JPH0415982B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0415982B2
JPH0415982B2 JP58221929A JP22192983A JPH0415982B2 JP H0415982 B2 JPH0415982 B2 JP H0415982B2 JP 58221929 A JP58221929 A JP 58221929A JP 22192983 A JP22192983 A JP 22192983A JP H0415982 B2 JPH0415982 B2 JP H0415982B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
filament
cathode
anode
ray tube
potential
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP58221929A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS59149642A (ja
Inventor
Robaato Soobaru Ei
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ERUSHINTO Inc
Original Assignee
ERUSHINTO Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ERUSHINTO Inc filed Critical ERUSHINTO Inc
Publication of JPS59149642A publication Critical patent/JPS59149642A/ja
Publication of JPH0415982B2 publication Critical patent/JPH0415982B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/14Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • H01J35/153Spot position control
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/06Cathodes
    • H01J35/066Details of electron optical components, e.g. cathode cups
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/14Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • H01J35/147Spot size control

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、位置及び寸法が調整可能である焦点
を有するX線管に関する。
従来のX線管は、高電圧の作用下に陽極構造に
あたるようにした電子ビームの発生源を有する。
この陽極は投射電子と応動してX線を発生する。
複数のビーム路に沿つてX線ビームを発生させる
ため、X線管中に多数の焦点を有するようにする
ことは公知である。
多焦点型X線管の一つは複数の独立的に調整し
うる加熱陰極を使用するものである。このような
装置の一つの例はドイツ特許第406067号に開示さ
れるものであつて、陰極加熱フイラメントが別々
の加熱流源から供給されるか、或いはスイツチを
経て通常の電源と直列に接続され加熱電流を選択
的に供給されるようにするものである。別の例は
米国特許第3452232号に開示される装置であつて、
多数の陰極を使用し、多数の焦点ができるように
するため陰極のそれぞれはフイラメント素子を有
するように構成されている。
多焦点型装置の別の共通的なタイプは、単一の
陰極構造或いは複数の陰極構造のいずれかと共に
複数のフイラメント素子を使用するものである。
このような装置の例としては米国特許第4315154
号、米国特許第4109151号及び米国特許第3649861
号が挙げられる。
可動型焦点を得るための別の技術は米国特許第
4128781号に開示されるものである。この特許に
よれば、X線管においてX線管自体を移動させる
ことなく焦点を空間的に移動させることは、陰極
を陽極に関しアーチ形の流路に沿い移動させるこ
とにより可能となる。同様の装置は米国特許第
4072875号においても開示されており、これによ
れば陽極をX線管の他の部分に対して相対的に移
動させることにより、陽極に対する電子ビームの
投射点を変更するようにしたものである。
更に、単一の電子ビームを選択された焦点域に
偏向させることにより多焦点型とすることもでき
る。この例は米国特許第4048496号であつて、標
的位置列における選択可能位置に電子ビームを投
射して選択された波長スペクトルのX線を発生さ
せることのできるX線管を開示している。この特
許におけるビームは偏向板26を使用することに
より投射される。別の例は米国特許第4229657号
であつて、電子ビームを偏向させて標的陽極上に
可動インパクトゾーンを生じさせるようにしたも
のである。偏向装置は磁気系を使用しており、こ
れは連続的或いは同時的にいくつかの方向に光子
の投射を生起させる回転磁界を採用するものであ
る。最後に米国特許第3250916号は、単一陰極構
造が単一フイラメントから単一の電子ビームを発
生するようにし、また一対の偏向板が陰極の両側
に位置しており、可変電位を偏向板に与えるため
偏向板が導電支持体により外部導線に接続されて
いるようにした装置を示している。偏向板におけ
る電位は、フイラメントからの連続的な或いは断
続的な電子ビームが陽極の標的上で相互に離れた
二つの焦点の間で交互に変更しうるように、変え
ることができる。
上述した各種の装置は、複数の陰極、複数のフ
イラメント、或いは電子ビームを偏向させるため
の偏向板の使用が必要であり、従つて比較的多数
の構造素子を要する点で有利ではない。
更に偏向板を使用する装置、例えば米国特許第
4048496号及び米国特許第3250916号においては、
偏向板が陰極から比較的間隔をおいて配置されて
いるため、電子ビームが偏向域に入る時間までに
相当量のエネルギーを使用し、そのためのビーム
を偏向させるために相当の電圧が必要である、と
いう難点がある。また陰極と陽極の間に偏向板を
配置しなければならないため、陰極と陽極の間に
比較的広いスペースが必要であり、そのため適用
分野によつては寸法の問題が生じる。更に陰極と
陽極との間のスペースが大きいことによつて通常
よりも大きい焦点寸法を招来することになり、こ
のことは一方でこの過大な焦点を補正するために
複雑で高価な電子ビーム光学装置が必要となる。
回転陽極標的を使用するある種の高電力分野にお
いては、陽極の過熱を避けるため格子制御が必要
になる。別々の偏向電極を使用する上述装置は更
に別の難点を有する。即ち格子制御のためには全
部で5本の導線−2本はフイラメントのため、1
本は陰極カツプのため、二本は偏向電極のため−
が必要であり、一方従来型のX線管及び高電圧素
子は4本の導線しか使用していない;従つて5本
線型の装置は、高電圧電力をX線管に供給する高
電圧ケーブル及びコネクターに関して複雑さと費
用を更に課するものである。また例えば米国特許
第3250916号においては、開示の発明は立体鏡式
放射線写真に関するものであつて、焦点相互の間
の間隔は両眼の間の距離、即ち眼幅に対応する;
陰極と陽極の間の距離が大きいことはこのような
利用のためには適しているけれども、距離が大き
いことは焦点間の距離が極めて小さくなければな
らない場合、例えば1〜2mmのオーダーである場
合のような利用については不適当である。
従つて本発明の一つの目的は、従来の多焦点型
X線装置にみられる上述難点を除去することであ
る。
そのため、本発明によれば構成素子の数が少な
く構造が単純化した多焦点型X線装置が提供され
る。
本発明の更に別の目的は、単一の陰極、単一の
フイラメント、及び陰極構造と一体的な偏向手段
を有する多焦点型X線装置を提供することであ
る。
本発明の更に別の目的は、電子ビームの偏向
が、比較的狭い陰極−陽極間隔を有する装置で達
成するようにした多焦点X線装置を提供すること
である。
本発明の更に別の目的は、電子ビームの偏向が
比較的小さなバイアス電位の適用で達成すること
のできる多焦点X線装置を提供することである。
本発明の更に別の目的は、電子ビームが多数の
焦点へ偏向され、また格子制御が単に四本の導線
の使用により達成することができる多焦点X線装
置を提供することである。
本発明の更に別の目的は、焦点の寸法を小さな
バイアス電位の適用により変化させることのでき
る多焦点X線装置を提供することである。
本発明のそのほかの目的、特徴及び利点は、本
発明の説明及び特許請求の範囲を検討することに
より当業者により明らかになるであろう。
簡単にいうと、本発明の上述及びその他の目
的、特徴及び利点は、その一つの局面において
は、投射される電子ビームに応動してX線を発生
する陽極、及び陰極に投射する電子を放出する電
子放射手段を有する陰極、とが配置されている真
空チヤンバを有するX線管を提供することにより
解決される。
斯る本発明のX線管は、真空チヤンバ内に陰極
と陽極とを所定間隔をおき配置し、該陰極が陽極
にむけて電子を放射する電子放射手段を有し、前
記陽極が電子放射手段から放射される電子に応動
してX線を発生する、調整可能な焦点を有するX
線管において、前記陰極がフイラメントからなる
電子放射手段と、該フイラメントの長手方向に沿
いほぼ平行で相互に絶縁された複数個の部分から
なる陰極カツプとにより構成され、個別的、選択
的に前記陰極カツプの複数個の部分の異なる一個
に電位を与える手段により、前記フイラメントか
ら放射される電子ビームの陽極上の焦点距離およ
び位置を制御させることを特徴とする。電子放出
手段は好ましくは単一のフイラメントである。陰
極カツプは相互に絶縁された第一及び第二部分を
有し、電子放出手段或いはフイラメントは陰極カ
ツプの前記第一及び第二部分の少なくとも一方か
ら絶縁されているようにする。陰極カツプの第一
及び第二部分の間の絶縁状態は、両者の間に間隙
を設けることによつて達成される。或いは電子放
出手段或いはフイラメントは、陰極カツプの両部
の双方から絶縁されるようにしてもよい。バイア
ス手段はフイラメントと陰極カツプとの間に電圧
を加え、陽極に対する電子ビーム放射域の寸法及
び位置を変えるために設けられる。このバイアス
手段は、フイラメントと陰極カツプ第一部分との
間に電圧を加える第一バイアス手段、及びフイラ
メントと陰極カツプ第二部分との間に電圧を加え
る第二バイアス手段とからなるようにしてもよ
い。或いはバイアス手段はフイラメントと陽極と
の間の電流を遮断するように操作しうるものであ
つてもよい。陽極は陰極に対して相対的に静止し
うるものであつても回転可能なものであつてもよ
い。
第1図の従来技術による多焦点X線管19にお
いては、単一の陰極構造1は一本のフイラメント
3から一本の電子ビームを発生する。一対の偏向
板11及び13が陰極3の両側に配置されてお
り、それぞれ導電支持部15及び17により、偏
向板11及び13に可変電位を供給するための外
部導線と接続している。偏向板11及び13にお
ける電位は、フイラメント3からの連続的或いは
断続的ビームが、陽極5の離れた位置にある焦点
7及び9の間で交互にスイツチできるようになつ
ている。ここで、格子制御が第1図に示す装置で
必要な場合、フイラメント3の一側部と陰極カツ
プ1との間の図示のような電気的接続は遮断さ
れ、五番目の導線が陰極カツプに接続されなけれ
ばならないことが理解されるべきである。
第2図は本発明によるX線管の構造を示すもの
であつて焦点位置は、僅かの電圧を陰極バイアス
カツプに加えることにより陽極に沿つて移動させ
ることができる。第2図は好ましい実施態様を示
すものであつて、陰極バイアスカツプ33はフイ
ラメント31の長手方向に沿い平行に延びた〓間
28により相互に及びフイラメント31から絶縁
された第一部分27及び第二部分29を有する。
フイラメント31が加熱されると電子をビーム2
5の形で発生し、ビームは焦点23を限定する域
で陽極21に放射される。陽極21は一般的にタ
ングステン或いはタングステン合金で製造され、
静止或いは回転しうる。
フイラメント31は陰極カツプ33の二つの部
分27,29の少なくとも一つと絶縁されていな
ければならない。或いはフイラメント31は陰極
カツプ部分の両方から絶縁されていてもよい。
第3図は電子ビーム25が陽極21に向かう際
の流れ路を制御する電気回路35を示す。電気回
路35はフイラメント31に対して陰極カツプ部
分27及び29をそれぞれ駆動するためのバイア
スサプライ37及び39を含む。高電圧サプライ
43は陽極21をフイラメント31に関し正に励
振する。グリツドドライブ41はパルス駆動し、
陰極カツプ部分27及び29に関しフイラメント
31が正にバイアスするように、電子ビーム25
をオンオフ作動させる。約4キロボルトの陽バイ
アスは、陽極電圧が150キロボルトにセツトされ
るとこの電子流を遮断する。陰極バイアスカツプ
電極27及び29はフイラメント31に関しこれ
と等しくバイアスされるか或いは負にバイアスさ
れる。例えば、もし陰極バイアスカツプ27がフ
イラメント電位であり陰極バイアスカツプ29が
負電位であるとすると、陽極における焦点位置は
第2図の右に、また第3図の上方にシフトする。
陰極バイアスカツプ27及び29の電位が逆転す
ると、焦点の偏向方向もまた逆転する。フイラメ
ントに対して陰極カツプが極く近接しているため
約1000ボルトのバイアスをかけるだけでビームは
約1mm偏向する。このことは第1図に示すような
装置の場合、装置内のビームを偏向させるために
は必要な電圧が数10キロボルトである状態と較べ
られる。
本発明によれば焦点の寸法及び位置は例えば第
2図に示す陰極バイアスカツプ27を上述のよう
にフイラメント電位に固定するよりも、負電圧
(例えば約500〜1000ボルト)に固定し、同時に反
対の陰極バイアスカツプ29は負の数100キロボ
ルトに固定することにより制御できる。これらの
電位に陰極バイアスカツプがセツトされると焦点
位置が上述の如く制御され、更にその寸法は、二
つの負にバイアスされた陰極バイアスカツプ27
及び29の焦点効果によるそのシフト方向と平行
方向に小径化する。
バイアスサプライ37及び39はコンピユータ
により制御され、焦点23の幅及び焦点を多数の
位置に位置決めするための自動制御が行われる。
好ましい実施態様においては、本発明による陰
極構造が従来型の回転陰極方式X線管に組み込ま
れ、焦点の位置及び幅は制御可能に変更しうる。
このようなX線管はCTスキヤナー分野の利用に
特に効果的であつて、この場合、CT画像の空間
的解像は二つの或いは多数の焦点を有するX線管
を利用することにより改善される。
格子作用が本発明のX線管を特定分野で利用す
る際に望ましい時には、四本の導線をX線管中に
使用するだけでよい。このような構成は第1図に
示す公知技術による構成と対照的であつて、公知
技術においては、格子制御のためには全体で五本
の導線が必要である。なぜならフイラメント3の
片側と陰極カツプ1の電気接続が遮断され、5番
目の導線を陰極カツプに接続しなければならない
からである;従つて偏向電極それぞれに一本の導
線が必要であり、更に三本の導線がフイラメント
と陰極カツプに必要である。
以上の説明から当業者によつて本発明の基本的
な特徴を容易に理解することができ、また本発明
の特許請求の範囲から逸脱することなく、本発明
を様々の使用条件に適合させるために種々の変更
を加えることができよう。
本発明によれば、陰極カツプ自体に電子ビーム
を偏向させる機能を具備せしめたので、従来の多
焦点型X線管にみられる陰極と陽極との間に配置
される偏向板が不要であつて、構成素子数を減ず
ることができるとともに陰極と陽極との間のスペ
ースを短縮でき、構造簡素かつコンパクトであつ
て、しかも焦点距離の短縮化に伴い光学装置とし
て安価な多焦点型X線管を提供できる。
又、陰極カツプのバイアス部分とフイラメント
とが従来装置の偏向板の場合に較べて接近するの
で、フイラメントから放射される電子ビームの偏
向を比較的小さなバイアス電位で達成することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は偏向板が陰極と陽極の間に配置されて
いる、公知技術による多焦点X線管の一つの例の
説明断面図;第2図は本発明装置の横断面図;ま
た第3図は第2図の装置を制御する回路の説明図
である。 図中の番号1は陰極カツプ、3はフイラメン
ト、5は陽極、7及び9は焦点、11及び13は
偏向プレートである。また番号21は陽極、23
は焦点、25は電子ビーム、27は陰極バイアス
カツプ33の第一部分、29は第二部分、31は
フイラメント、33は陰極バイアスカツプであ
る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 真空チヤンバ内に陰極と陽極とを所定間隔を
    おき配置し、該陰極が陽極にむけて電子を放射す
    る電子放射手段を有し、前記陽極が電子放射手段
    から放射される電子に応動してX線を発生する、
    調整可能な焦点を有するX線管において、前記陰
    極がフイラメントからなる電子放射手段と、該フ
    イラメントの長手方向に沿いほぼ平行で相互に絶
    縁された複数個の部分からなる陰極カツプとによ
    り構成され、個別的、選択的に前記陰極カツプの
    複数個の部分の異なる一個に電位を与える手段に
    より、前記フイラメントから放射される電子ビー
    ムの陽極上の焦点距離および位置を制御させるこ
    とを特徴とするX線管。 2 前記フイラメントが単一であり、前記陰極カ
    ツプの複数個の部分が第一部分および第二部分で
    構成されていることを特徴とする請求項1記載の
    X線管。 3 前記陰極カツプの第一部分と第二部分との絶
    縁手段は、その両部分の間で前記フイラメントの
    長手方向に沿い平行に延びた〓間により構成され
    ることを特徴とする請求項2記載のX線管。 4 前記フイラメントが前記陰極カツプの複数個
    の部分の少なくとも一個から絶縁されていること
    を特徴とする請求項1記載のX線管。 5 前記フイラメントと陰極カツプとの間に電位
    を与えるバイアス手段を備えたことを特徴とする
    請求項2記載のX線管。 6 前記バイアス手段が陰極カツプの第一部分に
    電位を与える手段であつて、前記フイラメントお
    よび第二部分の電位に対して負特性であり、それ
    により前記フイラメントから放射される電子ビー
    ムの焦点位置を陽極上の第二部分方向へ移動せし
    めることを特徴とする請求項5記載のX線管。 7 前記バイアス手段が陰極カツプの第二部分に
    電位を与える手段であつて、前記フイラメントお
    よび第一部分の電位に対して負特性であり、それ
    により前記フイラメントから放射される電子ビー
    ムの焦点位置を陽極上の第一部分方向へ移動せし
    めることを特徴とする請求項5記載のX線管。 8 前記バイアス手段が、陰極カツプの第一部分
    へ前記フイラメントの電位に対して負特性の電位
    を与え、かつ第二部分へ第一部分の電位に対して
    負特性の電位を与える手段であつて、それにより
    前記電子ビームの焦点距離を短縮せしめるととも
    に焦点位置を陽極上の第一部分方向へ移動せしめ
    ることを特徴とする請求項5記載のX線管。 9 前記バイアス手段が、陰極カツプの第二部分
    へ前記フイラメントの電位に対して負特性の電位
    を与え、かつ第一部分へ第二部分の電位に対して
    負特性の電位を与える手段であつて、それにより
    前記電子ビームの焦点距離を短縮せしめるととも
    に焦点位置を陽極上の第二部分方向へ移動せしめ
    ることを特徴とする請求項5記載のX線管。 10 前記陽極が陰極に対して回転可能であるこ
    とを特徴とする請求項1記載のX線管。
JP58221929A 1982-11-23 1983-11-24 調整可能な焦点を有するx線管 Granted JPS59149642A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US44396382A 1982-11-23 1982-11-23
US443963 1982-11-23

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59149642A JPS59149642A (ja) 1984-08-27
JPH0415982B2 true JPH0415982B2 (ja) 1992-03-19

Family

ID=23762917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58221929A Granted JPS59149642A (ja) 1982-11-23 1983-11-24 調整可能な焦点を有するx線管

Country Status (6)

Country Link
JP (1) JPS59149642A (ja)
DE (1) DE3342127A1 (ja)
FR (1) FR2536583B1 (ja)
IL (1) IL70210A (ja)
IT (1) IT1178354B (ja)
NL (1) NL192549C (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2538948B3 (fr) * 1982-12-30 1985-10-18 Thomson Csf Tube a rayons x a balayage
US4698835A (en) * 1984-05-31 1987-10-06 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray tube apparatus
FR2572215A1 (fr) * 1984-10-19 1986-04-25 Thomson Cgr Dispositif radiologique a asservissement de position de foyer suivant un axe d'asservissement donne
US4764947A (en) * 1985-12-04 1988-08-16 The Machlett Laboratories, Incorporated Cathode focusing arrangement
FR2644931A1 (fr) * 1989-03-24 1990-09-28 Gen Electric Cgr Tube a rayons x a balayage avec plaques de deflexion
FR2671229B1 (fr) * 1990-12-28 1993-03-19 Gen Electric Cgr Procede, tube et systeme pour eliminer une grille anti-diffusante fixe dans une image radiologique.
EP1449231B1 (en) * 2001-11-20 2010-06-23 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray tube cathode cup structure for focal spot deflection

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5422072A (en) * 1977-07-18 1979-02-19 Hazeltine Corp Process control valve

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3250916A (en) * 1963-06-14 1966-05-10 Machlett Lab Inc Stereo x-ray device
US4048496A (en) * 1972-05-08 1977-09-13 Albert Richard D Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method
US3783323A (en) * 1972-08-30 1974-01-01 Picker Corp X-ray tube having focusing cup with non-emitting coating
DE2437119A1 (de) * 1974-08-01 1976-02-12 Siemens Ag Roentgenroehre
US3962583A (en) * 1974-12-30 1976-06-08 The Machlett Laboratories, Incorporated X-ray tube focusing means
DE2821597A1 (de) * 1978-05-17 1979-11-22 Siemens Ag Verwendung eines systems zur erzeugung eines elektronenflachstrahls mit rein elektrostatischer fokussierung in einer roentgenroehre
JPS5568056A (en) * 1978-11-17 1980-05-22 Hitachi Ltd X-ray tube
DE3001141A1 (de) * 1980-01-14 1981-07-16 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Kathodenanordnung fuer eine roentgenroehre
US4334153A (en) * 1980-09-29 1982-06-08 General Electric Company X-Ray tube grid bias supply

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5422072A (en) * 1977-07-18 1979-02-19 Hazeltine Corp Process control valve

Also Published As

Publication number Publication date
IT8349351A0 (it) 1983-11-17
NL192549C (nl) 1997-09-02
IT1178354B (it) 1987-09-09
FR2536583A1 (fr) 1984-05-25
IL70210A0 (en) 1984-02-29
DE3342127A1 (de) 1984-06-07
FR2536583B1 (fr) 1990-05-11
JPS59149642A (ja) 1984-08-27
NL8304028A (nl) 1984-06-18
IL70210A (en) 1987-10-20
NL192549B (nl) 1997-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4689809A (en) X-ray tube having an adjustable focal spot
JPH04319237A (ja) X線管
US6480572B2 (en) Dual filament, electrostatically controlled focal spot for x-ray tubes
US6438207B1 (en) X-ray tube having improved focal spot control
JP6259524B2 (ja) X線装置及び該x線装置を有するctデバイス
KR101901185B1 (ko) X선장치 및 이를 구비한 ct장비
KR101855931B1 (ko) X선장치 및 이를 구비하는 ct장비
JP6496321B2 (ja) X線装置及び該x線装置を有するctデバイス
US11201030B2 (en) Distributed X-ray light source and control method therefor, and CT equipment
US3916202A (en) Lens-grid system for electron tubes
JPH0773832A (ja) 陽極を有するレントゲン管
US4031427A (en) Flat cathode ray tube
JPH103872A (ja) X線管用の電子を集束させるカソード、電子ビームを集束させるカソード・アセンブリ、及び電子ビームの焦点の寸法を変化させる方法
EP0283039B1 (en) X-ray tube
US11380510B2 (en) X-ray tube and a controller thereof
JPS60240035A (ja) 制御グリツド構造体及びこれを用いた真空蛍光式プリント装置
JPH10134744A (ja) X線管
JPH0415982B2 (ja)
SU705699A2 (ru) Установка дл электроннолучевого нагрева материалов
JP2002324507A (ja) X線発生装置およびそれを用いたx線装置
JPH0567442A (ja) X線管
JP2004095196A (ja) X線管
JPS639360B2 (ja)
JPS5910529B2 (ja) 帯電粒子ビ−ム走査装置
JP2024501698A (ja) ハイブリッドマルチソースx線源及び撮像システム