JPH04145391A - 距離測定装置 - Google Patents

距離測定装置

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JPH04145391A
JPH04145391A JP26879090A JP26879090A JPH04145391A JP H04145391 A JPH04145391 A JP H04145391A JP 26879090 A JP26879090 A JP 26879090A JP 26879090 A JP26879090 A JP 26879090A JP H04145391 A JPH04145391 A JP H04145391A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はパルス光を物体に向は照射し、その物体によ
る反射パルス光を受光し、照射から受光までの所要時間
を計測することにより物体までの距離を求める距離測定
装置に関する。
〔従来の技術〕
この種の距離測定装置としては、特公昭46−1632
号公報等で開示されているような、高強度のレーザパル
ス光を使用したものが知られている。
第3図はその構成を示す図であり、パルスレーザ1のパ
ルス発光に同期してカウンタ9はクロックパルス発生器
2のクロックパルスの計数を開始する。光検出器3はレ
ーザパルス光を照射された物体10からの反射パルス光
を電気信号に変換し増幅出力する。パルス弁別器8は光
検出器3の出力信号と所定の闇値とを比較して反射パル
ス光成分のみをパルス弁別し、パルス弁別器日の出力パ
ルスでカウンタ9の計数値を読み出して、上記計数値を
処理装置7Aにより下記(1)式により距離に換算し、
距離測定装置と物体の間の距離を求める。
距離=計数値×クロックパルス周期×光速/2・・・+
11 すなわち距離は、上記カウンタ9の計数値から求めた発
光から受光までの時間に光の速度を乗じて求められるパ
ルス光の行程の172となる。
〔発明が解決しようとする課題〕
この種の距離測定装置では距離測定の分解能は(1)式
により示されるようにクロックパルスの周期に依存する
。例えばクロックパルスの周波数を汎用のディジタルI
Cが応答できる周波数の上限に近い30MHz とする
と距離の分解能は5mとなる。
距離の分解能を良くするには、クロックパルスの周波数
を上げる必要があるが(例えば分解能を50C11とす
れば、クロックパルスの周波数は300MHz)、そう
するとカウンタ9、クロックパルス発生器2等の距離測
定装置を構成する装置には超高速の応答性を有する素子
を使用しなければならず、汎用のディジタルIC等は使
用できず、特殊で高価な部品を使用するととになり、距
離測定装置の価格は非常に高価なものとなる。更に分解
能を向上させようとすれば超高速動作の素子開発から始
めなければならない。
また、このような距離測定装置では、距離を測定しよう
とする対象の物体10が距離測定装置の近傍にあり反射
パルス光の強度が高く光検出器3のS/N比が十分確保
される場合には、光検出器3の出力信号に対するパルス
弁別器8の閾値を上げることにより、確実に物体10か
らの反射パルス光を検出しカウンタ9に対して計数停止
パルスを発生することができ、確実に距離を測定するこ
とができる。しかし、物体10が遠方にあったり、その
反射係数が低くて反射パルス光の強度が低くなってしま
う場合には、上記パルス弁別器8の閾値を上げることが
できず、光検出器3の出力信号に含まれるノイズにより
物体10の真の反射パルス光以前にこれらノイズによる
誤検出が発生する。
すなわちノイズの誤検出による距離測定の誤差の発生を
少なくするにはパルス弁別器8の閾値を上げる必要があ
り、そうすると真の反射パルス光も検出できなくなる可
能性が高くなり、測定可能な距離範囲が制限されてしま
うioがあった。
そして、この光検出器3の出力信号をある闇値と比較す
るという方式は、闇値の大きさによって計数停止のパル
スの発生時期が変わるという特性があり、結果として距
離検出に誤差を生じるという課題があった。
この課題を第4図を用いて説明すれば、すなわちパルス
レーザ1の発光波形はパルスレーザ1の駆動装置の特性
や緩和時間等の影響により一般には矩形波とはならず、
徐々に立ち上がり、徐々に立ち下がるガウス形やrai
sed cosjne(レイズドコサイン)形の波形で
近似される形状となる(第4図(a))。物体10で反
射して光検出器3で検出され出力される信号は、光検出
器3で必ず帯域制限を受けるためパルスレーザ1の発光
波形よりもさらに広がった波形となる(第4図山)) 
 この時間的に広がった波形をパルス弁別器8で所定の
閾値Vと比較すると、光検出器3で検出出力される信号
振幅によってパルス弁別器8の出力パルス発生時期が異
なってしまう。第4図telにおいて、実線は出力振幅
の大きい時を示し、点線は出力振幅の小さい時を示して
いる。小振幅では、パルス弁別器8の出力パルス発生時
期が遅れるので距離は大きく測定される。このことは物
体10の反射係数によって測定距離に誤差が生じること
を意味している。
さらには、一般に反射パルス光の強度は距離の2乗ない
しそれ以上の係数で減衰するため、被検出物体までの距
離によって測定誤差が異なり、距離測定の直線性が阻害
される。
この発明はこのような課題を解消するためになされたも
のであり、特殊な高速の素子を使用せずに汎用ディジタ
ルICが応答できるクロックパルスの周波数範囲でも距
離検出の分解能を飛躍的に向上させることができ、さら
に反射パルス光の検出信号の゛;/ト1比が良くない状
態でも距離測定対象1!η体からの反射パルス光を弁別
し、また1、距離測定対象物体の反射係数や距離U二応
じて誤差の発生するよ・うな不具合が無く、距離測定の
直線性の良い距離渭1定す置を得るJ−とを目的とする
〔「題を解決するための手段〕
この発明の距離測定装置1よ、クロ、クバルス発件手段
・と、クロックペルスの周期を2以−Lの整数でA1ろ
Nで除17.た時間間Mの整数倍の時間クロックパルス
を遅延、与ゼたil!延クロックパルスを発生1−るり
Tri ツクパルス遅延手段と、クロックパルスのある
1つのパルスと同和1したタイミングでパルス光を発生
ずるパルス先発7を手段と、このパルス光が物体により
反射された時の反射パルス光を受光して光電変換する光
検出手段と、この光検出手段の出力信号を遅延クロック
パルスに同期してデ!イジタル(8号に変換するA/D
変模手段点、A/D変換値を配性する記憶手段と、N回
のパルス光発生について、遅延クロックパルスC=は異
なる遅延時間を与え、記憶手段に紀憶さねたN紺の反射
パルス光ザ゛・′プル波形を時系列的c、二並べ替える
こと?、こより合成さねた反射パルス光波形をもとに演
算処理して距離を算出する処理手段を設けたものである
〔作 用〕
この発明(、にお(・3る距離測定装置:!、クロ、イ
アパルス発生手段が一定の周波数のjy uツクパルス
を発生し1、−のクロ、・クバルスを処理J・段によz
l)設定された遅延時間分クロ2・クバルス遅延f段が
遅延さセ゛て遅延クロックパルスを発生する。さらrl
こ処理手段ば反射パルス光の記憶手段上の記憶9■域を
決定し、パルス光発生手段に発光を指令する、パルス光
発生手段は、−の発光指令を受;、1て最初に発生ずる
クロックパルスに同期j7てパルス光ヲ発生ずる。、二
のパルス光を測距対象の物体が反射L7、その反射パル
ス光4光検出手段が入力して光電変換し以降のA / 
I)変換に必要なレヘル乙こまで増幅する。A/i)変
換手段はクロ、クバルスに同期し。
て光検出手段の出力信号をA/D変換する。このA/D
変換結果は処理手段で決定(7た記憶手段領域内に遅延
り1コツクパルスに同期して順次に記憶される。距離測
定範囲に相当する時間の間A/D変換及び記憶手段への
記憶を繰り返した後、A / T、) i f* ’f
停止する。次tこ処理手段は記憶手段の記+!!領域を
前回のパルス発光の領域から変更し、遅延クロックパル
スの遅延時間を変更設定して再びパルス発光から記憶手
段への記憶を行う。この過程を複数回繰り返す。尚、遅
延クロックパルスの遅延時間はクロックパルスの周期を
繰り返しの回数で除したものを単位時間遅れとする。処
理手段は記憶手段に記憶されているA/D変換結果を各
領域毎に、すなわち複数回の名パルスのA/D変換結果
をそれぞれ読み出す。この複数回のパルス発光に対する
A/D変検結果の記憶値をパルス発光か(うの時系列と
して並べ替え、この波形をも、J−乙こ演夏処理で物体
までの距離を求める。
〔実施例〕
以下1.この発明の一実施例を図について説明する。第
1図において、1はクロックパルスの1つのパルス(、
il同期したタイミングでパルス光を発生ずるパルスレ
ーザ、2は30MHzの周波数の上記クロックパルスを
発生するクロックパルス発生器、11はプログラマブル
ディレイシーエネレーク(例えばアナログ・デハイセズ
社製のICAD9501)によるクロックパルス遅延装
置であり、遅延り1コツクパルスを出力する。このクロ
ックパルス発生器2からの上記クロックパルスはパルス
レーザlとクロックパルス遅延装置111こ与えられる
ようにな、っている63は光電変換機能および堆幅機能
を有する光検出器、4は光検出器3の出力信号を上記遅
延クロックパルスに同期してA/D変換する高速のA/
D変換が可能なフラッシュタイプのA/D変換器である
。5はメモリ、6はクロックパルス遅延装置11が出力
する上記遅延クロックパルスに同期してA/D変換器4
にA/D変換タイミング信号を発生しかつ上記遅延クロ
ックパルスを計数してA/D変換器4の変換結果を格納
するメモリ5の下位アドレスを決定し、さらにパルスレ
ーザ1の1回の発光当たりのA/D変換回数を決めるア
ドレス発生器である。7はパルスレーザ1へのパルス発
光のトリガ、メモリ5の上位アドレスの設定、クロック
パルス遅延装置11に対する遅延時間の設定、そしてメ
モリ5の記憶値から合成した反射パルス光波形をもとに
距離測定演算をする処理装置、10は距離測定対象の物
体である。ここで、処理装置7がクロックパルス遅延装
置11に指定する遅延時間の単位は上記3QMHzのク
ロックパルス周期の1716に、即ち20.8nsに選
ばれている。
次に上記のように構成された装置の動作を第1図及び第
2図のタイミングチャートを用いて説明する。処理装置
7はメモリ5の上位アドレスに0を設定し、クロックパ
ルス遅延装置11に遅延時間Onsを発生させるために
Oを設定する。これにより、クロックパルス遅延装置1
1からクロックパルス発生器2のクロックパルスを設定
遅延分遅延させた遅延クロックパルスが出力される。そ
してパルスレーザ1に対してパルス発光のトリガをかけ
る(第2図(a))  このトリガに応じて最初に遭遇
するクロックパルス発生器2からのクロフクハ71/ 
ス(% 2 図(’l )に同期してパルスレーザlは
パルス発光する(第2図山))。
処理装置7からのトリガに応動してアドレス発生器6は
クロックパルス遅延装置11から入力した遅延クロック
パルス(第2図(d))の計数を0から開始し、予め定
めた距離測定範囲の時間に相当する計数値に到達した時
点で計数を停止する(第2図(f))。但し、遅延量が
0の場合、実際には第2図(d+と第2図(elのクロ
ックの位相差はない、パルスレーザ1から発光されたパ
ルス光は物体lOで反射され、光検出器3はその反射パ
ルス光を入力して光電変換した後、増幅して信号出力す
る(第2図(C))  この光検出器3の出力信号をA
/D変換器4はアドレス発生器6からのA/D変換タイ
ミング信号により上記遅延クロックパルスの立ち上がり
に同期したA/D変換タイミングでA/D変換する(第
2図(gl ’)。第2図(船において、数字は発光回
数、丸印はA/D変換値を示す。
このA/D変換結果は上位アドレスが先に処理装置7で
決定され、下位アドレスが上記アドレス発生器6の計数
値で決定されたメモリ5上の番地にクロックパルスの立
ち下がりに同期して記憶される。A/D変換は上記アド
レス発生器6の計数が停止されるまで操り返される。
1回のパルス発光に対する上記A/D変換からメモリ5
への記憶までの動作が完了すると処理装置7は、メモリ
5の上位アドレスをインクリメントして、次回のA/D
変換値記憶のためのメモリ5の上位アドレスを決定する
。さらに処理装置7はクロックパルス遅延装置11の遅
延時間指令を1単位増して20.8nsとする。再びパ
ルスレーザlにパルス発光のトリガをかけ、以下同様の
処理を繰り返す。
パルス発光回数が16回に達して16回分の反射パルス
のA/D変換結果がメモリ5の各領域に記憶されると、
処理装置7は16回の反射パルスA/D変換結果を順次
読み出してパルス発光からの時間順に並べ変えて、16
回の反射パルス光に対するA/D変換結果である16組
の反射パルス光サンプル波形を1つの波形に合成する。
すなわち、例えば1回目のパルス発光に対して連続した
2つのA/D変換結果の間に2〜16回目までの対応す
る時刻のデータを挿入する事により、16倍のサンプリ
ング周波数(480MHz)でA/D変換された波形に
等価な波形が合成される(第2図(h)) そして処理装置7は、この合成した反射パルス波形で最
大値を物体10からの反射パルス光のピークを判定し、
その発生順(メモリ5の下位アドレスに相当する)から
パルスレーザ1の発光から反射パルス光ピークまでの時
間(第2図におけるTに相当する)を求めて距離に換算
する。距離の換算は下記(2)式で行われる。
・・・(2) 例えばピークが200番目のサンプリングにより現れた
とすれば、物体10までの距離は、と求めることができ
る。
このように上記実施例では30MHz という一般のデ
ィジタルICが応答可能な周波数帯で反射パルス光の受
信波形をA/D変換器でサンプリングしながらその周波
数の16侑の周波数(480MH2) Lこ等価なサン
プリングができる。その結果、30MHzのサンプリン
グでは測定距離の分解能が5mであったものが1716
すなわち0.3125mに向上できる。単位遅延時間の
設定をより小さくして等価サンプリング周波数を上げれ
ばさらに分解能を向上させることができる。
また、」1記実施例では、反射パルス光をA/D変換し
て信号波形のピーク位置を物体10の位置と認識するの
で従来例で問題となる闇値による誤差といったものが原
理上無く、正確な距離測定が可能である。闇値による誤
差が無いために、距離測定の直線性の誤差も全く生しな
いことになる。
〔発明の効果〕
以」二のように、この発明によればクロックパルスに同
期したタイミングで物体にパルス光を照射して、その反
射パルスを光1i変換しクロックパルス所定の時間遅延
したクロックパルスに同期してA/D変換を行い逐次記
憶するという操作を複数回のパルス発光の度に遅延時間
を変更して行い、その後、記憶された複数回の反射パル
ス光信号のA/D変換値を順次読み出し、゛時系列を考
慮1.て読み出したデータを並べ替え1つの波形を合成
して信号の最大値を与えるデータ位置から演算により物
体までの距離を測定するように構成(〜たので、特殊な
高周波用の回路素子を使用せず、−船釣なディジタルI
C等を使用しても分解能が高くかつ高精度の距離測定が
できる効果がある。
また、サンプリングされた波形から演算で距離を求める
ように構成しているので、ノイズに対しても誤動作のな
いものが得られる効果がある。
尚、上記実施例では、光パルス発生器としてパルスレー
ザを用いているが、これはLED等の他の光源でもよく
、また、この距離測定装置は光のt磁波的性質を利用し
ているので、光パルス発生器、光検出器の代わりにそれ
ぞれ電磁波パルス発生器、it磁波パルス検出器を用い
て距離測定装置を構成しても同様の効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す構成図、第2図は一
実施例の動作を説明するための波形図、第3図は従来の
距離測定装置の構成図、第4図は従来例の動作を示す波
形図である。 IEt中、i・・・パルスレーザ、2・・・クロックパ
ルス発生器、3・・・光検出器、4・・・A/D変換器
、5・・・メモリ、6・・・アドレス発生器、7・・・
処理装置、10・・・物体、11・・・クロックパルス
遅延装置。 なお、図中同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人   大  岩  増  雄 部 図 哨悶− 第 図 時間− 手 続 補 正 書 (自発)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 所定の周波数のクロックパルスを発生するクロックパル
    ス発生手段と、該クロックパルスの周期を2以上の整数
    であるNで除した時間間隔の整数倍の時間上記クロック
    パルスを遅延させて遅延クロックパルスを発生するクロ
    ックパルス遅延手段と、上記クロックパルスのある一つ
    のパルスと同期したタイミングでパルス光を発生するパ
    ルス光発生手段と、該パルス光発生手段より発生された
    パルス光が物体により反射された時の反射パルス光を受
    光して光電変換する光検出手段と、該光検出手段の出力
    信号を上記遅延クロックパルスに同期してディジタル信
    号に変換するA/D変換手段と、このA/D変換手段の
    ディジタル出力信号を順次記憶する記憶手段と、N回の
    パルス光発生について上記遅延クロックパルスには異な
    る遅延時間を与え、A/D変換により上記記憶手段に記
    憶されたN組の反射パルス光サンプル波形を時系列的に
    並べ替えることにより合成された反射パルス光波形をも
    とに演算処理して上記物体までの距離を算出する処理手
    段とを備えた距離測定装置。
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