JPH04140707A - エリア光電センサ - Google Patents
エリア光電センサInfo
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- JPH04140707A JPH04140707A JP2264685A JP26468590A JPH04140707A JP H04140707 A JPH04140707 A JP H04140707A JP 2264685 A JP2264685 A JP 2264685A JP 26468590 A JP26468590 A JP 26468590A JP H04140707 A JPH04140707 A JP H04140707A
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- Japan
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- elastic deformation
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- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 claims abstract description 39
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、2改元の検知領域を有するエリア光電センサ
に関する。
に関する。
[背景技術とその問題点]
第5図に示すものは、−軸型の1次元光センサ40であ
り、正多角形状をしたボ1ノゴンミラ−41の外周面に
はミラー面41a、41a、・・・が形成されており、
ポリゴンミラー41はドライバ回路45で制御された直
流サーボモータ42によって一定角速度で回転させられ
ている。そして、半導体レーザ装置46から8射された
レーザビームαは結像レンズ43によって集光され、ポ
リゴンミラー41のミラー面41aに照射される。そし
て、ポリゴンミラー41のミラー面41aで反射された
レーザビームαは、被検出物47の表面に照射される。
り、正多角形状をしたボ1ノゴンミラ−41の外周面に
はミラー面41a、41a、・・・が形成されており、
ポリゴンミラー41はドライバ回路45で制御された直
流サーボモータ42によって一定角速度で回転させられ
ている。そして、半導体レーザ装置46から8射された
レーザビームαは結像レンズ43によって集光され、ポ
リゴンミラー41のミラー面41aに照射される。そし
て、ポリゴンミラー41のミラー面41aで反射された
レーザビームαは、被検出物47の表面に照射される。
ここでポリゴンミラー41が一定角速度で回転している
と、レーザビームαを照射されているミラー面41aの
角度が変化するので、ポリゴンミラー41で反射された
レーザビームαの出射方向が変化し、レーザビームαで
被検出物47の表面が走査され、被検出物47の表面の
バーコード44等が読み取られる。
と、レーザビームαを照射されているミラー面41aの
角度が変化するので、ポリゴンミラー41で反射された
レーザビームαの出射方向が変化し、レーザビームαで
被検出物47の表面が走査され、被検出物47の表面の
バーコード44等が読み取られる。
この1次元光センサ40では、ポリゴンミラー41によ
って光ビームを直線状にスキャンしているので、1次元
の検知領域しか持たず、2次元の領域を検知することが
できなかった。
って光ビームを直線状にスキャンしているので、1次元
の検知領域しか持たず、2次元の領域を検知することが
できなかった。
これに対し、第6図に示す従来例の2次元光センサ50
では2次元の検知領域を有している。これは、照明源5
1によって被検出物54を照明し、カメラレンズ等の光
学系52を通してCCDのようなアレイ型の2次元受光
素子53で被検出物54の反射光55を受光させ、被検
出物54の2次元領域を検知している。
では2次元の検知領域を有している。これは、照明源5
1によって被検出物54を照明し、カメラレンズ等の光
学系52を通してCCDのようなアレイ型の2次元受光
素子53で被検出物54の反射光55を受光させ、被検
出物54の2次元領域を検知している。
し、かしなから、このような2次元光センサ50にあっ
ては、広い領域を検知させるためには、カメラレンズの
ように大きな光学系を必要とするため、センサ全体とし
ての小型化に限界があった。
ては、広い領域を検知させるためには、カメラレンズの
ように大きな光学系を必要とするため、センサ全体とし
ての小型化に限界があった。
また、CCDのような2次元受光素子自体の価格か高価
であるうえ、その信号処理回路も複雑であるため、コス
トがかなり高価についていた。
であるうえ、その信号処理回路も複雑であるため、コス
トがかなり高価についていた。
本発明は、叙上の従来例の欠点に鑑みてなされたもので
あり、その目的とするところは、新組な原理に基づく小
型で安価なエリア光電セン→力を提供することにある。
あり、その目的とするところは、新組な原理に基づく小
型で安価なエリア光電セン→力を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明のエリア光電センサは、少なくとも2つの弾性変
形モードを有する弾性変形部と、弾性変形部の一端に設
けられた加振部と、前記弾性変形部の各弾性変形モード
に対する共振周波数の振動を加振部に付与するための駆
動源と、弾性変形部の他端に設けられ、加振部に振動が
印加された時に少なくともいずれかの弾性変形モードで
弾性変形部を弾性振動させるように配置され、弾性変形
部の弾性振動によって少なくとも2方向に回動できるよ
うになったスキャン部と、スキャン部に設けられた発光
素子と、発光素子から出射され被検出物で反射された反
射光を検出する受光素子とからなることを特徴としてい
る。
形モードを有する弾性変形部と、弾性変形部の一端に設
けられた加振部と、前記弾性変形部の各弾性変形モード
に対する共振周波数の振動を加振部に付与するための駆
動源と、弾性変形部の他端に設けられ、加振部に振動が
印加された時に少なくともいずれかの弾性変形モードで
弾性変形部を弾性振動させるように配置され、弾性変形
部の弾性振動によって少なくとも2方向に回動できるよ
うになったスキャン部と、スキャン部に設けられた発光
素子と、発光素子から出射され被検出物で反射された反
射光を検出する受光素子とからなることを特徴としてい
る。
[作用コ
弾性変形部の2つの弾性変形モートに対する共振周波数
の振動を加振部に加えると、弾性変形部か両弾性変形モ
ードで弾性振動し、スキャン部か2方向で同時に回動す
る。このため、スキャン部に設けられた発光素子から光
ビームを出射させていると、光ビームは被検出物の表面
の2次元領域でスキャンされる。したがって、この反射
光を受光素子で受光すれば2次元の領域の様子を検出す
ることかできる。
の振動を加振部に加えると、弾性変形部か両弾性変形モ
ードで弾性振動し、スキャン部か2方向で同時に回動す
る。このため、スキャン部に設けられた発光素子から光
ビームを出射させていると、光ビームは被検出物の表面
の2次元領域でスキャンされる。したがって、この反射
光を受光素子で受光すれば2次元の領域の様子を検出す
ることかできる。
また、スキャン部、弾性変形部及び加振部は、プレート
状に形成することかでき、駆動源としては圧電振動子の
ような小型のアクチュエータを使用することができるの
で、エリア光電センサを起生形化することかできる。し
かも、構造も簡略であるので、製作コストや組立て調整
コスト等も安価となり、低コストでエリア光電センサを
製作できる。
状に形成することかでき、駆動源としては圧電振動子の
ような小型のアクチュエータを使用することができるの
で、エリア光電センサを起生形化することかできる。し
かも、構造も簡略であるので、製作コストや組立て調整
コスト等も安価となり、低コストでエリア光電センサを
製作できる。
さらに、駆動源によって加振部の振幅を変化させれば、
弾性変形部における弾性振動の振幅(スキャン部の回動
角)を変化させることができ、容易に光ビームのスキャ
ン領域ないし検知領域を変化させることもできる。
弾性変形部における弾性振動の振幅(スキャン部の回動
角)を変化させることができ、容易に光ビームのスキャ
ン領域ないし検知領域を変化させることもできる。
「実施例]
以下、本発期の一実施例を添付図に基づいて詳述する。
第1図(aHb)に本発明の一実施例を示す。このエリ
ア光電センサ1ば、薄板状のプレート7と、圧電振動子
や磁歪振動子等の微小振動を発生する小形の駆動源6と
、フォトインタラプタ16とから構成されている。プレ
ート7は、長い細幅の弾性変形部2の下端に、駆動源6
から振動を印加させるための加振部5か一体に設けられ
、弾性変形部2の上端にスキャン部3が一体に設けられ
ている。ここで、弾性変形部2は、第1図(a)に示す
ように軸心Pの回りにねじれ変形するねじれ変形モード
と、第1図(b)に示すように軸心Pに沿って曲げ変形
する曲げ変形モードが可能になっており、ねじれ変形モ
ードの弾性振動についてはfTの共振周波数を有し、曲
げ変形モードの弾性振動についてはf[Iの共振周波数
を有している。スキャン部3は、弾性変形部2の軸心P
に関してアンバランスな形状に形成されており、弾性変
形部2の軸心Pから離れた部分にウェイト部8が形成さ
れている。したがって、スキャン部3の重心は、弾性変
形部2の軸心Pから外れた位置にあり、さらに、弾性変
形部2の上端よりも上方に位置している。また、スキャ
ン部3の表面には、発光ダイオード(LED)等の発光
素子4aとフォトタイオード等の受光素子15aとレン
ズ系とからなるフォトインタラプタ16が取り付けられ
ている。
ア光電センサ1ば、薄板状のプレート7と、圧電振動子
や磁歪振動子等の微小振動を発生する小形の駆動源6と
、フォトインタラプタ16とから構成されている。プレ
ート7は、長い細幅の弾性変形部2の下端に、駆動源6
から振動を印加させるための加振部5か一体に設けられ
、弾性変形部2の上端にスキャン部3が一体に設けられ
ている。ここで、弾性変形部2は、第1図(a)に示す
ように軸心Pの回りにねじれ変形するねじれ変形モード
と、第1図(b)に示すように軸心Pに沿って曲げ変形
する曲げ変形モードが可能になっており、ねじれ変形モ
ードの弾性振動についてはfTの共振周波数を有し、曲
げ変形モードの弾性振動についてはf[Iの共振周波数
を有している。スキャン部3は、弾性変形部2の軸心P
に関してアンバランスな形状に形成されており、弾性変
形部2の軸心Pから離れた部分にウェイト部8が形成さ
れている。したがって、スキャン部3の重心は、弾性変
形部2の軸心Pから外れた位置にあり、さらに、弾性変
形部2の上端よりも上方に位置している。また、スキャ
ン部3の表面には、発光ダイオード(LED)等の発光
素子4aとフォトタイオード等の受光素子15aとレン
ズ系とからなるフォトインタラプタ16が取り付けられ
ている。
加振部5は、圧電振動子等の駆動源6に接着もしくは接
合されて駆動i原6に固定されており、スキャン部3は
弾性変形部2によってフリーに支持されている。
合されて駆動i原6に固定されており、スキャン部3は
弾性変形部2によってフリーに支持されている。
加振部5へ高周波振動(例えば、数100Hz)を加え
る圧電振動子等の駆動源6は、駆動回路によって制御さ
れており、ねじれ変形モードの共振周波数f、及び曲げ
変形モードの共振周波数f[]の振動を励起される。第
3図に示すものは、この駆動回路9の一例であり、ねじ
れ変形モードの共振周波数f、と一致する周波数の電圧
信号を出力し続けている発振器10と、発振器10から
出力されている電圧信号を増幅する増幅器11と、曲げ
変形モードの共振周波数flIと一致する周波数の電圧
信号を出力し続けている発振器12と、この発振器12
から圧力されている電圧信号を増幅する増幅器13と、
画壇幅器11.13から出力された周波数fTの電圧信
号と周波数f。の電圧信号を重畳させて出力するミキシ
ング回路14とから構成されている。
る圧電振動子等の駆動源6は、駆動回路によって制御さ
れており、ねじれ変形モードの共振周波数f、及び曲げ
変形モードの共振周波数f[]の振動を励起される。第
3図に示すものは、この駆動回路9の一例であり、ねじ
れ変形モードの共振周波数f、と一致する周波数の電圧
信号を出力し続けている発振器10と、発振器10から
出力されている電圧信号を増幅する増幅器11と、曲げ
変形モードの共振周波数flIと一致する周波数の電圧
信号を出力し続けている発振器12と、この発振器12
から圧力されている電圧信号を増幅する増幅器13と、
画壇幅器11.13から出力された周波数fTの電圧信
号と周波数f。の電圧信号を重畳させて出力するミキシ
ング回路14とから構成されている。
しかして、本発明に係るエリア光電センサ1は、上述の
ように構成されているので、駆動回路9によって駆動源
6を振動させ、この振動を加振部5に印加させて往復振
動させると、スキャン部3に慣性力が作用し、この慣性
力によって弾性変形部2は、慣性力の加わった方向に弾
性変形し振動する。しかも、加振部5に印カロされる駆
動周波数fの成分が、弾性変形部2のばね剛性や慣性モ
ーメントの値、プレート7の形状等から決まるねじれ変
形モードの共振周波数fTまたは曲げ変形モードの共振
周波数fIlに一致すると、当該モードの弾性振動が弾
性変形部2で増幅され、スキャン部3が大きな回動角で
駆動される。すなわち、駆動周波数f(成分)とスキャ
ン部3のねじれ変形モードの回動角θ、または曲げ変形
モードの回動角θ8との関係は、例えば第2図に示すよ
うになる。
ように構成されているので、駆動回路9によって駆動源
6を振動させ、この振動を加振部5に印加させて往復振
動させると、スキャン部3に慣性力が作用し、この慣性
力によって弾性変形部2は、慣性力の加わった方向に弾
性変形し振動する。しかも、加振部5に印カロされる駆
動周波数fの成分が、弾性変形部2のばね剛性や慣性モ
ーメントの値、プレート7の形状等から決まるねじれ変
形モードの共振周波数fTまたは曲げ変形モードの共振
周波数fIlに一致すると、当該モードの弾性振動が弾
性変形部2で増幅され、スキャン部3が大きな回動角で
駆動される。すなわち、駆動周波数f(成分)とスキャ
ン部3のねじれ変形モードの回動角θ、または曲げ変形
モードの回動角θ8との関係は、例えば第2図に示すよ
うになる。
第2図は、2つの共振周波数がfT<foの場合におけ
る、駆動源6の駆動周波数fとスキャン部3の回動角と
の関係を示しており、横軸が駆動周波数f、縦軸がスキ
ャン部3のねじれ変形モードの回動角θ、または曲げ変
形モードの回動角θ8を示している。このようにねじれ
変形モードにおける回動角θ、は、駆動周波数fがf、
に等しい時に最大となり、その両側では急激に減衰する
。一方、曲げ変形モードにおける回動角θ8は、駆動周
波数fがf、に等しい時に最大となり、その両側で急激
に減衰する。したがって、圧電振動子のように微小振動
しか行なえないような駆動源6であっても、各弾性変形
モードの共振周波数と等しい周波数で駆動させることに
より、スキャン部3を大きな角度で回動させることがで
きる。
る、駆動源6の駆動周波数fとスキャン部3の回動角と
の関係を示しており、横軸が駆動周波数f、縦軸がスキ
ャン部3のねじれ変形モードの回動角θ、または曲げ変
形モードの回動角θ8を示している。このようにねじれ
変形モードにおける回動角θ、は、駆動周波数fがf、
に等しい時に最大となり、その両側では急激に減衰する
。一方、曲げ変形モードにおける回動角θ8は、駆動周
波数fがf、に等しい時に最大となり、その両側で急激
に減衰する。したがって、圧電振動子のように微小振動
しか行なえないような駆動源6であっても、各弾性変形
モードの共振周波数と等しい周波数で駆動させることに
より、スキャン部3を大きな角度で回動させることがで
きる。
よって、加振部5に印加される電圧にねじれ変形モード
の共振周波数fTか含まねていると、弾性変形部2でね
じれ変形モートの振動が増幅され、スキャン部3は第1
図(a)に示すようにθ7の回動角で軸心Pの回りに回
動させられる。したがって、発光素子4aから光ビーム
α=1ffl射させれば、光ビームαは被検出物17の
表面でX方向にスキャンされ、被検出物17の表面で反
射された光ビームαは受光素子15aで検出される。
の共振周波数fTか含まねていると、弾性変形部2でね
じれ変形モートの振動が増幅され、スキャン部3は第1
図(a)に示すようにθ7の回動角で軸心Pの回りに回
動させられる。したがって、発光素子4aから光ビーム
α=1ffl射させれば、光ビームαは被検出物17の
表面でX方向にスキャンされ、被検出物17の表面で反
射された光ビームαは受光素子15aで検出される。
また、加振部5に印加される電圧に曲げ変形モードの共
振周波数f、か含まれていると、弾性変形部2で曲げ変
形モードの振動が増幅され、スキャン部3は第1図(b
)に示すようにθ。の回動角で軸、Cr Pと直交する
方向Qの回りに回動させられる。
振周波数f、か含まれていると、弾性変形部2で曲げ変
形モードの振動が増幅され、スキャン部3は第1図(b
)に示すようにθ。の回動角で軸、Cr Pと直交する
方向Qの回りに回動させられる。
したがって、発光素子4aから光ビームαが出射されて
いると、この光ビームαが被検出物17の表面でY方向
にスキャンされ、反射された光ビームαは受光素子15
aで検出される。
いると、この光ビームαが被検出物17の表面でY方向
にスキャンされ、反射された光ビームαは受光素子15
aで検出される。
従って、駆動源6により、ねじれ変形モードの共振周波
数fTをもつ振動と曲げ変形モードの共振周波数f[]
をもつ振動とを重ね合わせた振動モードで加振部5を振
動させると、弾性変形部2でねじれ変形モードと曲げ変
形モードの両振動が増幅され、スキャン部3では軸心2
回りの回動角θ1の振動とQ方向の回りの回転角θ。の
振動とが合成され、発光素子4aから出射された光ビー
ムαは被検出物17の表面の2次元領域をスキャンされ
、受光素子15aによって被検出物17の2次元領域の
様子が検出される。
数fTをもつ振動と曲げ変形モードの共振周波数f[]
をもつ振動とを重ね合わせた振動モードで加振部5を振
動させると、弾性変形部2でねじれ変形モードと曲げ変
形モードの両振動が増幅され、スキャン部3では軸心2
回りの回動角θ1の振動とQ方向の回りの回転角θ。の
振動とが合成され、発光素子4aから出射された光ビー
ムαは被検出物17の表面の2次元領域をスキャンされ
、受光素子15aによって被検出物17の2次元領域の
様子が検出される。
また、駆動源6に印加する電圧を調整することにより加
振部5の振幅を変化させると、スキャン部3の回動角θ
アもしくはθ、を制御させることができる。すなわち、
第2図の破線で示した曲線は、実線で示した曲線よりも
大ぎな振幅で加振部5を振動させた場合であり、加振部
5の振幅が大ぎくなると、スキャン部3の回動角θア、
θ、も増大する。
振部5の振幅を変化させると、スキャン部3の回動角θ
アもしくはθ、を制御させることができる。すなわち、
第2図の破線で示した曲線は、実線で示した曲線よりも
大ぎな振幅で加振部5を振動させた場合であり、加振部
5の振幅が大ぎくなると、スキャン部3の回動角θア、
θ、も増大する。
第4図(a) (b)に示すものは本発明の別な実施例
であって、プレート7のスキャン部3の表面には発光ダ
イオード(LED)や半導体レーザ等の発光素子4bが
取り付けられており、プレート7の基部、例えば加振部
5には多分割の受光素子15bが取り付けられている。
であって、プレート7のスキャン部3の表面には発光ダ
イオード(LED)や半導体レーザ等の発光素子4bが
取り付けられており、プレート7の基部、例えば加振部
5には多分割の受光素子15bが取り付けられている。
この実施例では、発光素子4bから光ビームαを出射さ
せながらスキャン部3を駆動することにより、被検出物
17の表面に光ビームαを2次元的にスキャンさせるこ
とができ、被検出部17で反射された光ビームαを受光
素子15bで検出させ、2次元のエリア測定を可能にし
ている。この実施例では、スキャン部3には、受光素子
15bのみを実装されているので、スキャン部3の重量
負荷が軽減され、スキャン部3の高速動作が可能になる
。
せながらスキャン部3を駆動することにより、被検出物
17の表面に光ビームαを2次元的にスキャンさせるこ
とができ、被検出部17で反射された光ビームαを受光
素子15bで検出させ、2次元のエリア測定を可能にし
ている。この実施例では、スキャン部3には、受光素子
15bのみを実装されているので、スキャン部3の重量
負荷が軽減され、スキャン部3の高速動作が可能になる
。
なお、本発明の光走査装置は、上記実施例に限定される
ものでなく、本発明の技術思想を逸脱しない範囲におい
て種々の設計変更が可能である。
ものでなく、本発明の技術思想を逸脱しない範囲におい
て種々の設計変更が可能である。
例えば、駆動源としては、圧電振動子や磁歪振動子等以
外にも、高速で微小振動可能なアクチュエータであれば
よく、例えば静電力を用いて微小振動を発生させるアク
チュエータを用いてもよい。
外にも、高速で微小振動可能なアクチュエータであれば
よく、例えば静電力を用いて微小振動を発生させるアク
チュエータを用いてもよい。
また、図示したプレートの形状は一例であって、2種以
上の弾性変形モードを得ることかできる形状であれば図
示の形状に限らない。
上の弾性変形モードを得ることかできる形状であれば図
示の形状に限らない。
[発明の効果]
本発明によれば、新規な原理による光走査装置を提供す
ることができる。すなわち、圧電振動子のような駆動源
の振動を弾性変形部によってスキャン部における少なく
とも2方向の回動運動に変換させることができ、スキャ
ン部の発光素子から光ビームを出射させていれば、被検
出物の表面等の2次元の領域で光ビームをスキャニング
させることができる。そして、被検出物で反射された光
ビームを受光素子で受光することにより被検出物の2次
元領域の様子を検知できる。
ることができる。すなわち、圧電振動子のような駆動源
の振動を弾性変形部によってスキャン部における少なく
とも2方向の回動運動に変換させることができ、スキャ
ン部の発光素子から光ビームを出射させていれば、被検
出物の表面等の2次元の領域で光ビームをスキャニング
させることができる。そして、被検出物で反射された光
ビームを受光素子で受光することにより被検出物の2次
元領域の様子を検知できる。
しかも、本発明によれば、光走査装置の構造が簡素化さ
れ、光走査装置を起生形化することかでき、かつ、安価
に製作できる。
れ、光走査装置を起生形化することかでき、かつ、安価
に製作できる。
さらに、加振部の振幅を調整することにより、スキャン
部の各スキャン角を変化させることができ、1台の光走
査装置によって光ビームを任意の面積の領域で走査させ
ることができる。
部の各スキャン角を変化させることができ、1台の光走
査装置によって光ビームを任意の面積の領域で走査させ
ることができる。
第1図(a) (b)は本発明の一実施例であって、第
1図(a)はそのねじれ変形モードを示す斜視図、第1
図(b)はその曲げ変形モードを示す斜視図、第2図は
駆動周波数とスキャン部の回動角との関係を示す図、第
3図は同上の駆動源を駆動させるための駆動回路を示す
ブロック図、第4図(a)(b)は本発明の他側であっ
て、第4図(a)はそのねじれ変形モードを示す斜視図
、第4図(b)はその曲げ変形モードを示す斜視図、第
5区は従来例の概略斜視図、第6図は別な従来例の概略
図である。 2・・・弾性変形部 3・・・スキャン部 4a、4b・・・発光素子 S・・・加振部 6・・・駆動源 15a、15b・・・受光素子
1図(a)はそのねじれ変形モードを示す斜視図、第1
図(b)はその曲げ変形モードを示す斜視図、第2図は
駆動周波数とスキャン部の回動角との関係を示す図、第
3図は同上の駆動源を駆動させるための駆動回路を示す
ブロック図、第4図(a)(b)は本発明の他側であっ
て、第4図(a)はそのねじれ変形モードを示す斜視図
、第4図(b)はその曲げ変形モードを示す斜視図、第
5区は従来例の概略斜視図、第6図は別な従来例の概略
図である。 2・・・弾性変形部 3・・・スキャン部 4a、4b・・・発光素子 S・・・加振部 6・・・駆動源 15a、15b・・・受光素子
Claims (1)
- (1)少なくとも2つの弾性変形モードを有する弾性変
形部と、 弾性変形部の一端に設けられた加振部と、 前記弾性変形部の各弾性変形モードに対する共振周波数
の振動を加振部に付与するための駆動源と、 弾性変形部の他端に設けられ、加振部に振動が印加され
た時に少なくともいずれかの弾性変形モードで弾性変形
部を弾性振動させるように配置され、弾性変形部の弾性
振動によって少なくとも2方向に回動できるようになっ
たスキャン部と、スキャン部に設けられた発光素子と、 発光素子から出射され被検出物で反射された反射光を検
出する受光素子とからなることを特徴とするエリア光電
センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26468590A JP2995835B2 (ja) | 1990-10-01 | 1990-10-01 | エリア光電センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26468590A JP2995835B2 (ja) | 1990-10-01 | 1990-10-01 | エリア光電センサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04140707A true JPH04140707A (ja) | 1992-05-14 |
JP2995835B2 JP2995835B2 (ja) | 1999-12-27 |
Family
ID=17406775
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26468590A Expired - Lifetime JP2995835B2 (ja) | 1990-10-01 | 1990-10-01 | エリア光電センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2995835B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100686081B1 (ko) * | 2006-02-14 | 2007-02-26 | 엘지전자 주식회사 | 마이크로 미러 소자 및 이를 이용한 디스플레이 |
KR100767134B1 (ko) * | 2003-03-13 | 2007-10-15 | 심볼테크놀로지스,인코포레이티드 | 관성 구동 스캐닝 기구 및 방법 |
JP2009151326A (ja) * | 2009-02-13 | 2009-07-09 | Sony Corp | 光スキャニング装置 |
JP2013124968A (ja) * | 2011-12-15 | 2013-06-24 | Ihi Aerospace Co Ltd | 自動測距装置 |
-
1990
- 1990-10-01 JP JP26468590A patent/JP2995835B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100767134B1 (ko) * | 2003-03-13 | 2007-10-15 | 심볼테크놀로지스,인코포레이티드 | 관성 구동 스캐닝 기구 및 방법 |
KR100686081B1 (ko) * | 2006-02-14 | 2007-02-26 | 엘지전자 주식회사 | 마이크로 미러 소자 및 이를 이용한 디스플레이 |
JP2009151326A (ja) * | 2009-02-13 | 2009-07-09 | Sony Corp | 光スキャニング装置 |
JP2013124968A (ja) * | 2011-12-15 | 2013-06-24 | Ihi Aerospace Co Ltd | 自動測距装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2995835B2 (ja) | 1999-12-27 |
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