JP2527688Y2 - Ｔａｂ試験装置のｔａｂ引出し機構 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この考案は、ＴＡＢ（テープ・オ
ートメイテッド・ボンディング）試験装置において、Ｔ
ＡＢをクリップで挟み、プッシャとプローブカードの間
を通過させるＴＡＢ引出し機構についてのものである。

【０００２】

【従来の技術】ＴＡＢとは、例えば実願昭63-155847 号
明細書にも記載されているとおり、テープ状のフィルム
に半導体チップを形成したものである。次に、従来技術
によるＴＡＢ試験装置の構成を図７により説明する。図
７の１はＴＡＢ、５Ａは供給リール、５Ｂは収容リー
ル、６Ａ・６Ｂ・７Ａ・７Ｂ・８Ａ・８Ｂはローラ、９
Ａ・９Ｂはスプロケット、１０はプッシャ、１１はテー
プクランパ、１２はプローブカードである。図７はＴＡ
Ｂ１が装着された状態であり、ＴＡＢ１は次の手順で装
着される。 (ア) 供給リール５Ａからローラ６Ａとローラ７Ａに通
す。 (イ) ローラ８Ａとスプロケット９Ａの間を通す。 (ウ) プッシャ１０とテープクランパ１１の間を通す。 (エ) プッシャ１０を下降させ、ＴＡＢ１をプローブカー
ド１２に接触させる。 (オ) ＴＡＢ１を試験する。 (エ) スプロケット９Ｂとローラ８Ｂの間を通す。 (オ) ローラ７Ｂとローラ６Ｂの間を通す。 (カ) 収容リール５Ｂに巻き取る。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】図８は図７の要部詳細
図であり、図８アは正面図、図８イは図８アの中央縦断
面図である。ＴＡＢ１を図７の状態にするためには、Ｔ
ＡＢ１をスプロケット９Ａとローラ８Ａの間などいくつ
もの部品の間を通す必要がある。図８では、スプロケッ
ト９Ａ・９Ｂとテープクランパ１１は近接して配置さ
れ、プッシャ１０とテープクランパ１１の間隙は約３mm
であり、テープクランパ１１とプローブカード１２のプ
ローブ１３の間隙は約７mmである。

【０００４】図８のような構成では、プッシャ１０とテ
ープクランパ１１の間の狭い空間を通すのは、困難であ
る。この考案は、向かい合うテープクランパ１１の先端
の隙間より幅が狭く、プッシャ１０を上昇させたときの
プッシャ１０とプローブカード１２の隙間より厚さが少
ないクリップでＴＡＢ１のリーダ部を挟み、渦巻ばねで
クリップを引き出すことにより、ＴＡＢ１をプッシャ１
０とプローブカード１２の間から引き出すＴＡＢ引出し
機構の提供を目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この考案では、供給リール５Ａに巻かれたＴＡＢ１
を収容リール５Ｂに巻き取る際、プッシャ１０とテープ
クランパ１１の間を通過させ、プッシャ１０を下降させ
てＴＡＢ１を試験するＴＡＢ試験装置において、向かい
合うテープクランパ１１の先端の隙間より幅が狭く、プ
ッシャ１０を上昇させたときのプッシャ１０とプローブ
カード１２の隙間より厚さが少なく、ＴＡＢ１のリーダ
部１Ａを挟むクリップ２と、クリップ２に連結され、ク
リップ２を移動させる渦巻ばね３とを備え、供給リール
(5A)から繰り出されたＴＡＢ１のリーダ部１Ａをクリッ
プ２で挟み、プッシャ１０とプローブカード１２の間を
通過させる。

【０００６】次に、この考案によるＴＡＢ引出し機構の
構成を図１により説明する。図１の２はクリップ、３は
渦巻ばね、４はケースであり、その他の構成は図６と同
じである。図１は図７にクリップ２、渦巻ばね３、ケー
ス４で構成される巻取機構を追加したものである。クリ
ップ２の端部には渦巻ばね３の先端が固定され、渦巻ば
ね３の終端はケース４の中央部に固定される。スプロケ
ット９Ａとスプロケット９Ｂの間と通るＴＡＢ１の延長
線上に渦巻ばね３の先端が引き延ばされる位置にケース
４は配置される。

【０００７】

【作用】次に、図１の作用を説明する。図２は図１の要
部平面図であり、図３はケース４の部分拡大図である。
図２はＴＡＢ１のリーダ部１Ａをクリップ２で挟み、Ｔ
ＡＢ１を右方向に引張る状態を示したものである。図３
は渦巻ばね３の終端をケース４の中央部に固定し、定加
重で渦巻ばね３を巻き取る状態を示したものである。

【０００８】次に、ＴＡＢ１を巻き取る状態を図４によ
り説明する。図４アはＴＡＢ１のリーダ部１Ａを挟んだ
初期状態図である。ＴＡＢ１は渦巻ばね３に引っ張ら
れ、図４イの状態に移動する。このとき、クリップの幅
Ｌａをローラ８Ａの隙間Ｌ１よりせまく設定しておけ
ば、ローラ８Ａにクリップ２は接しない。例えば、幅Ｌ
ａは20ｍｍであり、隙間Ｌ１は30ｍｍである。同様に、
スプロケット９Ａの間隙Ｌ２もＬａよりひろいので、ク
リップ２は接することなく、右方向に移動する。例え
ば、隙間Ｌ２は32ｍｍである。

【０００９】図４ウはクリップ２がプッシャ１０とテー
プクランパ１１の間を移動している状態図である。クリ
ップ２の幅は、向かい合うテープクランパ１１の先端の
隙間より幅が狭く、プッシャ１０を上昇させたときのプ
ッシャ１０とプローブカード１２の隙間より厚さが少な
い。例えば、テープクランパ１１の先端の隙間は30ｍｍ
であり、クリップ２の幅は20ｍｍである。クリップ２の
厚さは６ｍｍであり、プッシャ１０とプローブカード１
２の隙間は７ｍｍである。ＴＡＢ１はプッシャ１０とテ
ープクランパ１１の間を移動するので、ＴＡＢ１のリー
ダ部１Ａを挟んでいるクリップ２は、上下の移動は制限
される。

【００１０】図４エはスプロケット９Ｂとローラ８Ｂを
クリップ２が通過した状態図である。ローラ８Ｂの間隙
Ｌ４はＬ１と同じであり、スプロケット９Ｂの間隙Ｌ５
は隙間Ｌ２と同じなので、スプロケット９Ｂとローラ８
Ｂの間でクリップ２は接することなく右方向に移動す
る。図４エの状態でＴＡＢ１からクリップ２を取り外
し、ローラ６Ｂとローラ７Ｂの間を通り、収容リール５
Ｂに巻きつければ、ＴＡＢ１は図７の状態になる。

【００１１】

【実施例】次に、この考案によるクリップの実施例を図
５により説明する。図５の２Ａ・２Ｅはかみ合い部、２
Ｂはゴム、２Ｃ・２Ｆは穴、２Ｄは上片、２Ｇは下片、
２Ｈは軸、２Ｊはねじりコイルばねである。図２では、
上片２Ｄのかみ合い部２Ａにゴム２Ｂが取り付けられ
る。同様に、下片２Ｇのかみ合い部２Ｅにゴム２Ｂが取
り付けられる。下片２Ｇの端部には渦巻ばね３の先端が
固定される。上片２Ｄと下片２Ｇの中央部にはそれぞれ
穴２Ｃ、穴２Ｆがあけられ、軸２Ｈが挿入され上片２Ｄ
と下片２Ｇを回転自在に保持する。ねじりコイルばね２
Ｊは軸２Ｈに保持され、かみ合い部２Ａとかみ合い部２
ＥでＴＡＢ１のリーダ部１Ａを挟む方向に回転力を与え
る。図５のクリップでは、かみ合い部でゴムが対抗する
形で配置されているので、ＴＡＢ１を傷つけることなく
挟むことができる。

【００１２】次に、図５の組立図を図６により説明す
る。クリップ２の厚さの最大寸法は６ｍｍであり、テー
プクランパ１１とプローブカード１２の間隙は約７mmよ
り短いので、クリップ２でＴＡＢ１を引き出すことがで
きる。

【００１３】

【考案の効果】この考案によれば、向かい合うテープク
ランパの先端の隙間より幅が狭く、プッシャを上昇させ
たときのプッシャとプローブカードの隙間より厚さが少
ないクリップでＴＡＢのリーダ部を挟み、渦巻ばねでク
リップを引き出すので、ＴＡＢをプッシャとテープクラ
ンパの間から容易に引き出すことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案によるＴＡＢ引出し機構の構成図であ
る。

【図２】図１の要部平面図である。

【図３】ケース４の部分拡大図である。

【図４】ＴＡＢ１が引出し機構で巻き取られる状態図で
ある。

【図５】この考案によるクリップの分解斜視図である。

【図６】図５の組立図である。

【図７】従来のＴＡＢ試験装置の構成図である。

【図８】図７の要部詳細図である。

【符号の説明】

１ ＴＡＢ １Ａ リーダ部 ２ クリップ ３ 渦巻ばね ４ ケース ５Ａ 供給リール ５Ｂ 収容リール １０ プッシャ １１ テープクランパ １２ プローブカード

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 供給リール(5A)に巻かれたＴＡＢ(1) を
   収容リール(5B)に巻き取る際、プッシャ(10)とテープク
   ランパ(11)の間を通過させ、プッシャ(10)を下降させて
   ＴＡＢ(1) を試験するＴＡＢ試験装置において、向かい
   合うテープクランパ(11)の先端の隙間より幅が狭く、プ
   ッシャ(10)を上昇させたときのプッシャ(10)とプローブ
   カード(12)の隙間より厚さが少なく、ＴＡＢ(1) のリー
   ダ部(1A)を挟むクリップ(2) と、クリップ(2) に連結さ
   れ、クリップ(2) を移動させる渦巻ばね(3) とを備え、
   供給リール(5A)から繰り出されたＴＡＢ(1) のリーダ部
   (1A)をクリップ(2) で挟み、プッシャ(10)とプローブカ
   ード(12)の間を通過させることを特徴とするＴＡＢ試験
   装置のＴＡＢ引出し機構。