JP2004504598A - 絶対湿度センサ - Google Patents
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 114
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 51
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 30
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 28
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 28
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 20
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims description 6
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 6
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 6
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 4
- -1 Si 3 N 4 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 5
- 230000004044 response Effects 0.000 abstract description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 27
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 16
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 16
- 230000008859 change Effects 0.000 description 15
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010411 cooking Methods 0.000 description 5
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 4
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000005459 micromachining Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000005368 silicate glass Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H05B6/00—Heating by electric, magnetic or electromagnetic fields
- H05B6/64—Heating using microwaves
- H05B6/6447—Method of operation or details of the microwave heating apparatus related to the use of detectors or sensors
- H05B6/6458—Method of operation or details of the microwave heating apparatus related to the use of detectors or sensors using humidity or vapor sensors
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/12—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body in dependence upon absorption of a fluid; of a solid body in dependence upon reaction with a fluid, for detecting components in the fluid
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Electromagnetism (AREA)
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Abstract
【課題】センサの感度を向上させ、応答時間の早い絶対湿度センサを提供すると共に、小型化が可能であり、工程が簡単であって大量生産が容易な絶対湿度センサを提供する。
【解決手段】ホールを有する基板と、その基板上に形成される薄膜と、薄膜上に形成される抵抗体薄膜と、薄膜上に形成され、抵抗体薄膜と電気的に連結される電極パッドと、抵抗体薄膜を覆うように抵抗体薄膜の全面に形成される保護膜とから構成する。
【選択図】図2
【解決手段】ホールを有する基板と、その基板上に形成される薄膜と、薄膜上に形成される抵抗体薄膜と、薄膜上に形成され、抵抗体薄膜と電気的に連結される電極パッドと、抵抗体薄膜を覆うように抵抗体薄膜の全面に形成される保護膜とから構成する。
【選択図】図2
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は絶対湿度センサ、詳細には電子レンジ用絶対湿度センサに関する。
【0002】
【従来の技術】
湿度センサは温度計から電子レンジの調理用湿度センサに至るまでその使用用途が非常に多様である。
現在まで使用されている湿度センサの種類は、ポリイミドのような有機物の吸収による誘電率の変化を用いた容量型の湿度センサと、MgCr2O4のような半導体セラミックの抵抗変化を用いた相対湿度センサと、そして、セラミックサーミスタを用いた絶対湿度センサなどがある。
【0003】
電子レンジの調理用湿度センサとしては、二つのサーミスタを用いた絶対湿度センサが通常用いられている。
絶対湿度センサは周囲の温度変化に影響を受けないので、安定して湿度を検出することができるという長所がある。
電子レンジにおいて絶対湿度センサの感湿原理は、飲食物の処理時、飲食物から発生した水蒸気がサーミスタの熱を奪うことによるサーミスタの温度が変化することによる抵抗変化を用いている。
【0004】
図1は従来の絶対湿度センサの構造を示す図面である。このセンサは、ガラス膜のような保護膜で覆われた二つのセラミックサーミスタ1,2が、白金のような貴金属導線3によって支持ピン4に連結され、空中に浮かんでいるような構造とされている。外側は二つのサーミスタを隔離させる金属シールドケース5によりパッケージされている。
【0005】
サーミスタ1を収納している金属シールドケース5に微細なホールがあり、外部の水蒸気がサーミスタ1の表面に接触できるようになっている一方、他のサーミスタ2は金属シールドケース5によってドライN2 で密閉され、水蒸気が接触できないようになっている。すなわちサーミスタ1がセンシングエレメントで、サーミスタ2が参照エレメントである。
【0006】
従って、二つのサーミスタ1,2と外部抵抗でブリッジ回路を構成すると、飲食物の調理による水蒸気の発生時、その発生した水蒸気が露出されたサーミスタ1の熱を奪うことにより、露出した一つのサーミスタ1でのみ抵抗変化が発生し、バイアス電圧による出力変化が発生して、湿度を感知する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の絶対湿度センサは素子としてセラミックサーミスタを使用するため、熱容量が大きくて感度が低く、応答時間が遅く、センサのサイズが大きくなるという短所がある。
【0008】
また、サーミスタ素子を図1のように導線3と支持ピン4を用いて空中に浮かべ、前記貴金属導線3とピン4をスポット溶接し、組み立て時にも参照エレメント2をドライN2 で密閉しなければならないので、その製造工程が複雑で工程数が増加し、コストが高くなるとともに大量生産に不利という短所がある。
【0009】
本発明の目的は、センサの感度を向上させ、応答時間の早い絶対湿度センサを提供することである。
本発明の他の目的は、小型化が可能であり、工程が簡単であって大量生産が容易な絶対湿度センサを提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明による絶対湿度センサは、キャビティを有する基板と、その基板上に形成される薄膜と、薄膜上に形成される抵抗体薄膜と、薄膜上に形成され、抵抗体薄膜と電気的に連結される電極パッドと、抵抗体薄膜を覆うように抵抗体薄膜の全面に形成される保護膜とから構成されている。
【0011】
薄膜はSi3N4,SiO2,SiOxNy,SiO2/Si3N4/SiO2の中何れか一つからなり、抵抗体薄膜はTi,Pt,Ni,VO2の中何れか一つからなり、保護膜はSiO2,Si3N4,SiOxNy,PSG(phospher silicate glass),ポリイミドの中何れか一つから形成される。
【0012】
そして、抵抗体薄膜が形成された領域の保護膜上には熱伝導膜を形成することもできる。この際、熱伝導膜はAl,Auの中何れか一つからなる。
【0013】
更に好ましい実施態様として、本発明による絶対湿度センサは、所定領域に第1,第2ホールが形成された基板と、基板上に形成される薄膜と、第1キャビティが形成された薄膜上に形成され、大気中に露出された水分を感知し、その感知した水分量によって抵抗値が変わる感湿素子と、第2キャビティが形成された薄膜上に形成され、感湿素子の抵抗値を補償する補償素子とから構成される。
【0014】
ここで、感湿素子及び補償素子は、薄膜上に形成される抵抗体薄膜と、薄膜上に形成され、抵抗体薄膜と電気的に連結される電極パッドと、抵抗体薄膜を覆うように抵抗体薄膜の全面に形成される保護膜とから構成されている。
【0015】
そして、抵抗体薄膜が形成された領域の保護膜上に、Al,Auの中何れか一つからなる熱伝導膜が更に形成されることもできる。
【0016】
また、感湿素子及び補償素子の全面を覆うように感湿素子及び補償素子の上側に形成され、感湿素子と補償素子とを分離及び密封させるキャップを更に形成する。
【0017】
そのキャップの中央領域には感湿素子と補償素子とが分離及び密封されるように遮断膜が形成され、感湿素子が形成された領域のキャップには外部の水分が出入りするホールが形成され、キャップはシリコンからなる。
【0018】
また、本発明による絶対湿度センサのパッケージは、センサの基板下部と接合して、外部との電気的な連結のためのピンが形成されたステムと、感湿素子及び補償素子の電極パッドとステムのピンとを電気的に連結させるワイヤと、感湿素子及び補償素子を含む前記ステムの全面を覆うようにステムの上部に形成される金属シールドケースとを更に含むことを特徴とする。
【0019】
ここで、感湿素子が形成された領域のステム又はシールドケースには、外部の水分が出入りするホールが形成される。
【0020】
このように構成される本発明は、抵抗体薄膜を使用して湿度に対する感度が向上した絶対湿度センサを製作すると共に、シリコンマイクロマシニング技術を用いて一つのチップにセンサを集積化することにより、センサの大量生産を容易にする。
【0021】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好ましい実施形態を添付の図面に基づいて詳細に説明する。
【0022】
(第1実施形態)
図2は本発明の第1実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の断面図である。
図2に示すように、シリコン基板11上に低応力Si3N4,SiO2,SiOxNy,SiO2/Si3N4/SiO2 などからなる薄膜12を形成し、その薄膜12上に温度抵抗係数(temperature coefficient of resistance;TCR)を有する抵抗体を堆積させ、パターニングして抵抗体薄膜13を形成する。
ここで、抵抗体薄膜13はTi,Pt,Ni,VO2などからなる。
【0023】
次いで、温度抵抗係数を有する抵抗体薄膜13上に金属膜を堆積させ、パターニングして抵抗体薄膜13に接触するように電極パッド14を形成する。
【0024】
そして、抵抗体薄膜13の全面を覆うように、抵抗体薄膜13上に絶縁膜15を形成する。
絶縁膜15は絶縁特性に優れたSiO2 ,Si3N4,SiOxNy,PSG,ポリイミドなどからなる。
【0025】
次に、絶縁膜15上にAl,Auのような金属膜を堆積し、パターニングして抵抗体薄膜13と整列するように熱伝導膜16を形成する。
ここで、熱伝導膜16は抵抗体薄膜13の熱を迅速に外部に放出するためのもので、場合に応じて形成しないこともある。
【0026】
最後に、基板11の背面をエッチングしてキャビティを形成させ、抵抗体薄膜13が形成された領域の薄膜12を露出させる。
【0027】
このように製作した薄膜型絶対湿度センサは、周囲の湿度変化に影響を受けない補償素子と、周囲の湿度変化を感知する感湿素子とが必要である。
【0028】
図3は本発明の第1実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の断面図である。
図3に示すように、感湿素子としての絶対湿度センサ21と補償素子としての絶対湿度センサ22をステム23に取り付け、ステム23に形成されたピン24と、本絶対湿度センサ21,22に形成された電極パッドとを外部との電気的な連結のためにそれぞれワイヤで連結する。
【0029】
次いで、絶対湿度センサ21,22を含むステム23の全面を覆うようにステム23に金属シールドケース25を密封して接合する。
ここで、金属シールドケース25の中央領域には遮断膜25aが形成されており、感湿素子用絶対湿度センサ21と補償素子用絶対湿度センサ22とを互いに隔離して封じ込んでいる。
【0030】
そして、感湿素子用絶対湿度センサ21が設けられた金属シールドケース25の領域にはホールを形成して、外部の水分が出入りできるようにし、補償素子用絶対湿度センサ22が配置された領域にはドライN2 ガスを満たして外部の水分に影響を受けないようにする。
【0031】
(第2実施形態)
本発明の第2実施形態は感湿素子用絶対湿度センサと補償素子用絶対湿度センサとを一つのチップ上に集積化させ、大量生産が可能であるようにした。
【0032】
図4は本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の断面図である。
図4に示すように、シリコン基板31上に低応力Si3N4,SiO2,SiOxNy,SiO2/Si3N4/SiO2 などからなる薄膜32を形成し、薄膜32上に温度抵抗係数(TCR)を有する抵抗体を堆積させ、パターニングして感湿素子用抵抗体薄膜33aと補償素子用抵抗体薄膜33bとを形成する。
ここで、抵抗体薄膜33a,33bはTi,Pt,Ni,VO2などからなる。
【0033】
次いで、温度抵抗係数を有する抵抗体薄膜33a,33b上に金属膜を堆積させ、パターニングして抵抗体薄膜33a,33bに接触するように電極パッド34を形成する。
【0034】
そして、抵抗体薄膜33a,33bの全面を覆うように、抵抗体薄膜33a,33b上にそれぞれ絶縁膜35を形成する。
この絶縁膜35は絶縁特性に優れたSiO2 ,Si3N4,SiOxNy,PSG,ポリイミドなどからなる。
【0035】
また、場合によっては絶縁膜35上に抵抗体薄膜33a,33bと整列するようにAl,Auなどからなる熱伝導膜を形成することもできる。
【0036】
最後に、基板31の背面をエッチングしてキャビティを形成させ、抵抗体薄膜33a,33bが形成された領域に薄膜32を露出させる。
【0037】
このように製作した薄膜型絶対湿度センサは、周囲の湿度変化に影響を受けない補償素子と、周囲の湿度変化を感知する感湿素子とが一つの基板上に同時に形成されるので、大量生産に有利である。
【0038】
図5は本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の断面図であり、図6a及び図6bは本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の斜視図である。
【0039】
図5,図6a,図6bに示すように、感湿素子41と補償素子42が形成された絶対湿度センサをステム43上に取り付け、外部との電気的連結のために、ステム43に形成されたピン44と、感湿及び補償素子41,42に形成された電極パッドをそれぞれワイヤで連結する。
【0040】
次いで、感湿及び補償素子41,42を含むステム43全面を覆うように、ステム43の上部に金属シールドケース45を密封して接合する。
【0041】
ここで、金属シールドケース45は第1実施形態の遮断膜25aが形成されておらず、感湿素子41と補償素子42の上部にはドライN2 ガスで満たして外部の水分に影響を受けないようにする。
【0042】
そして、感湿素子41が形成された領域のステム45にのみホールを形成して、外部の水分が薄膜側に出入りできるようにし、補償素子42が形成された領域では基板31がステムに密封されるので、水分の影響を受けない。
【0043】
(第3実施形態)
本発明の第3実施形態の素子は構造的には本発明の第2実施形態と同様である。
しかしながら、本発明の第3実施形態は、第2実施形態のように、外部の水分が下側のステムを介して薄膜の側に入るのではなく、上側に設けたシールドケースとシリコンキャップを介して絶縁膜の側に入ることが特徴である。
【0044】
図7は本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の断面図であり、図8a及び図8bは本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の斜視図である。
【0045】
図7,図8a,図8bに示すように、シリコン基板51上に薄膜52を形成し、薄膜52上にTi,Pt,Ni,VO2 などからなる感湿素子用抵抗体薄膜53aと補償素子用抵抗体薄膜53bを形成する。
【0046】
次いで、抵抗体薄膜53a,53bに接触するように電極パッド54を形成し、抵抗体薄膜53a,53bの全面を覆うように、抵抗体薄膜53a,53b上に絶縁膜55を形成する。
【0047】
このとき、場合によっては、抵抗体薄膜の熱を迅速に外部に放出するために、絶縁膜55上に抵抗体薄膜53a,53bと整列するようにAl,Auなどからなる熱伝導膜を形成することもできる。
そして、基板51の背面をエッチングしてキャビティを形成させ、抵抗体薄膜53a,53bが形成された領域の薄膜52を露出させる。
【0048】
最後に、感湿素子61及び補償素子62の全面を覆うように、絶縁膜55の上部にシリコンキャップ56を密封して接合する。
ここで、シリコンキャップ56の中央領域には遮断膜が形成され、感湿素子61と補償素子62とを互いに隔離するように密封する。
【0049】
感湿素子61が形成された領域のキャップ56の部分にホールを形成して、外部の水分が出入りできるようにし、補償素子62が形成された領域にはドライN2 ガスで満たして外部の水分に影響を受けないようにする。
【0050】
このように、本発明の第3実施形態では、感湿素子と補償素子の上をシリコンキャップで覆い、外部の水分が上部から流入するようにすることが特徴である。
本発明の第3実施形態のシリコンキャップは簡単な工程により製作することができる。
【0051】
図9a〜cは本発明の第3実施形態による絶対湿度センサのシリコンキャップの製造工程を示す工程断面図である。
まず、図9aに示すように、シリコン基板70の両面に第1,第2エッチングマスク膜71,72を形成する。
第1,第2エッチングマスク膜71,72はSi3N4,CrNなどからなる。
【0052】
次いで、図9bに示すように、第1エッチングマスク膜71の所定の領域を除去してシリコン基板70を露出させた後、ウェット又はドライエッチング方法で露出されたシリコン基板70を所定の深さにエッチングする。
【0053】
そして、図9cに示すように、第2エッチングマスク膜72の所定の領域を除去して、シリコン基板70を露出させた後、ウェット又はドライエッチング方法で露出されたシリコン基板70をエッチングして、第1,第2リセス領域を形成する。
その際、シリコン基板70のエッチングの程度は、図9b段階においてシリコン基板70のエッチングした下部面に接する地点までである。
【0054】
このように製作された本発明によるシリコンキャップは、シリコンエッチングによって二つの分離した第1,第2リセスが形成されており、第1リセスの底面には外部の水分が出入りできるようにホールが形成されており、第2リセスの底面には外部の水分が出入りできないようホールが形成されていない。
【0055】
図10a及び図10bは本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の斜視図である。
図10a及び図10bに示すように、感湿素子61と補償素子62が形成された絶対湿度センサをステム63の上に取り付け、外部との電気的な連結のために、ステム63に形成されたピン64と感湿及び補償素子61,62に形成された電極パッドとをそれぞれワイヤで連結する。
【0056】
次いで、シリコンキャップ56を含むステム63全面を覆うように、ステム63の上部に金属シールドケース65を密封して接合する。
【0057】
ここで、金属シールドケース65は第1実施形態の遮断膜65aが形成されておらず、外部の水分が出入するホールが形成されている。
【0058】
即ち、外部の水分は金属シールドケース65のホール及びシリコンキャップ56のホールを介して、感湿素子61が形成された領域に入り込む。
【0059】
図11は本発明による薄膜型絶対湿度センサを用いて周囲湿度変化を検出するための応用回路例で、感湿素子61、補償素子62、固定抵抗R1、可変抵抗VRからなるブリッジ回路と、ブリッジ回路に印加される電源Vとで簡単に構成することができる。
【0060】
一例として、本絶対湿度センサと前記回路を用いて、電子レンジにおいて調理時に飲食物から発生した水蒸気による湿度変化を検出する方法を説明する。電子レンジで飲食物を加熱すると水蒸気が発生し、発生した水蒸気はセンサに形成されているホールを介してセンサの内部に入り、感湿素子61に接触する。
このとき、感湿素子61の抵抗体はバイアス電源によって自体加熱されているので、感湿素子61に接触した水蒸気は抵抗体の熱を奪う。
従って、感湿素子61の抵抗体は熱損失によって温度低下が発生して、抵抗が変化する。
【0061】
一方、補償素子62は水蒸気が接触しないので、抵抗変化が発生しない。かかる感湿素子61の抵抗変化によってブリッジ回路の出力変化が発生するので、湿度の変化を検出することができる。
【0062】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、センサ周辺の湿度変化を絶対湿度センサと回路から感知しやすくなり、これを用いて、電子レンジのような調理機器で調理時、加熱によって飲食物から発生する水蒸気を検出して、飲食物の自動料理などに応用することができる。
【0063】
本発明による薄膜型絶対湿度センサは、温度抵抗係数(TCR)を有する抵抗体薄膜を形成して、センサの感度を向上させ、応答時間を早くできるというメリットがある
また、本発明はシリコンマイクロマシニング技術を用いて一つのチップにセンサを集積化することにより、製作工程が簡単で、センサの小型化が可能であり、大量生産が容易であって工程コストを節減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来技術による絶対湿度センサを示す構造の断面図である。
【図2】本発明の第1実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の断面図である。
【図3】本発明の第1実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の断面図である。
【図4】本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の断面図である。
【図5】本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の断面図である。
【図6a】本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す示す構造の斜視図である。
【図6b】本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す示す構造の斜視図である。
【図7】本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の断面図である。
【図8】本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の斜視図である。
【図9】本発明の第3実施形態による絶対湿度センサのシリコンキャップの製造工程を示す工程断面図である。
【図10a】本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の斜視図である。
【図10b】本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の斜視図である。
【図11】本発明による薄膜型絶対湿度センサを用いた湿度検出回路図である。
【符号の説明】
11,31,51:シリコン基板
12,32,52:薄膜
13,33a,33b,53a,53b:抵抗体薄膜
14,34,54:電極パッド
15,35,55:絶縁膜
16:熱伝導膜
21,41,61:感湿素子
22,42,62:補償素子
23,43:ステム
24,44:ピン
25,45:金属シールドケース
25a:遮断膜
56:シリコンキャップ
70:シリコン基板
71:第1エッチングマスク膜
72:第2エッチングマスク膜
【発明の属する技術分野】
本発明は絶対湿度センサ、詳細には電子レンジ用絶対湿度センサに関する。
【0002】
【従来の技術】
湿度センサは温度計から電子レンジの調理用湿度センサに至るまでその使用用途が非常に多様である。
現在まで使用されている湿度センサの種類は、ポリイミドのような有機物の吸収による誘電率の変化を用いた容量型の湿度センサと、MgCr2O4のような半導体セラミックの抵抗変化を用いた相対湿度センサと、そして、セラミックサーミスタを用いた絶対湿度センサなどがある。
【0003】
電子レンジの調理用湿度センサとしては、二つのサーミスタを用いた絶対湿度センサが通常用いられている。
絶対湿度センサは周囲の温度変化に影響を受けないので、安定して湿度を検出することができるという長所がある。
電子レンジにおいて絶対湿度センサの感湿原理は、飲食物の処理時、飲食物から発生した水蒸気がサーミスタの熱を奪うことによるサーミスタの温度が変化することによる抵抗変化を用いている。
【0004】
図1は従来の絶対湿度センサの構造を示す図面である。このセンサは、ガラス膜のような保護膜で覆われた二つのセラミックサーミスタ1,2が、白金のような貴金属導線3によって支持ピン4に連結され、空中に浮かんでいるような構造とされている。外側は二つのサーミスタを隔離させる金属シールドケース5によりパッケージされている。
【0005】
サーミスタ1を収納している金属シールドケース5に微細なホールがあり、外部の水蒸気がサーミスタ1の表面に接触できるようになっている一方、他のサーミスタ2は金属シールドケース5によってドライN2 で密閉され、水蒸気が接触できないようになっている。すなわちサーミスタ1がセンシングエレメントで、サーミスタ2が参照エレメントである。
【0006】
従って、二つのサーミスタ1,2と外部抵抗でブリッジ回路を構成すると、飲食物の調理による水蒸気の発生時、その発生した水蒸気が露出されたサーミスタ1の熱を奪うことにより、露出した一つのサーミスタ1でのみ抵抗変化が発生し、バイアス電圧による出力変化が発生して、湿度を感知する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の絶対湿度センサは素子としてセラミックサーミスタを使用するため、熱容量が大きくて感度が低く、応答時間が遅く、センサのサイズが大きくなるという短所がある。
【0008】
また、サーミスタ素子を図1のように導線3と支持ピン4を用いて空中に浮かべ、前記貴金属導線3とピン4をスポット溶接し、組み立て時にも参照エレメント2をドライN2 で密閉しなければならないので、その製造工程が複雑で工程数が増加し、コストが高くなるとともに大量生産に不利という短所がある。
【0009】
本発明の目的は、センサの感度を向上させ、応答時間の早い絶対湿度センサを提供することである。
本発明の他の目的は、小型化が可能であり、工程が簡単であって大量生産が容易な絶対湿度センサを提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明による絶対湿度センサは、キャビティを有する基板と、その基板上に形成される薄膜と、薄膜上に形成される抵抗体薄膜と、薄膜上に形成され、抵抗体薄膜と電気的に連結される電極パッドと、抵抗体薄膜を覆うように抵抗体薄膜の全面に形成される保護膜とから構成されている。
【0011】
薄膜はSi3N4,SiO2,SiOxNy,SiO2/Si3N4/SiO2の中何れか一つからなり、抵抗体薄膜はTi,Pt,Ni,VO2の中何れか一つからなり、保護膜はSiO2,Si3N4,SiOxNy,PSG(phospher silicate glass),ポリイミドの中何れか一つから形成される。
【0012】
そして、抵抗体薄膜が形成された領域の保護膜上には熱伝導膜を形成することもできる。この際、熱伝導膜はAl,Auの中何れか一つからなる。
【0013】
更に好ましい実施態様として、本発明による絶対湿度センサは、所定領域に第1,第2ホールが形成された基板と、基板上に形成される薄膜と、第1キャビティが形成された薄膜上に形成され、大気中に露出された水分を感知し、その感知した水分量によって抵抗値が変わる感湿素子と、第2キャビティが形成された薄膜上に形成され、感湿素子の抵抗値を補償する補償素子とから構成される。
【0014】
ここで、感湿素子及び補償素子は、薄膜上に形成される抵抗体薄膜と、薄膜上に形成され、抵抗体薄膜と電気的に連結される電極パッドと、抵抗体薄膜を覆うように抵抗体薄膜の全面に形成される保護膜とから構成されている。
【0015】
そして、抵抗体薄膜が形成された領域の保護膜上に、Al,Auの中何れか一つからなる熱伝導膜が更に形成されることもできる。
【0016】
また、感湿素子及び補償素子の全面を覆うように感湿素子及び補償素子の上側に形成され、感湿素子と補償素子とを分離及び密封させるキャップを更に形成する。
【0017】
そのキャップの中央領域には感湿素子と補償素子とが分離及び密封されるように遮断膜が形成され、感湿素子が形成された領域のキャップには外部の水分が出入りするホールが形成され、キャップはシリコンからなる。
【0018】
また、本発明による絶対湿度センサのパッケージは、センサの基板下部と接合して、外部との電気的な連結のためのピンが形成されたステムと、感湿素子及び補償素子の電極パッドとステムのピンとを電気的に連結させるワイヤと、感湿素子及び補償素子を含む前記ステムの全面を覆うようにステムの上部に形成される金属シールドケースとを更に含むことを特徴とする。
【0019】
ここで、感湿素子が形成された領域のステム又はシールドケースには、外部の水分が出入りするホールが形成される。
【0020】
このように構成される本発明は、抵抗体薄膜を使用して湿度に対する感度が向上した絶対湿度センサを製作すると共に、シリコンマイクロマシニング技術を用いて一つのチップにセンサを集積化することにより、センサの大量生産を容易にする。
【0021】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好ましい実施形態を添付の図面に基づいて詳細に説明する。
【0022】
(第1実施形態)
図2は本発明の第1実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の断面図である。
図2に示すように、シリコン基板11上に低応力Si3N4,SiO2,SiOxNy,SiO2/Si3N4/SiO2 などからなる薄膜12を形成し、その薄膜12上に温度抵抗係数(temperature coefficient of resistance;TCR)を有する抵抗体を堆積させ、パターニングして抵抗体薄膜13を形成する。
ここで、抵抗体薄膜13はTi,Pt,Ni,VO2などからなる。
【0023】
次いで、温度抵抗係数を有する抵抗体薄膜13上に金属膜を堆積させ、パターニングして抵抗体薄膜13に接触するように電極パッド14を形成する。
【0024】
そして、抵抗体薄膜13の全面を覆うように、抵抗体薄膜13上に絶縁膜15を形成する。
絶縁膜15は絶縁特性に優れたSiO2 ,Si3N4,SiOxNy,PSG,ポリイミドなどからなる。
【0025】
次に、絶縁膜15上にAl,Auのような金属膜を堆積し、パターニングして抵抗体薄膜13と整列するように熱伝導膜16を形成する。
ここで、熱伝導膜16は抵抗体薄膜13の熱を迅速に外部に放出するためのもので、場合に応じて形成しないこともある。
【0026】
最後に、基板11の背面をエッチングしてキャビティを形成させ、抵抗体薄膜13が形成された領域の薄膜12を露出させる。
【0027】
このように製作した薄膜型絶対湿度センサは、周囲の湿度変化に影響を受けない補償素子と、周囲の湿度変化を感知する感湿素子とが必要である。
【0028】
図3は本発明の第1実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の断面図である。
図3に示すように、感湿素子としての絶対湿度センサ21と補償素子としての絶対湿度センサ22をステム23に取り付け、ステム23に形成されたピン24と、本絶対湿度センサ21,22に形成された電極パッドとを外部との電気的な連結のためにそれぞれワイヤで連結する。
【0029】
次いで、絶対湿度センサ21,22を含むステム23の全面を覆うようにステム23に金属シールドケース25を密封して接合する。
ここで、金属シールドケース25の中央領域には遮断膜25aが形成されており、感湿素子用絶対湿度センサ21と補償素子用絶対湿度センサ22とを互いに隔離して封じ込んでいる。
【0030】
そして、感湿素子用絶対湿度センサ21が設けられた金属シールドケース25の領域にはホールを形成して、外部の水分が出入りできるようにし、補償素子用絶対湿度センサ22が配置された領域にはドライN2 ガスを満たして外部の水分に影響を受けないようにする。
【0031】
(第2実施形態)
本発明の第2実施形態は感湿素子用絶対湿度センサと補償素子用絶対湿度センサとを一つのチップ上に集積化させ、大量生産が可能であるようにした。
【0032】
図4は本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の断面図である。
図4に示すように、シリコン基板31上に低応力Si3N4,SiO2,SiOxNy,SiO2/Si3N4/SiO2 などからなる薄膜32を形成し、薄膜32上に温度抵抗係数(TCR)を有する抵抗体を堆積させ、パターニングして感湿素子用抵抗体薄膜33aと補償素子用抵抗体薄膜33bとを形成する。
ここで、抵抗体薄膜33a,33bはTi,Pt,Ni,VO2などからなる。
【0033】
次いで、温度抵抗係数を有する抵抗体薄膜33a,33b上に金属膜を堆積させ、パターニングして抵抗体薄膜33a,33bに接触するように電極パッド34を形成する。
【0034】
そして、抵抗体薄膜33a,33bの全面を覆うように、抵抗体薄膜33a,33b上にそれぞれ絶縁膜35を形成する。
この絶縁膜35は絶縁特性に優れたSiO2 ,Si3N4,SiOxNy,PSG,ポリイミドなどからなる。
【0035】
また、場合によっては絶縁膜35上に抵抗体薄膜33a,33bと整列するようにAl,Auなどからなる熱伝導膜を形成することもできる。
【0036】
最後に、基板31の背面をエッチングしてキャビティを形成させ、抵抗体薄膜33a,33bが形成された領域に薄膜32を露出させる。
【0037】
このように製作した薄膜型絶対湿度センサは、周囲の湿度変化に影響を受けない補償素子と、周囲の湿度変化を感知する感湿素子とが一つの基板上に同時に形成されるので、大量生産に有利である。
【0038】
図5は本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の断面図であり、図6a及び図6bは本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の斜視図である。
【0039】
図5,図6a,図6bに示すように、感湿素子41と補償素子42が形成された絶対湿度センサをステム43上に取り付け、外部との電気的連結のために、ステム43に形成されたピン44と、感湿及び補償素子41,42に形成された電極パッドをそれぞれワイヤで連結する。
【0040】
次いで、感湿及び補償素子41,42を含むステム43全面を覆うように、ステム43の上部に金属シールドケース45を密封して接合する。
【0041】
ここで、金属シールドケース45は第1実施形態の遮断膜25aが形成されておらず、感湿素子41と補償素子42の上部にはドライN2 ガスで満たして外部の水分に影響を受けないようにする。
【0042】
そして、感湿素子41が形成された領域のステム45にのみホールを形成して、外部の水分が薄膜側に出入りできるようにし、補償素子42が形成された領域では基板31がステムに密封されるので、水分の影響を受けない。
【0043】
(第3実施形態)
本発明の第3実施形態の素子は構造的には本発明の第2実施形態と同様である。
しかしながら、本発明の第3実施形態は、第2実施形態のように、外部の水分が下側のステムを介して薄膜の側に入るのではなく、上側に設けたシールドケースとシリコンキャップを介して絶縁膜の側に入ることが特徴である。
【0044】
図7は本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の断面図であり、図8a及び図8bは本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の斜視図である。
【0045】
図7,図8a,図8bに示すように、シリコン基板51上に薄膜52を形成し、薄膜52上にTi,Pt,Ni,VO2 などからなる感湿素子用抵抗体薄膜53aと補償素子用抵抗体薄膜53bを形成する。
【0046】
次いで、抵抗体薄膜53a,53bに接触するように電極パッド54を形成し、抵抗体薄膜53a,53bの全面を覆うように、抵抗体薄膜53a,53b上に絶縁膜55を形成する。
【0047】
このとき、場合によっては、抵抗体薄膜の熱を迅速に外部に放出するために、絶縁膜55上に抵抗体薄膜53a,53bと整列するようにAl,Auなどからなる熱伝導膜を形成することもできる。
そして、基板51の背面をエッチングしてキャビティを形成させ、抵抗体薄膜53a,53bが形成された領域の薄膜52を露出させる。
【0048】
最後に、感湿素子61及び補償素子62の全面を覆うように、絶縁膜55の上部にシリコンキャップ56を密封して接合する。
ここで、シリコンキャップ56の中央領域には遮断膜が形成され、感湿素子61と補償素子62とを互いに隔離するように密封する。
【0049】
感湿素子61が形成された領域のキャップ56の部分にホールを形成して、外部の水分が出入りできるようにし、補償素子62が形成された領域にはドライN2 ガスで満たして外部の水分に影響を受けないようにする。
【0050】
このように、本発明の第3実施形態では、感湿素子と補償素子の上をシリコンキャップで覆い、外部の水分が上部から流入するようにすることが特徴である。
本発明の第3実施形態のシリコンキャップは簡単な工程により製作することができる。
【0051】
図9a〜cは本発明の第3実施形態による絶対湿度センサのシリコンキャップの製造工程を示す工程断面図である。
まず、図9aに示すように、シリコン基板70の両面に第1,第2エッチングマスク膜71,72を形成する。
第1,第2エッチングマスク膜71,72はSi3N4,CrNなどからなる。
【0052】
次いで、図9bに示すように、第1エッチングマスク膜71の所定の領域を除去してシリコン基板70を露出させた後、ウェット又はドライエッチング方法で露出されたシリコン基板70を所定の深さにエッチングする。
【0053】
そして、図9cに示すように、第2エッチングマスク膜72の所定の領域を除去して、シリコン基板70を露出させた後、ウェット又はドライエッチング方法で露出されたシリコン基板70をエッチングして、第1,第2リセス領域を形成する。
その際、シリコン基板70のエッチングの程度は、図9b段階においてシリコン基板70のエッチングした下部面に接する地点までである。
【0054】
このように製作された本発明によるシリコンキャップは、シリコンエッチングによって二つの分離した第1,第2リセスが形成されており、第1リセスの底面には外部の水分が出入りできるようにホールが形成されており、第2リセスの底面には外部の水分が出入りできないようホールが形成されていない。
【0055】
図10a及び図10bは本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の斜視図である。
図10a及び図10bに示すように、感湿素子61と補償素子62が形成された絶対湿度センサをステム63の上に取り付け、外部との電気的な連結のために、ステム63に形成されたピン64と感湿及び補償素子61,62に形成された電極パッドとをそれぞれワイヤで連結する。
【0056】
次いで、シリコンキャップ56を含むステム63全面を覆うように、ステム63の上部に金属シールドケース65を密封して接合する。
【0057】
ここで、金属シールドケース65は第1実施形態の遮断膜65aが形成されておらず、外部の水分が出入するホールが形成されている。
【0058】
即ち、外部の水分は金属シールドケース65のホール及びシリコンキャップ56のホールを介して、感湿素子61が形成された領域に入り込む。
【0059】
図11は本発明による薄膜型絶対湿度センサを用いて周囲湿度変化を検出するための応用回路例で、感湿素子61、補償素子62、固定抵抗R1、可変抵抗VRからなるブリッジ回路と、ブリッジ回路に印加される電源Vとで簡単に構成することができる。
【0060】
一例として、本絶対湿度センサと前記回路を用いて、電子レンジにおいて調理時に飲食物から発生した水蒸気による湿度変化を検出する方法を説明する。電子レンジで飲食物を加熱すると水蒸気が発生し、発生した水蒸気はセンサに形成されているホールを介してセンサの内部に入り、感湿素子61に接触する。
このとき、感湿素子61の抵抗体はバイアス電源によって自体加熱されているので、感湿素子61に接触した水蒸気は抵抗体の熱を奪う。
従って、感湿素子61の抵抗体は熱損失によって温度低下が発生して、抵抗が変化する。
【0061】
一方、補償素子62は水蒸気が接触しないので、抵抗変化が発生しない。かかる感湿素子61の抵抗変化によってブリッジ回路の出力変化が発生するので、湿度の変化を検出することができる。
【0062】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、センサ周辺の湿度変化を絶対湿度センサと回路から感知しやすくなり、これを用いて、電子レンジのような調理機器で調理時、加熱によって飲食物から発生する水蒸気を検出して、飲食物の自動料理などに応用することができる。
【0063】
本発明による薄膜型絶対湿度センサは、温度抵抗係数(TCR)を有する抵抗体薄膜を形成して、センサの感度を向上させ、応答時間を早くできるというメリットがある
また、本発明はシリコンマイクロマシニング技術を用いて一つのチップにセンサを集積化することにより、製作工程が簡単で、センサの小型化が可能であり、大量生産が容易であって工程コストを節減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来技術による絶対湿度センサを示す構造の断面図である。
【図2】本発明の第1実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の断面図である。
【図3】本発明の第1実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の断面図である。
【図4】本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の断面図である。
【図5】本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の断面図である。
【図6a】本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す示す構造の斜視図である。
【図6b】本発明の第2実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す示す構造の斜視図である。
【図7】本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の断面図である。
【図8】本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサを示す構造の斜視図である。
【図9】本発明の第3実施形態による絶対湿度センサのシリコンキャップの製造工程を示す工程断面図である。
【図10a】本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の斜視図である。
【図10b】本発明の第3実施形態による薄膜型絶対湿度センサのパッケージを示す構造の斜視図である。
【図11】本発明による薄膜型絶対湿度センサを用いた湿度検出回路図である。
【符号の説明】
11,31,51:シリコン基板
12,32,52:薄膜
13,33a,33b,53a,53b:抵抗体薄膜
14,34,54:電極パッド
15,35,55:絶縁膜
16:熱伝導膜
21,41,61:感湿素子
22,42,62:補償素子
23,43:ステム
24,44:ピン
25,45:金属シールドケース
25a:遮断膜
56:シリコンキャップ
70:シリコン基板
71:第1エッチングマスク膜
72:第2エッチングマスク膜
Claims (20)
- キャビティを有する基板と、
前記基板上に形成される薄膜と、
前記薄膜上に形成される抵抗体薄膜と、
前記薄膜上に形成され、前記抵抗体薄膜と電気的に連結される電極パッドと、
前記抵抗体薄膜を覆うように前記抵抗体薄膜の全面に形成される保護膜と
から構成されることを特徴とする絶対湿度センサ。 - 前記薄膜はSi3N4,SiO2,SiOxNy,SiO2/Si3N4/SiO2の中何れか一つからなることを特徴とする請求項1記載の絶対湿度センサ。
- 前記抵抗体薄膜はTi,Pt,Ni,VO2の中何れか一つからなることを特徴とする請求項1記載の絶対湿度センサ。
- 前記保護膜はSiO2 ,Si3N4,SiOxNy,PSG,ポリイミドの中何れか一つから形成されることを特徴とする請求項1記載の絶対湿度センサ。
- 前記抵抗体薄膜が形成された領域の保護膜上に形成される熱伝導膜を更に含むことを特徴とする請求項1記載の絶対湿度センサ。
- 前記熱伝導膜はAl,Auの中何れか一つからなることを特徴とする請求項5記載の絶対湿度センサ。
- 所定領域に第1,第2キャビティが形成された基板と、
前記基板上に形成される薄膜と、
前記第1キャビティが形成された薄膜上に形成され、大気中に露出された水分を感知し、その感知した水分量によって抵抗値が変わる感湿素子と、
前記第2キャビティが形成された薄膜上に形成され、前記感湿素子の抵抗値を補償する補償素子と
から構成されることを特徴とする絶対湿度センサ。 - 前記感湿素子及び補償素子は、
前記薄膜上に形成される抵抗体薄膜と、
前記薄膜上に形成され、前記抵抗体薄膜と電気的に連結される電極パッドと、
前記抵抗体薄膜を覆うように前記抵抗体薄膜の全面に形成される保護膜と
から構成されることを特徴とする請求項7記載の絶対湿度センサ。 - 前記薄膜はSi3N4,SiO2,SiOxNy,SiO2/Si3N4/SiO2の中何れか一つからなることを特徴とする請求項8記載の絶対湿度センサ。
- 前記抵抗体薄膜はTi,Pt,Ni,VO2の中何れか一つからなることを特徴とする請求項8記載の絶対湿度センサ。
- 前記保護膜はSiO2,Si3N4,SiOxNy,PSG、ポリイミドの中何れか一つから形成されることを特徴とする請求項8記載の絶対湿度センサ。
- 前記抵抗体薄膜が形成された領域の保護膜上に形成される熱伝導膜を更に含むことを特徴とする請求項7記載の絶対湿度センサ。
- 前記熱伝導膜はAl,Auの中何れか一つからなることを特徴とする請求項12記載の絶対湿度センサ。
- 前記感湿素子及び補償素子の全面を覆うように前記感湿素子及び補償素子の上部に形成され、前記感湿素子と補償素子とを分離及び密封させるキャップを更に含むことを特徴とする請求項7記載の絶対湿度センサ。
- 前記キャップの中央領域には前記感湿素子と補償素子とが分離及び密封されるように遮断膜が形成されることを特徴とする請求項14記載の絶対湿度センサ。
- 前記感湿素子が形成された領域のキャップには外部の水分が出入りするホールが形成されることを特徴とする請求項14記載の絶対湿度センサ。
- 前記キャップはシリコンであることを特徴とする請求項14記載の絶対湿度センサ。
- 前記基板の下部に接合して、外部との電気的な連結のためのピンが形成されたステムと、
前記感湿素子及び補償素子の電極パッドと前記ステムのピンとを電気的に連結させるワイヤと、
前記感湿素子及び補償素子を含む前記ステムの全面を覆うように前記ステムの上部に形成されるシールドケースと
を更に含むことを特徴とする請求項7記載の絶対湿度センサ。 - 前記感湿素子が形成された領域のステムには外部の水分が出入りするホールが形成されることを特徴とする請求項18記載の絶対湿度センサ。
- 前記シールドケースには外部の水分が出入りするホールが形成されることを特徴とする請求項18記載の絶対湿度センサ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2000-0041374A KR100379471B1 (ko) | 2000-07-19 | 2000-07-19 | 절대습도센서 및 이를 이용한 온/습도 검출 회로 |
PCT/KR2000/001439 WO2002006808A1 (en) | 2000-07-19 | 2000-12-12 | Absolute humidity sensor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004504598A true JP2004504598A (ja) | 2004-02-12 |
Family
ID=19678757
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002512669A Withdrawn JP2004504598A (ja) | 2000-07-19 | 2000-12-12 | 絶対湿度センサ |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6840103B2 (ja) |
EP (1) | EP1301777A1 (ja) |
JP (1) | JP2004504598A (ja) |
KR (1) | KR100379471B1 (ja) |
CN (1) | CN1193227C (ja) |
AU (1) | AU2001220278A1 (ja) |
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- 2000-12-12 AU AU2001220278A patent/AU2001220278A1/en not_active Abandoned
- 2000-12-12 US US10/088,556 patent/US6840103B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-12-12 WO PCT/KR2000/001439 patent/WO2002006808A1/en not_active Application Discontinuation
- 2000-12-12 EP EP00983535A patent/EP1301777A1/en not_active Withdrawn
- 2000-12-12 JP JP2002512669A patent/JP2004504598A/ja not_active Withdrawn
- 2000-12-12 CN CNB00814589XA patent/CN1193227C/zh not_active Expired - Fee Related
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US6840103B2 (en) | 2005-01-11 |
US20020149486A1 (en) | 2002-10-17 |
WO2002006808A1 (en) | 2002-01-24 |
EP1301777A1 (en) | 2003-04-16 |
KR100379471B1 (ko) | 2003-04-10 |
AU2001220278A1 (en) | 2002-01-30 |
CN1193227C (zh) | 2005-03-16 |
KR20020007853A (ko) | 2002-01-29 |
CN1382255A (zh) | 2002-11-27 |
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Legal Events
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