズマ溶射膜W(プラズマ・スプレー装置
)を用いて大きさ2mmX30mmX 1mmのNi基
合金の基板上に溶射した。
)を用いて大きさ2mmX30mmX 1mmのNi基
合金の基板上に溶射した。
上記Ni基合金組成は、重量%でC;0.08゜Cr
; 22.0.Co ; 2.00.Fe ; 18.
0゜Mo ; 9.00.W; 0.5.B ; 0.
05.残量Niからなる。また、プラズマ溶射条件は大
気中で出力、34KW、プラズマ電流;800A、*射
時間;200秒とした。
; 22.0.Co ; 2.00.Fe ; 18.
0゜Mo ; 9.00.W; 0.5.B ; 0.
05.残量Niからなる。また、プラズマ溶射条件は大
気中で出力、34KW、プラズマ電流;800A、*射
時間;200秒とした。
以上により、膜厚100μmの溶射膜を得ることができ
た。この膜をAr雰囲気中1250℃、2時間熱処理し
前駆体Aを得た。
た。この膜をAr雰囲気中1250℃、2時間熱処理し
前駆体Aを得た。
該前駆体Aあ表面X線回折結果を第1図に示す。
図から明らかなように、上記の膜はペロブスカイト構造
であることが分かる。
であることが分かる。
次に、酸化物超電導層の溶射粉末を作成するため、B
a COs 、S r COI+ Ca COs +
Cu Oを出発原料としそれぞれBa:Sr:Ca:C
uのモル比が1.6 : 0.4 : 2.0 : 3
.0になるように前記らいかい機で20分混合粉砕する
。これを磁性体アルミするつぼにとり、大気中800℃
、20時間焼成する。ふるいにより粒度調整を行い目的
の溶射粉末を得た。
a COs 、S r COI+ Ca COs +
Cu Oを出発原料としそれぞれBa:Sr:Ca:C
uのモル比が1.6 : 0.4 : 2.0 : 3
.0になるように前記らいかい機で20分混合粉砕する
。これを磁性体アルミするつぼにとり、大気中800℃
、20時間焼成する。ふるいにより粒度調整を行い目的
の溶射粉末を得た。
この粉末を用い前記と同様の溶射条件により、熱処理後
の前記前駆体Aの表面に膜厚100μmの溶射膜Aを形
成した。
の前記前駆体Aの表面に膜厚100μmの溶射膜Aを形
成した。
第2図に示すように、該溶射膜Aを形成した前駆体A3
をアルミナ板5上のTl:Ba:Sr:Ca:Cuの混
合粉末(モル比が2.0 : 1.6 :0.4 :
2.0 : 3.0)からなる敷粉2の中に置き、上部
をアルミするつぼlで覆ってAgペースト4で密封し、
850℃、5時間焼成する。こうして得られた超電導膜
の組成はICP分析の結果T]:Ba:Sr:Ca:C
uのモル比が1.7 : 1.6 :0.4 : 2.
1 : 3.1であった。
をアルミナ板5上のTl:Ba:Sr:Ca:Cuの混
合粉末(モル比が2.0 : 1.6 :0.4 :
2.0 : 3.0)からなる敷粉2の中に置き、上部
をアルミするつぼlで覆ってAgペースト4で密封し、
850℃、5時間焼成する。こうして得られた超電導膜
の組成はICP分析の結果T]:Ba:Sr:Ca:C
uのモル比が1.7 : 1.6 :0.4 : 2.
1 : 3.1であった。
該超電導体の特性を測定するため、該膜表面にインジウ
ムはんだで端子を接合し、液体窒素を冷媒とし冷却槽中
で冷却しながら、4端子法で電気抵抗の温度依存性を測
定した。
ムはんだで端子を接合し、液体窒素を冷媒とし冷却槽中
で冷却しながら、4端子法で電気抵抗の温度依存性を測
定した。
測定結果を第3図に示す。
第3図から明らかなように、123により低温側で急激
な抵抗変化を示し、115に付近で抵抗がゼロとなった
。
な抵抗変化を示し、115に付近で抵抗がゼロとなった
。
また臨界電流密度を測定するため、直流法より電圧−電
流の測定を行った。測定端子間電圧を1μV/cmとし
た時の電流値(臨界電流;IC)より液体窒素温度にお
ける臨界電流密度(Jc)を求めた。
流の測定を行った。測定端子間電圧を1μV/cmとし
た時の電流値(臨界電流;IC)より液体窒素温度にお
ける臨界電流密度(Jc)を求めた。
測定結果を第4図に示す。
図のI−V曲線から明らかなように、Jcが9249A
/amの膜を得ることができた。
/amの膜を得ることができた。
〔実施例 2〕
Ca O、F e O* を出発原料として、Ca:F
eのモル比が1:1になるようにメノウ製乳鉢のらいか
い機で20分混合粉砕する。これを磁性体アルミするつ
ぼにとり大気中900℃、20時間、さらにAr雰囲気
中1200℃、2時間焼成する。
eのモル比が1:1になるようにメノウ製乳鉢のらいか
い機で20分混合粉砕する。これを磁性体アルミするつ
ぼにとり大気中900℃、20時間、さらにAr雰囲気
中1200℃、2時間焼成する。
こうして得られた焼結体を上記らいかい機で20分粉砕
し、得られた粉末をメツシュのふるいにかけ、粉末の平
均粒度が84μmになるように調節する。この粉末を実
施例1と同様に2 m m X 30mmX1mmのN
i基合金の基板上に大気中でプラズマ溶射し、膜厚10
0μmの溶射膜を得た。
し、得られた粉末をメツシュのふるいにかけ、粉末の平
均粒度が84μmになるように調節する。この粉末を実
施例1と同様に2 m m X 30mmX1mmのN
i基合金の基板上に大気中でプラズマ溶射し、膜厚10
0μmの溶射膜を得た。
該膜をAr雰囲気中1200℃、2時間焼成し前駆体B
を作成した。
を作成した。
次に、酸化物超電導層の溶射粉末として、B r *O
*、 S r CO2,Ca COs、 Cu Oを出
発原料とし、Bi:Sr:Ca:Cuのモル比が2.0
: 2.0 : 1.0 : 2.0となるようらい
がい機で20分混合粉砕し、これを磁性体アルミするつ
ぼ中で850℃、20時間で大気中焼成する。
*、 S r CO2,Ca COs、 Cu Oを出
発原料とし、Bi:Sr:Ca:Cuのモル比が2.0
: 2.0 : 1.0 : 2.0となるようらい
がい機で20分混合粉砕し、これを磁性体アルミするつ
ぼ中で850℃、20時間で大気中焼成する。
ふるいにより粒度調整を行い、目的の溶射粉末を得た。
該粉末を用いて上記と同様の溶射条件で前駆体B上に膜
厚100μmの溶射膜Bを形成した。
厚100μmの溶射膜Bを形成した。
溶射膜Bを855℃、20時間窒素中で焼成し超電導体
とした。核層の特性を、前記実施例1と同様にして測定
した。
とした。核層の特性を、前記実施例1と同様にして測定
した。
測定結集を第5図に示す。
110に付近より急激な抵抗変化を示し、98に付近で
抵抗がゼロとなった。また、液体窒素温度における臨界
電流密度(J c)は7800A/cmであった。
抵抗がゼロとなった。また、液体窒素温度における臨界
電流密度(J c)は7800A/cmであった。
〔実施例 3〕
SrO,Ti0tを出発原料とし、Sr :Tiのモル
比が2=1となるように調合して、らいかい機で20分
間混合粉砕する。これを磁性体アルミするつぼで大気中
900℃、20時間、さらにAr雰囲気中1200℃、
2時間焼成する。こうして得た焼結体を、らいかい機で
20分間粉砕し、ふるいにかけ、粉末の平均粒度が84
μmになるように調節する。該粉末を実施例1と同様に
Ni基合金の基板上にプラズマ溶射し、膜厚100μm
の溶射膜を得た。その際、基板は水冷により常時20℃
に保持した銅板に接触させ、さらに溶射後プラズマ炎で
表面を1200℃、30分間焙り、前駆体Cを得た。
比が2=1となるように調合して、らいかい機で20分
間混合粉砕する。これを磁性体アルミするつぼで大気中
900℃、20時間、さらにAr雰囲気中1200℃、
2時間焼成する。こうして得た焼結体を、らいかい機で
20分間粉砕し、ふるいにかけ、粉末の平均粒度が84
μmになるように調節する。該粉末を実施例1と同様に
Ni基合金の基板上にプラズマ溶射し、膜厚100μm
の溶射膜を得た。その際、基板は水冷により常時20℃
に保持した銅板に接触させ、さらに溶射後プラズマ炎で
表面を1200℃、30分間焙り、前駆体Cを得た。
次に、酸化物超電導層の溶射粉末として、Bi*Os、
5rCOs、CaC0,、CuOを出発原料とし、’B
i:Sr:Ca:Cuのモル比が2.0 : 2.0
: 1.0 : 2.0となるようにらいかい機で20
分間混合粉砕する。これを磁性体アルミするつぼ中、8
50℃、20時間大気中で焼成後、ふるいにより粒度調
整を行い、目的の溶射粉末を得た。
5rCOs、CaC0,、CuOを出発原料とし、’B
i:Sr:Ca:Cuのモル比が2.0 : 2.0
: 1.0 : 2.0となるようにらいかい機で20
分間混合粉砕する。これを磁性体アルミするつぼ中、8
50℃、20時間大気中で焼成後、ふるいにより粒度調
整を行い、目的の溶射粉末を得た。
該粉末を用いて前記と同様な溶射条件により前駆体C上
に膜厚100μmの溶射膜Cを得た。該溶射gcを85
5℃、20時間大気中で焼成後、炉中で放冷し超電導体
を形成した。
に膜厚100μmの溶射膜Cを得た。該溶射gcを85
5℃、20時間大気中で焼成後、炉中で放冷し超電導体
を形成した。
該超電導体の特性は、80により急激な抵抗変化を示し
、72にで抵抗値がゼロとなった。また液体ヘリウム温
度における臨界電流密度(J c)は12000A/c
mであった。
、72にで抵抗値がゼロとなった。また液体ヘリウム温
度における臨界電流密度(J c)は12000A/c
mであった。
〔実施例 4〕
SrO,Coosを出発原料とし、Sr:C。
のモル比が1:1となるようらいかい機で20分間混合
粉砕する。これを磁性体アルミするつぼ中、900℃、
20時間、さらにAr雰囲気中1200℃、2時間大気
中で焼成する。こうして得た焼結体をらいかい機で20
分間粉砕し、ふるいにかけて平均粒度が84μmになる
ように調節する。
粉砕する。これを磁性体アルミするつぼ中、900℃、
20時間、さらにAr雰囲気中1200℃、2時間大気
中で焼成する。こうして得た焼結体をらいかい機で20
分間粉砕し、ふるいにかけて平均粒度が84μmになる
ように調節する。
該粉末をプラズマ溶射装置を用いてAg基板上に大気中
溶射し、膜厚100μmの溶射膜を得た。
溶射し、膜厚100μmの溶射膜を得た。
その際、基板は水冷により常時20℃に保持した銅板に
接触させ、さらに溶射後プラズマ炎で表面を1500℃
、30分間あぶり前駆体りを得た。
接触させ、さらに溶射後プラズマ炎で表面を1500℃
、30分間あぶり前駆体りを得た。
次に、酸化物超電導層の溶射粉末としてY 20− 。
BaC0,、CuOを出発原料とし、Y:Ba、:Cu
のモル比が 1.0 : 2.0 : 3.0となるよ
うにらいかい機で20分間混合粉砕する。これを磁性体
アルミするつぼ中、850℃、20時間大気中で焼成し
、ふるいにより粒度調整を行なって目的の溶射粉末を得
た。該粉末を用いて前記と同様な溶射条件により前駆体
り上に膜厚100μm溶射膜りを得た。
のモル比が 1.0 : 2.0 : 3.0となるよ
うにらいかい機で20分間混合粉砕する。これを磁性体
アルミするつぼ中、850℃、20時間大気中で焼成し
、ふるいにより粒度調整を行なって目的の溶射粉末を得
た。該粉末を用いて前記と同様な溶射条件により前駆体
り上に膜厚100μm溶射膜りを得た。
該溶射11iDを950℃、3時間酸素中で焼成し、さ
らに酸素中450℃、30時間焼成して超電導体を得た
。
らに酸素中450℃、30時間焼成して超電導体を得た
。
液体窒素を冷媒として電気抵抗の温度依存性を測定した
結果、98により急激な抵抗変化を示し、95にで抵抗
値がゼロとなった。また、液体窒素温度における臨界電
流密度(Jc)は、7400A/cmであった。
結果、98により急激な抵抗変化を示し、95にで抵抗
値がゼロとなった。また、液体窒素温度における臨界電
流密度(Jc)は、7400A/cmであった。
[発明の効果]
本発明によれば基板と酸化物超電導層との反応を抑制す
ることでき、優れた超電導特性の酸化物超電導体を得る
ことができる。
ることでき、優れた超電導特性の酸化物超電導体を得る
ことができる。
また、クラック等が防止されるので、大面積膜の形成も
可能となり、さらに、各種線材や磁気シールド材などの
エネルギー分野での実用化も可能である。
可能となり、さらに、各種線材や磁気シールド材などの
エネルギー分野での実用化も可能である。
第1図は前駆体Aの表面のX線回折グラフ、第2図は実
施例1における焼成装置の資料部の断面略図、第3図は
実施例1の酸化物超電導体の電気抵抗の温度依存性を示
すグラフ、第4図は実施例1の酸化物超電導体のI−V
特性を示すグラフ、第5図は実施例2の酸化物超電導体
の電気抵抗の温度依存性を示すグラフである。 1・・アルミするつぼ、2・・・敷粉、3・・・前駆体
A、4・・・Agペースト、5・・アルミナ板。 第1図 第2図 4−・Agペースト 5・・・アルミナ板第3図 第4図 電 流 (A) 第5図 温 度 (K) 手続補正書(自発) 3.2.9 平成 年 月 日 平成 2年特 許 願第28も178号2、発明の名称 酸化物超電導体及びその製造方法 3、補正をする者 楕円UNビル 名 称 超電導発電関連機器・材料技術研究組合
理事長 森井清二 4、代 理 人 6、補正の内容 明細書第17頁16行、同第19頁7〜8行、同第20
頁18行および同第22頁8行のrA/crrBをrA
/cm”Jと補正する。
施例1における焼成装置の資料部の断面略図、第3図は
実施例1の酸化物超電導体の電気抵抗の温度依存性を示
すグラフ、第4図は実施例1の酸化物超電導体のI−V
特性を示すグラフ、第5図は実施例2の酸化物超電導体
の電気抵抗の温度依存性を示すグラフである。 1・・アルミするつぼ、2・・・敷粉、3・・・前駆体
A、4・・・Agペースト、5・・アルミナ板。 第1図 第2図 4−・Agペースト 5・・・アルミナ板第3図 第4図 電 流 (A) 第5図 温 度 (K) 手続補正書(自発) 3.2.9 平成 年 月 日 平成 2年特 許 願第28も178号2、発明の名称 酸化物超電導体及びその製造方法 3、補正をする者 楕円UNビル 名 称 超電導発電関連機器・材料技術研究組合
理事長 森井清二 4、代 理 人 6、補正の内容 明細書第17頁16行、同第19頁7〜8行、同第20
頁18行および同第22頁8行のrA/crrBをrA
/cm”Jと補正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、基板と、該基板上に形成された酸化物超電導層を有
する酸化物超電導体において、前記酸化物超電導層が、
ペロブスカイト系の結晶構造を有する酸化物を介して形
成されていることを特徴とする酸化物超電導体。 2、金属基板と、該基板上に形成された酸化物超電導層
を有する酸化物超電導体において、前記酸化物超電導層
が、ペロブスカイト系の結晶構造を有する酸化物を主成
分とする酸化物を介して形成されていることを特徴とす
る酸化物超電導体。 3、請求項2において、金属基板と酸化物超電導層の間
に介在させる酸化物が、Ca、Sr、Baの少なくとも
一種を含むペロブスカイト系の結晶構造を有することを
特徴とする酸化物超電導体。 4、請求項3において、金属基板と酸化物超電導層の間
に介在させる酸化物が、Mn、Ga、Ti、Cu、Co
、Ni、Feの少なくとも一種を含むペロブスカイト系
の結晶構造を有する酸化物であることを特徴とする酸化
物超電導体。 5、請求項2において、酸化物超電導層が一般式A_x
B_yO_δ (但し、Aはアルカリ土類、ランタナイド、イットリウ
ムアルカリの一種以上、Bは銅、ビスマス、鉛、タリウ
ム、錫の一種以上、Oは酸素、ハロゲンの一種以上であ
り、Xは1、Yは 0.5〜1、δは2〜3.5で表される。)で示される
組成を有することを特徴とする酸化物超電導体。 6、金属基板と、該金属基板上に形成された酸化物超電
導層を有する酸化物超電導体において、前記酸化物超電
導層が一般式 A_xB_yO_δ (但し、Aはアルカリ土類、ランタナイド、イットリウ
ムアルカリの一種以上、Bは銅、ビスマス、鉛、タリウ
ム、錫の一種以上、Oは酸素、ハロゲンの一種以上、X
は1、Yは0.5〜1、δは2〜3.5で表される、)
で示され、かつ、該酸化物超電導層が、Ca、Sr、B
aの一種以上とMn、Ga、Ti、Cu、Co、Ni、
Feの一種以上を含むペロブスカイト結晶構造の酸化物
を介して基板上に形成されていることを特徴とする酸化
物超電導体。 7、基板と酸化物超電導層との間に介在させる酸化物が
、前記酸化物超電導体よりも高い融点を有することを特
徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の酸化物超電導
体。 8、酸化物超電導層の結晶のc軸が実質的に基板面に対
して垂直方向に配向していることを特徴とする請求項1
〜6のいずれかに記載の酸化物超電導体。 9、基板上に結晶構造がペロブスカイト構造を持つ絶縁
性、半導電性あるいは導電性の酸化物を主成分とする物
質を成膜する工程、 該物質を緻密化する工程、 該物質上に酸化物超電導層を形成する工程、を含むこと
を特徴とする酸化物超電導体の製造方法。 10、基板と、該基板上に形成する酸化物層、および該
酸化物層の上に形成される酸化物超電導体層が、いずれ
も厚さ5μm以上に形成することを特徴とする請求項9
記載の酸化物超電導体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2282178A JPH04160004A (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 酸化物超電導体及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2282178A JPH04160004A (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 酸化物超電導体及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04160004A true JPH04160004A (ja) | 1992-06-03 |
Family
ID=17649103
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2282178A Pending JPH04160004A (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 酸化物超電導体及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04160004A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63310512A (ja) * | 1987-06-12 | 1988-12-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜超電導体 |
JPS6452328A (en) * | 1987-08-22 | 1989-02-28 | Sumitomo Electric Industries | Superconductive material |
JPH02217306A (ja) * | 1989-02-17 | 1990-08-30 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 酸化物超電導導体の製造方法 |
-
1990
- 1990-10-19 JP JP2282178A patent/JPH04160004A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63310512A (ja) * | 1987-06-12 | 1988-12-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜超電導体 |
JPS6452328A (en) * | 1987-08-22 | 1989-02-28 | Sumitomo Electric Industries | Superconductive material |
JPH02217306A (ja) * | 1989-02-17 | 1990-08-30 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 酸化物超電導導体の製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0356722B1 (en) | Oxide superconductor and method of producing the same | |
JP2571789B2 (ja) | 超電導材料及びその製造方法 | |
US6605569B2 (en) | Mg-doped high-temperature superconductor having low superconducting anisotropy and method for producing the superconductor | |
JPH0780710B2 (ja) | 酸化物高温超電導体の製造法 | |
JP3289134B2 (ja) | 不確定性原理に基づく低異方性高温超伝導体とその製造方法 | |
JPH04160004A (ja) | 酸化物超電導体及びその製造方法 | |
JP2516251B2 (ja) | 酸化物超伝導膜の製造方法 | |
JPS63270450A (ja) | 厚膜酸化物超電導体の製造方法 | |
JP3287028B2 (ja) | Tl,Pb系酸化物超電導材及びその製造方法 | |
JP3219563B2 (ja) | 金属酸化物とその製造方法 | |
JP3157667B2 (ja) | 酸化物超電導体およびその製造方法 | |
JP2817170B2 (ja) | 超電導材料の製造方法 | |
JP2971504B2 (ja) | Bi基酸化物超電導体の製造方法 | |
JPH0238359A (ja) | 超電導体の製造方法 | |
JPH07206437A (ja) | 超電導体およびその製造方法 | |
Zhu et al. | Preparation of superconducting films of Bi Sr Ca Cu Oxides by in-situ melting. II | |
JPH06196314A (ja) | 酸化物系超電導コイルの製造方法 | |
JPH03295816A (ja) | 超電導体及びその合成法 | |
JP2838312B2 (ja) | 酸化物超伝導物質 | |
JPH04124033A (ja) | バナジウムを含む超電導物質及びその製法 | |
JPH03295813A (ja) | 酸化物超電導物質及びその製造方法 | |
JPH07110767B2 (ja) | Tl酸化物超電導体の製法 | |
JPH04349106A (ja) | 酸化物系超電導膜の成膜方法 | |
JPH04124013A (ja) | 酸化物超電導物質 | |
JPH08208229A (ja) | Bi系超伝導体素子 |