JP2000085177A - 画像記録装置及び画像記録システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】複数の光源を用いた画像記録装置において、各
ビームスポット位置の誤差により、文字や網点による画
質の劣化が生じる。 【解決手段】複数の光源と、前記光源により露光される
感光体とを有し、前記光源に対応する複数の画像信号の
干渉光量を設定する干渉光量設定部と、前記画像信号を
前記設定された光量成分のみ干渉させる干渉部と、前記
光源に対応する複数の画素クロックの遅延時間を設定す
る遅延時間設定部と、前記画素クロックを前記設定され
た時間のみ遅延させる遅延部と、前記干渉部から出力さ
れた干渉データが前記画素クロックと同期して書き込ま
れ、前記遅延部から出力される遅延データによって、前
記干渉データを前記書き込まれた順番に出力するメモリ
部と、前記メモリ部から出力された干渉データをパルス
幅変調するパルス幅変調部とを設ける。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複数のレーザ光
（マルチレーザビーム）を用いた画像記録装置におけ
る、露光制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】レーザ光を用いた画像記録装置は、他方
式の記録装置と比べ、高速高解像度に記録できるため、
広く普及している。前記画像記録装置では、従来は波長
が780ｎｍ程度の半導体レーザが使われており、一般的
な走査光学系と組み合わせると、記録するビームスポッ
ト径は、５０〜１００μｍ程度となるため、記録装置の
解像度は３００〜６００dpi となっていた。しかし、応
用物理第１６巻，第７号（１９９６年）第６７６頁から
第６８５頁に論じられているような、従来の半分程度の
波長（４２０ｎｍ）の半導体レーザ（ＧａＮ）を使うこ
とにより、記録するビームスポット径を従来の約半分に
することができるため、より高解像度な画像記録装置を
実現することができる。

【０００３】しかし、この場合、走査線密度も同時にあ
げなければならないため、一般に画像記録装置の記録速
度が低減してしまう。例えば、走査線密度３００dpi の
画像記録装置を走査線密度６００dpi に変更するために
は、記録速度を１／２に画素クロックを２倍にしなけれ
ばならない。これを高速にするためには、前記画像記録
装置の回転多面鏡の回転角速度を２倍に画素クロックを
４倍にすれば良いが、高速機の場合、すでにこれには限
界にきているため、特開平8−15623号公報に記載されて
いるような、複数のレーザ光を用いた画像記録装置のよ
うに、走査露光するレーザ光の数を増やすことによって
高速化または高解像度化する画像記録装置が考案されて
いる。

【０００４】一方、従来の１つのレーザ光を用いた画像
記録装置では、特開平8−310057 号公報に記載されてい
るような高画質化手法が考案されている。これは、レー
ザ光を用いた画像記録装置が、主走査方向に連続的にレ
ーザ強度を変調でき、また、色材の付着量をレーザ強度
で増減できる、という特徴を利用して、文字や画像の輪
郭の傾斜部分にぎざぎざが発生しないようにスムージン
グする装置である。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術の特開平
8−310057 号公報では、従来の１つのレーザ光を用いた
画像記録装置に対するものであり、複数のレーザ光を用
いた画像記録装置についての配慮がなされていなかっ
た。

【０００６】複数のレーザ光を用いた画像記録装置で
は、以下２つの問題点が指摘されている。

【０００７】１つは、副走査方向のビームスポット位置
精度が悪くなる問題である。この主要因として下記３点
が考えられる。

【０００８】（１）マルチビームの構造位置精度の影響 （２）光学系横倍率誤差の影響 （３）ポリゴンミラー間の面倒れ誤差の影響 以上述べた３点の主要因により、現状では各ビームスポ
ットの間隔にばらつきを生じてしまう。つまり走査線の
間隔に狭いところと広いところが発生する。われわれは
これを走査線間隔ムラと呼んでいる。走査線間隔ムラは
露光量ムラとなり、これが現像されて可視化された際、
人間の視覚特性にムラとして知覚される点が問題とな
る。

【０００９】走査線間隔ムラの周期は、レーザビーム
数，ポリゴン面数の積に関連して発生する。これと合わ
せて、面積階調を表現する際の階調ディザパターンの副
走査方向周期と上記レーザビーム数，ポリゴン面数の積
に依存して発生しより人間の視覚特性に敏感な低周波領
域に影響を及ぼす。また、マルチビーム各々の発光量ム
ラそのものによっても、問題が発生する。

【００１０】もう１つは、主走査方向のビームスポット
位置精度が悪くなる点である。主走査方向のビームスポ
ット位置は、通常ビーム検知器によって、記録する走査
線の先頭で毎走査線毎に検出される。ビームが１本の場
合はビームスポット強度や強度分布、検知器との相対位
置が一定であるために、ビームスポット位置を高精度に
検出できる。しかし複数ビームの場合、それぞれのビー
ムスポットの強度や強度分布、検知器との相対位置がば
らつくため、主走査方向のビームスポット位置がビーム
毎にばらついてしまう。われわれはこれを走査線ジッタ
と呼んでいる。これらの現象は１本のレーザ光を用いた
画像記録装置では、副走査方向に関しては人間の視覚特
性の許容範囲に押さえられ、主走査方向に関しては発生
しない。つまり、複数ビームの場合特有の問題点であ
り、上記特開平8−310057 号公報では考慮されていな
い。またこのような問題点を解決しないと、上記従来技
術の効果は発揮されない。

【００１１】本発明は、複数のレーザ光を用いた画像記
録装置において、走査線間隔ムラや走査線ジッタのない
高画質高精細な記録画像を得ることを目的としている。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、複数の光源と、前記光源により露光され
る感光体とを有し、前記光源に対応する複数の画像信号
の干渉光量を設定する干渉光量設定部と、前記画像信号
を前記設定された光量成分のみ干渉させる干渉部と、前
記光源に対応する複数の画素クロックの遅延時間を設定
する遅延時間設定部と、前記画素クロックを前記設定さ
れた時間のみ遅延させる遅延部と、前記干渉部から出力
された干渉データが前記画素クロックと同期して書き込
まれ、前記遅延部から出力される遅延データによって、
前記干渉データを前記書き込まれた順番に出力するメモ
リ部と、前記メモリ部から出力された干渉データをパル
ス幅変調するパルス幅変調部とを設けた。

【００１３】干渉光量設定部によりビームスポットの副
走査間隔の位置誤差を判定して、その誤差を補正するの
に必要な干渉光量を設定し、干渉部により、その光量成
分を干渉させ、パルス幅変調部にて変調されることで、
副走査方向の位置を補正でき、遅延時間設定部によりビ
ームスポットの主走査間隔の位置誤差を判定して、その
誤差を補正するのに必要な時間を設定し、遅延部によ
り、その時間を遅延させ、パルス幅変調部により変調さ
れて主走査方向の位置を補正できる。

【００１４】以上より、複数の光源を用いても走査線間
隔ムラや走査線ジッタのない高画質高精細な記録画像を
得ることが出来る。

【００１５】

【発明の実施の形態】（実施の形態１）以下、本発明の
第１の実施の形態を図１〜図１８，図２２〜図２８を用
いて説明する。

【００１６】図２に、一般の画像記録装置の使用環境を
示す。ユーザはコンピュータ等201を使って、記録する
ページの内容を表すページ記述データ２０２を作成す
る。記録が開始されると、ページ記述データ２０２は、
ネットワーク等を伝わって、画像記録装置２００のプリ
ンタのコントローラ２０３に送られる。画像記録装置２
００は、図２に示すように、プリンタのコントローラ２
０３とエンジン２０５とに分けることができる。プリン
タのコントローラ２０３は、ページ記述データ２０２を
ページ毎に内蔵するビットマップメモリ上に画像データ
２０７として展開する。ここで画像データ２０７は、本
実施の形態ではモノクロ２値のレーザプリンタで記録す
ることを仮定し、１画素１ビットに対応するバイナリデ
ータとする。画像データ２０７の展開が完了すると、プ
リンタのコントローラ２０３は画像記録装置２００のエ
ンジン２０５を起動し、その後はエンジン２０５からの
同期信号２０６に従って、画像データ２０７をビデオ信
号２０４としてエンジン２０５に送る。エンジン２０５
はビデオ信号２０４に従って、記録媒体上に実際の画像
を記録する。

【００１７】次に、図３に、図２に示したエンジン２０
５の露光系の詳細な構成を示す。本実施の形態では説明
のため、前記したようにエンジン２０５をモノクロ２値
のマルチビームレーザプリンタであると仮定し、ここで
は本発明に関係する露光系についてのみ説明する。ま
た、レーザ光の本数は４本，回転多面鏡３０２の面数は
８面とする。

【００１８】特開平8−15623号公報に開示されているよ
うに、レーザを４つ設けるか、あるいは１つのレーザか
らのレーザ光を４つに分けるかして、４本のレーザ光３
０１を作り、回転多面鏡３０２に入射する。レーザを４
つ設ける場合は、図３に示すように、レーザ光源３１０
を４つ持つ。レーザ光源３１０は、通常半導体レーザと
そのドライバからなり、外部からビデオ信号ＶＤ１，
２，３，４が入力される。また、１つのレーザからのレ
ーザ光を４つに分ける場合は、図示しないがＡＯ変調器
等を用いて変調する。４本のレーザ光３０１は、図３に
示されるように、感光体３０３の表面上にフォーカスさ
れ、そこで４つのビームスポット走査位置３０６，３０
７，３０８，３０９を形成する。それらは回転多面鏡３
０２の回転と共に、主走査方向に走査される。レーザ光
が４本であるため、１回の走査で４本の走査線３０４が
一度に形成される。従って、感光体３０３は、１回の走
査で４走査線間隔分回転方向に回転する。ここで、感光
体３０３の回転方向とは逆の方向を副走査方向と呼ぶ。
主走査方向と副走査方向とは直交する。感光体３０３上
で、各レーザ光のビームスポットを、副走査方向上流側
からビームスポット１，２，３，４と番号付けする。そ
れらの走査位置は、図３に示されるようにビームスポッ
ト走査位置３０６からビームスポット走査位置３０９と
なる。

【００１９】ここで、本発明が解決しようとする課題
を、再び詳細に説明する。１つは、副走査方向のビーム
スポット位置精度が悪くなる点である。副走査方向のビ
ームスポット位置精度は、光源を複数使う場合は、それ
らの構造精度と回転多面鏡の走査面の組み合わせが問題
となる。たとえば半導体レーザを４つ並べてモールドし
た場合、その４つの発光点が正確に直線上に等距離に並
ばない。また１つの光源を分離して使う場合も同様に４
本の光ビームを正確に発生させることは難しい。これと
合わせて走査面の面倒れ量が面毎にばらつく。上記、構
造上の問題から４本の光ビームは、微妙に副走査方向に
光軸を違えながら、共通の走査光学系を通過するため、
各々の強度や強度分布も違ったものになる。したがって
最終的な感光体３０３上での副走査方向の各ビームスポ
ット位置に誤差が生じ、その結果、走査線３０４の間隔
に狭いところと広いところが発生するのである。

【００２０】図７（１）と（２）に、上記説明した、マ
ルチビームの構造精度の影響による副走査方向のビーム
スポット位置誤差（走査線間隔ムラ）の例を示す。番号
１，２，３，４は、ビームスポット番号である。これら
は、光学系の構造的な誤差のために発生した位置誤差
で、走査線３０４の間隔に粗密のムラが出た場合であ
る。図７（１）は、ビームスポット１，２，３による走
査線３０４の間隔が狭くなり、ビームスポット３，４に
よる走査線３０４の間隔が広くなった場合である。図７
（２）は、ビームスポット１，２，３，４による走査線
３０４の間隔は均等であるが、感光体３０３の回転速度
とあわないためにビームスポット４と１による走査線３
０４の間隔が広くなった場合である。このようなレーザ
光本数を周期とする走査線間隔ムラは、特に中間調を網
点で記録する場合などに、その網点の間隔と周期が一致
あるいは近くなると、モアレ現象等の濃度ムラが発生し
画質を著しく劣化させる。

【００２１】次に、走査線間隔ムラによる網点の濃度ム
ラを図２２に示す。この例は、網点による中間調画像の
なかの明るい部分を示したものである。明るい部分は通
常このように網点の大きさは小さくなっている。さらに
この小さな網点の中心が、副走査方向に図２２に示すよ
うに、走査線本数４本のｎ（＝１，２，３，・・・）倍
の周期のときを考える。図７（１）に示すような走査線
間隔ムラがあると、前記網点が図２２（１）のようにな
る場合と、前記網点が図２２（２）のようになる場合
と、それらの中間の状態が考えられる。図２２（１）の
場合は、網点が小さくなり画像が明るくなってしまう
が、逆に図２２（２）の場合は、網点が大きくなり画像
が暗くなってしまう。ビデオ信号２０４と、走査線間隔
ムラとはもちろん同期がとれていないため、画像中の場
所によって、明るさにムラが出てしまうことになる。ま
た文字の斜線エッジ部等においても同様の現象が起こ
り、滑らかさが悪化し、画質が劣化する。

【００２２】上記問題は、回転多面鏡３０２の構造精度
（面倒れ）によっても引き起こされる。図２９は回転多
面鏡３０２の面傾き精度(面倒れ)による感光体３０３上
でのピッチムラの影響を示したものである。図２９はシ
リンドリカルレンズ２９０３を使用し回転多面鏡３０２
の走査面と感光体３０３を光学的に共役にした完全補正
方式を取っているが、通常、図示した光軸に対して斜め
方向から光を入射するため、図中の回転多面鏡３０２の
光のあたる位置は左右に移動し完全共役系は崩れレンズ
の収差の影響も増大する。この結果、傾いていないミラ
ーからの光線２９０１と傾いたミラーからの光線２９０
２は感光体３０３上でピッチムラδを生じることにな
る。上記は、面倒れの完全補正方式光学系の場合であっ
たが、最近光学系の簡略化に伴って共役系を用いない、
いわゆる不完全補正方式光学系が増加しているが、この
場合は更に影響が大きくなる。本ピッチムラδの特徴と
して、マルチビームの構造精度の影響と回転多面鏡３０
２の構造精度（面倒れ）の影響が複合してレンズ補正収
差として発生しているため、各面によって影響（走査線
間隔ムラ）が異なる。走査線間隔ムラは露光量ムラとな
り、これが現像されて可視化された際、人間の視覚特性
にムラとして知覚される点が問題となる。また、前述し
たように、マルチビーム各々の発光量ムラそのものによ
っても、同様な問題が発生する。

【００２３】更にもう１つは、主走査方向のビームスポ
ット位置精度が悪くなる点である。図３に戻り、これに
ついて説明する。主走査方向のビームスポット走査位置
306〜３０９は、通常ビーム検知器３０５によって、記
録する走査線３０４の先頭で毎走査線毎に検出される。
各走査線３０４の走査開始位置には、ビーム検知器３０
５が設置されており、１走査の先頭において、各ビーム
スポット１〜４は、ビーム検知器３０５をよぎるため、
１走査で４つの異なるビーム検知信号ＢＤが発生する。
通常各ビームスポット走査位置３０６から３０９は、走
査線３０４の間隔を狭くするために、図３に示すように
主走査方向にお互いにかなりずれて作られている。本実
施の形態では、ビームスポット１が一番右にあり、そこ
から左にビームスポット２，３，４と続くものとする。
そこで、ビーム検知器３０５で発生される信号ＢＤは、
まず始めにレーザ光１による信号ＢＤ１、それ以降信号
ＢＤ２，信号ＢＤ３，信号ＢＤ４というように短時間の
うちに４つのパルスが続く。以下、図４から図６を使っ
て、主走査方向のビームスポット位置精度が悪くなる原
因を説明する。

【００２４】図４に、プリンタのコントローラ２０３と
エンジン２０５との同期信号構成図を示す。ここで上記
信号ＢＤは、図２における同期信号２０６に相当する。
プリンタのコントローラ２０３はエンジン２０５から信
号ＢＤを受け、それから信号ＢＤ１，ＢＤ２，ＢＤ３，
ＢＤ４を分離する。この、分け方についても、特開平8
−15623号公報に開示されている。プリンタのコントロ
ーラ２０３は、これら同期信号ＢＤ１，ＢＤ２，ＢＤ
３，ＢＤ４（図示せず）に位相同期した画素クロックＤ
ＣＬＫ１，ＤＣＬＫ２，ＤＣＬＫ３，ＤＣＬＫ４（図示
せず）をそれぞれ作り、更にそれら画素クロックＤＣＬ
Ｋ１，ＤＣＬＫ２，ＤＣＬＫ３，ＤＣＬＫ４に同期し
て、各レーザ光源３１０に対応するビデオ信号ＶＤ１，
ＶＤ２，ＶＤ３，ＶＤ４を、エンジン２０５に送信す
る。

【００２５】図５に、それら同期信号ＢＤ１，ＢＤ２，
ＢＤ３，ＢＤ４と画素クロックＤＣＬＫ１，ＤＣＬＫ
２，ＤＣＬＫ３，ＤＣＬＫ４とビデオ信号ＶＤ１，ＶＤ
２，ＶＤ３，ＶＤ４とのタイミングチャートを示す。そ
れぞれ同期信号ＢＤ１，ＢＤ２，ＢＤ３，ＢＤ４から画
素クロックＤＣＬＫ１，ＤＣＬＫ２，ＤＣＬＫ３，ＤＣ
ＬＫ４までの時間を高精度に一定（Δｔ）に保ち、さら
に画素クロックＤＣＬＫ１，ＤＣＬＫ２，ＤＣＬＫ３，
ＤＣＬＫ４に高精度に同期してビデオ信号ＶＤ１，ＶＤ
２，ＶＤ３，ＶＤ４を送信することにより、各ビームス
ポット走査位置３０６〜３０９の主走査方向の記録位置
を合わせるようにしている。しかしマルチビームの場
合、前記したように各々ビームスポットの強度や強度分
布が違ったものになるし、また、ビーム検知器３０５の
中心と各ビームスポットとの相対位置が異なるし（４本
のビームなら当然内側の２ビームスポットが外側の２ビ
ームスポットより近くなる）、また前記したようにそれ
らの副走査方向位置がばらつくため、ビーム検知信号Ｂ
Ｄと実際のビームスポットの主走査方向位置との関係
が、各ビームスポット毎に異なり、最終的に主走査方向
の位置誤差が生じる。

【００２６】図６に、強度分布が広いビームスポットの
場合（ａ）と、狭い場合（ｂ）における、ビーム検知器
３０５の出力を示す。強度分布の違いは、スポット径の
違い，発光パワー（光強度）の違いにより発生する。ビ
ーム検知器３０５では、まずフォトダイオード等により
入射する光強度をアナログの電気信号に変換し、その後
あるしきい値で２値化し、２値化出力を得る。たとえ両
ビームスポットの中心位置が同じでも、アナログ出力で
は、分布の広い（ａ）より狭い（ｂ）の方が立ち上がり
が急峻となるため、図に示すようなしきい値でアナログ
出力を２値化すると、２値化出力では、（ａ）の方が早
めに立ち上がる。また、一般にビーム検知器３０５の受
光部の感度分布を考慮すれば、ビーム検知器３０５と各
ビームスポットとの相対位置がずれると、同じようにビ
ームスポットの位置誤差を生じることになる。以上によ
り、本発明が解決しようとする課題の説明を終える。

【００２７】以下に上記課題を解決するための本発明の
実施の形態を説明する。

【００２８】まず、図８に、本発明画像記録装置のエン
ジン構成を示す。感光体３０３は、帯電器８０１で一様
帯電され、次に、露光光学系８０２でビデオ信号２０４
に基づき露光され、次に現像機８０４でトナーにより現
像される。また、現像直前に、感光体３０３上の表面電
位を表面電位計８０３により測る。表面電位計８０３
は、１cm四方程度の測定広さが必要で、その領域の平均
電位が測定される。

【００２９】以下では簡単のために、回転多面鏡３０４
の面倒れの影響がない場合について説明する。

【００３０】図９に、本発明の補正手順を示す。画像記
録装置の電源投入時やジョブの合間等に、図９に示され
る本発明補正手順が開始される。まず、露光光学系８０
２により、隣接するビームスポットの副走査方向の位置
誤差を測定するための副走査位置誤差測定用テストパタ
ーンを各隣接するビームスポット毎に感光体３０３上に
露光する。次に露光された感光体３０３上の平均表面電
位を表面電位計８０３により測定する。ビームスポット
位置の副走査方向間隔が狭いビームスポットの組み合わ
せの部分の平均表面電位と、ビームスポット位置の副走
査方向間隔が広いビームスポットの組み合わせの部分の
平均表面電位とは、値が異なるため、これらの大きさを
比較することにより、ビームスポット副走査方向位置の
誤差を算出することができる。これから各ビームのビデ
オ信号をこれに隣接するビームの光量に加算または減算
することにより、ビームスポットの副走査方向の位置を
補正できる。この、加算または減算するビームの光量を
ここでは干渉光量と呼ぶ。次に、隣接するビームスポッ
トの主走査方向の位置誤差を測定するための主走査位置
誤差測定用テストパターンを各隣接するビームスポット
毎に感光体３０３上に露光する。次に、露光された感光
体３０３上の平均表面電位を表面電位計８０３により測
定する。前記同様に、これらの大きさを比較することに
より、ビームスポット主走査方向位置の誤差を算出する
ことができる。これから各ビームのビデオ信号の遅延時
間を加算または減算することにより、ビームスポットの
主走査方向の位置を補正できる。以上により主走査，副
走査両方向のビームスポット位置の誤差がなくなるた
め、高画質高精細な記録画像を得ることができる。以
下、図９の各部分の詳細を説明する。

【００３１】図１０の第２列に、副走査方向位置誤差測
定用テストパターンを示す。実施の形態ではビームスポ
ット１と２との間隔を測定するテストパターンである。
これを実現するためには、露光光学系８０２により、ビ
ームスポット１に対するビデオ信号ＶＤ１およびＶＤ２
（図４参照）を１（黒）とて露光し、他のビームスポッ
ト３，４に対するビデオ信号ＶＤ３，ＶＤ４は０（白）
とし露光しないようにする。これを表面電位計８０３
（図８参照）で計測可能な位置に１cm四方以上の大きさ
で記録すれば、表面電位計８０３で測定可能である。図
１０の第２列（テストパターン）における、楕円で囲ん
だ領域は、露光されて表面電位が下がった部分である。
感光体３０３表面は、露光される前に帯電器８０１によ
り、一般に−６００Ｖ程度に一様帯電される。その後露
光されると、表面電位は降下するが、露光量に対する電
圧降下量は飽和する特性を持っており、かつビームスポ
ットに露光される露光量は、この飽和特性となる程度に
強い。そのため図１０の第２列における、楕円で囲んだ
領域は、ほとんど残留電位と呼ばれる飽和電位（実施の
形態では−５０Ｖ）になる。しかしながら表面電位計８
０３は、走査線毎の電位変化を弁別できるほどの解像性
はなく、平均化されてしまう。図１０の第１列に、走査
線間隔が変動した場合を示す。走査線間隔は４２μｍが
標準Ｂで、狭くなったＡ（３２μｍ）と、広くなったＣ
（５３μｍ）の場合を示している。また、図１０の第３
列に、表面電位計８０３で測定した平均表面電位の一例
を示す。このように走査線間隔が狭いほど平均表面電位
が負の方向に大きくなる理由は、図１０の第２列に示し
たように、露光されて−５０Ｖに低下した楕円で囲んだ
領域と、露光されずに−６００Ｖのままのそれ以外の部
分との場所的な面積比によるものである。図１０の第４
列に、図１０の第２列に示した図から、楕円部の面積を
概算した数字を示す。これが示すように、走査線間隔が
狭いほど露光部面積は小さくなり、そして平均表面電位
が低下しないことが分かる。

【００３２】図１０の第３列に示した平均表面電位は一
例であり、その大きさ自体は帯電，露光等の条件により
変化する。しかし、同一条件で測定した複数の平均表面
電位結果については、走査線間隔と大小関係が逆転する
ことはなく、また平均表面電位が同一であれば、かなら
ず走査線間隔も同一になる。このことを利用すれば以下
のように走査線間隔ムラを補正することができる。

【００３３】また、図１０には、ビームスポット１と２
との間隔を測定するテストパターンをつくり、その表面
電位を測定する場合を示したが、ビームスポット２と
３，３と４，４と１とについても同様に、それらの間隔
を測定するテストパターンをつくり、その表面電位を測
定することができる。

【００３４】次に、図１１（１）に、ビームスポット１
と２，２と３，３と４，４と１との副走査間隔を測定す
るテストパターンに対する、各々の表面電位測定結果Ｖ
１２，Ｖ２３，Ｖ３４，Ｖ４１の一例を示す。この結果
から、２と３の間隔は広く、４と１の間隔は狭いことが
分かる。これを補正して、図１１（２）のように表面電
位Ｖ１２，Ｖ２３，Ｖ３４，Ｖ４１が全て等しくなれ
ば、副走査線間隔は全て標準値の４２μｍになったこと
になる。以下図１２，図２３，図１，図１３，図１４，
図１５を用いて、この補正方法を説明する。

【００３５】図１２に、本発明画像記録装置のシステム
図を示す。プリンタのコントローラ２０３からは、同期
信号ＢＤ１，ＢＤ２，ＢＤ３，ＢＤ４と、それに位相同
期した画素クロックＤＣＬＫ１，２,３,４と、各レーザ
光源３１０に対応するビデオ信号ＶＤ１，ＶＤ２，ＶＤ
３，ＶＤ４とが、本発明の補正回路１２０１に送信され
る。補正回路１２０１は、ビデオ信号ＶＤ１，ＶＤ２，
ＶＤ３，ＶＤ４を補正して補正されたビデオ信号ＶＤｅ
１，ＶＤｅ２，ＶＤｅ３，ＶＤｅ４をエンジン２０５に
出力する回路であり、プリンタのコントローラ２０３の
出力部に配置してもよいし、エンジン２０５の入力部に
配置してもよい。これら信号については、図４，図５に
おいて既に説明したが、本装置では、ビデオ信号ＶＤ
１，ＶＤ２，ＶＤ３，ＶＤ４の送信方法が異なるので、
次に示す。

【００３６】図２３に、本発明の同期信号タイミングチ
ャートを示す。ビデオ信号ＶＤ１，ＶＤ２，ＶＤ３，Ｖ
Ｄ４は全て画素クロックＤＣＬＫ１に同期して送信され
る点が異なる。本発明の補正回路１２０１は、これらの
信号を変調し、さらにそれぞれの画素クロックＤＣＬＫ
１，２，３，４に同期させてビデオ信号ＶＤｅ１，ＶＤ
ｅ２，ＶＤｅ３，ＶＤｅ４を作り、エンジン２０５の各
レーザ光源３１０に供給する。

【００３７】図１に、本発明の補正回路１２０１の構成
を示す。プリンタのコントローラ２０３からのビデオ信
号ＶＤ１，ＶＤ２，ＶＤ３，ＶＤ４は干渉回路１０１に
入力される。干渉回路１０１は、各ビデオ信号間の干渉
光量を設定する手段１０２によって設定された光量成分
だけ各信号相互に干渉させて、それぞれ信号VDd1，ＶＤ
ｄ２，ＶＤｄ３，ＶＤｄ４となる。本回路例では、出力
される信号ＶＤｄ１,ＶＤｄ２，ＶＤｄ３，ＶＤｄ４は
２ビットのデジタル信号となり、その後２ビットのＦＩ
ＦＯ１０３（ファーストインファーストアウトメモリ）
の入力側に送信され、画素クロックＤＣＬＫ１に同期し
ながら書き込まれる。一方、プリンタのコントローラ２
０３からの画素クロックＤＣＬＫ１，ＤＣＬＫ２，ＤＣ
ＬＫ３，ＤＣＬＫ４は遅延回路１０４に入力される。遅
延回路１０４は、各画素クロックの遅延時間を設定する
手段１０５によって設定された時間だけ各画素クロック
を遅延させて、それぞれ画素クロックＤＣＬＫｄ１，Ｄ
ＣＬＫｄ２，DCLKd3，ＤＣＬＫｄ４となる。これらは、
ＦＩＦＯ１０３の出力側に送信され、信号VDd1，ＶＤｄ
２，ＶＤｄ３，ＶＤｄ４を読み出す。ＦＩＦＯ１０３か
らの信号VDd1，ＶＤｄ２，ＶＤｄ３，ＶＤｄ４は、パル
ス変調回路１０６に入力され、変調されたビデオ信号Ｖ
Ｄｅ１，ＶＤｅ２，ＶＤｅ３，ＶＤｅ４となって、エン
ジン205に出力される。干渉回路１０１とパルス変調回
路１０６は、ビームスポットの副走査方向の位置を補正
し、遅延回路１０４とＦＩＦＯ１０３は、ビームスポッ
トの主走査方向の位置を補正する。

【００３８】図１３に、干渉回路１０１の説明図を示
す。干渉回路１０１は、ビデオ信号ＶＤ１，ＶＤ２，Ｖ
Ｄ３，ＶＤ４と干渉光量を設定する手段１０２によって
設定される４×４の実係数行列Ａから、演算により信号
ＶＤｄ１,ＶＤｄ２,ＶＤｄ３，ＶＤｄ４を得るものであ
る。但し、係数ａｉｊは、信号ＶＤｉから信号VDdjへの
信号伝達成分をあわらす（ｉ，ｊ＝１，２，３，４）。
具体的には図１３に示すように、信号（ＶＤ１，ＶＤ
２，ＶＤ３，ＶＤ４）を４×１のベクトルとみなし、こ
れに行列Ａをかければ、４×１の信号ベクトル（ＶＤｄ
１，ＶＤｄ２，ＶＤｄ３，ＶＤｄ）が得られる。行列Ａ
の対角成分（ａｉｉ）以外の成分が、隣接するビームス
ポットへの干渉成分であるため、本回路を干渉回路１０
１と呼ぶ。しかしこれを実現する回路は、増幅器と加算
器といったアナログ回路を使う代わりに、計算機（ＣＰ
Ｕ）や、ＲＯＭ（読み取り専用メモリ）等のデジタル回
路を使うこともできる。

【００３９】図１５に、図１３の行列Ａの係数を設定す
るための補正原理を示す。感光体３０３表面上の、ビー
ムスポット１，２，３とすると、ビームスポット１，
２，３によって露光される走査線１，２，３の副走査方
向位置を横軸に表わす。また、ビデオ信号ＶＤ２によっ
てビームスポット２だけが露光された場合の感光体上の
露光量を縦軸に表わす。また、走査線間隔ムラにより、
走査線１と２は適正走査線間隔より大きく、走査線２と
３は適正走査線間隔より小さくなっている場合である。
図１５（１）に、従来の手法による露光量分布と、それ
により現像機８０４により現像される画素１５０３の位
置を示す。ここでは、現像機８０４により現像されるの
は、露光量が波線で示されるしきい値レベル１５０２を
越えたところであるとすると、現像される画素１５０３
の位置は、露光量分布１５０１がしきい値レベル１５０
２よりも上のところになり、当然走査線３の方に寄って
しまう。

【００４０】そこで本発明装置では、走査線２による画
素の位置を左に寄せるため、走査線２のビデオ信号ＶＤ
２の成分の一部を、走査線１のビデオ信号ＶＤ１の成分
に加算し、走査線２のビデオ信号ＶＤ２の成分は逆に減
算する。図１３の行列Ａの係数で示すと、ａ２２＝０.
７，ａ２１＝０.５となる。この結果、ビームスポット
の強度分布は通常ガウシャン分布となっており、図１５
（２）のように広がっているため、走査線１の露光成分
１５０４と走査線２の露光成分１５０５が光学的に加算
されて、露光量分布１５０６のようになる。従って本発
明により現像される画素１５０７は、露光量分布１５０
６がしきい値レベル１５０２よりも上のところに形成さ
れ、適正な位置になる。

【００４１】図２４に、干渉光量を設定する手段１０２
の一例を示す。図２４（１）は、図１１（１）で示した
電位測定結果である。これより各表面電位Ｖ１２，Ｖ２
３，Ｖ３４，Ｖ４１とその平均値Ｖａ＝（Ｖ１２，Ｖ２
３，Ｖ３４，Ｖ４１）／４との差をとり、各走査線間隔
の大小を判定する。この場合は、走査線２，３間は広
く、走査線４，１間は狭くなっているので、以下、図２
４（２）に示すように干渉光量を決定する。

【００４２】まず、走査線２，３間の補正を行う。補正
量ｄ２３＝Ｖａ−Ｖ２３とし、干渉する係数ａ２３，ａ
３２については補正量にｋ１をかけて、それまでの係数
ａ23，ａ３２に加算する。始めての補正の場合はａ２
３，ａ３２は０とする。さらに係数ａ２２，ａ３３につ
いては補正量にｋ２をかけて、それまでの係数ａ２２，
ａ３３から減算する。始めての補正の場合はａ２２，ａ
３３は１であったとする。ｋ１，ｋ２は、補正頻度や安
定性等を考慮して実験的に定める。これにより、ビデオ
信号ＶＤ２により現像される画素は、走査線２上より走
査線３に近づき、ビデオ信号ＶＤ３により現像される画
素は、走査線３上より走査線２に近づき、両者の間隔は
狭まる。

【００４３】次に、走査線４，１間の補正を行う。補正
量ｄ４１＝Ｖ４１−Ｖａとし、干渉する係数ａ４３，ａ
１２については補正量にｋ１をかけて、それまでの係数
ａ43，ａ１２に加算する。始めての補正の場合はａ４
３，ａ１２は０とする。さらに係数ａ４４，ａ１１につ
いては補正量にｋ２をかけて、それまでの係数ａ４４，
ａ１１から減算する。始めての補正の場合はａ４４，ａ
１１は１であったとする。ｋ１，ｋ２は、補正頻度や安
定性等を考慮して実験的に定める。これにより、ビデオ
信号ＶＤ４により現像される画素は、走査線４上より走
査線３に近づき、ビデオ信号ＶＤ１により現像される画
素は、走査線１上より走査線２に近づき、両者の間隔は
広がる。

【００４４】図１４に、ＲＯＭ１４０１を使用した干渉
回路１０１の一実施例を示す。図１１（１）に示した表
面電位測定結果Ｖ１２，Ｖ２３，Ｖ３４，Ｖ４１は、本
装置ではＡＤ(アナログ−デジタル)変換器１４０２によ
り４ｂｉｔの信号に変換され、ラッチされ、ＲＯＭ１４
０１のアドレスに入力される。まず上記のような演算に
より、行列Ａの係数が決定される。ＲＯＭ１４０１には
さらに、前記１bitのビデオ信号ＶＤ１，２，３，４が
アドレスに入力されている。そこでROM1401は、それら
に、前記行列Ａをかけた結果を２bit の信号ＶＤｄ１，
ＶＤｄ２，ＶＤｄ３，ＶＤｄ４として、データ出力す
る。実際のＲＯＭ１４０１内部には、前記電位測定結果
Ｖ１２，Ｖ２３，Ｖ３４，Ｖ４１およびビデオ信号ＶＤ
１，２，３，４の全ての組み合わせに対する計算結果
を、あらかじめ計算して格納しておく。その後信号ＶＤ
ｄ２，ＶＤｄ３，ＶＤｄ４は、２ビットのＦＩＦＯ１０
３（ファーストインファーストアウトメモリ）によりそ
れぞれ画素クロックDCLKd1，ＤＣＬＫｄ２，ＤＣＬＫｄ
３，ＤＣＬＫｄ４に同期化される。ＦＩＦＯ１０３につ
いては、後述する主走査方向ビームスポット位置補正の
ところで説明するので、ここでは説明を省略する。その
後、ＦＩＦＯ１０３からの信号ＶＤｄ１，ＶＤｄ２，Ｖ
Ｄｄ３，ＶＤｄ４は、パルス変調回路１０６に入力さ
れ、変調された２値のビデオ信号ＶＤｅ１，ＶＤｅ２，
ＶＤｅ３，ＶＤｅ４となる。

【００４５】図２５に、本発明のパルス変調回路１０６
の一例を示す。信号ＶＤｄ１，VDd2，ＶＤｄ３，ＶＤｄ
４は、ＤＡ（デジタル−アナログ）変換器２５０１に入
力される。ＤＡ変換器２５０１は、それらを画素クロッ
クＤＣＬＫ１でラッチし、アナログ信号２５０４に変換
する。一方鋸波形形成装置２５０２では、画素クロック
ＤＣＬＫ１を受けると、次の画素クロックＤＣＬＫ１を
受けるまで、出力電圧を直線的に上昇させ、鋸波形２５
０５を形成する。比較器２５０３は、それらを比較し、
たとえば、アナログ信号２５０４が鋸波形２５０５より
も大きいときに、２値信号ＶＤｅ１を１で出力し、それ
以外のときに０で出力する。

【００４６】図２６に、上記説明したパルス変調回路１
０６の、変調結果を示す。図２５の画素クロックＤＣＬ
Ｋ１,アナログ信号２５０４と鋸波形２５０５,信号ＶＤ
ｅ１と、実際に現像される画素の形状を示す。本装置例
では、画素クロックDCLK1 の間に、パルスを１つ発生
し、その幅を変調したため、レーザ光源３１０の応答性
に余裕がないときに好適である。レーザ光源３１０の応
答性が十分速い場合は、画素クロックＤＣＬＫ１の間
に、パルスを２つ以上発生し、その幅を変調することも
可能で、その場合、横線がなめらかに記録できる。ま
た、レーザ光源３１０が、アナログ入力可能な装置の場
合は、アナログ信号２５０４を直接ＶＤｅ１として出力
すればよい。

【００４７】以上により、走査線間隔ムラ（各ビームス
ポット１，２，３，４の副走査方向位置誤差）のない、
高画質高精細な画像を形成することができる。

【００４８】これが達成された上で、次に各ビームスポ
ット１，２，３，４の主走査方向位置誤差を補正する。

【００４９】まず、隣接するビームスポットの主走査方
向の位置誤差を測定するための主走査位置誤差測定用テ
ストパターンを各隣接するビームスポット毎に感光体３
０３上に露光する。

【００５０】図１６の第２列に、主走査方向位置誤差測
定用テストパターンを示す。実施の形態ではビームスポ
ット１と２との間隔を測定するテストパターンである。
これを実現するためには、露光光学系８０２により、ビ
ームスポット１に対するビデオ信号ＶＤ１を画素クロッ
クＤＣＬＫ１毎に１０００(１は黒、０は白)の繰り返し
とし、ビームスポット２に対するビデオ信号ＶＤ２を画
素クロックＤＣＬＫ２毎に０１００の繰り返しとして露
光し、他のビームスポット３，４に対するビデオ信号Ｖ
Ｄ３，ＶＤ４は０（白）とし露光しないようにする。こ
れを表面電位計８０３（図８参照）で計測可能な位置に
１cm四方以上の大きさで記録すれば、表面電位計８０３
で測定可能である。図１６の第２列における、楕円で囲
んだ領域は、露光されて表面電位が下がった部分であ
る。感光体３０３表面は、露光される前に帯電器８０１
により、一般に−６００Ｖ程度に一様帯電される。その
後露光されると、表面電位は降下するが、露光量に対す
る電圧降下量は飽和する特性を持っており、かつビーム
スポットに露光される露光量は、この飽和特性となる程
度に強い。そのため図１６の第２列における、楕円で囲
んだ領域は、ほとんど残留電位と呼ばれる飽和電位（実
施の形態では−５０Ｖ）になる。しかしながら表面電位
計８０３は、走査線毎の電位変化を弁別できるほどの解
像性はなく、平均化されてしまう。

【００５１】そして図１６の第１列に、走査線間隔が変
動した場合を示す。実施の形態では、ずれのない適正位
置の場合が標準Ｂで、左にずれたＡ（２０μｍ）と、右
にずれたＣ（２０μｍ）の場合のパターン露光結果を示
した。また、図１６の第３列に、表面電位計８０３で測
定した平均表面電位の一例を示す。このように平均表面
電位はビームスポット２が１に対して左にずれるほど負
の方向に大きくなる。その理由は、図１６の第２列に示
したように、露光されて−５０Ｖに低下した楕円で囲ん
だ領域と、露光されずに−６００Ｖのままのそれ以外の
部分との場所的な面積比によるものである。図１６の第
４列に、図１６の第２列に示した図から、楕円部の面積
を概算した数字を示す。これが示すように、ビームスポ
ット２が１に対して左にずれるほど露光部面積は小さく
なり、そして平均表面電位が低下しないことが分かる。

【００５２】図１６の第３列に示した平均表面電位は一
例であり、その大きさ自体は帯電，露光等の条件により
変化する。しかし、同一条件で測定した複数の平均表面
電位結果については、ビームスポット２と１の相対的主
走査方向距離と大小関係が逆転することはなく、また平
均表面電位が同一であれば、かならずビームスポット２
と１の相対的主走査方向距離も同一になる。このことを
利用すれば以下のようにビームスポットの主走査方向位
置誤差を補正することができる。

【００５３】また、図１６には、ビームスポット１と２
との相対的主走査方向距離を測定するテストパターンを
つくり、その表面電位を測定する場合を示したが、ビー
ムスポット２と３，３と４，４と１とについても同様
に、それらの相対的主走査方向距離を測定するテストパ
ターンをつくり、その表面電位を測定することができ
る。

【００５４】図１７（１）に、ビームスポット１と２，
２と３，３と４，４と１との相対的主走査方向距離を測
定するテストパターンに対する、各々の表面電位測定結
果Ｖ１２，Ｖ２３，Ｖ３４，Ｖ４１を示す。この結果か
ら、２と３の相対的主走査方向距離は長く、４と１の距
離は短いことが分かる。これを補正して、図１７（２）
のように表面電位Ｖ１２，Ｖ２３，Ｖ３４，Ｖ４１が全
て等しくなれば、相対的主走査方向距離は全て１画素の
標準幅の４２μｍになったことになり、つまり全てのビ
ームスポット１，２，３，４の主走査方向位置はずれが
ないことになる。以下この補正方法について説明する。

【００５５】図２７に、本発明の遅延時間を設定する手
段１０５の一例を示す。図２７(１)は、図１７（１）で
示した電位測定結果である。これより各表面電位Ｖ１
２，Ｖ２３，Ｖ３４，Ｖ４１とその平均値Ｖａ＝(Ｖ１
２，Ｖ２３，Ｖ３４，Ｖ４１)／４との差をとり、各主
走査方向距離の大小を判定する。この場合は、表面電位
Ｖ２３がＶａより低いことにより、ビームスポット２に
対して３は右にずれており、表面電位Ｖ４１がＶａより
高いことにより、ビームスポット４に対して１は左にず
れているので、以下、図２７（２）に示すように遅延時
間を決定する。

【００５６】まず、ビームスポット２，３間の主走査方
向位置補正を行う。補正量ｄ２３＝Ｖａ−Ｖ２３とし、
遅延時間ｔ２，ｔ３については補正量にｋ１をかけて、
それまでの遅延時間ｔ２に加算し、ｔ３から減算する。
始めての補正の場合はｔ２，ｔ３は０であったとする。
ｋ１は、補正頻度や安定性等を考慮して実験的に定め
る。これにより、ビデオ信号ＶＤ２により現像される画
素と、ビデオ信号ＶＤ３により現像される画素は、主走
査方向の位置誤差がなくなる。

【００５７】次にビームスポット４，１間の主走査方向
位置補正を行う。補正量ｄ４１＝Ｖ４１−Ｖａとし、遅
延時間ｔ４，ｔ１については補正量にｋ１をかけて、そ
れまでの遅延時間ｔ４から減算し、ｔ１に加算する。始
めての補正の場合はｔ４，ｔ１は０であったとする。ｋ
１は、補正頻度や安定性等を考慮して実験的に定める。
これにより、ビデオ信号ＶＤ４により現像される画素
と、ビデオ信号ＶＤ１により現像される画素は、主走査
方向の位置誤差がなくなる。

【００５８】続いて遅延時間の正数化を行う。実際の遅
延素子は負の遅延時間を作れないため、簡単な演算によ
り正数化を行う。前記遅延時間ｔ１，ｔ２，ｔ３，ｔ４
のなかで最も小さな数をｔｍとすれば、各時間ｔ１，ｔ
２，ｔ３，ｔ４からｔｍを引いた時間Ｔ１，Ｔ２，Ｔ
３，Ｔ４は正数となる。さらに実際の遅延素子は、最小
遅延時間が０より大きいものが多いが、これについても
ｔｍをより小さくとることにより、同様に遅延時間Ｔ
１，Ｔ２，Ｔ３，Ｔ４を大きくできる。ここで、画像全
体が時間ｔｍの分だけ主走査方向にずれるが、通常この
ずれは１画素以下になるため、画像を記録中に補正しな
ければ問題ない。本実施例装置は、６００dpi であり１
画素は、４２μｍであり、これを５０ｎsec で走査して
いる。図１７（１）のような結果に対し、遅延時間はＴ
１＝２８，Ｔ２＝２８，Ｔ３＝８，Ｔ４＝８(ｎsec）と
設定され、ビームスポット１，２の位置が主走査方向に
１７μｍ程度補正される。

【００５９】図１８に、ＲＯＭ１８０１を使用した遅延
時間を設定する手段１０５および遅延回路１０４の一例
を示す。図１７（１）に示した表面電位測定結果Ｖ１
２，Ｖ２３，Ｖ３４，Ｖ４１は、本装置ではＡＤ(アナ
ログ−デジタル)変換器1802により４bit の信号に変換
され、ラッチされ、ＲＯＭ１８０１のアドレスに入力さ
れる。ＲＯＭ１８０１は、上記のような演算により、設
定する遅延時間Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３，Ｔ４を決定し、４bi
t の信号として、遅延回路１０４にデータ出力する。実
際のＲＯＭ１４０１内部には、前記電位測定結果Ｖ１
２，Ｖ２３，Ｖ34，Ｖ４１の全ての組み合わせに対する
計算結果を、あらかじめ計算して格納しておく。遅延を
設定する手段１０５は、通常のタップが１６個付いた遅
延線と、４bit の遅延時間信号Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３，Ｔ４
により、前記タップから出る１６種類の遅延信号から１
つを選択出力するセレクタからなる。本装置において
は、８，１２，１６，２０，...，６８ｎsecが選択でき
る遅延回路１０４を用いた。これにより、画素クロック
ＤＣＬＫ１，２，３，４は、各々時間Ｔ１，Ｔ２，Ｔ
３，Ｔ４だけ遅延されて画素クロックＤＣＬＫｄ１，
２，３，４となり、FIFO103の出力を制御する。

【００６０】図２８に、本発明のＦＩＦＯ１０３の一実
施例を示す。書き込みアドレスカウンタ２８０１は、同
期信号ＢＤ１によりゼロクリアされ、画素クロックDCLK
１によりカウントアップする。画素クロックＤＣＬＫ１
に同期して入力されるビデオ信号ＶＤｄｉ(ｉ＝１，
２，３，４)は、一時入力バッファ２８０２に格納され
たあと、メモリ２８０３の書き込みアドレスカウンタ２
８０１が示すアドレスに書き込まれる。一方、読み出し
アドレスカウンタ２８０４は、同期信号ＢＤｉによりゼ
ロクリアされ、画素クロックＤＣＬＫｄｉによりカウン
トアップする。この結果、メモリ２８０３の読み出しア
ドレスカウンタ２８０４が示すアドレスに書き込まれて
いた格納されていたビデオ信号ＶＤｄｉが、一時出力バ
ッファ2805に格納されたあと、画素クロックＤＣＬＫｄ
ｉに同期して出力される。FIFO103 は、決められた周波
数以下であれば、書き込み時の画素クロックＤＣＬＫ１
と読み出し時の画素クロックＤＣＬＫｄｉとは、完全に
非同期で動作する。これにより、画素クロックＤＣＬＫ
１に同期していた全てのビデオ信号ＶＤｅ１，ＶＤｅ
２，ＶＤｅ３，ＶＤｅ４は、ＦＩＦＯ１０３の後では、
それぞれ、前記により主走査方向の誤差が補正された、
それぞれのビームスポット毎の画素クロックDCLKd1，
２，３，４に同期するようになる。これにより、エンジ
ン２０５で記録すると各ビームスポットの主走査方向の
位置誤差である、ジッタのない、高画質高精細な画像を
形成することができる。

【００６１】以上が回転多面鏡３０２の面倒れの影響に
よる走査面間の差異を考慮しない場合である。上述の制
御であっても、各面の影響が平均化され画質向上が望め
るが、本制御がリアルタイムでできることを利用して、
面毎に制御を行いより高精度な制御を行う手法も考えら
れる。具体的な回路構成例としては、図１４と同じ構成
で、走査面の数だけ繰り返す手法が考えられる。ハード
負荷は軽いものの、制御精度は劣ることとなる。実用的
には、図１４のような実際の干渉回路１０１を走査面数
だけ持ち、走査面毎に切り換える方法が考えられる。こ
れは、各面のデータを保存しておくためと、１回だけの
制御では感光体の周方向バラツキ，感光体キズ等の影響
を大きく被る可能性があり、複数回繰り返すことで収束
性を確認することが有効なためである。この際の制御シ
ーケンスを図３０に示す。本制御により、各面において
複数ビームのピッチムラがなくなることになる。

【００６２】次に考えうることは、上記制御により各面
ではピッチムラがなく、かつ所定間隔の走査線間隔が実
現できるが、面倒れの影響により面単位でずれている点
である。この点に関しては、例えば単純のために４面の
走査ミラーを考えると、４ビーム（一面分）を一単位と
考え、これまで説明してきたビームを走査面に置き換え
て考えれば、全く同じテストパターンと制御回路で面間
の補正量が導けることは容易に推察できる。図３１に制
御シーケンスの一実施例のみ示す。先ず面内における制
御を終えたのち、面間の制御に移る。これまでは、制御
を行う課題対象としてグレイレベルのムラを上げてきた
が、本制御程度になるとビーム数×走査面数、さらにデ
ィザパターンピッチまで考慮すると、ビーム数×走査面
数×ディザパターンピッチというかなり人間の視覚特性
に敏感な低周波成分を含むこととなり、より正確な制御
が求められることとなる。

【００６３】以上で本発明の補正手順は終了する。これ
により、各ビームスポットの主走査方向および副走査方
向の位置誤差がなくなるため、高精細高画質な記録画像
が得られるようになる。本補正手順では、副走査方向の
位置誤差補正を先にやり、その後、主走査方向の位置誤
差補正を施しているが、この順序は逆にすることはでき
ない。なぜなら、副走査方向の位置誤差補正用テストパ
ターンは、主走査方向に位置誤差があっても正確に測定
可能であるが、主走査方向の位置誤差補正用テストパタ
ーンは、副走査方向に位置誤差があると測定不可能だか
らである。また、これを、１回で終わりにすることもで
きるが、数回繰り返してその収束性を見れば、より精度
が向上する。また、しばらく通常の印刷を何ページかし
たあと、再び本補正手順で補正すれば、環境変動等によ
る位置誤差も補正することができる。また、本補正手順
では、テストパターン露光した部分の表面電位を測定す
るもので、現像したり転写したりする必要がないため、
トナー等の色材や、用紙等の記録媒体を無駄にしない。
また、表面電位計８０３は、従来の多くの装置に既に実
装されているため、エンジン２０５に新たな改造をする
ことなく実施できる。

【００６４】以上、制御的な面を中心に説明してきた
が、これを支える光学系ハードウェア上のポイントを以
下に説明する。

【００６５】先ず光源であるが、光学系組立の容易さ，
小型化，制御の容易さの見地から、今後は半導体レーザ
アレイ光源が主流になってくると思われる。図３２は劈
開型のレーザアレイの一構成例である。一般的な形のた
め詳細な説明は省略するが、ｐ−電極３１０９〜３１１
２からの電流注入により発光パワーを制御する。この
際、光学倍率（半導体レーザアレイの発光点と感光体上
でのスポット径の関係）によるレーザの配置が重要であ
る。通常の発光点３１１３〜３１１６の間隔は１００μ
ｍ程度であり発光点３１１３〜３１１６の大きさは５μ
ｍ程度である。これを感光体３０３上に５０μｍ程度の
スポット径として集光しようとすると光学倍率，出射ビ
ーム広がり角等の関係より発光点間隔は１mm程度とな
る。飛越走査という手法もあるが、１mmという副走査間
隔は余りに大きすぎる。そこで、図３３に示すように９
０゜近く倒した形で感光体３０３での走査線間隔が所定
値となるよう使用することになる。本図３３は６００dp
i の例であり、走査線の間隔が４２μｍになっている。
この際、各走査線間でばらつきが生じることになるが、
図１の遅延回路１０４に１，２，３mm分のオフセット時
間を設定することで、この問題を解消できる。本構成を
取ることの最大のメリットは、副走査方向の構造ばらつ
きを大幅に低減できることである。具体的には、図３２
の如く使用した際に生じる副走査方向のピッチムラδは
δtanθ に大幅に低減でき、製造面での負荷を軽くする
ことを可能とする。上述した半導体レーザアレイと本特
許での制御を組み合わせることで、より高精度な制御を
実現できる。ここで逆に考えるなら、本実施例のように
テストパターンを作りフィードバック制御をかける構成
は、初期の微妙な調整に利用できるし、その調整を容易
にする点でも有力である。例えば図３４に示すように、
レーザアレイ３１００に対してモニタPD3301はレーザ出
射面の後方に設置されるが、レーザ出射角が大きいため
中央部のレーザと端のレーザでは、同じ発光パワーで
も、モニタ値は異なってくる。図中からもわかるよう
に、各レーザ毎にモニタＰＤ３３０１を付けることが理
想であるが、実装上不可能に近い。となると、時分割で
光量のフィードバック制御を掛けることになるが、各レ
ーザから発光が、等しいパーセンテージのモニタＰＤ３
３０１に入射するように配置することも、実装上極めて
難しい。そこで、感光体の表面電位検知からのフィード
バックでモニタＰＤ３３０１への光利用効率を判断する
ことが考えられる。レーザパワーの差は前述したライン
同期センサの立ち上がり特性に敏感に反応するため、シ
ビアな制御が必須であり、これを決定する要素は、レー
ザアレイ，モニタＰＤ，回転多面鏡，光走査用レンズ，
ＢＤセンサ等の性能や配置関係が微妙に絡まっている。
これらを、実際の潜像を測定しフィードバック制御もし
くは露光量により補正することは、トータルな系を簡易
に最適値に近づける手法として極めて有力である。

【００６６】次に、図３７にレーザアレイ初期特性測定
シーケンスの一実施例を示す。個々のレーザ特性を、感
光体の飽和特性でない光量（例えば半減露光量）による
ベタ露光をテストパターンとしてフィードバック制御を
かけ、レーザ個別の性能，配置の影響等の問題を解決
し、正確な初期設定を行わんとするものである。テスト
パターンを種々光量レベルを替えたり、温度変化等の環
境影響を除くまで、値が収束するまでフィードバック制
御を掛けることが有力である。

【００６７】近年、レーザ製作手法の向上により、出射
広がり角が小さく、発光間隔が１０μｍ程度の面発光レ
ーザが開発されており、感光体上のスポット間隔が４０
０dpi 相当（６０μｍ程度）のレーザが開発されてい
る。本レーザを用いれば半導体レーザアレイを傾けない
でも、飛び越し走査を用いて、高解像度の光学系を実現
することが可能である。図３５は４つの発光点を有する
レーザアレイを用いた飛び越し走査の一例である。本方
式に本発明が適応できることは容易に推測ができる。本
方式は、先述したレーザアレイを大きく傾けた場合に比
較して、レーザを実装しやすい利点はあるが、レーザ間
の誤差がダイレクトに走査線間隔ムラに影響する。今後
は更なる高解像度化が図られることと考え合わせるとし
て設計性能にディペンドした手法には限界があると思わ
れる。ここまで本発明の中で述べてきた副走査方向の線
間を調整できる光量制御が、極めて有力であると考えら
れる。

【００６８】また、レーザ数，ポリゴン面数，面積階調
を行うセル副走査方向の画素数の関係が重要である。各
種補正は加えるものの、副走査方向のムラを完全に押さ
えることは不可能であり、前述の３つの要因の最小公倍
数のムラが画像に生じることになる。人間の視覚特性に
関連し、上記最小公倍数が低周波になることは得策でな
い。ところで人間のVisual Transfer Functionとして図
３６に示すように知られている。４line pais／mm 以上
の高い周波数画像については、認識することが難しくな
る。そこで、単純には上記最小公倍数が４line pais／m
m 以上になれば、人間の視覚特性上問題ないことになる
が、ある程度幅を持った連続的な階調画像の場合には、
やはり問題となる。例えばプリンタ解像度６００dpi
（２４本／mm），ポリゴン８面と考えると、これだけで
４line pais／mm になってしまう。そこで、レーザ数，
ポリゴン面数，面積階調を行うセル副走査方向の画素数
に立ち返り、この最小公倍数が小さいほど望ましい。具
体的例を上げると、高速機の回転多面鏡（ポリゴン）面
数は走査角との兼ね合いから８面が一般的である。なら
ば、レーザ数を４とし、面積階調を行うセル副走査方向
の画素数を４ないし８とすることが有力である。また、
ポリゴン面数が６面なら、レーザ数を３ないし６とし、
面積階調を行うセル副走査方向の画素数を３ないし６と
することが有力である。つまり、３つの値の最大値に対
し、残りの数字は整数で割り切れる値にすることが重要
である。ここで、このような設定を行った場合の最大数
は、最小公倍数の値に等しくなるから、レーザ数を増や
すことで、ポリゴン面数を低減し、最小公倍数の値を押
さえることは有力である。この際、レーザ数を増やすこ
とは、レーザの精度誤差の問題が大きくなることを意味
する。このことからも、本文中に述べてきた露光量制御
は極めて有力である。また、走査線の位置を自由に設定
できる本方式は、それ以外の方式と比較して、設計の自
由度が大きいことは言うまでもない。

【００６９】また、これまで述べてこなかったムラ要因
として、走査面副走査方向の移動速度の誤差が考えられ
る。このメカニカルな感光体送りムラが原因になる。温
湿度等の影響によるロングスパンの移動誤差は、これま
で説明してきた内容の中で、吸収可能である。ただし、
振動等の影響によるショートスパンの移動誤差は、イン
パルス的なジッタでない限り、ポリゴン面数とレーザ数
の関数となり、本発明の補正制御で大幅に低減可能であ
る。また、メカを駆動する基本クロック源とポリゴンを
駆動するクロック源は別にした方が、同期をずらすとい
う意味で振動ムラに強い系が組める。

【００７０】また、主走査方向ムラに関連したビーム検
知器３０５でのＢＤ信号発生手段であるが、従来のＢＤ
信号発生手段は図６に示したように、スレショルドによ
る２値化を行っていた。マルチビームを使用する場合、
ビーム径の広がりの差（像面湾曲誤差，レーザ間の固有
誤差），レーザパワーの差等が複合的に絡まり、文中で
説明してきた手法では、ソフト的な負荷が大きくなりす
ぎる。そこで、ＢＤ信号の立ち上がりを２値化しきい値
とするのではなく、ピークホールド回路を用い、ピーク
パワータイミングを持って２値化出力を立ち上げる手法
が極めて有力である。この際、アナログ出力が飽和する
なら、センサ前に光量フィルタを付けて飽和を防止する
ことが有力である。ピークパワータイミングを持って２
値化出力を立ち上げることで、レーザ間のスポットの広
がり，パワーの誤差を吸収することが可能となり、文中
で述べたソフト的な補正手法の負荷および精度を著しく
向上させることができる。

【００７１】（実施の形態２）以下、本発明の第２の実
施の形態を図８，図１０，図１６，図１９を用いて説明
する。

【００７２】まず図８の本発明画像記録装置の一実施例
を用いて説明する。前実施の形態では、テストパターン
の測定手段として、図８に示す、表面電位計８０３を使
用したが、本実施の形態では、光学式濃度センサ８０５
によって、テストパターンの露光結果を測定する。露光
光学系８０２で、位置誤差測定用テストパターンを感光
体３０３上に露光し、現像機８０４でトナー現像する。
その後、光学式濃度センサ８０５で付着したトナーの濃
度を測定する。この際、表面電位計８０３，光学式濃度
センサ８０５は汚れやすく測定誤差を引き起こしやすい
から、シビアな制御を長時間続けることは難しい。そこ
で、交換用の現像もしくはトナーカートリッジと一体型
に構成し、一定枚数毎に交換する形態とすることも考え
られる。図１９（１）に、光学式濃度センサ８０５の一
構成例を示す。発光部１９０１は、通常指向性の絞られ
たＬＥＤが使われる。受光部１９０２，１９０３も、指
向性の絞られたＰＤ１，２（フォトダイオードまたはフ
ォトトランジスタ）が使われる。受光部１９０２は拡散
反射成分、受光部１９０３は正反射成分を受光する。こ
のどちらか、あるいはこれらの中間の位置を使うかは、
感光体３０３表面やトナーの反射特性，受発光部の指向
性等により、最も信号変化が大きくなるところを設定す
る。本実施の形態では図１９（２）に示すように、両者
１９０２，１９０３の信号を適当に演算することによっ
て出力を得ている。但し、通常指向性がそれほど絞られ
ていないので、１cmφ程度の領域を平均した値が測定さ
れる。

【００７３】図１０，図１６の表の右端に光学濃度の欄
があるが、それらが、実際の測定結果である。単位は光
学反射濃度に換算してある。従って、図９に示した「感
光体平均表面電位測定」の項目２カ所は、「感光体上ト
ナーの平均光学濃度測定」に置き換えられる。他の手順
は、前記実施形態と同様である。

【００７４】本実施の形態で示した感光体上トナーの平
均光学濃度による測定方法は、感光体平均表面電位を測
定するのに比べて、テストパターンを現像するためにト
ナーを消費したり、測定後に感光体上のトナーをクリー
ニングしなければならず、エンジン２０５に負荷がかか
るものの、正確に測定できる利点がある。以下にその理
由を説明する。

【００７５】現像機８０４の、現像特性（表面電位−ト
ナー付着量）は、通常、前記した感光体３０３の露光特
性（露光量−表面電位）よりも、もっと顕著な飽和特性
を持っている。さらに光学式濃度センサ８０５の光学特
性（トナー付着量−光学反射率）も同様に飽和特性を持
っている。そこで、図１０，図１６のテストパターンに
示した露光部が、前記露光特性，現像特性，光学特性を
へて、光学式濃度センサ８０５の信号になるときには、
もはや、あるしきい値で２値化される完全な２値特性
（露光量−光学反射率）になる。２値化特性は、一般に
濃度変動などのノイズに強い測定になる。これは多くの
電子写真プロセスで共通の現象であり、感光体上にでき
たトナー像をカメラ等で撮影してから顕微鏡濃度計で測
定すれば容易に確認できる。従って、図１６の第５列に
示す平均光学濃度は、第３列に示す露光面積率に対しリ
ニアに変化するようになる。その結果、本実施の形態で
は、感光体表面電位を使った前記実施の形態よりも、さ
らに正確でかつノイズに強い、ビームスポットの位置ず
れが測定できる。

【００７６】以下、本発明の第３の実施の形態を図２
０，図２１を用いて説明する。今までの実施形態では、
実際に記録される走査線間隔が、エンジン２０５で決め
られた標準の走査線間隔になることが目的であった。本
実施形態では、実際に記録される走査線間隔が、エンジ
ン２０５で決められた標準の走査線間隔以外のある間隔
になることが目的である。例えば本装置は解像度が６０
０dpi（ドット／インチ)であるから、標準の走査線間隔
は４２.３μｍであるが、これを例えば４８０dpiの走査
線間隔５２.９μｍ にすることを目的とする。この標準
の走査線から作った仮想の走査線をここでは仮想走査線
と呼ぶ。

【００７７】図２０（１）に、走査線位置の補正説明図
を示す。本実施例装置は、解像度６００dpi(ドット／イ
ンチ）の５本のレーザ光のマルチビームレーザプリンタ
である。本実施の形態では走査線位置ずれがないものと
し、実線がそれぞれスポット１，２，３，４，５による
標準の走査線１，２，３，４，５を示す。全ての走査線
間隔は４２.３μｍ である。図２０（２）には、目的と
する、４８０dpi の仮想走査線を示し、便宜的に図に示
すように、４本を周期とする繰り返し番号を仮想走査線
１，２，３，４，１，２・・・のように付けた。間隔は
５２.９μｍである。破線は、標準走査線と仮想走査線
の位置関係を明確にするために便宜的に５.３μｍ 毎に
引いたものである。従って６００dpi の標準走査線では
破線８本毎、４８０dpi の仮想走査線では破線１０本毎
に、走査線になる。

【００７８】図２０から分かるように、仮想走査線１
は、標準走査線１，２の間にあるのだから、本発明にお
いて、標準走査線１を、図中下方向（標準走査線２の
方）に１５.３μｍ ずらせばよい。これは、図１の干渉
回路１０１によって、ＶＤ１の信号をＶＤｄ１とＶＤｄ
２に分ければ実現する。具体的には、図１５に示したよ
うに行列Ａ（但し５×５に拡張したもの）の係数ａ１２
を増やし、その分ａ１１を減じればよい。

【００７９】同様に、仮想走査線２は、標準走査線２，
３の間にあるのだから、本発明において、標準走査線２
を、図中下方向（標準走査線３の方）に１５.９μｍ ず
らせばよい。これは、図１の干渉回路１０１によって、
ＶＤ２の信号をＶＤｄ２とＶＤｄ３に分ければ実現す
る。具体的には、図１５に示したように行列Ａ（但し５
×５に拡張したもの）の係数ａ２３を増やし、その分ａ
２２を減じればよい。また、仮想走査線３は、標準走査
線３，４の間にあるのだから、本発明において、標準走
査線４を、図中上方向（標準走査線３の方）に１５.９
μｍ ずらせばよい。これは、図１の干渉回路１０１に
よって、ＶＤ４の信号をＶＤｄ３とVDd4に分ければ実現
する。具体的には、図１５に示したように行列Ａ（但し
５×５に拡張したもの）の係数ａ４３を増やし、その分
ａ４４を減じればよい。

【００８０】更に、仮想走査線４は、標準走査線４，５
の間にあるのだから、本発明において、標準走査線５
を、図中上方向(標準走査線４の方)に５.３μｍ ずらせ
ばよい。これは、図１の干渉回路１０１によって、ＶＤ
５の信号をＶＤｄ４とＶＤｄ５に分ければ実現する。具
体的には、図１５に示したように行列Ａ（但し５×５に
拡張したもの）の係数ａ５４を増やし、その分ａ５５を
減じればよい。

【００８１】ここで、信号ＶＤ３には、なにも信号が入
力されないが、信号ＶＤｄ３には、信号ＶＤ２とＶＤ４
から干渉する光量成分ａ２３，ａ４３があるため、標準
走査線３上のビームスポット３も、発光する。

【００８２】図２１に、ＲＯＭによる干渉回路１０１の
他の実施例を示す。ＲＯＭには各ビームスポットに対応
するプリンタのコントローラ２０３からの５本のビデオ
信号ＶＤ１，２，３，４，５と、変換すべき解像度に関
する信号ＲＥＳ（実施の形態では４bit)が入力されてい
る。４８０dpi の場合は信号ＲＥＳにより適宜指示され
る。本実施の形態では、前実施の形態と異なり、記録中
の任意の時点で信号ＲＥＳを切り替えることができる。
但し、４８０dpi に変換する実施の形態の場合は、上記
したように、プリンタのコントローラ２０３からのビデ
オ信号ＶＤ１，２，３，４，５のうちＶＤ３は常にオフ
の信号となり、実質的にＶＤ１，２，４，５の４本の信
号に入力される。ＲＯＭの中には、入力されるビデオ信
号VD1,２，３，４，５及び信号ＲＥＳの全ての組み合わ
せに対する出力信号ＶＤｄ１，２，３，４，５をあらか
じめデータとして格納してある。上記、行列Ａの係数に
ついても、前実施の形態同様に実験により求めておく。

【００８３】本実施の形態により、６００dpiのエンジ
ン２０５により、４８０dpiの画像データ２０７を直接
に記録することができる。但し、主走査方向の解像度
は、レーザプリンタの場合、画素クロックＤＣＬＫの周
波数を変えるだけでよいことが周知であることから、こ
こでは説明を省略する。４８０dpi の画像データ２０７
を６００dpi の画像データ２０７に、計算により変える
方法に比べ、本実施形態では、線幅が正確になるし、網
点中間調画像にモアレが入らないなど、高画質な記録画
像が得られる特長がある。また、本実施形態と、走査線
間隔を補正する前記した実施形態とを組み合わせること
も、図１４,図１６,図２１のＲＯＭのデータを書き換え
ることにより可能である。

【００８４】

【発明の効果】本発明によれば、複数のレーザ光を用い
た画像記録装置の各ビームスポット位置の誤差を補正で
きるため、走査線間隔ムラや走査線ジッタのない、高精
細高画質な記録画像を得ることができる。

【００８５】また、プリンタエンジンの解像度を変換
し、かつその走査線間隔を補正できるので、線幅が正確
になるし、網点中間調画像にモアレが入らないなど、高
画質な記録画像が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明からなる画像記録装置の補正回路の一実
施例を示す図である。

【図２】従来の画像記録装置システムを説明する図であ
る。

【図３】従来のマルチビームを用いた時の露光系を説明
する図である。

【図４】従来のコントローラとエンジンとの同期信号構
成を説明する図である。

【図５】従来の同期信号のタイミングチャートを説明す
る図である。

【図６】ビーム検知器の出力特性を示す図である。

【図７】走査線間隔ムラを説明する図である。

【図８】本発明からなる画像記録装置の一実施例を示す
図である。

【図９】本発明の補正回路の補正手順の一実施例を示す
図である。

【図１０】本発明の副走査方向位置誤差測定用テストパ
ターンを説明する図である。

【図１１】本発明の副走査方向位置誤差測定結果を示す
図である。

【図１２】本発明からなる画像記録装置システムの一実
施例を示す図である。

【図１３】本発明からなる補正回路の干渉回路の一実施
例を示す図である。

【図１４】本発明からなる補正回路の干渉回路の他の実
施例を示す図である。

【図１５】従来の補正手法と本発明の補正手法との副走
査線間隔補正原理を説明する図である。

【図１６】本発明の主走査方向位置誤差測定用テストパ
ターンを説明する図である。

【図１７】本発明の主走査方向位置誤差測定結果を示す
図である。

【図１８】本発明からなる補正回路の遅延回路の一実施
例を示す図である。

【図１９】光学式濃度センサを説明する図である。

【図２０】本発明の補正回路による副走査線間隔補正を
説明する図である。

【図２１】本発明からなる補正回路の干渉回路の他の実
施例を示す図である。

【図２２】走査線間隔ムラと網点の濃度ムラを説明する
図である。

【図２３】本発明からなる補正回路の同期信号タイミン
グチャートの一実施例を示す図である。

【図２４】本発明の補正回路の干渉光量を設定する手段
を説明する図である。

【図２５】本発明の補正回路のパルス変調回路の一実施
例を示す図である。

【図２６】図２５のパルス変調回路の結果を示す図であ
る。

【図２７】本発明の補正回路の遅延時間を設定する手段
を説明する図である。

【図２８】本発明の補正回路のＦＩＦＯの一実施例を示
す図である。

【図２９】本発明の課題である回転多面鏡の面倒れを説
明する図である。

【図３０】本発明の補正回路の補正手順の他の実施例を
示す図である。

【図３１】本発明の補正回路の補正手順の他の実施例を
示す図である。

【図３２】本発明のレーザアレイの一実施例を示す図で
ある。

【図３３】図３２のレーザアレイの配置例を示す図であ
る。

【図３４】図３２のレーザアレイを用いた光量制御の一
実施例を示す図である。

【図３５】図３２のレーザアレイの走査方法の一実施例
を説明する図である。

【図３６】人間の視覚特性を説明する図である。

【図３７】本発明のレーザアレイ初期特性測定シーケン
スを説明する図である。

【符号の説明】

１０１…干渉回路、１０２…干渉光量を設定する手段、
１０３…ＦＩＦＯ ｉ（ｉ＝１，２，３，４）（ファー
ストインファーストアウトメモリ）、１０４…遅延回路
ｉ（ｉ＝１，２，３，４）、１０５…遅延時間を設定す
る手段、１０６…パルス変調回路、ＤＣＬＫｉ（ｉ＝
１，２，３，４）…入力画素クロック、ＤＣＬＫｄｉ
（ｉ＝１，２，３，４）…画素クロック（主走査方向誤
差補正後）、ＶＤｉ（ｉ＝１，２，３，４）…光源に対
するビデオ入力信号、ＶＤｄｉ（ｉ＝１，２，３，４）
…光源に対するビデオ信号（副走査方向誤差補正後）、
VDei（ｉ＝１，２，３，４）…光源に対するビデオ信号
（パルス変調後）、ＢＤｉ（ｉ＝１，２，３，４），２
０６…同期信号、２００…画像記録装置、２０１…コン
ピュータ、２０２…ページ記述データ、２０３…プリン
タのコントローラ、２０４…ビデオ信号、２０５…エン
ジン、２０７…画像データ、３０１…レーザ光、３０２
…回転多面鏡、３０３…感光体、３０４…走査線、３０
５…ビーム検知器、３０６，３０７，３０８，３０９…
ビームスポット走査位置、３１０…レーザ光源、８０１
…帯電器、８０２…露光光学系、８０３…表面電位計、
８０４…現像機、８０５…光学式濃度センサ、１４０
１，１８０１…ＲＯＭ、１４０２，１８０２…ＡＤ変換
器、１５０１，１５０６…露光量分布、１５０２…しき
い値レベル、１５０３，１５０７…現像される画素、１
５０４…走査線１の露光成分、１５０５…走査線２の露
光成分、１９０１…発光部、１９０２，１９０３…受光
部、２５０１…ＤＡ変換器、２５０２…鋸波形形成装
置、２５０３…比較器、２５０４…アナログ信号、２５
０５…鋸波形、２８０１…書き込みアドレスカウンタ、
２８０２…入力バッファ、２８０３…メモリ、２８０４
…読み出しアドレスカウンタ、２８０５…出力バッフ
ァ、２９０１…傾いていないミラーからの光線、２９０
２…傾いたミラーからの光線、２９０３…シリンドリカ
ルレンズ、３１００…レーザアレイ、３１０１…ｐ−Ｇ
ａＡｓ埋め込み層、３１０２…ｎ−ＧａＡｓブロック
層、３１０３…ｐ−ＧａＡｓコンタクト層、３１０４…
ｐ−ＡｌＧａＡｓクラッド層、３１０５…多重量子井戸
活性層、３１０６…ｎ−ＡｌＧａＡｓクラッド層、３１
０７…ｎ−ＧａＡｓ基板、３１０８…ｎ−電極、３１０
９，３１１０，３１１１，３１１２…ｐ−電極、３１１
３，３１１４，３１１５，３１１６…発光点、３３０１
…モニタＰＤ、３３０２…Ｃ／Ｖ、3303…基準電圧、３
３０４…ＣＭＰ、３３０５…レーザセレクタ、３３０６
…入力信号データ、３３０７…スイッチ、３３０８…Ｖ
／Ａ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 国雄 茨城県日立市大みか町七丁目１番１号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 江戸 進 茨城県日立市大みか町七丁目１番１号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 丸尾 成司 茨城県日立市大みか町七丁目１番１号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 熊坂 隆夫 茨城県日立市大みか町七丁目１番１号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 小野瀬 敦士 茨城県日立市大みか町七丁目１番１号 株 式会社日立製作所日立研究所内 Ｆターム(参考） 2C362 AA16 AA48 AA52 AA66 BA61 BA66 BA70 BA71 BB37 BB46 CA14 CB73

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数の光源と、前記光源により露光される
   感光体とを有する画像記録装置において、 前記光源に対応する複数の画像信号の干渉光量を設定す
   る干渉光量設定部と、 前記画像信号を前記設定された光量成分のみ干渉させる
   干渉部と、 前記光源に対応する複数の画素クロックの遅延時間を設
   定する遅延時間設定部と、 前記画素クロックを前記設定された時間のみ遅延させる
   遅延部と、 前記干渉部から出力された干渉データが前記画素クロッ
   クと同期して書き込まれ、前記遅延部から出力される遅
   延データによって、前記干渉データを前記書き込まれた
   順番に出力するメモリ部と、 前記メモリ部から出力された干渉データをパルス幅変調
   するパルス幅変調部とを有する画像記録装置。
2. 【請求項２】請求項１の画像記録装置において、 前記複数の光源により、予め定められたテストパターン
   を前記感光体上に露光する露光部と、 前記露光された感光体の表面電位を測定する表面電位測
   定部とを有する画像記録装置。
3. 【請求項３】請求項１の画像記録装置において、 前記複数の光源により、予め定められたテストパターン
   を前記感光体上に露光する露光部と、 前記露光部により露光された前記感光体上に現像剤を付
   着させる少なくとも１つの現像機と、 前記現像機により前記感光体上に形成されたトナー画像
   の濃度を測定する濃度測定部とを有する画像記録装置。
4. 【請求項４】請求項２，３の画像記録装置において、 前記テストパターンは、少なくとも副走査線間隔誤差と
   主走査線間隔誤差を測定する２種類を有する画像記録装
   置。
5. 【請求項５】請求項１の画像記録装置において、 前記干渉部を実行した後、前記遅延部を実行する画像記
   録装置。
6. 【請求項６】請求項１の画像記録装置において、 前記干渉部は、任意の主走査線間隔に設定できる画像記
   録装置。
7. 【請求項７】複数の光源を有する光学系と、入力された
   画像情報に基づいて前記光源により露光される感光体と
   を有するエンジン部と、 前記光源に対応する複数の画像信号及び画素クロックを
   生成するコントローラ部と、 前記コントローラ部で生成された前記画像信号及び前記
   画素クロックに基づいて、前記エンジン部の前記光学系
   において露光量を補正し、前記エンジン部へ前記補正情
   報を送信する補正部とを有し、 前記補正部は、前記光源に対応する複数の画像信号の干
   渉光量を設定する干渉光量設定部と、 前記画像信号を前記設定された光量成分のみ干渉させる
   干渉部と、 前記光源に対応する複数の画素クロックの遅延時間を設
   定する遅延時間設定部と、 前記画素クロックを前記設定された時間のみ遅延させる
   遅延部と、 前記干渉部から出力された干渉データが前記画素クロッ
   クと同期して書き込まれ、前記遅延部から出力される遅
   延データによって、前記干渉データを前記書き込まれた
   順番に出力するメモリ部と、 前記メモリ部から出力された干渉データをパルス幅変調
   するパルス幅変調部とを有する画像記録システム。
8. 【請求項８】請求項１または７の画像記録装置におい
   て、 前記複数の光源は、劈開型または面発光型の半導体レー
   ザアレイである画像記録装置。