JPH0414149A - パリティチェック回路のテスト装置 - Google Patents

パリティチェック回路のテスト装置

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JPH0414149A
JPH0414149A JP2118200A JP11820090A JPH0414149A JP H0414149 A JPH0414149 A JP H0414149A JP 2118200 A JP2118200 A JP 2118200A JP 11820090 A JP11820090 A JP 11820090A JP H0414149 A JPH0414149 A JP H0414149A
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JP
Japan
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parity
data
read
parity check
generator
Prior art date
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Pending
Application number
JP2118200A
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English (en)
Inventor
Hiromoto Goto
後藤 浩基
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Azbil Corp
Original Assignee
Azbil Corp
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Publication date
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Publication of JPH0414149A publication Critical patent/JPH0414149A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、コンピュータ等において、データのパリテ
ィエラーを検出するパリティチェック回路が正常に機能
するか否かをテストするためのパリティチェック回路の
テスト装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、パリティチエッカ/ジェネレータを用いたパリテ
ィチェック回路をテストする場合は、パリティチエッカ
/ジェネレータによりパリティRAM内にパリティエラ
ーとなるようなデータを強制的に書込み、このパリティ
エラーとなるデータを読出してパリティチエッカ/ジェ
ネレータに加え、パリティチエッカ/ジェネレータが正
しくパリティエラーを検出してその検出信号を出力する
か否かを調べるようにしている。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のパリティチェック回路のテスト装置では
、上記パリティRAMを含むRAMが複数のCPUによ
り共用とされ、且つこれらのCPUにより非同期でアク
セスされるような場合は次のような問題が生じる。例え
ば、ある1つのCPUがテストを行っていて、RAM内
にパリティエラーを発生させる処理を行っているとき、
他のCPUがこのRAMを読出すとパリティエラーを有
するデータが読出されてしまうことになる。
この発明は上記のような課題を解決するためになされた
もので、RAMが複数のCPUで共用される場合にも支
障なくテストを行うことのできるパリティチェック回路
のテスト装置を得ることを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
この発明においては、所定のデータを常に発生するバッ
ファメモリから読出された上記所定のデータと、所定の
パリティが書込まれるパリティメモリから読出された上
記所定のパリティとに基づいてパリティチェックを行う
ようにしている。
〔作 用〕
上記バッファメモリに固定されたデータに対して正常パ
リティを反転したパリティを上記パリティメモリに書込
むことによりバッファメモリの続出時にパリティチェッ
ク回路が正常であればパリティエラーが検出される。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図は記憶装置としてのRAM3及びパリティRAM
4を、2つの演算処理装置としてのCPU1とCPU2
とで共用とした場合の実施例を示す。また、テスト対象
となるパリティチェック回路としてパリティチエッカ/
ジェネレータ5が用いられている。
RAM3はデータベース用であり、パリティRAM4は
RAM3にデータを書込んだときにそのデータに対する
パリティがセットされる。またパリティRAM4はテス
ト時には、パリティチエッカ/ジェネレータ5からパリ
ティエラーとなるパリティが書込まれる。これらのCP
UI、CPU2、RAM3.パリティRAM4及びパリ
ティチエッカ/ジェネレータ5は、CPUI用のバッフ
ァ6、CPU2用のバッファ7を介してデータバス8に
より相互に接続されると共に、CPUIのアドレス用の
バッファ9.CPU2のアドレス用のバッファ10を介
してアドレスバス11を介して相互に接続されている。
パリティチエッカ/ジェネレータ5からのジェネレータ
出力データ(すなわち、パリティ)は、パリティRAM
4に書込まれ、また読出された上記パリティはパリティ
チエッカ/ジェネレータ5に加えられて、そのチエツク
機能によりパリティチェックが行われる。このチエツク
結果は、テストがCPUIの指示で行われたときは、ア
ンドゲート13及びラッチ回路15を通して検出信号P
ERRIとして出力され、テストがCPU2の指示で行
われたときは、アンドゲート14及びラッチ回路16を
通じてPERR2として出力される。
上記アントゲ−)13.14はそれぞれREAD1信号
及びREAD2信号により制御される。
また読出し専用のバッファメモリとしてのレジスタ12
が設けられ、データバス8と接続されている。ここでは
このレジスタ12は偶数パリティによりパリティチェッ
クを行うためのデータ、即ち、rl、の個数が偶数個存
在するデータを発生するものである。この例では、8ビ
ツトの「オールO」のデータを発生するように成されて
おり、このために8ビツトの入力端子が全て接地された
ハードウェアパターンによるデータが常に入力されてい
る。従って、このレジスタ12を書込みモードのときア
クセスしても内容は変化せず、読出し時には常に「オー
ルO」が読出される。また、このレジスタ12とパリテ
ィRAM4とは記憶装置の特定番地Aに設けられており
、パリティRAM4ばデータバス8上のデータに応した
パリティをパリティチエッカ/ジェネレータ5を通じて
書込まれるように成されている。
次に、上記構成によりパリティチエッカ/ジェネレータ
5のテストをCPUIを用いて行う場合の手順を、第2
図のタイミングチャートと共に説明する。
まず、CPUIは第2図(7)POWERON で示す
電源立上げ後、上記特定番地Aに対して、偶数パリティ
によるパリティチェックに関してパリティエラーを有す
る8ビツトのデータ、即ち「1」の個数が奇数個存在す
る例えばr 00000001 Jのデータ(第2図r
 O1(HEX)J )の書込みを行う。これによって
パリティRAM4にはパリティチエッカ/ジェネレータ
5を介してパリティとして「1」が書込まれるが、レジ
スタ12内のデータは「オール0」で変化しない。次に
、第2図で上記特定番地Aをリードする。これによって
、レジスタ12のデータ「オールO」とパリティRAM
4のデータ「1」とが読出され、パリティチエッカ/ジ
ェネレータ5において比較される。パリティチエッカ/
ジェネレータ5は偶数パリティでパリティチェックを行
うように成されているので、正常に機能すれば、上記両
データの比較によりパリティエラー発生を検出して、例
えば「1」の検出信号を出力する。この検出信号はRE
AD1信号を「1」とすることにより、アンドゲート1
3を介してラッチ回路15でラッチされ、第2図に示す
検出信号PERR1として出力される。
以上はCPU1によりテストを行う場合について説明し
たが、CPU2によりテストを行う場合は、第2図のR
EADI信号をREAD2信号に、PERR1信号をP
ERR2信号に変えることにより、同様に行うことがで
きる。また、各CPU1.2のPOWERONは同期を
とる必要はない。また各CPUI、2は非同期で互いに
影響を与えることなくテストを行うことができる。
〔発明の効果〕
この発明によれば、所定のデータを常に発生するバッフ
ァメモリから読出された上記第1の所定のデータと、所
定のパリティが書込まれるパリティメモリから読出され
た上記所定のパリティとに基づいてパリティチェックを
行うようにしたので、上記バッファメモリに固定された
データに対して「1」の個数の偶、奇数が異なるデータ
を上記バッファメモリに書込むことにより、リード時、
パリティチェック回路が正常であればパリティエラーが
検出される。また、複数のCPUが互いに影響を及ぼす
ことなくテストを行うことができる等の効果が得られる
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明によるパリティチェック回路のテスト
装置を示す構成図、第2図は動作を示すタイミングチャ
ートである。 lはCPU、2はCPU、3はRAM、4はパリティR
AM、5はパリティチエッカ/ジェネレータ、12はレ
ジスタ。 第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数の演算処理装置とこれらの演算処理装置とで共用さ
    れる記憶装置とを有するシステムにおいて、固定のデー
    タを常に発生するバッファメモリと、所定のパリテイが
    書込まれるパリテイメモリとを備え、上記バッファメモ
    リから読出された上記所定のデータと上記パリテイメモ
    リから読出された上記所定のパリテイとに基づいてパリ
    テイチェック回路でパリテイチェックを行うようにした
    パリテイチェック回路のテスト装置。
JP2118200A 1990-05-08 1990-05-08 パリティチェック回路のテスト装置 Pending JPH0414149A (ja)

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JP2118200A JPH0414149A (ja) 1990-05-08 1990-05-08 パリティチェック回路のテスト装置

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JP2118200A JPH0414149A (ja) 1990-05-08 1990-05-08 パリティチェック回路のテスト装置

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JPH0414149A true JPH0414149A (ja) 1992-01-20

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ID=14730662

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JP2118200A Pending JPH0414149A (ja) 1990-05-08 1990-05-08 パリティチェック回路のテスト装置

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5677999A (en) * 1979-11-30 1981-06-26 Hitachi Ltd Ecc circuit diagnosing system for memory device
JPS58129662A (ja) * 1982-01-29 1983-08-02 Fujitsu Ltd 障害検出方式
JPS58175200A (ja) * 1982-04-08 1983-10-14 Fujitsu Ltd 記憶システムのチエツク方式

Patent Citations (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5677999A (en) * 1979-11-30 1981-06-26 Hitachi Ltd Ecc circuit diagnosing system for memory device
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