JPH04158585A - 赤外線検出素子 - Google Patents

赤外線検出素子

Info

Publication number
JPH04158585A
JPH04158585A JP2284780A JP28478090A JPH04158585A JP H04158585 A JPH04158585 A JP H04158585A JP 2284780 A JP2284780 A JP 2284780A JP 28478090 A JP28478090 A JP 28478090A JP H04158585 A JPH04158585 A JP H04158585A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
infrared
substrate
infrared detection
detection section
supports
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2284780A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidekazu Himesawa
秀和 姫澤
Motoo Igari
素生 井狩
Masabumi Igarashi
五十嵐 正文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taiheiyo Cement Corp
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Chichibu Cement Co Ltd
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chichibu Cement Co Ltd, Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Chichibu Cement Co Ltd
Priority to JP2284780A priority Critical patent/JPH04158585A/ja
Publication of JPH04158585A publication Critical patent/JPH04158585A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、赤外線検出素子に関し、詳しくは、温度に
よる抵抗の変化を利用して赤外線を検出する赤外線検出
素子に関するものである。
〔従来の技術〕
赤外線検出素子は、一般に、微弱な赤外線の輻射エネル
ギーのみを検出したい場合が多いので、赤外線以外の波
長帯を除去して感度を上げるために、その用途に応じた
赤外線検出フィルタと組み合わせて使用されている。そ
して、従来、サーミスタ等の赤外線検出部と赤外線フィ
ルタ部分とは、別々に作製された後、互いの光軸を合わ
せて組み立てられていた。
第8図は、従来における赤外線検出素子の構造例を示し
ている。構造部分であるステム1にサーミスタ等の赤外
線検出素子チップ2を取り付けた後、開口部分に赤外線
フィルタ3を貼り付けたキャップ4を赤外線検出素子チ
ップ2を覆うようにステム1を被せて封止している。赤
外線フィルタ3は、検出しようとする赤外線の波長帯を
良好に通過させたり、雑音となる不要な波長成分を遮断
したり、空気との屈折率差による反射損失を軽減させた
りするために用いられる。そのため、赤外線フィルタ3
は、基板材料3aの両面に光学緩衝多層膜3bをコーテ
ィングしたものが用いられている。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが、前記従来構造の赤外線検出素子では、赤外線
フィルタ3をキャップ4の開口部の形状に合わせた微小
な形に切り出し、それを開口部に接着剤で貼り付ける必
要があるなど、組立工程が多くなり、その結果、組立コ
ストが高くなるという欠点があった。また、各部品の形
状や組立作業の操作性等の制限から、赤外線検出素子チ
ップ2と赤外線フィルタ3を、ある程度離しておかなけ
ればならず、素子本体のサイズが大きくなるだけでなく
、視野角θが狭くなるという欠点もあった上記欠点を解
消するため、赤外線検出部と、赤外線検出部からの出力
信号を処理する信号処理回路とを、一連の半導体プロセ
スを利用して、ひとつの半導体基板上に作製し、赤外線
検出部を覆う赤外線フィルタも半導体基板に直接貼り付
ける構造の赤外線検出装置が提案されている。
このように、赤外線検出部と信号処理回路が同じ基板に
設けられていれば、赤外線検出部と信号処理回路部分の
組立作業が不要になり、組立部品も不要になり、信号処
理回路を含めた赤外線検出装置全体の小型化が可能にな
る。また、製造工程を、一連の半導体プロセスを利用し
て簡単かつ能率的に実施できる。その結果、安価な赤外
線検出装置を提供できるようになる。さらに、赤外線検
出部と信号処理回路を接近して配五できるので、両者間
における信号の減衰や雑音の侵入が阻止でき、検出感度
の向上を図れる。
ところが、上記のような構造の赤外線検出素子では、赤
外線を熱として検知する熱変換型の赤外線検出部を採用
すると、赤外線検出部で赤外線を吸収することによって
発生した熱が、電気的な出力信号に変換されずに、半導
体基板のほうに逃げてしまい、赤外線の検出感度が悪く
なるという問題が生じる。これは、熱変換型の赤外線検
出部では、赤外線を受けて赤外線検出部の温度が上昇す
ることによって検知出力が生じるのであるから、赤外線
検出部の熱が基板に逃げると、充分な出力が得られなく
なるためである。半導体基板に、赤外線検出部のほかに
、信号処理回路や赤外線フィルタ等の各種構造を設ける
と、それだけ基板が大きくなって熱容量も増えるので、
余計に赤外線検出部から基板に熱が逃げ易くなってしま
う。
そこで、この発明の課題は、前記のような従来の赤外線
検出素子における問題点を解消し、赤外線検出部と基板
の間の熱分離を良好に行えるとともに、熱分離のための
構造が簡単で容易に製造できる赤外線検出素子を提供す
ることにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題を解決する、この発明にかかる赤外線検出素子
は、基板の表面に、基板の一部が除去されてなる熱分離
空間を備え、熱分離空間を介して基板の表面位置に赤外
線検出部が設けられ、赤外線検出部が外周の四隅に設け
られた部分的な支持部により基板に支持されている。
基板は、通常の各種電子素子搭載用の基板が任意に使用
できるが、特に、赤外線検出部や信号処理回路等の各種
機能部分の作製や搭載に適した、シリコン等からなる半
導体基板が好ましい。
赤外線検出部は、従来の赤外線検出素子と同様に、サー
ミスタ式あるいは焦電式等の通常の赤外線検出構造を備
えたものが用いられる。特に、この発明は、赤外線を熱
として検知する熱変換型の赤外線検出部に通している。
赤外線検出部は、基板の表面に、通常のIC回路作製に
おける半導体プロセス等と同様のis形成技術や微細加
工技術を利用して形成される。
具体的には、平均粒径0.01〜1.On、膜厚0゜1
〜5.On程度の多結晶シリコンからなる薄膜抵抗体と
、この薄膜抵抗体を介してつながった複数の電極からな
るものが好ましい。多結晶シリコンとしては、従来の通
常のサーミスタに用いられているような不純物の多いも
のは好ましくなく、不純物を添加しないものが好ましい
。電極は、薄膜抵抗体の抵抗値を信号処理回路で検出す
るための配線となるとともに、赤外線の吸収体となって
抵抗体の温度変化を良好にするために用いられる。
電極の形成は、通常の半導体プロセスと同様番二行われ
、電極の材料には、このような半導体プロセスに通した
ものが好ましい。具体的な電極の材料としては、NiC
r等が用いられる。
熱分離空間は、赤外線検出部から基板へ熱が逃げるのを
阻止するために設けられ、基板表面のうち、赤外線検出
部の設置個所において、基板の一部を除去することによ
って熱分離空間が形成される。熱分離空間は、赤外線検
出部の設置範囲とほぼ同しか少し広い程度の範囲に設け
ておくのが好ましい。熱分離空間の深さは、赤外線検出
部と基板の間を熱的に分離できる深さが必要であり、深
いほど熱分離が良好になるが、加工の手間や素子の大き
さ等も考慮して設定すればよい。
熱分離空間を形成するには、通常の微細加工技術が用い
られる。具体的には、例えば、基板に対して、通常のエ
ツチング手段等で所定の凹部を形成しておき、この凹部
をレジスト材で埋めてレジスト部を形成した後、その上
に形成される平坦な表面に、赤外線検出部を設けるため
に、酸化シリコン膜等からなる支持膜を形成し、ついで
、レジスト材を除去してしまえば、レジスト材が除去さ
れた跡に熱分離空間が形成される。
赤外線検出部は、その下面には熱分離空間が配置されて
基板と分離されているとともに、赤外線検出部の外周で
、赤外線検出部の四隅個所が、部分的な支持部を介して
基板に支持される。支持部は、出来るだけ狭いほうが、
赤外線検出部と基板との熱分離が良好に行えるが、赤外
線検出部の支持強度や赤外線検出部への配線設置スペー
ス等も考慮して設定される。但し、赤外線検出部が、機
械的に作動して赤外線を検知するものでなければ、赤外
線検出部が少しぐらい動いても誤作動を起こすことはな
いので、支持部の剛性度や機械的強度はそれほど要求さ
れない。支持部の材質や形状を、ある程度の弾力的な変
形が可能なものにしておけば、赤外線素子に加わる衝撃
や振動を、支持部で吸収して、赤外線検出部を機械的に
保護することができ、赤外線検出素子の耐衝撃性を高め
ることができる。
支持部は、基板材料自体を加工して作製することも出来
るが、通常の電子素子等に用いられている各種の膜材料
で構成するのが、作製が容易である。具体的には、半導
体からなる基板の表面に赤外線検出部や配線等を形成す
る際に、赤外線検出部や配線と半導体基板との間に介在
させる絶縁層を、部分的に切り欠く等の加工を行って支
持部を構成することができる。この支持部を構成する絶
縁層すなわち支持膜としては、例えば、SiO□、Si
、N、等が用いられる。
基板には、赤外線検出部とともに、検出された信号を増
幅したり、雑音を除去したり、適当な処理を行う信号処
理回路を設けておくことができる、信号処理回路の構造
や作製方法は、通常の赤外線検出装置における信号処理
回路と同様でよい。
赤外線検出部の上方には、赤外線フィルタが設けられる
。赤外線フィルタは、通常の赤外線検出装置に用いられ
ている光学干渉多層膜等からなるフィルタ材料が使用で
きる。赤外線フィルタは、赤外線検出部の外側で基板に
固定される。赤外線フィルタと基板との固定を、赤外線
フィルタが、その外周で基板に密着して一体化されてい
れば、赤外線検出部を、赤外線フィルタと基板で囲まれ
た密封空間に配置しておくことができる。赤外線検出部
が密封空間に配置されていれば、赤外線検出部の表面等
に外界からの異物が付着して悪影響を与えるのを防ぐこ
とができ、外界の雰囲気ガスや湿気による悪影響も防止
できる。
赤外線フィルタを基板に密着して一体化させる手段は、
通常の電子素子等における密着接合手段が用いられる。
例えば、赤外線フィルタの材料と共晶合金を作る金属層
を基板側に設けておき、赤外線フィルタと基板の接合個
所を熱処理して、このとき形成される共晶合金により、
赤外線フィルタと基板を密着一体化させることができる
赤外線フィルタが、赤外線検出部および支持部の外側で
基板に密着一体化されていれば、熱分離空間を赤外線検
出部周辺の空間とともに密封しておける。この密封空間
を、減圧状態にしておけば、赤外線検出部から外部空間
への熱の伝達を良好に阻止できる。密封空間は、常圧よ
りも低い圧力状態であれば、ある程度空気が残っている
状態であっても前記作用効果は果たせるが、真空状態で
あれば、より確実に外界への熱の伝達を遮断することが
できる。
赤外線検出素子は、ひとつの基板にひとつの赤外線検出
部のみを設けておいてもよいし、ひとつの基板に複数個
の赤外線検出部を並べて設けておくこともできる。この
場合、それぞれの赤外線検出部毎に熱分離空間および支
持部を設けておいてもよいし、複数個の赤外線検出部に
わたる大きな熱分離空間を設け、赤外線検出部全体の外
周を基板とつなぐ支持部を設けてもよい。ひとつの基板
に複数個の赤外線検出部を設ける場合、1個所の信号処
理回路に全ての赤外線検出部を配線したり、全ての赤外
線検出部を覆う赤外線フィルタを取り付けておくことも
できる。
〔作  用〕
赤外線検出部が、基板に対して部分的な支持部のみで支
持されていて、赤外線検出部と基板の間に熱分離空間が
設けられていれば、部分的な支持部における熱抵抗は大
きいので、赤外線検出部から基板側に逃げる熱は極めて
少なくなり、赤外線検出部における発熱が有効に出力信
号に変換されることになり、熱変換型の赤外線検出部の
検出感度が向上する。
熱分離空間が、基板の一部を除去することによって形成
されていれば、熱分離空間を形成するために、別−な部
品を用意したり、その部品を基板等に取り付けたりする
必要がなく、製造の手間が大幅に削減できる。熱分離空
間のための構造が、基板の表面に突出しないので、熱分
離空間を設けても、赤外線検出素子の大きさは変わらず
、極めてコンパクトになる。
支持部が、赤外線検出部の四隅に設けられていれば、赤
外線検出部を確実に安定した状態で基板に支持しておけ
、使用中に衝撃や振動が加わっても、赤外線検出部が変
形したり損傷することがない。
〔実 施 例〕
ついで、この発明の実施例を、図面を参照しながら、以
下に説明する。
第1図〜第3図は、赤外線検出素子の構造を示しており
、第2図に詳しく示すように、シリコン基板10の表面
に、基板10を凹状にエツチング除去してなる熱分離空
間80が形成されている。
熱分離空間80および基板lOの表面全体には、シリコ
ン酸化膜等からなる絶縁層12が形成されている。絶縁
層12の表面で、熱分離空間80の上方位置に、S i
O!あるいは5i−N、等からなる支持膜30を介して
、薄膜抵抗体40が形成され、Wi膜抵抗体40の上に
はNiCr等からなる電極50が形成されている。この
薄膜抵抗体40と電極50で赤外線検出部Aを構成する
基板10には、赤外線検出部Aの側方位置に、通常の半
導体プロセスによって作製された集積回路からなる信号
処理回路20が設けられている。
信号処理回路20には、電極50につながる配線52が
接続されている。また、信号処理回路20には、外部装
置につながる外部配線22が接続されている。
第3図に示すように、赤外線検出部Aは、一対の櫛型を
なす電極50a、50bが互いに対向して噛み合う形に
組み合わせられており、電極50a、50bは、それぞ
れ配線52を経て信号処理回路20に接続される。配線
52は、電極50a、50bと同じ導体材料で形成され
ていてもよいし、電極50a、50bと配線52をそれ
ぞれの目的とする機能に優れた別々の導体材料で形成し
ておいてもよい。なお、図中、電極50a、50bおよ
び配線52にはハツチングを施して、他の部分と区別し
ている。薄膜抵抗体40は、電極50a、50bの各櫛
形部分を横断して設けられており、電極50aと50b
が薄膜抵抗体40を介してつながっている。
赤外線検出部Aの四辺外周で、支持膜30には、支持膜
30を貫通する短冊状の切欠部34が形成されており、
隣接する切欠部34.34同士の隙間に存在する支持膜
30が支持部32となっている。したがって、赤外線検
出部Aは、4隅個所の支持部32のみで周囲の基板10
とつながっていることになる。電極50aおよび50b
の配線52は、支持部32の上を通って信号処理回路2
0側へと延びている。
つぎに、第2図に示すように、赤外線検出部Aの上方に
は、シリコンからなる赤外線フィルタ70が設けられて
いる。赤外線フィルタ70は、赤外線検出部Aから切欠
部34および支持部32の外側までを覆っており、赤外
線フィルタ70の外周下端が基板10に接合されている
。赤外線フィルタ70と基板10の接合部分では、基板
10の表面に、T i / P t / A uの3層
膜が形成され、この3層膜の最上層であるAu層と、A
u層と接触する部分の赤外線フィルタ70を構成するシ
リコンとを熱処理することによって、Au−3i共晶合
金層72を形成させ、このAu−3i共晶合金層72に
より、基板10に赤外線フィルタ70の外周部分を密着
一体化させている。
その結果、赤外線フィルタ70と基板10で囲まれた内
部の空間74は、周囲の空間と遮断された状態で密封さ
れており、この密封空間74内に、赤外線検出部Aが気
密封止されていることになる。なお、赤外線フィルタ7
0を基板10に取り付は固定する作業を、真空雰囲気も
しくは減圧雰囲気で行い、形成された密封空間74を真
空または減圧状態にしておけば、赤外線検出部へ〇熱分
離を一層良好にできる。
上記のような構造を備えた赤外線検出素子は、第2図に
示すように、赤外線フィルタ70の上方から赤外線フィ
ルタ70を透過させて赤外線検出部Aに赤外線を入射さ
せる。赤外線検出部Aでは、まず、電極50が赤外線を
吸収して発熱昇温する。電極50の発熱昇温か薄膜抵抗
体40に伝達されるとともに、薄膜抵抗体40自身も赤
外線を吸収して発熱昇温する。薄膜抵抗体40は、その
温度条件によって抵抗値が変化するので、一対の電極5
0a、50b間の抵抗値が変化して、それに伴う出力信
号が、配線52.52から信号処理回路20に出力され
る。
赤外線検出部Aは、支持部32のみで基板10とつなが
っているので、電極50および薄膜抵抗体40で発生し
た熱は、支持部32以外からは外部に逃げず、狭い支持
部32の熱抵抗は高いので、赤外線検出部Aを良好な熱
分離状態に維持できる。
つぎに、第4図に示す実施例では、支持膜30の表面で
、薄膜抵抗体40の上下両面に電極54.55を設けて
いる。このように、薄膜抵抗体40を電極54.55で
挟むサントイフチ構造にしておけば、電極54.55に
よる赤外線の吸収がより良好に行われ、電極54.55
の発熱昇温を薄膜抵抗体40に効率良く伝えることが可
能になる。その結果、出力が増大して赤外線の検出感度
が向上する。
つぎに、第5図および第6図に示す実施例は、赤外線検
出部Aの四隅に沿って鉤形の凹溝36を設けている。凹
溝36は、四方の支持部32の直ぐ内側部分に配置され
ていることになる。このような凹溝36を設けておけば
、赤外線検出部Aから支持部32を経て基板10に至る
熱の逃げ道がより狭くなって熱抵抗が高まり、赤外線検
出部Aの熱分離が良好になる。
第7図には、以上に説明した赤外線検出素子の製造方法
を、熱分離空間80の作製方法を中心にして示している
予め、通常の半導体プロセスで信号処理回路20が作製
されたシリコン基板10を用い、第7図(alに示すよ
うに、シリコン基板10の表面に、シリコン酸化膜90
を形成し、その上に、熱分離空間80の形成個所を除い
てホトレジスト層91を形成し、エツチングにより熱分
離空間80の形成個所のシリコン酸化膜90を除去する
つぎに、第7図(b)に示すように、シリコン酸化膜9
0を除去した個所を、異方性エツチングにより掘り込ん
だ後、基板10の表面全体にシリコン酸化膜からなる絶
縁層12を形成して、熱分離空間80を形成する。
第7図(C)に示すように、基板10の表面全体にニッ
ケル蒸着層92を蒸着形成し、熱分離空間80以外の表
面をホトレジスト層93で覆った後、ニッケルメッキを
行って、熱分離空間80の内部をニッケルメンキ層94
で埋める。
第7図(d)に示すように、基板10の表面を研磨して
、熱分離空間80内を除く基板表面のニッケル蒸着層9
2を除去し、基板10の表面全体を平用孔した後、表面
全体にシリコン酸化膜からなる支持膜30を形成する。
第7図(elに示すように、支持膜30の上に、薄膜抵
抗体40および電極50を形成した後、支持11i30
に切欠部34を形成する。熱分離空間80内に充填され
たニッケルメッキ層94に熱を加えて熔かし、切欠部3
4から溶けたニッケルメ・ツキ層94を取り出せば、第
2図に示すように、基板10の表面を覆う平坦な支持膜
30の下方に、中空状の熱分離空間80が形成される。
その後、赤列線フィルタ70を取り付けたり、信号処理
回路20に外部配線22をつないだりする工程は、通常
の赤外線検出素子の場合と同様に行われる。
〔発明の効果〕
以上に述べた、この発明にかかる赤外線検出素子によれ
ば、基板表面に配置された赤外線検出部の下方に熱分離
空間があり、赤外線検出部が部分的な支持部を介して基
板に支持されているだけなので、赤外線検出部の熱が基
板側に逃げるのを、確実に阻止できる。
その結果、赤外線を熱として検知する熱変僕形の赤外線
検出部を用いた場合に、赤外線検出部を直接基板表面に
設けると、熱が基板側に逃げて赤外線検出感度が低下す
るという従来技術の問題点を解消し、赤外線検出感度を
大幅に向上させることができる。
特に、熱分離空間が、基板表面に設けられた赤外線検出
部の下面に、基板の一部を除去して形成されているので
、熱分離空間のために特別な部品を作製したり、別な部
品を組み込んだりする必要がなく、熱分離空間の形成が
容易であるとともに、熱分離空間を設けているにも関わ
らず、赤外線検出素子の外形が大きくならず、極めてコ
ンパクトにまとめることができる。その結果、赤外線検
出素子の高性能化と小型化および製造コストの削減を同
時に果たすことが可能になる。
さらに、支持部が赤外線検出部の四隅に設けられている
ので、赤外線検出部を基板に確実に安定して支持してお
くことができる。その結果、赤外線検出素子を使用中に
、激しい衝撃や振動が加わっても、支持部および赤外線
検出部が変形したり損傷する心配がなく、前記のような
検出感度の高性能化を果たしながら、機械的強度あるい
は耐久性にも優れた赤外線検出素子を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例にかかる赤外線検出素子の斜
視図、第2図は断面図、第3図は赤外線検出部付近の平
面図、第4図は別の実施例を示す要部断面図、第5図は
別の実施例を示す赤外線検出部付近の平面図、第6図は
凹溝部分の拡大断面図、第7図(a)〜(e)は製造方
法の一例を示す工程断面図、第8図は従来例の断面図で
ある。 10・・・基板 20・・・信号処理回路 30・・・
支持膜 32・・・支持部 34・・・切欠部 40・
・・薄膜抵抗体 50.50a、50b・・・電極 7
0・・・赤外線フィルタ 80・・・熱分離空間 A・
・・赤外線検出部 02−142E1201  115 第3図 02−142E1201215 02−142EI201 315 02−142ε1201 475 第8図 02−142Ef201 515

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 基板の表面に、基板の一部が除去されてなる熱分離
    空間を備え、熱分離空間を介して基板の表面位置に赤外
    線検出部が設けられ、赤外線検出部が外周の四隅に設け
    られた部分的な支持部により基板に支持されていること
    を特徴とする赤外線検出素子。
JP2284780A 1990-10-22 1990-10-22 赤外線検出素子 Pending JPH04158585A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2284780A JPH04158585A (ja) 1990-10-22 1990-10-22 赤外線検出素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2284780A JPH04158585A (ja) 1990-10-22 1990-10-22 赤外線検出素子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04158585A true JPH04158585A (ja) 1992-06-01

Family

ID=17682921

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2284780A Pending JPH04158585A (ja) 1990-10-22 1990-10-22 赤外線検出素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04158585A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1151762A (ja) * 1997-08-06 1999-02-26 Toshiba Corp 赤外線固体撮像装置及びその製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1151762A (ja) * 1997-08-06 1999-02-26 Toshiba Corp 赤外線固体撮像装置及びその製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04158583A (ja) 赤外線検出素子
EP0376721B1 (en) Moisture-sensitive device
JP3514681B2 (ja) 赤外線検出器
US6840103B2 (en) Absolute humidity sensor
US5523564A (en) Infrared detecting element
JP2019504298A (ja) ウェハレベルパッケージ内の熱赤外線センサアレイ
US20080164413A1 (en) Infrared Sensor
EP0599364B1 (en) Infrared detecting device and infrared detecting element for use in the device
US20060038129A1 (en) Infrared sensor device and its manufacturing method
JPWO2007129547A1 (ja) 赤外線センサおよびその製造方法
EP3180288A1 (en) Hermetically sealed package having stress reducing layer
JP2006514787A (ja) ピクセル構造及び当該ピクセル構造を製造する方法
JP2006214758A (ja) 赤外線検出器
JP2000298063A (ja) 赤外線検出器
JPH04158584A (ja) 赤外線検出素子
JPH04158586A (ja) 赤外線検出素子
KR100769587B1 (ko) 비접촉식 적외선 온도 센서
JPH04158585A (ja) 赤外線検出素子
US6191420B1 (en) Infrared sensor
KR101034647B1 (ko) 웨이퍼 레벨 패키징을 이용한 ndir 방식의 가스 센서용적외선 감지소자 및 그의 제조방법
JPH04215022A (ja) 赤外線検出素子
JP2725965B2 (ja) 赤外線センサ
JP2008107215A (ja) イメージセンサおよびその製造方法
JPH11258041A (ja) サーモパイル型赤外線センサ
JP2000346704A (ja) ボロメーター型赤外線検出素子