JPH04138060U - Ｔａｂ試験装置のｔａｂ引出し機構 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 クリップ２でＴＡＢ１のリーダ部１Ａを挟
み、渦巻ばね３でクリップ２を引き出すことにより、Ｔ
ＡＢ１をプッシャ１０とプローブカード１２の間から引
き出す。 【構成】 向かい合うテープクランパ１１の先端の隙間
より幅が狭く、プッシャ１０を上昇させたときのプッシ
ャ１０とプローブカード１２の隙間より厚さが少なく、
ＴＡＢ１のリーダ部１Ａを挟むクリップ２と、クリップ
２に連結され、クリップ２を移動させる渦巻ばね３とを
備え、供給リール５Ａから繰り出されたＴＡＢ１のリー
ダ部１Ａをクリップ２で挟み、プッシャ１０とプローブ
カード１２の間を通過させる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、ＴＡＢ（テープ・オートメイテッド・ボンディング）試験装置に おいて、ＴＡＢをクリップで挟み、プッシャとプローブカードの間を通過させる ＴＡＢ引出し機構についてのものである。

【０００２】

【従来の技術】

ＴＡＢとは、例えば実願昭63-155847 号明細書にも記載されているとおり、テ ープ状のフィルムに半導体チップを形成したものである。次に、従来技術による ＴＡＢ試験装置の構成を図７により説明する。図７の１はＴＡＢ、５Ａは供給リ ール、５Ｂは収容リール、６Ａ・６Ｂ・７Ａ・７Ｂ・８Ａ・８Ｂはローラ、９Ａ ・９Ｂはスプロケット、１０はプッシャ、１１はテープクランパ、１２はプロー ブカードである。図７はＴＡＢ１が装着された状態であり、ＴＡＢ１は次の手順 で装着される。 (ア) 供給リール５Ａからローラ６Ａとローラ７Ａに通す。 (イ) ローラ８Ａとスプロケット９Ａの間を通す。 (ウ) プッシャ１０とテープクランパ１１の間を通す。 (エ) プッシャ１０を下降させ、ＴＡＢ１をプローブカード１２に接触させる。 (オ) ＴＡＢ１を試験する。 (エ) スプロケット９Ｂとローラ８Ｂの間を通す。 (オ) ローラ７Ｂとローラ６Ｂの間を通す。 (カ) 収容リール５Ｂに巻き取る。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

図８は図７の要部詳細図であり、図８アは正面図、図８イは図８アの中央縦断 面図である。ＴＡＢ１を図７の状態にするためには、ＴＡＢ１をスプロケット９ Ａとローラ８Ａの間などいくつもの部品の間を通す必要がある。図８では、スプ ロケット９Ａ・９Ｂとテープクランパ１１は近接して配置され、プッシャ１０と テープクランパ１１の間隙は約３mmであり、テープクランパ１１とプローブカー ド１２のプローブ１３の間隙は約７mmである。

【０００４】 図８のような構成では、プッシャ１０とテープクランパ１１の間の狭い空間を 通すのは、困難である。この考案は、向かい合うテープクランパ１１の先端の隙 間より幅が狭く、プッシャ１０を上昇させたときのプッシャ１０とプローブカー ド１２の隙間より厚さが少ないクリップでＴＡＢ１のリーダ部を挟み、渦巻ばね でクリップを引き出すことにより、ＴＡＢ１をプッシャ１０とプローブカード１ ２の間から引き出すＴＡＢ引出し機構の提供を目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

この目的を達成するため、この考案では、供給リール５Ａに巻かれたＴＡＢ１ を収容リール５Ｂに巻き取る際、プッシャ１０とテープクランパ１１の間を通過 させ、プッシャ１０を下降させてＴＡＢ１を試験するＴＡＢ試験装置において、 向かい合うテープクランパ１１の先端の隙間より幅が狭く、プッシャ１０を上昇 させたときのプッシャ１０とプローブカード１２の隙間より厚さが少なく、ＴＡ Ｂ１のリーダ部１Ａを挟むクリップ２と、クリップ２に連結され、クリップ２を 移動させる渦巻ばね３とを備え、供給リール(5A)から繰り出されたＴＡＢ１のリ ーダ部１Ａをクリップ２で挟み、プッシャ１０とプローブカード１２の間を通過 させる。

【０００６】 次に、この考案によるＴＡＢ引出し機構の構成を図１により説明する。図１の ２はクリップ、３は渦巻ばね、４はケースであり、その他の構成は図６と同じで ある。図１は図７にクリップ２、渦巻ばね３、ケース４で構成される巻取機構を 追加したものである。クリップ２の端部には渦巻ばね３の先端が固定され、渦巻 ばね３の終端はケース４の中央部に固定される。スプロケット９Ａとスプロケッ ト９Ｂの間と通るＴＡＢ１の延長線上に渦巻ばね３の先端が引き延ばされる位置 にケース４は配置される。

【０００７】

【作用】

次に、図１の作用を説明する。図２は図１の要部平面図であり、図３はケース ４の部分拡大図である。図２はＴＡＢ１のリーダ部１Ａをクリップ２で挟み、Ｔ ＡＢ１を右方向に引張る状態を示したものである。図３は渦巻ばね３の終端をケ ース４の中央部に固定し、定加重で渦巻ばね３を巻き取る状態を示したものであ る。

【０００８】 次に、ＴＡＢ１を巻き取る状態を図４により説明する。図４アはＴＡＢ１のリ ーダ部１Ａを挟んだ初期状態図である。ＴＡＢ１は渦巻ばね３に引っ張られ、図 ４イの状態に移動する。このとき、クリップの幅Ｌａをローラ８Ａの隙間Ｌ１よ りせまく設定しておけば、ローラ８Ａにクリップ２は接しない。例えば、幅Ｌａ は20ｍｍであり、隙間Ｌ１は30ｍｍである。同様に、スプロケット９Ａの間隙Ｌ ２もＬａよりひろいので、クリップ２は接することなく、右方向に移動する。例 えば、隙間Ｌ２は32ｍｍである。

【０００９】 図４ウはクリップ２がプッシャ１０とテープクランパ１１の間を移動している 状態図である。クリップ２の幅は、向かい合うテープクランパ１１の先端の隙間 より幅が狭く、プッシャ１０を上昇させたときのプッシャ１０とプローブカード １２の隙間より厚さが少ない。例えば、テープクランパ１１の先端の隙間は30ｍ ｍであり、クリップ２の幅は20ｍｍである。クリップ２の厚さは６ｍｍであり、 プッシャ１０とプローブカード１２の隙間は７ｍｍである。ＴＡＢ１はプッシャ １０とテープクランパ１１の間を移動するので、ＴＡＢ１のリーダ部１Ａを挟ん でいるクリップ２は、上下の移動は制限される。

【００１０】 図４エはスプロケット９Ｂとローラ８Ｂをクリップ２が通過した状態図である 。ローラ８Ｂの間隙Ｌ４はＬ１と同じであり、スプロケット９Ｂの間隙Ｌ５は隙 間Ｌ２と同じなので、スプロケット９Ｂとローラ８Ｂの間でクリップ２は接する ことなく右方向に移動する。図４エの状態でＴＡＢ１からクリップ２を取り外し 、ローラ６Ｂとローラ７Ｂの間を通り、収容リール５Ｂに巻きつければ、ＴＡＢ １は図７の状態になる。

【００１１】

【実施例】

次に、この考案によるクリップの実施例を図５により説明する。図５の２Ａ・ ２Ｅはかみ合い部、２Ｂはゴム、２Ｃ・２Ｆは穴、２Ｄは上片、２Ｇは下片、２ Ｈは軸、２Ｊはねじりコイルばねである。図２では、上片２Ｄのかみ合い部２Ａ にゴム２Ｂが取り付けられる。同様に、下片２Ｇのかみ合い部２Ｅにゴム２Ｂが 取り付けられる。下片２Ｇの端部には渦巻ばね３の先端が固定される。上片２Ｄ と下片２Ｇの中央部にはそれぞれ穴２Ｃ、穴２Ｆがあけられ、軸２Ｈが挿入され 上片２Ｄと下片２Ｇを回転自在に保持する。ねじりコイルばね２Ｊは軸２Ｈに保 持され、かみ合い部２Ａとかみ合い部２ＥでＴＡＢ１のリーダ部１Ａを挟む方向 に回転力を与える。図５のクリップでは、かみ合い部でゴムが対抗する形で配置 されているので、ＴＡＢ１を傷つけることなく挟むことができる。

【００１２】 次に、図５の組立図を図６により説明する。クリップ２の厚さの最大寸法は６ ｍｍであり、テープクランパ１１とプローブカード１２の間隙は約７mmより短い ので、クリップ２でＴＡＢ１を引き出すことができる。

【００１３】

【考案の効果】

この考案によれば、向かい合うテープクランパの先端の隙間より幅が狭く、プ ッシャを上昇させたときのプッシャとプローブカードの隙間より厚さが少ないク リップでＴＡＢのリーダ部を挟み、渦巻ばねでクリップを引き出すので、ＴＡＢ をプッシャとテープクランパの間から容易に引き出すことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案によるＴＡＢ引出し機構の構成図であ
る。

【図２】図１の要部平面図である。

【図３】ケース４の部分拡大図である。

【図４】ＴＡＢ１が引出し機構で巻き取られる状態図で
ある。

【図５】この考案によるクリップの分解斜視図である。

【図６】図５の組立図である。

【図７】従来のＴＡＢ試験装置の構成図である。

【図８】図７の要部詳細図である。

【符号の説明】

１ ＴＡＢ １Ａ リーダ部 ２ クリップ ３ 渦巻ばね ４ ケース ５Ａ 供給リール ５Ｂ 収容リール １０ プッシャ １１ テープクランパ １２ プローブカード

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 供給リール(5A)に巻かれたＴＡＢ(1) を
   収容リール(5B)に巻き取る際、プッシャ(10)とテープク
   ランパ(11)の間を通過させ、プッシャ(10)を下降させて
   ＴＡＢ(1) を試験するＴＡＢ試験装置において、向かい
   合うテープクランパ(11)の先端の隙間より幅が狭く、プ
   ッシャ(10)を上昇させたときのプッシャ(10)とプローブ
   カード(12)の隙間より厚さが少なく、ＴＡＢ(1) のリー
   ダ部(1A)を挟むクリップ(2) と、クリップ(2) に連結さ
   れ、クリップ(2) を移動させる渦巻ばね(3) とを備え、
   供給リール(5A)から繰り出されたＴＡＢ(1) のリーダ部
   (1A)をクリップ(2) で挟み、プッシャ(10)とプローブカ
   ード(12)の間を通過させることを特徴とするＴＡＢ試験
   装置のＴＡＢ引出し機構。