JPH04141616A - 画像記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

ＭＸ上二皿月」 本発明は、レーザを光源にする画像記録装置に関し、特
にｆθレンズの特性による主走査画素記録密度むらの改
良に関する。 従沫ｊｌ支逝 レーザを光源とする画像記録装置は、ポリゴンミラーに
よって一次元方向に偏向されたレーザビムにより、フィ
ルムなどの画像記録担体を主走査すると共に、画像記録
担体を主走査方向と直交する方向（副走査方向）に相対
的に移動して、記録担体を二次元的に走査し画像情報の
記録を行う。 このような装置において、結像レンズとしては一般にｆ
θレンズが用いられる。このｆθレンズによって記録担
体上にビームスポットを形成し、ガスレーザならＡＯＭ
等の変調器を用いて、レーザーダイオ−、ドなら直接に
変調されたレーザビームで、画像記録担体上に画像を記
録する。 レーザビームの変調は、レーザビームが主走査始点検出
センサを通過した後、一定周波数で発生される基準クロ
ックにより該当する画素の画像信号により行われる。 さて、主走査方向の、ビーム偏向装置にポリゴンミラー
等の反射平面が定角速度運動する偏向器を用い、結像レ
ンズとしてｆθレンズを用いた場合、記録担体上の結像
面のビームスポ・ノドの走査速度は一定となる。すなわ
ち、一定の周波数の基準クロックで、結像面にある記録
担体に画像を記録した場合、画素記録密度は主走査方向
どの位置でも一定となり、主走査方向にむらのない画像
記録ができる。 次にこのことを、式を用いて説明する。ｆθレンズのビ
ーム入射角θと像高ｙの関係は次式で与えられる。 ｙ＝ｒ　・θ　　　　　・・・ｉｌｌ 上式を時間微分すると、 ｄ　ｙ　／　ｄ　ｔ　＝　ｆ−ｄθ／ｄｔ　　　・・・
（２）となる。この（２）式において、左辺は像面のヒ
ーーム走査速度に相当し、右辺のｄθ／ｄｉは、ｆθレ
ンズに入射するビームの入射角の時間的変化、つまり角
速度を示す。 ポリゴンミラーの角速度ω２が一定とすると、主走査方
向焼付は有効領域では、ｄθ／ｄｔも一定となるため、
走査速度ｄ　ｙ　／　ｄ　ｔも一定となる。 これによって、主走査方向にむらのなＱ＞画像記録が達
成される。 ゛しよ゛と　る ところで、近年、ｆθレンズに対する要求として、有効
領域全域で結像スポット径を小さくして画像記録密度を
上げると共に、走査角度を大きくして画像記録の行える
有効領域をより広く取ろうとする要求がある。 このような要求を優先してｆθレンズを設計した場合、
一方でｆθ特性がいく分犠牲になるという問題が生しる
。即ち、第（１）式で示した入射角θと像高の関係が十
分に満たされなくなるために、たとえポリゴンミラーが
安定に回転したとしても、結像面上でのビームスポット
の走査速度が一定でなくなってしまい、主走査方向にお
いて画像記録密度にむらが生してしまうのである。 本発明はこのような点に鑑み、レンズ設計の際に犠牲と
なるレンズのｆθ特性を電気的処理で補正し、安価で、
広い有効走査領域にわたって画素密度のむらなく、かつ
高精細に画像記録を行うことのできる有効な画像記録装
置を提供することを目的としている。 課■を”るための　　− 上記目的を達成するために本発明は、レーザ光源から発
されたレーザビームを画像信号と基準クロックとに基づ
き変調する変調手段と、変調されたレーザビームを主走
査方向に走査する第１の走査手段と、前記レーザビーム
を結像して記録担体表面にビームスポットを形成するた
めのｆθレンズ（必ずしもｆθ特性が良好でなくても、
この種の平面走査用レンズは一般にｆθレンズと呼ばれ
ており、本明細書でもそれに従っている。）と、記録担
体を主走査方向と直交する方向に相対移動させるための
第２の走査手段と、ｆθレンズの特性に起因したビーム
スポットの主走査速度の変化に対応して、前記変調手段
に加える基準クロックの周波数を制御する周波数制御手
段と、１回の主走査の度にレーザビームの主走査開始位
置と基準クロックの発生開始時期とを同期させる同期手
段と、を備え、前記周波数制御手段は、ｆθレンズの入
射角と像高の実測値又は計算値の関係を少なくとも走査
有効領域にわたって記憶した１ワード１ビットのライン
メモリを原基準クロックの発生源として用い、各主走査
開始後の前記入射角に比例したアドレス指定信号により
前記ラインメモリから読み出される原基準クロックをＰ
ＬＬ回路で逓倍し、基準クロックを得る構成であること
を特徴としている。 又、上記画像記録装置は、更に、基準クロックの周波数
に比例したアナログ電圧を得るアナログ電圧発生手段と
、このアナログ電圧を主走査方向の対応する位置におけ
る画像信号に乗算する乗算処理手段とを備え、乗算処理
手段から得た信号でレーザビームの強度を変化させるこ
とを特徴としている。 作ヨーーー度 本発明によれば、１ワード１ビットのラインメモリを基
準クロックの発生源として用いており、このラインメモ
リにｆθレンズの入射角と像高の関係を記憶させている
。 ｆθレンズの入射角と像高の関係は、ｆθレンズの設計
データから光線トレースにより計算で求めることもてき
るが、製作誤差や配置誤差等を考慮すると実測で求める
方がより実用的である。 ｆθレンズの像高の実測値は、例えば製作したｆθレン
ズを所定の光学的位置に配すると共に、その結像面に一
定ピンチで目盛りが刻まれた定規板を配し、ｆθレンズ
への入射角をどれだけ振ると結像面上のビームスボ・ノ
ドが１つの目盛りから次の目盛りへ移動するかを有効走
査領域の全域にわたって実測した値である。 この実測値又は計算値の関係をラインメモリに記録する
には、入射角の単位角を１ワードとし、ビームスポット
が１の目盛りに照射されているとき、そのワードのビッ
トを１とし、ビームスポットが目盛りと目盛りの間に照
射されているとき、そのワードのビットを０として行う
。 このようにじでｆθレンズの像高の実測値又は計算値の
関係を記録したラインメモリを原基準クロックの発生源
として用いると、得られる原基準クロックのパルス幅は
、定角速度運動するポリゴンミラーで反射されｆθレン
ズを通して結像したビームスポットが主走査方向に一定
間隔移動する時間に相当する。言い換えると、原基準ク
ロックの周波数はビームスポットの移動速度が速いとこ
ろでは高く、遅いところでは低いということになる。 この原基準クロックはＰＬＬ回路で逓倍されて基準クロ
ックとして使用される。原基準クロックを逓倍するのは
、少ない容量のラインメモリで、高い画素密度の記録を
実現するためである。 なお、このような節約が可能なのは、ｆθレンズの設計
にあたって、ｆθ特性をいく分犠牲にしたとはいえ、短
い区間で走査速度が急には変化しないことを確認してい
るからである。 画像信号と前記基準クロックとを用いてレーザビームを
変調し、この変調ビームをポリゴンミラーを介して前記
実測値を得た当該ｆθレンズに、基準クロックの発生開
始時期と変調ビームの主走査開始位置を合わせた状態で
入射すると、ｆθレンズの結像面上には一定の間隔で記
録が行われる。 実−−−施一一二医 第１図は本発明に係る画像記録装置の一実施例の全体構
成を示す図である。この装置は主走査手段としてポリゴ
ンミラーを備えた製版用スキャナであり、図中に示すＸ
方向、Ｘ方向が夫々主走査方向、副走査方向に相当する
。製版用スキャナでは画像信号に網点変調をかけて出力
するのが通例であるため本明細書もそれに従って記述す
るが、連続階調出力の画像記録装置にも本発明を適用で
きる。レーザ光＃１で発生したレーザビームＬＢは、変
調手段としてのＡＯＭ　（音響光学変調器）２へ入射さ
れる。ＡＯＭ２は網点信号発生装置３よりレーザビーム
ＬＢを０Ｎ１０ＦＦ変言周する網点信号が入力されてい
る。 ＡＯＭ２によって０Ｎ１０ＦＦ変調されたレーザビーム
ＬＢは、ａ方向に等速回転しているポリゴンミラー４の
ミラー面に入射される。ポリゴンミラー４のミラー面か
ら反射されるレーザビームＬＢは、ポリゴンミラー４の
回転に伴ってＸ方向に周期的に偏向される。偏向後のレ
ーザビームしＢはｆθレンズ５を通ってその結像面位置
に設けられた感光材６上にビームスポットとして結像す
る。感光材６はｂ方向に回転駆動されるドラム７に被着
されている。前記ポリゴンミラー４の回転とドラム７の
回転とにより、レーザビームＬＢは、感光材６表面に二
次元画像を記録する。 前記ドラム７の一例であって主走査方向Ｘの開始点側に
は、レーザビームＬＢＯ主走査開始位置を検出するため
のスタートセンサ８が設けられている。 前記ｆθレンズ５は、ｒθ特性をいく分犠牲にすること
によって、有効走査領域で結像スポ・７ト径を小さくし
て画像を高精細にし、かつ有効走査領域を広くするよう
設計されている。そのため、このｆθレンズ５の入射角
θと像高の関係が第２図（ａ）に実線で示すようにリニ
アにはなっていない（破線は理想的なｆθレンズの特性
を示している。）。 尚、ｆθレンズで結像されたビームスポットがスタート
センサ８で検出される時刻をｔ＝Ｑとし、その時の入射
角をθ＝０とすれば、入射角θと時間ｔとは一対−に対
応するので、第２図（ａ）の横軸は時間軸で表している
。又、像高はスタートセンサ８の位置を原点とすれば、
主走査方向の座標Ｘと同しなので、縦軸は主走査方向の
座標Ｘで表している。 ところで、上記のようにｆθ特性として時間ｔと主走査
方間座標ＸとがリニアＣニなっていないと、そのｆθレ
ンズ５で結像されたビームスポットの感光材６上での速
度Ｖ　（ｔ）（−ｄｘ／ｄｔ）は、第２図（ｂ）の実線
で示すように刻々変化することとなる。 今、ＡＯＭ２に与える基準クロックの周波数をｆ　ｄ　
　（ｔ）　、ＡＯＭ２によるレーザビームのＯＮ／○Ｆ
Ｆ変調によって感光材６上に記録される主走査のビ、・
チを△Ｐ　（ｔ）　、ビームスポットの感光材６上での
主走査速度をＶ　（ｔ）とすると、ΔＰ　（ｔ）＝Ｋｌ
　・Ｖ　（ｔ）／ｆｄ　（ｔ）・・・（３） なる関係が成立している。但し、Ｋ、は定数である。こ
の関係式において、Ｖ　（ｔ）は第２図（ｂ）に示した
ように時間ｔと共に変化するので、本発明の主題である
△Ｐ　（ｔ）を一定Ｑ？するには、ｆｄ（ｔ）がＶ　（
ｔ）と比例的に変化するものでなければならない。 網点信号発生装置３は、ｆｄ　　（ｔ）をこのような条
件を満たすように変化させる基準クロックの発生回路を
含むもので、その詳細を第３図に示す。 図に示すように網点信号発生装置３は、基準クロック発
生回路９と網点信号発生回路１０とから成っている。基
準クロック発生回路９は、アドレスカウンタ９１、ライ
ンメモリ９２、波形整形回路９３及びＰ　Ｌ　Ｌ　（Ｐ
ｈａｓｅ　Ｌｏｃｋｅｄ　Ｌｏｏｐ）回路９４から成っ
ている。 アドレスカウンタ９１は、スタート−センサ８によるビ
ームスポット検出信号が入力されるのを開始条件として
、以後、図示しないクロック発生器から出力される一定
周波数のクロックパルスを順次カウントし、そのときの
カウント値をラインメモリ９２のアドレス指定信号とし
て出力する。この時、例えばポリゴンミラー４と同軸に
ロークリエンコーダを取付けて、入射角θに直接対応し
たクロックパルスを作り出して前記アドレスカウンタ９
１の一方の入力信号としても良いが、より簡便には水晶
発振器など等時性のある信号源から作り出した一定周波
数のクロック信号を前記アドレスカウンタ９１の一方の
入力信号とすれば良い。 これと、ポリゴンミラー４の定角速度運動とから前記カ
ウント値は入射角θに比例した値となる。 アドレスカウンタ９１０カウント値がラインメモリ９２
のワード数と同数になるとカウントを終了する。そして
、次にスタートセンサ８か°らのビームスポット検出信
号が入力されると、カウントリセットして後、再びカウ
ント動作を繰り返す。 ラインメモリ９２は、１ワード１ビットの所定容量のメ
モリで、これには前記ｆθレンズ５の入射角と像高の実
測値の関係が記憶されている。実測値を記憶する方法は
作用の項で述べたように、一定間隔で目盛った目盛りを
結像面におき、製作直後のｆθレンズに入射するレーザ
ビームの入射角を単位角ずつ振って行き、ｆθレンズで
結像されたビームスポットが目盛り上に位置するときは
バイナリ−ビットの１、目盛り上に位置しないときはハ
イナリービソトの０を記録するという方法である。この
場合、ラインメモリ９２の各アドレス（ワード）は単位
入射角に対応させである。第４図は上記のようにして記
憶して行った場合のラインメモリ９２の記憶内容を示し
ている。又、第２図（ｃ）は一定間隔の目盛りとビーム
スポットが目盛りの間を横切る時間との対応関係を示す
図である。 波形整形回路９３はラインメモリ３２から読出したパル
スの波形を整える周知の回路であり、又ＰＬＬ回路９４
も、位相比較器９５、ローパスフィルタ９６、ＶＣ○（
Ｖｏｌｔａｇｅ　Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｄ　０ｓｃｉｌｌ
ａｔｏｒ）　　９７及び１／Ｎ分周器９８から成り、Ｖ
ＣＯ９７の出力端から入力パルスの周波数をＮ倍逓倍し
た基準クロックＤＣを得る公知の回路である。 網点信号発生回路１０は画像処理部１０１と網点信号発
生器１０２とドライバー１０３とから成る。画像処理部
１０１は入力機で得た画像信号を階調修正や色修正等の
処理を行う公知の回路である。網点信号発生機１０２は
画像処理部１０１で得た画像データを、基準クロック発
生回路９から得られる基準クロックＤＣによって２値化
する回路である。ドライバー１０３は、網点信号発生器
１０２から得られる網点信号を高周波信号（例えば８０
ＭＨｚの搬送波）で振幅変調する回路で、この回路より
得た出力がＡＯＭ２に加えられ、レーザビームＬＢを０
Ｎ１０ＦＦ変調する。この場合、０Ｎ１０　Ｆ　Ｆ変調
の周波数は基準クロック発生回路９から得る基準クロッ
クＤＣの周波数に等しい。 次に、上記構成の装置の動作を説明する。レーザ光源１
から発したレーザビームＬＢは、ＡＯＭ２にて基準クロ
ックの周波数で０Ｎ１０ＦＦ変調されて後、ポリゴンミ
ラー４で周期的にＸ方向に偏向され、ｆθレンズ５を通
して感光材６上に結像される。ここで、ｆθレンズ５は
高精細で有効領域は広いがｆθ特性をいく分犠牲にした
レンズを用いている。又、基準クロック発生器９のライ
ンメモリ９２に記憶した入射角θと像高の実測値の関係
は、前記ｆθレンズ５のそれである。従って、感光材６
上におけるビームスポットの主走査方向の速度は、第２
図（ｂ）に示すように時間の関数となっており、一定し
ていない。 今、ビームスポットが主走査開始位置にあるスタートセ
ンサ８で検出され、感光材６の左端から右端まで１ライ
ンスキヤンされる場合を想定する。 ビームスポットがスタートセンサ８で検出されることに
より、基準クロック発生回路９のアドレスカウンタ９１
がカウント値をリセフトし、一定周波数のクロックに同
期して０から順にカウントし始める。アドレスカウンタ
９１の出力はアドレス指定信号としてラインメモリ９２
に加えられ、ラインメモリ９２．のメモリ内容を１ワー
ドずつ読出して行く。このため、ラインメモリ９２の出
力には第５図に示すパルス（原基準クロック）があられ
れる。但し、このパルスは、記憶内容が１のときＨレベ
ル、０のときＬレベルにセントした場合の波形図である
。このパルスのパルス幅Δｔは、ラインメモリ９２にｆ
θレンズの入射角と像高の実測値の関係が記憶されてい
る経緯からして、感光材上でビームスポットが一定微小
距離を移動するのに要する時間であり、それは感光材上
でのビームスポットの主走査速度Ｖ　（ｔ）の逆数に比
例している。つまり、 ΔｔｃＫ１／Ｖ（ｔ）　　　・（４１ である。 この場合、パルス幅Δｔは周波数ｆｐ（ｔ）の逆数に等
しいので、パルスの周波数ｆｐ（ｔ）と主走査速度Ｖ（
ｔ）とは次の関係がある。 ｆｐ　　（ｔ）　ｏ’Ｖ　（ｔ）　　　・・・（５）又
はｆｐ（ｔ）−Ｋｚ　　・Ｖ　（ｔ）　　　・・・（５
）′但し、Ｋ２は定数である。 一方、ラインメモリ９２から出力されるパルスはＰＬＬ
回路９４で逓倍して基準クロックとして用いられるので
、ＰＬＬ回路９４の逓倍数をＮ（整数）とすれば、基準
クロックの周波数ｆｄ（１）とラインメモリ９２の出力
パルスの周波数ｆｐ（ｔ）とは、 ｆ　　ｄ　　（ｔ）＝Ｎ−ｆｐ　　（ｔ）　　　　　・
・・（６）という関係にある。これに（５）′弐を代入
し、ｆｄ　　（ｔ）　−Ｎ、に２　・Ｖ　（ｔ）　　・
・・（７）を得る。 このようにして得た基準クロックの周波数ｆｄ（１）に
よってレーザ光源１から発したレーザビームＬＢがＡＯ
Ｍ２で０Ｎ１０ＦＦ変調され、ポリゴンミラー４、ｆθ
レンズ５を通して感光材６上を主走査されるので、感光
材６上に形成される主走査ピンチ△Ｐ　（ｔ）は、（７
）式を（３）弐に代入し、整理することにより得る。即
ち、 八Ｐ　（ｔ）＝に＋　／　（Ｋｇ　　・Ｎ）　・・・（
８）上式の右辺のに＋　、Ｋｚは定数であり、Ｎもまた
定数であるから、左辺のΔＰ　（ｔ）は時間に依存しな
い定数となる。つまり、このことは、上記装置によれば
、ｆθ特性を犠牲にしたｆθレンズを用いても、感光材
６上での主走査ピンチを常に一定に保つことができ、画
素密度にむらのない記録が可能なことを意味している。 尚、第２図（ｅ）は上記（８）式の関係をグラフで表し
ている。但し、同口は、主走査ピンチΔＰが主走査速度
■（１）とパルス幅ｔ　　（ｏ：Ｎ／　ｆ　ｐ　　（ｔ
）　）の積に比例するして、第２図（ｂ）と同図（ｄ）
とを各時間毎に積算して描いている。しかし、物理的な
意味は第（８）式と同じである。 次に、第６図は本発明の他の一実施例を示している。上
記した実施例では、感光材上での主走査速度が変化して
も主走査ピッチを一定に保つことができるが、この場合
、主走査速度の変化があまり大きいと、レーザ光源の出
力パワーを一定にしても感光材上には一定の濃度で記録
することができず、濃淡を生しることがある。即ち、感
光材上での主走査速度の変化が大きいと、レーザ光源の
出力パワーが一定であっても、主走査速度が速いところ
では単位面積当たりの照射エネルギーが低いために記録
濃度が淡くなるし、逆に主走査速度が遅いところでは単
位面積当たりの照射エネルギーが高いために記録濃度が
濃くなる。 第６図の実施例は、主走査速度の大きな変化に起因した
このような濃度むらを防止するために工夫されたもので
ある。そのため、先ず、網点信号発生回路１０の網点信
号発生器１０２とドライバ１０３との間に乗算処理部１
０４を設けると共Ｃ：、基準クロック発生回路９のＶＣ
○９７の出力に周波数・電圧変換器９９を接続し、この
周波数・電圧変換器９９から得る信号を乗算処理部１０
４に加えている。 上記構成の動作を第７図の波形図に従って説明する。■
Ｃ○９７の出力である基準クロックＤは第（６）式に示
したように感光材上でのビームスボ。 トの主走査速度に比例しているので、肩波数・電圧変換
器９８の出力は第７図（ａ）に示すように主走査速度波
形である第２図（ｂ）と相似形となる。一方、網点信号
発生器１０２の出力は、画像処理部１０１から受は取っ
た画像信号を基準クロ７りＤＣを受は取る毎に網点変調
したもので、通常は数クロックル数↓クロック分のＯＮ
状態およびＯＦＦ状態が交互に持続されるものであり、
例えば第７図（ｂ）のような２値信号となる。但し、こ
の図では、便宜上画像信号は一定レベルとし、また基準
クロック周波数も一定周波数として描いている。乗算処
理部１０４は、上記した２つの信号の掛算を行うもので
あり、このため、乗算処理部１０４の出力に第７図（ｃ
）に示す波形があられれる。この波形はドライバー１０
３で高周波変言周されてＡＯＭ２にカロえられる。ＡＯ
Ｍ２は、この入力に基づきレーザビームＬＢを強度変調
する。 強度変調されたレーザビームを第７図（ｄ）に示す。こ
の図からもわかるように、感光材上でのビームスポット
の主走査速度の速いところで（Ａ領域、Ｃ領域）ではＡ
ＯＭの出力光は強く、逆に主走査速度の遅いところ（Ｂ
領域）ではＡＯＭの出力光は弱い。既述したように、も
ともとレーザビムのパワーが一定であれば、主走査速度
の速いところは照射エネルギーが低く、遅いところは照
射エネルギーが高いものであるから、上記のようにＡＯ
Ｍの出力光が変化すると、感光材上全面にわたって、照
射エネルギーを均一にすることができる。これによって
濃度むらのない記録が実現する。 ４゜ 発１廊ぢ１果 以上説明したように本発明によれば、結像スポット径を
小さくして画像を高精細にすると共に、走査角度を大き
くして有効領域を拡大するためにｆθ特性を犠牲にした
ｆθレンズを用いたとしても、感光材上での主走査ピッ
チを常に一定に保つことができ、その結果、画素密度む
らのない、しかも高精細かつ有効走査幅の広い画像記録
装置を得ることができる。 その上、画素密度むらの解消をラインメモリとＰＬＬ回
路という電気的手段によって行っているので、安価に製
作することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の画像記録装置の一実施例を示す全体構
成図、第２図（ａ）〜（ｅ）はｆθ特性がいく分犠牲に
されたｆθレンズを用いて感光材上での主走査ピンチを
一定にすることのできる理由を説明する図、第３図は網
点信号発生装置の詳細なブロック図、第４図はラインメ
モリのメモリ内容を示す図、第５図はラインメモリの出
力パルス波形図、第６図は本発明の他の実施例を示すブ
ロック図、第７図（ａ）〜（ｄ）は第６図の各部の波形
図である。 １・・・レーザ光源、２・・・ＡＯＭ　（変調手段）、
３・・・網点信号発生装置、４・・・ポリゴンミラー（
第１の走査手段）、５・・・ｆθレンズ、６・・・記録
担体、７・・・ドラム（第２の走査手段）、８・・・ス
タートセンサ（同期手段）、９・・・ドツトクロック発
生回路、１０・・・網点信号発生回路、９２・・・ライ
ンメモリ、９４・・・ＰＬＬ回路。 特許出願人：大日本スクリーン製造株式会社第 図 第４図 第５図 ・００１００００００１０００　・ 第 図 （９４，面） 平成３年１２月１７日 特許庁長官　　深　沢　　　亘　殿 １、事件の表示 平成２年特許願第２６５５０８号 ２、発明の名称 画像記録装置 ３、補正をする者 事件との関係　　特許出願人 住所　京都市上京区堀用通寺之内上る４丁目天神北町１
番地の１ 名称　大口木スクリーン製造株式会社 代表者　　石　１）　明 ４、代理人 ◎５３１ 住所　大阪市北区豊１・−３丁目２番１号６、補正の対
象 明細書及び図面 補正の内容 （１）明細書の全文を別紙の通り補正します。 （２）第２．３．６．７図を別紙の図と差し換えまず。 全文訂正明細書 １、発明の名称 画像記録装置 ２、特許請求の範囲 （１）レーザ光源から発されたレーザビームを画像信号
と基準クロックと乙二基づき変調する変調手段と、変調
されたレーザビームを主走査方向に走査する第１の走査
手段と、 前記レーザビームを結像して記録担体表面にビームスポ
ットを形成するためのｆθレンズと、記録担体を主走査
方向と直交する方向に相対移動させるための第２の走査
手段と、 ｆθレンズの特性に起因したビームスボ・７トの主走査
速度の変化に対応して、前記変調手段Ｑこ加える基準ク
ロックの周波数を制御する周波数制御■手段と、 １回の主走査の度にレーザビームの主走査開始位置と１
９クロツクの発生開始時期とを同期させる同期手段と、
を備え、 前記周波数制御手段は、ｆθレンズの入射角と像高の実
測値又は計算値の関係を少なくとも走査有効領域にわた
って記憶した１ワード１ビットのラインメモリを基準ク
ロックの発生源として用い、各主走査開始後の前記入射
角Ｃ二比例したアドレス指定信号により前記ラインメモ
リから読み出される原基準クロックをＰＬＬ回路で逓倍
し、基準クロ、りを得る構成であることを特徴とする画
像記録装置。 （２）請求項１の画像記録装置は、更に、基準クロック
の周波数に比例したアナログ電圧を得るアナログ電圧発
生手段と、このアナログ電圧を主走査方向の対応する位
置における画像信号乙二乗算する乗算処理手段とを備え
、乗算処理手段から得た信号でレーザビームの強度を変
化させることを特徴とする画像記録装置。 ３、発明の詳細な説明 愈粟↓Ω科朋剪界 本発明は、レーザを光源にする画像記録装置に関し、特
に［θレンズの特性による主走査画素記録密度むらの改
良ムニ関する。 従邊四刈り逝 レーザを光源とする画像記録装置は、ポリゴンミラー等
によって一次元方向に偏向されたレーザビームにより、
フィルムなどの記録担体を主走査すると共に、記録担体
を主走査方向と直交する方向（副走査方向）に相対的に
移動して、記録担体を二次元的に走査し画像情報の記録
を行う。 このような装置において、結像レンズとしてはＦｘｔこ
ｆθレンズが用いられる。このｆθレンズによって記録
担体上にビームスポットを形成し、ガスレーザなろＡＯ
Ｍ等の変調器を用いて、レーザーダイオードなら直接に
変調されたレーザビームで、記録担体上に画像を記録す
る。 レーザビームの変調は、レーザビームが主走査始点検出
センサを通過した後、一定周波数の基準クロ、りと画像
信号とに基づいて作成した網点信号により行われる。 さて、主走査方向の、ビーム偏向装置Ｓこポリゴンミラ
ー等の反射平面が定角速度運動する偏向器を用い、結像
レンズとしてｆθレンズを用いた場合、記録担体上の結
像面のビームスポットの走査速度は一定となる。すなわ
ち、一定の周波数の基準クロ・アクで、結像面にある記
録担体に画像を記録した場合、画素記録密度は主走査方
向どの位置でも一定となり、主走査方向にむらのない画
像記録ができる。 次にこのことを、式を用いて説明する。ｒθレンズのビ
ーム入射角θと像高Ｘの関係は次式で与えられる。 ｘ＝ｒ　・θ　　　　　・・・（１） 上式を時間微分すると、 ｄｘ／ｄｔ＝ｆ−ｄθ／　ｄ　ｔ　　　−（２）となる
。この（２）式において、左辺は像面のビーム走査速度
に相当巳、右辺のｄθ／ｄｔｓま、ｆθレンズに入射す
るビームの入射角θの時間的変化、つまり角速度を示す
。 ポ゛２１ゴンミラーの角速度が一定とすると、主走査方
向焼付は有効領域では、ｄθ／ｄｔも一定となるため、
走査速度ｄ　ｙ、　／　ｄ　ｔも一定となる。これによ
って、主走査方向にむらのない画像記録が達成される。 が”しよ゛と−る ところで、近年、ｆθレンズに対する要求として、有効
領域全域で結像スポット径を小さくして画像記録密度を
上げると共に、走査角度を大きくして画像記録の行える
有効領域をより広く取ろうとする要求がある。 このような要求を優先してｆθレンズを設計した場合、
一方でｆθ特性かい（分犠牲になるという問題が生じる
。即ち、第（１）弐で示した入射角θと像高χの関係が
十分に満たされなくなるために、たとえポリゴンミラー
が安定に回転したとしても、結像面上でのビームスポッ
トの走査速度が一定でなくなって′−まい、主走査方向
において画像記録密度にむらが生じて！−まうのである
。 本発明はこのような点に鑑み、レンズ設計Ｏ際に犠牲と
なるレンズのｆθ特性を電気的処理で補正し、安価で、
広い有効走査領域０二わたって画素密度のむらなく、か
つ高精細に画像記録を行うことのできる有効な画像記録
装置を提供することを目的としている。 課業し」Ｌ丸文−るため６１２段 上記目的を達成するために本発明は、レーザ光源から発
されたレーザビームを画像信号と基準クロックとに基づ
き変調する変調手段と、変調されたレーザビームを主走
査方向に走査する第１の走査手段と、前記レーザビーム
を結像して記録担体表面にビームスポットを形成するた
めのｆθレンズ（必ずしもｆθ特性が良好でなくても、
この種の平面走査用レンズは一般にｆθレンズと呼ばれ
ており、本明細書でもそ乙に従っている。）と、記録担
体を主走査方向と直交する方向に相対移動させるための
第２の走査手段と、ｆθレンズの特性に起因巳たビーム
スポットの主走査速度の変化に対応して、前記変調手段
に加える基準クロックの周波数を制御する周波数制御手
段と、１回の主走査の度；ニレーザビームの主走査開始
位置と基準クロックの発生開始時期とを同期させる同期
手段と、を備え、前記周波数制御手段は、ｆθレンズの
入射角と像高の実測値又は計算値の関係を少なくとも走
査有効領域にわたって記憶した１ワード１ピノ１−のラ
インメモリを原７４準クロックの発生源とし２て用い、
各主走査開始後の前記入射角に比例したアドレス指定信
号により前記ラインメモリから読み出される原基準クロ
ックをＰ　Ｌ　Ｌ回路て逓倍し、基準クロックを得る構
成であることを特徴としている。 又、上記画像記録装置は、更に、基準クロックの周波数
に比例したアナログ電圧を得るアナログ電圧発生手段と
、このアナログ電圧を主走査方向の対応する位置Ｃ二お
ける画像信号に乗算する乗算処理手段とを備え、乗算処
理手段から得た信号でレーザビームの強度を変化させる
ことを特徴とじている。 詐−一−−町 本発明によれば、１ワー１−′１ビットのラインメモリ
を基準クロックの発生源として用いており、このライン
メモリにｆθレンズの入射角と像高の関係を記憶させて
いる。 ｆθレンズの入射角と像高の関係は、ｆθレンズの設計
データから光線トレースにより計算で求めることもでき
るが、製作誤差や配置誤差等を考慮すると実測で求める
方がより実用的である。 ｆθレンズの像高の実測値は、例えば製作したｆθレン
ズを所定の光学的位置に配すると共に、その結像面に一
定ピノチで目盛りが刻まれた定規板を配し、ｆθレンズ
への入射角をどれだけ振ると結像面上のビームスポット
が１つの目盛りから次の目盛りへ移動するかを有効走査
領域の全域にわたって実測した値である。 この実測値又は計算値の関係をラインメモリに記録する
には、入射角の単位角を１ワードとし、ビームスポット
が１の目盛り乙こ照射されているとき、そのワードのビ
ア・トを１とし、ビームスポットが目盛りと目盛りの間
りこ照射されでいるとき、そのワードのピノ１−をＯと
′−で行う。 二のようにしてｆθレンズの像高の実測値又は計算値の
関係を記録巳たラインメモリを原基準クワ、りの発生源
とじて用いると、得ろれろ原基準クロックのパルス幅は
、記録担体上でビームスポットが主走査方向に一定間隔
移動する時間に相当する。言い換えると、原基準クロッ
クの周波数はビームスポ・７トの移動速度が速いところ
では高く、遅いところでは低いということになる。 この原基準クロックはＰＬＬ回路て逓倍されて基準クロ
ックとして使用される。原基準クロ、りを逓倍するのは
、少ない容量のラインメモリで、高い画素密度の記録を
実現するためである。 なお、このような節約が可能なのは、ｆθレンズの設計
にあたって、ｆθ特性をいく分犠牲ムニしたとはいえ、
短い区間で走査速度が泊には変化しないことを確認して
いるからである。 画像信号と前記基準クロックとを用いてレーザビームを
変調じ、この変調ビームを前記実測値を得た当該ｆθレ
ンズ二二、基準クロックの発生開始時期と変調ビームの
主走査開始位置を合わせた状態て入射すると、ｆθレン
ズの結像面上ムこは一定の間隔て記録が行われる。 災−」Ｌ−Ｕｉ 第１図は本発明に係る画像記録装置の一実施例の全体構
成を示す図である。この装置は主走査用の第１の走査手
段としてポリゴンミラーを備えた装板用スキャナである
。図中乙こ示すＸ方向、Ｘ方向が夫々主走査方向、副走
査方向に相当する。製版用スキャナでは画像信号に網点
変調をかけて出力するのが通例であるため本明細書もそ
れに従って記述する。 しかし、連続階調出力の画像記録装置にも本発明を適用
できる。レーザ光源１で発生巳たレーザビームＬＢは、
変調手段としてのＡＯＭ（音響光学変調器）２へ入射さ
れる。ＡＯＭ２は網点信号発生装置３よりレーザビーム
ＬＢを○Ｎ／○ＦＦ変調する網点信号が入力されている
。 ＡＯＭ２Ｑ二よって○＼１０ＦＦ変言周されたレーザビ
ームＬＢは、ａ方向に等速回転じているポ“ノゴンミラ
ー４のミラー面に入射される。ポリゴンミラ−４０ミラ
ー面から反射さ力２るレーザビームＬＢは、ポリゴンミ
ラー４の回転に伴ってＸ方向に周期的Ｓこ偏向される。 偏向後のレーザビームＬＢはｆθレンズ５を通ってその
結像面位置に設けられた感光材６上にビームスポットと
して結像する。感光材６はｂ方向に回転駆動されるドラ
ム７乙ニ被着されている。前記ポリゴンミラー４の回転
とドラム７０回転とにより、レーザビームＬＢは、感光
材６表面６二二次元画像を記録する。 前記ドラム７の一例であって主走査方向Ｘの開始点側に
は、レーザビームＬＢＯ主走査開始位置を検出するため
のスタートセンサ８が設けられている。 前記ｆθレンズ５は、ｆθ特性をいく分犠牲Ｃ二するこ
と０二よって、有効走査領域で結像スボ、）・径を小さ
くしで画像を高精細にし、かつ有効走査領域を広くする
よう設計されている。そのため、このｆθレンズ５の入
射角θと像高Ｘの関係が第２図（ａ）Ｄ二実線で示すよ
うにリニ−−二：よなっていない（破線は理想的なｆθ
し・ンズの特性を示している。）。 尚、ｆθレンズ５て結像されたビームスポットがスター
トセンサ８で検８される時刻を１＝０とし、その時の入
射角をθ−〇とすれば、入射角θと時間りとは一対一に
対応するので、第２図（ａ）の横軸は時間軸で表してい
る。又、像高Ｘはスタートセンサ８の位置を原点とすれ
ば、主走査方向の座標χと同しなので、継軸は主走査方
向Ｘの座標Ｘで表している。 ところで、上記のようにｆθ特性として時間ｔと主走査
方向座標Ｘとがリニアになっていないと、そのｆθレン
ズ５で結像されたビームスポンドの怒光材６上での主走
査速度ｖ（Ｌ）（＝ａχ／ｄｔ）は、第２図（ｂ）の実
線で示すように刻々変化することとなる。 今、ＡＯＭ２を変調するだめの基準クロックの周波数を
ｆｄ　（ｔ）、ＡＯＭ２によるレーザビームの○Ｎ／○
ＦＦ変調によって怒光材６上に記録される主走査のピッ
チをΔＰ　（ｔ）、ビームスポットの怒光材６上での主
走査速度をＶ（ｔ）とすると、 八Ｐ　（ｔ）＝に、　　・Ｖ（ｔ）／ｆｄ（ｔ）・・・
（３） なる関係が成立している。但し、Ｋ１は定数である。こ
の関係式において、主走査速度Ｖ（ｔ）は第２図（ｂ）
に示したように時間ｔと共に変化するので、本発明の主
題である主走査ピッチΔＰ（１）を一定にするには、第
２図（ｄ）に示すように基準クロックの周波数ｆｄ（ｔ
）が主走査速度ｖ（ｔ）と比例的に変化するものでなけ
ればなうない。 網点信号発生装置３は、基準クロックの周波数ｆｄ（ｔ
）をこのような条件を満たすよう乙こ変化させる回路を
含むもので、その詳細を第３圓乙こ示ず。図乙こ示すよ
うに網点信号発生装置３；ま、基準クロック発生回路９
と網点信号発生回路１０とから成っている。基準クワツ
ク発生回路９は、ア）レスカウンタ９１、ラインメモリ
９２、波形整形回路９３及びＰ　Ｌ　Ｌ　（Ｐｈａｓｅ
　Ｌｏｃｋｅｄ　Ｌｏｏｐ）回路９４から成っている。 アドレスカウンタ９１は、スタートセンサザ８り二よる
ビームスポア・ト検出信号が入力されるのを開始条件と
して、以後、図示しないクロック発生器から出力される
一定周波数のクロックパルスを順次カウントし、そのと
きのカウント値をラインメモリ９２のアトし・ス指定信
号として出力する。この時、例えばポリゴンミラー４と
同軸にロークリエンコーダを取付けて、入射角θに直接
対応したクロックパルスを作り出して前記アドレスカウ
ンタ９１の一方の入力信号としても良いが、より簡便に
は水晶発振器など等時性のある信号源から作り出した一
定周波数のクロック信号を前記アドレスカウンタ９１の
一方の入力信号とすれば良い。 これと、ポリゴンミラー４の定角速度運動とから前記カ
ウント値は入射角θに比例した値となる。 ア）・レスカウンタ９１のカウント値がラインメモリ９
２のワヘド数と同数になるとカウントを終了する。そし
て、次にスタートセンサ８かうのビームスボ・ノド検出
信号が入力されると、アドレスカウンタ９１をリセント
して、再びカウント動作を繰り返す。 ラインメモリ９２は、１ワード１ビ・ノドの所定容量の
メモリで、これには前記ｆθレンズ５の入射角θと像高
Ｘの実測値の関係が記憶されている。 実測値を記憶する方法は作用の項で述べたように、一定
間隔で目盛った目盛りＸ′を結像面におき、製作直後の
ｆθレンズ５に入射するレーザビームＬＢの入射角を単
位角ずつ振って行き、ｆθレンズ５で結像されたビーム
スボッ１〜が目盛りＸ′上に位置するときはハイナリー
ヒ゛ノドの１、目盛りＸ′上に位置しないときはバイナ
リ−ビットのＯを記憶するという方法である。この場合
、ラインメモリ９２の各アドレス（ワード）は単位入射
角Ｓ：対応させである。第４図は上記のよ・）Ｑこして
記Ｆして行った場合のラインメモリ９２の記１、キ内容
を示している。又、第２図（Ｃ）；ま結像面の主走査方
向に置いた一定間隔の目盛りＸ′とビームスポットが目
盛りｘ’（７）間を横切る時刻も（時間Δｔ）との対応
関係を示す図である。 波形整形回路９３；よラインメモリ９２から読出したパ
ルスの波形を整える周知の回路であり、又ＰＬＬ回路９
４も、位相比較器９５、ローパスフィルタ９６、■Ｃ○
（Ｖｏｌｔａｇｅ　Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｄ　０ｓｃｉ１
１ａｔｏｒ）　　９７及び１／Ｎ分周器９８から成り、
■Ｃ○９７の出力端から入カバルスの周波数をＮ倍逓倍
じた基準クロックＤＣを得る公知の回路である。 網点信号発生回路１０は画像処理部１０１と網点信号発
生Ｂ１０２とドライバー１０３とから成る。画像処理部
１０１は入力機で得た画像信号を階調修正や色修正等の
処理を行う公知の回路である。網点信号発生器１０２は
画像処理部１０１で得た画像データを、基準クロック発
生回路９から得られる基準クロックＤＣによって２値化
する回路である。ト“ライバー１０３は、網点信号発生
器１０２から得られる網点信号を高周波信号（例えば８
０ＭＨｚの搬送波）で振幅変調する回路である。 このドライバー１０３より得た出力がＡＯＭ２にぢ口え
られ、レーザビームＬＢを○Ｎ／○ＦＦ変調する。この
場合、○Ｎ／○ＦＦ変調の周波数は基準クロ、り発生回
路９かち得る基準クロックＤＣの周波数ｆｄ（ｔ）に等
しい。 次に、上記構成の装置の動作を説明する。レーザ光源１
から発したレーザビームＬＢは、ＡＯＭ２を二で基準ク
ロックＤＣの周波数で０Ｎ１０　Ｆ　Ｆ変調されて後、
ポリゴンミラー４で周期約０こＸ方向に偏向され、ｆθ
レンズ５を通して感光材６上に結像される。ここで、ｆ
θレンズ５は高精細で有効領域は広いがｆθ特性をいく
分犠牲にしたレンズを用いている。又、基準クロック発
生回路９のラインメモリ９２に記憶した入射角θと像高
Ｘの実測値の関係は、前記ｆθレンズ５の特性に対応し
ている。従って、感光材６上におけるビームスポットの
主走査方向の速度は、第２図（ｂ）に示すように時間の
関数となっており、一定していない。 今、ビームスポットが主走査開始位置にあるスタートセ
ンサ８て検出され、感光材６の左端から右端まて１ライ
ンスキ島ンされる場合を想定する。 ビームスポットがスタートセンサ８て検出されることに
より、基準クロック発生回路９のアドレスカウンタ９１
がカウント値をリセット瞑一定周波数のクロックに同期
してＯから順にカウントし始める。アドレスカウンタ９
】の出力はアドレス指定信号としてラインメモリ９２に
加えられ、ラインメモリ９２のメモリ内容を１ワードず
つ読出して行く。このため、ラインメモリ９２の出力に
は第５図に示すパルス（原基準クロック）があられれる
。但し、このパルスは、記憶内容が１のときＨレヘル、
ＯのときＬレヘルにセットした場合の波形図である。こ
のパルスのパルス幅△ｔ　Ｊ第２図（ｃ）参照〕は、ラ
インメモリ９２にｆθレンズの入射角θと像高Ｘの実測
値の関係が記憶されている経緯からして、感光材６上で
ビームスボアＦが一定微小距離を移動するのに要する時
間であり、それ；よ感光材６上でのビームスポットの主
走査速度Ｖ　（ｔ）の逆数に比例している。つまり、Δ
ｔに１／Ｖ（ｔ）　　　・・・（４）である。 この場合、パルス幅へｔは周波数ｆｐ（ｔ）Ｓラインメ
モリ９２の出力周波数〕の逆数に等しいので、パルスの
周波数ｆｐ（ｔ）と主走査速度Ｖ　（ｔ）とは次の関係
がある。 ｆ　Ｔｌｌ　（ｔ）ｃｃＶ　（ｔ）　　　・・・（５）
ｆｐ（ｔ）工Ｖ（ｔ）　　　　・・・（５）又（よｆｐ
（ｔ）−Ｋｚ　・Ｖ　（ｔ）　　　・・・（５）′但し
、Ｋ２は定数である。 一方、ラインメモリ９２がら出力されるパルスはＰＬＬ
回Ｂ９４で逓倍して基準クロックＤＣとして用いられる
ので、Ｐ　Ｌ　Ｉ−回路９４の逓倍数をＮ（整数）とす
れば、基準クロックＤＣの周波数ｆｄ　（ｔ）とライン
メモリ９２の出力パルスの周波数ｆｐ（ｔ）とは、 ｆｄ（ｔ）＝ｌ・ｆｐ（ｔ）　　　・（６）という関係
にある。これ０二（５）′弐を代入し、ｆｄ　（ｔ、）
＝Ｎ−に２□Ｖ　（ｔ）　　　　−（７）を得る。 二のようにソで得た基準クロックＤＣの周波数ｆｄ（ｔ
’）：第２図（ｄ）参照：によってレーザ光源１か七）
発巳た［・−ザビームＬＢがＡＯＭ２で○Ｎ／○ＦＦ変
調され、ポリゴンミラー４、ｆθレンズ５を通して感光
材６上を主走査されるので、感光材６上に形成される主
走査ピンチΔＰ　（ｔ）は、（７）弐を（３）式に代入
し、整理することにより得る。即ち、 ΔＰ　（ｔ）＝に、／　（Ｋ２　・Ｎ）　　　・・・（
８）上式の右辺のに１、Ｋ２は定数であり、Ｎもまた定
数であるから、左辺の主走査ピッチΔＰ（ｔ）は時間に
依存しない定数となる。つまり、このことは、上記装置
によれば、ｆθ特性を犠牲にしたｆθレンズ５を用いて
も、感光材６上での主走査ピンチ八Ｐ（ｔ）を常に一定
に保つことができ、画素密度にむらのない記録が可能な
ことを意味している。尚、第２図（ｅ）は上記（８）弐
の関係をグラフで表している。但し、同図は、主走査ピ
ンチΔＰ　（ｔ）が主走査速度Ｖ（ｔ）を基準クロック
ＤＣの周波数［（１）で除した結果に比例するとして、
第２図（ｂ）と同図（ｄ）とを各時間毎に除算して描い
ている。しかじ、物理的な意味は第（８）式と同じであ
る。 次に、第６図は本発明の他の一実施例を示じている。上
記した実施例では、感光材６上での主走査速度Ｖ（ｔ）
が変化しても主走査ピンチΔＰ（１）を一定に保つこと
ができるが、この場合、主走査速度Ｖ（ｔ）の変化があ
まり大きいと、レーザ光源１の出力パワーを一定にして
も感光材６上には一定の濃度で記録することができず、
濃淡を生じることがある。即ち、感光材６上での主走査
速度Ｖ（ｔ）の変化が大きいと、レーザ光源１の出力パ
ワーが一定であっても、主走査速度■（１）が速いとこ
ろでは単位面積当たりの照射エネルギーが低いために記
録濃度が淡くなるし、逆に主走査速度Ｖ（ｔ）が遅いと
ころでは単位面積当たりの照射エネルギーが高いために
記録濃度が濃くなる。 第６図の実施例は、主走査速度Ｖ（ｔ）の大きな変化に
起因したこのような濃度むらを防止するためＣニ工夫さ
れたものである。そのため、先ず、網点信号発生回路１
０の網点信号発生器１０２とドライバー１０３との間に
乗算処理部１０４を設ける。 また、基準クロック発生回路９の■Ｃ○９７の出力に周
波数・電圧変換器９９を接続し、この周波数・電圧変換
器９９から得る信号を乗算処理部１０４に加えている。 上記構成の動作を第７図の波形図に従って説明する。Ｖ
ＣＯ９７の出力である基準クロックＤＣの周波数ｆｄ　
（ｔ）は第（７）弐に示したように感光材６上でのビー
ムスポットの主走査速度Ｖ（ｔ）に比例しているので、
周波数・電圧変換器９９の出力は第７図（ａ）に示すよ
うに主走査速度Ｖ（１）の波形である第２図（ｂ）と相
似形となる。 一方、網点信号発生器１０２の出力は、画像処理部１０
１から受は取った画像信号を基準クロックＤＣを受は取
る毎に網点変調したもので、通常は数クロックル数÷ク
ロック分のＯＮ状態およびＯＦＦ状態が交互に持続され
るものであり、例えば第７図（ｂ）のような２（ｌ！倍
信号なる。但し、このばては、便宜上画像信号は一定し
ヘルとし、また基準クロックＤＣの周波＠ｆｄ　（ｔ）
も一定周波数として描いている。乗算処理部１０４は、
上記した２つの信号の掛算を行うものである。このため
、乗算処理部１０４の出力に第７図（ｃ）に示す波形が
あられれる。この乗算処理部１０４の出力はドライバー
１０３で高周波変調されてＡＯＭ２に加えられる。ＡＯ
Ｍ２は、この入力に基づきレーザビームＬＢを強度変調
する。強度変調されたレーザビームＬＢを第７図（ｄ）
に示す。この図からもわかるように、感光材６上でのビ
ームスポットの主走査速度Ｖ（ｔ）の速いところ（穴領
域、Ｃ領域）ではＡＯＭ２の出力光は強い。逆Ｃ二主走
査速度Ｖ（ｔ、）の遅いところ（Ｂ　Ｓｉ域）ではＡ　
ＯＭ　２の出力光は弱い。既述したように、もともとレ
ーザビームＬＢのパワーが一定であれば、主走査速度〜
７（ｔ）の速いところは照射エネルギが低く、遅いとこ
ろは照射エネルギーが高いものであるから、上記のよう
にＡＯＭ２の出力光が変化すると、感光材６上全面にわ
たって、照射エネルギーを１句−Ｓ：することができる
。これによって？ζ度むろのない記録が実現する。 光匪皇苅里 以上説明したように本発明によれば、結像スポット径を
小さくして画像を高精細にすると共に、走査角度を大き
くして有効領域を拡大するために４゜ ｆθ特性を犠牲にしたｆθレンズを用いたとしでも、感
光材上での主走査ピンチを常に一定に保つことができ、
その結果、画素密度むらのない、しかも高精細かつ有効
走査幅の広い画像記録装置を得ることができる。 その上、画素密度むらの解消をラインメモリとＰＬＬ回
路という電気的手段によって行っているので、安価に製
作することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の画像記録装置の一実施例を示す全体構
成図、第２図（ａ）〜（ｅ）はｆθ特性がいく分犠牲に
されたｆθレンズを用いて記録担体としての感光材上で
の主走査ピッチを一定にすることのできる理由を説明す
る図、第３図は網点信号発生装置の詳細なブロック図、
第４図はラインメモリのメモリ内容を示す図、第５図は
ラインメモリの出力パルス波形図、第６図は本発明の他
の実施例を示すブロック図、第７図（ａ）〜（ｄ）は第
６図の各部の波形図である。 １・・・レーザ光源、２・・・ＡＯＭ　（変調手段）、
３・・・網点信号発生装置、４・・・ポリゴンミラー（
第１の走査手段）、５・・・ｆθレンズ、６・・・感光
材（記録担体）、７・・・ドラム（第２の走査手段）、
訃・・スタートセンサ（同期手段）、９・・・基準クロ
・ツク発生回路、１０・・・網点信号発生回路、９２・
・・ラインメモリ、９４・・・ＰＬＬ回路。 特許出願人二大日本スクリーン製造株式会社第７ 図 り走骨姓へ （父詠及牧） 旨 手続補正音（自発） 平成３年１２月２０日 特許庁長官　　深　沢　　　亘　殿 １、事件の表示 平成２年特許願第２６５５０８号 ２、発明の名称 画像記録装置 ３、補正をする者 事件との関係　　特許出願人 住所　京都市上京区堀用通寺之内上る４丁目天神北町１
番地の１ 名称　大日本スクリーン製造株式会社 代表者　石１）明 ４、代理人 ◎５３１ 住所　大阪市北区豊崎３丁目２番１号 淀川５番館５Ｆ ６゜ 補正の対象 平成３年１２月１７日提出の手続補正音の図佳の第２図 ７゜ 補正の内容 別紙の通り差し替えます。 口

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）レーザ光源から発されたレーザビームを画像信号
   と基準クロックとに基づき変調する変調手段と、変調さ
   れたレーザビームを主走査方向に走査する第１の走査手
   段と、 前記レーザビームを結像して記録担体表面にビームスポ
   ットを形成するためのｆθレンズと、記録担体を主走査
   方向と直交する方向に相対移動させるための第２の走査
   手段と、 ｆθレンズの特性に起因したビームスポットの主走査速
   度の変化に対応して、前記変調手段に加える基準クロッ
   クの周波数を制御する周波数制御手段と、 １回の主走査の度にレーザビームの主走査開始位置と基
   準クロックの発生開始時期とを同期させる同期手段と、
   を備え、 前記周波数制御手段は、ｆθレンズの入射角と像高の実
   測値又は計算値の関係を少なくとも走査有効領域にわた
   って記憶した１ワード１ビットのラインメモリを基準ク
   ロックの発生源として用い、各主走査開始後の前記入射
   角に比例したアドレス指定信号により前記ラインメモリ
   から読み出される原基準クロックをＰＬＬ回路で逓倍し
   、基準クロックを得る構成であることを特徴とする画像
   記録装置。
2. （２）請求項１の画像記録装置は、更に、基準クロック
   の周波数に比例したアナログ電圧を得るアナログ電圧発
   生手段と、このアナログ電圧を主走査方向の対応する位
   置における画像信号に乗算する乗算処理手段とを備え、
   乗算処理手段から得た信号でレーザビームの強度を変化
   させることを特徴とする画像記録装置。