JPH04141784A - 画像処理装置 - Google Patents

画像処理装置

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JPH04141784A
JPH04141784A JP2416520A JP41652090A JPH04141784A JP H04141784 A JPH04141784 A JP H04141784A JP 2416520 A JP2416520 A JP 2416520A JP 41652090 A JP41652090 A JP 41652090A JP H04141784 A JPH04141784 A JP H04141784A
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JP2416520A
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Toshimichi Masaki
俊道 政木
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Omron Corp
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Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
[0001]
【産業上の利用分野】
本発明は、例えば、所定の対象物を検査する場合に用い
て好適な画像処理装置に関する。 [0002]
【従来の技術】
いま、例えば、次々に生産される製品をビデオカメラで
撮影し、その画像を介して製品の検査を行なう場合を考
える。 [0003] この場合、例えば図10に示すように、規格を満足する
基準の製品(対象物)Sの画像(基準画像)上の検査す
る範囲をウィンドウWで指定する。この指定はウィンド
ウWを対象物Sの画像に重畳表示した状態において検査
する所定の位置に移動し、そのウィンドウWの対象物S
に対する相対的位置を登録することにより行なわれる。 このとき、画像の座標とウィンドウの座標は対応してい
る。 [0004] 一方、例えば、ベルトコンベアにより次々に搬送される
対象物をビデオカメラで撮影すると、図11に示すよう
に、その画像の向きゃ位置、あるいは大きさは11開利
:4−141784 (3) 、必ずしも基準画像のそれと一致しない。そこで、その
対象物Sの所定の検査位置を検査するには、ウィンドウ
Wの座標系x −yを、対象物Sの基準位置からのずれ
および大きさに対応した座標系x  −y’  に、移
動、回転する必要がある。 [0005] いま、基準画像における対象物Sの重心を(x、y)、
対象物Sの重心を通   C る主軸りと横軸(X軸)とのなす角度をθ 、測定画像
における対象物Sの重心y を(x’  、 y’  )、対象物Sの重心を通る主
軸L′ と横軸(X軸)とのなす角CC 度をθ″′  とすると、次のマトリックスが成立する
。 y
【数1】 [0006] ここで、θ=θ′ ″ ′ −θ である。 yxy [0007] 従来の装置においては、上式に対応して、ウィンドウの
データを記憶しているウィンドウメモリのデータを書換
えることにより、測定画面上の対象物Sの検査位置、姿
勢および大きさに対応する新たなウィンドウを形成する
ようにしてぃたまた、対象物Sの画像を回転、スクロー
ル、拡大、縮小する場合も上式に従って、画像メモリの
データを計算し直すようにしていた。 [0008]
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の装置においては、このように、ウ
ィンドウメモリあるいは画像メモリのデータを書換える
ようにしているため、演算に時間がががり、これを高速
化しようとすると、(1)式を実現するための回路規模
が大きくなる問題点があった。 [0009] 本発明はこのような状況に鑑みてなされたもので、簡単
な構成で迅速にウィンドウの位置を実質的に補正するこ
とができるようにするものである。 [0010]
【課題を解決するための手段】
請求項1の画像処理装置は、対象物の画像の範囲を指定
するウィンドウのデータまたは前記対象物の画像のデー
タを記憶する記憶手段と、対象物の基準位置からのずれ
に関する情報を供給する供給手段と、供給手段の出力に
基づいて、対象物の基準位置からのずれに対応する補正
アドレス情報を発生する補正アドレス情報発生手段とを
備えることを特徴する。 [0011] 請求項2の画像処理装置は、 対象物の基準位置を決定
するための基準パターンを検出する検出手段をさらに備
えることを特徴とする。 [0012]
【作用】
請求項1の画像処理装置においては、対象物の基準位置
からのずれに対応して例えば、記憶手段の補正アドレス
情報が生成される。従って、記憶手段内のデータを書換
えることなく、実質的にウィンドウまたは画像の位置を
移動、回転することができる。 [0013] 請求項2の画像処理装置においては、基準パターンから
基準位置が決定される。従って、より正確な画像位置を
決定することができる。 [0014]
【実施例】
図1は本発明の画像処理装置の一実施例の構成を示すブ
ロック図である。 [0015] ビデオカメラ1は図示せぬ対象物を撮影し、そのビデオ
信号をA/D変換器2に出力する。A/D変換器2は入
力ビデオ信号をA/D変換し、加算器11を介してD/
A変換器3に供給する。D/A変換器3は人力されたデ
ィジタルビデオデータをD/A変換し、モニタ4に出力
する。これにより、モニタ4に対象物の画像が表示され
る。 [0016] 同期信号R生回路5 ハ、FIELD、VBLK、HB
LK、5LINE、CK等の種々の同期信号を発生し、
ビデオカメラ1、A/D変換器2、D/A変換器3、回
転シフト補正回路6(補正アドレス情報発生手段)等に
出力する。 [0017] CPU9 (供給手段)は、入出力(Ilo)インタフ
ェース10を介して所定の指令が入力されたとき、その
とき、ウィンドウ内処理回路8を介して入力される対象
物の画像を基準画像として記憶する。そして、前記した
基準対象物の重心の座標(x、yL主軸とX軸のなす角
度θxy等を演算し、記憶する。また   C その後、被測定物としての対象物の画像が入力されると
、その重心の座標(X、y’)、主軸とX軸のなす角度
θ″ ″等を演算し、さらに、これらのc’c    
                 xyデータから必
要な他のデータを演算する。 [0018] 回転シフト補正回路6は、CPU9より入力される所定
の定数データを、同期信号発生回路5より入力される種
々の同期信号に同期して処理し、ウィンドウメモリ7(
記憶手段)に供給する補正アドレス情報を発生する。ウ
ィンドウメモリ7は回転シフト補正回路6により指定さ
れるアドレスに記憶されているウィンドウデータを読出
し、ウィンドウ内処理回路8に出力する。 [0019] ウィンドウ内処理回路8は入力されたウィンドウデータ
を加算器11に供給しA/D変換器2より入力されるビ
デオデータと加算し、D/A変換器3を介してモニタ4
に出力する。これにより、対象物の画像に重畳して、予
め記憶された所定の検査位置に所定の大きさのウィンド
ウが表示される。 [0020] また、ウィンドウ内処理回路8は、A/D変換器2より
入力される画像データから、ウィンドウメモリ7より入
力されるウィンドウデータにより指定されるつンドウ内
の画素の数を計数し、面積を求めたり、モーメントを求
めたりする)。 [0021] 次に、図2および図3を参照して、回転シフト補正回路
6の動作原理について説明する。 [0022] 図2に示すように、基準対象物登録時の座標系をx−y
、測定時における補正後のウィンドウの座標系(ラスク
スキャン座標系)をx’  −y’  とすると、前記
した場合と同様に、次式が成立する。
【数2】 [0023] 上式を解くと、次式が得られる。 x’ =cosθ・X−8inθ・y+(−cosθ・
x +sinθ・y +xCC =sinθ・X+CO8θ°y十 (−sinθ・x −cosθ’y +yCC [0024] これらの式X′ とy′ に、CO3θまたはsinθ
をそれぞれ釆算し、加算すると、次式が得られる。 x=cosθ・X′+sinθ・y’ + (x −c
osθ・x’  −5inθ−y’  )CCC [0025] さらにまた、これらの式X 加算すると、次式が得られる。 とy に、 sinθまたはCOSθをそれぞれ乗算し、[0026
] 従って、 A=x −(cosθ゛x’  +sinθ°y’  
)              (7)CCC B=y +(sinθ・x’ −cosθ・y’ o)
          (8)CC とすると、次式が成立する。 X=CO3θ・X’ +sinθ・y’ +A    
              (9)y=−sinθ・
X′十CoSθ・y’  +B           
       (10)[0027] すなわち、この(9)、  (10)式からウィンドウ
データの補正アドレスを求めることができる。 [0028] 但し、これらの式は、乗算を含むため、この演算をその
まま実行しようとすると、回路構成が複雑になる。そこ
で、乗算を含まない式をさらに導出する。 [0029] このため、x’−y’座標系における座標(x’ 0.
y’ 0)における偏微分
【数3】 θX/θx  、  ay/r3x’ 、  θX/θ
y’   t)y/r’)yを考え、これを差分Δの形
で表わすと、次式が得られる。 図3に示すように、ウィンドウはx’  −y’ 座標
系において、インクレースのスキャンが行なわれる。同
図において、実線は、O列O行目の画素より始まる第1
フイールドのスキャンラインを、破線は、0列1行目よ
り始まる第2フイールドのスキャンラインを、それぞれ
表わしている。第1フイールドにおけるスキャンの初期
値(初期座標)を、x (0,0)、y (0,0) 
、第2フイールドにおけるスキャンの初期値(初期座標
)を、x (0,1)、y (0,1)とすると、(9
)、  (10)式より、次式が得られる。 x (0,0) =A=xc−’(cosθ・x’ c
+sinθ・y’c)     (19)y (0,O
) =B=yc+ (sinθ−x’ c−CO3θ・
y’ c(20)x (0,1) =sinθ+A=X
 (0,0) 十sinθ          (21
)y(0,1) =cosθ十B=y (0,0) +
cosθ         (22)[00323 (19)式乃至(21)式より明かなように、式(21
)と(22)は、sinθとCOSθの値が既知であれ
ば、式(19)と(20)より求めることができる。従
って、結局、sinθ、 cosθ、x (0,O)、
y (0,0)のデータをCPU9により演算し、これ
を用いて回転シフト補正回路6により式(15)乃至(
18)を演算することにより、ウィンドウの補正アドレ
スを求めることができる。 [00331 式(15)乃至(18)は加算だけであり、乗算を含ん
でいないから、高速処理が可能である。また、式(19
)と(20)は、乗算を含んでいるが、その実行回数は
1回であるから、それほど時間を要しない。 [0034] この式(15)乃至(18)の演算を実行する回転シフ
ト補正回路6は、例えば、図4に示すように構成するこ
とができる。 [0035] 図5および図6は、図4の実施例におけるそれそ゛れ1
フイールドおよび1ラインのタイミングチャートである
。 [0036] 図5および図6に示すように、回転シフト補正回路6に
入力される同期信号F特開平4−141784 (1Q
) IELD(図5C)は、フィールド毎に切換えられ、第
1フイールドのとき高レベル、第2フイールドのとき低
レベルとされる。同期信号VBLK (図5B、図6F
)は、垂直帰線期間中、低レベル、画像データ、ウィン
ドウデータ等の画像データ(図5A、図6C)が存在す
るその他の期間中、高レベルになる。同期信号HBLK
 (図5D、図6D)は、水平走査帰線期間を除く期間
中(データが存在する期間中)、高レベルとなり、その
他の期間中、低レベルとなる。同期信号5LINE (
図5E、図6E)は、同期信号HBLKが高レベルにな
る直前に低レベルになる。同期信号CK (図6A)は
水平同期信号HD (図6B)に同期されている。 [0037] 図4の端子21乃至24には、CPU9が演算したco
sθ、 sinθ、 x (0,0)、y(0,0)の
データがそれぞれ入力される。ここで、θは、上記した
ように、 を、また、x (0,0)、y (0,0)は、x’ 
−y’ 座標系における第1フイールドの第1画素(0
,0)の、x −y座標系における座標を表わしている
。 [0038] 加算器27は、端子22と23から入力されるデータs
inθとx (0,O)を加算し、マルチプレクサ(M
PX)29の端子Aに供給する。マルチプレクサ29の
他方の端子Bには、データx (0,O)が供給されて
いる。マルチプレクサ29は同期信号FIELDで切換
えられ、第1フイールドのとき端子Bを、第2フイール
ドのとき端子Aを、それぞれ選択する。その結果、第1
フイールドのときデータx (0,O)が、また、第2
フイールドのときデータ(sinθ+x (00))が
、それぞれマルチプレクサ33の端子Bに供給される。 [0039] マルチプレクサ33の端子Aには加算器31の出力が入
力されている。加算器31の一方の入力には、端子22
より入力されたデータsinθを、ビットシフト回路2
6により1ビツト上位にシフトしたデータ(すなわち、
sinθを2倍したデータ)二が入力されている。また
、他方の入力には、排他的論理和回路37より入力され
るクロックによりラッチ回路35でラッチした、マルチ
プレクサ33の前回の出力が供給されている。加算器3
1はラッチ回路35の出力とビットシフト回路26の出
力とを加算し、マルチプレクサ33の端子Aに出力する
。 [00401 マルチプレクサ33は同期信号VBLKが低レベルのと
き端子Bを、高レベルのとき端子Aを、それぞれ選択す
る。ラッチ回路35は、排他的論理和回路37における
同期信号VBLKとHBLKの排他的論理和出力に同期
して、マルチプレクサ33の出力をラッチする。これに
より、ラッチ回路35には、そのときの行の左端の画素
(第1画素)の座標が記憶される。 [0041] 一方、加算器28は、端子21と24から入力されるデ
ータCO3θとy (0゜0)を加算し、マルチプレク
サ(MPX)30の端子Aに供給する。マルチプレクサ
30の他方の端子Bには、データy (0,O)が供給
されている。マルチプレクサ30は同期信号FIELD
で切換えられ、第1フイールドのとき端子Bを第2フイ
ールドのとき端子Aを、それぞれ選択する。その結果、
第1フイールドのときデータy (0,0)が、また、
第2フイールドのときデータ(COSθ+y (0,0
) )が、それぞれマルチプレクサ34の端子Bに供給
される。 [0042] マルチプレクサ34の端子Aには加算器32の出力が入
力されている。加算器32の一方の入力には、端子21
より入力されたデータCOSθを、ビットシフト回路2
5により1ビツト上位にシフトしたデータ(すなわち、
COSθを2倍したデータ)が入力されている。また、
他方の入力には、排他的論理和回路37より入力される
クロックによりラッチ回路36でラッチした、マルチプ
レクサ34の前回の出力が供給されている。加算器32
はラッチ回路36の出力とビットシフト回路25の出力
とを加算し、マルチプレクサ34の端子Aに出力する。 [0043] マルチプレクサ34は同期信号VBLKが低レベルのと
き端子Bを、高レベルのとき端子Aを、それぞれ選択す
る。ラッチ回路36は、排他的論理和回路37における
同期信号VBLKとHBLKの排他的論理和出力に同期
して、マルチプロ21− レクサ34の出力をラッチする。これにより、ラッチ回
路36には、次の行の左端の画素(第1画素)の座標が
記憶される。 [00441 ラッチ回路35の出力はマルチプレクサ39の端子Bに
、ラッチ回路36の出力はマルチプレクサ42の端子B
に、それぞれ供給される。 [0045] マルチプレクサ39の他方の端子Aには、加算器38の
出力が供給されている。加算器38は、端子21より入
力されたデータCOSθと、ラッチ回路40により同期
信号CKのタイミングでラッチされたマルチプレクサ3
9の前回の出力とを加算し、マルチプレクサ39の端子
Aに供給する。マルチプレクサ39は同期信号5LIN
Eが低レベルのとき端子Bを、高レベルのとき端子Aを
、それぞれ選択する。これにより、加算器38の出力(
x (x’  、 y’ ) +cosθ)またはラッ
チ回路35の出力が、ラッチ回路40によりラッチされ
、ウィンドウメモリ7のXアドレスとして出力される。 [0046] マルチプレクサ42の他方の端子Aには、減算器41の
出力が供給されている。減算器41は、端子22より入
力されたデータsinθを、ラッチ回路43により同期
信号CKのタイミングでラッチされたマルチプレクサ4
2の前回の出力から減算し、マルチプレクサ42の端子
Aに供給する。マルチプレクサ42は同期信号5LIN
Eが低レベルのとき端子Bを、高レベルのとき端子Aを
、それぞれ選択する。これにより、減算器41の出力(
y (x′ 、 ¥’ )−sinθ)またはラッチ回
路36の出力が、ラッチ回路43によりラッチされ、ウ
ィンドウメモリ7のXアドレスとして出力される。 [0047] 図7は他の実施例の構成を示している。 [0048] この実施例においては、対象物の画像が画像メモリ51
に書き込まれ、この書き込まれたデータが読出されて、
モニタ4に表示されるようになっている。そして、この
画像データの読出アドレスが、回転シフト補正回路6の
出力に対応して特開平4−141784 (i3) 制御されるようになっている。従って、この場合、ウィ
ンドウは固定され、対象物の画像の表示位置と大きさが
補正されることになる。 [0049] なお、上述の実施例においては基準画像における対象物
Sの重心(XC,VC)を通る主軸りとX軸とのなす角
度をθ 、測定画像における対象物Sの重心(Xy 。、V’C)を通る主軸L′ とX軸とのなす角度をθ
′ ″ ′ として、補正アトy レスを算出しているが、主軸り、 L’  は対象物の
形状によっては、必ずしも信頼性の高いものではない。 例えば重心から離れた部分の形状が崩れていたり、ある
いは円に近い形状においては、主軸り、 L’ の情報
は信頼性が低い。そこで−般的に測定対象物には2点以
上の基準となるパターンが含まれていることが多いこと
に着目して、この基準パターンの位置情報、姿勢情報を
予め登録しておくことにより、対象物Sの主軸に頼るこ
となく、精度よく対象物の検査を行なうようにすること
も出来る。 [0050] すなわち、図8に示すように、対象物Sに対して特定の
位置に基準パターンPが所定の数(実施例の場合2個)
存在するとき、対象物Sの所定の部分を計測するための
ウィンドウW以外に、基準パターンPを検出するための
ウィンドウW(検出手段)が設けられる。基準画像登録
時、このウィンドウW内の重心を求めることにより、基
準パターンPの重心が求められる。このようにして求め
られたウィンドウWの重心(1、基準パターンPの重心
と一致する。2つのウィンドウW(基準パターンP)の
重心を、それぞれ(Xc、yc)(Xol、ycl)と
するとき、一方の重心(例えば(XC,¥C) )と、
次式より演算される角度〜が、基準対象物Sの姿勢情報
として記憶、登録される。 θ =arktan ((yCl ’YC) / (X
CI XC) )        (23)y
【005月 ここでθ は、2つの基準パターンPの重心(・XC,
VC)と(Xcl、ycl)を結y ぶ直線と横軸(X軸)とのなす角度を示している。 [0052] 測定対象物Sの計測時においては、図9に示すように、
それぞれの基準パターンPの検出用ウィンドウWの重心
(X’ c、”S” C)  (X’ C1,’Y’ 
C1)を求め、位置情報 (x’ C,Y’ C) 姿勢情報 θ”  ’ =arktan((y’   
−y’  ) / (xc’ l−x’ c) )xy
          CIC を求める。ここでθ″′ は2つの基準パターンPの重
心(x’ C,Y’ C)とxy (” clt ’l” CI)を結ぶ直線と、横軸(X
軸)とのなす角度を示している。 [0053] )、  (4)式と同様に、θ=θ″′  −θ とし
たときに、次式より求めるこyxy とができる。 x’ =cosθ°x−sinθ−y+ (−cosθ
°x+sinθ°y + x’ c)C y’ =sinθ・x+cosθ・y十(−sinθ・
Xc−CO8θ・VC+’Y’−C)[0054] この式(24)と(25)は式(3)と(4)と全く同
じものであることから、以下の手順は上述した場合と同
様となる。 [0055] このように、測定対象物に対する2つ以上の基準パター
ンが存在する場合、これら基準パターンの検出用ウィン
ドウの重心を用いて位置・姿勢の補正を行なえば、対象
物の主軸を用いた補正よりも一層精度の高い計測が可能
となる。まなこのような基準パターンを用いて補正アド
レスの検出を求める場合には、ウィンドウの重心座標だ
けでなく、頂点や中心座標を用いることも出来る。 [0056] 【発明の効果】 以上のように、請求項1の画像処理装置によれば、対象
物の基準位置からのずれに対応して、記憶手段の補正ア
ドレス情報を生成するようにしたので、記憶手段内のデ
ータを書換えることなく、実質的にウィンドウまたは画
像の位置を移動回転することが可能になる。 =[0057] また、請求項2の画像処理装置においては、基準パター
ンから基準位置が決定されるので、正確な画像位置を決
定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の画像処理装置の一実施例の構成を示すブロック
図である。
【図2】 図1の実施例の動作を説明する座標系を示す図である。
【図3】 図1の実施例の座標系を示す図である。
【図4】 図1の実施例における回転シフト補正回路の一実施例の
構成を示すブロック図である。
【図5】 図4の実施例の動作を説明するフィールドを基準とする
タイミングチャートである。
【図6】 図4の実施例の動作を説明するラインを基準とするタイ
ミングチャートである
【図7】 本発明の画像処理装置の他の実施例の構成を示すブロッ
ク図である。
【図8】 本発明の他の実施例における基準画像登録時の動作を説
明する図である。
【図9】 本発明の他の実施例における測定時の動作を説明する図
である。
【図10】 対象物とウィンドウの関係を説明する図である。
【図11】 対象物とウィンドウの関係を説明する図である。
【符号の説明】
特開平4−141784 (1B) ■ ビデオカメラ 4 モニタ 5 同期信号発生回路 6 回転シフト補正回路(補正アドレス情報発生手段)
7 ウィンドウメモリ(記憶手段) 8 ウィンドウ内処理回路 9CPU(供給手段) 51 画面メモリ(記憶手段)
【書類色】
【図1】 図面 廿開平4−141784 (17)
【図2】 −629= →J1用土47L’ll 154 (−1S)
【図4】 1N開平4−141784 (21)
【図6】 (1開+4−141784  (ど2)
【図7】 (T 1i41士4−J−’1115−1  (ご4〕
【図9】 94開+4−141784 (25)
【図101 【図11】

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】対象物の画像の範囲を指定するウィンドウ
    のデータまたは前記対象物の画像のデータを記憶する記
    憶手段と、前記対象物の基準位置からのずれに関する情
    報を供給する供給手段と、前記供給手段の出力に基づい
    て、前記対象物の基準位置からのずれに対応する補正ア
    ドレス情報を発生する補正アドレス情報発生手段とを備
    えることを特徴とする画像処理装置。
  2. 【請求項2】前記対象物の基準位置を決定するための基
    準パターンを検出する検出手段をさらに備えることを特
    徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
JP2416520A 1990-06-15 1990-12-28 画像処理装置 Pending JPH04141784A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1996003715A1 (en) * 1994-07-22 1996-02-08 Monash University A graphical display system
JP2003270166A (ja) * 2002-03-13 2003-09-25 Nec Robotics Eng Ltd 物品検査装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO1996003715A1 (en) * 1994-07-22 1996-02-08 Monash University A graphical display system
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