JPH0413689B2 - - Google Patents
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- JPH0413689B2 JPH0413689B2 JP60299106A JP29910685A JPH0413689B2 JP H0413689 B2 JPH0413689 B2 JP H0413689B2 JP 60299106 A JP60299106 A JP 60299106A JP 29910685 A JP29910685 A JP 29910685A JP H0413689 B2 JPH0413689 B2 JP H0413689B2
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- Semiconductor Lasers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、二電極半導体レーザと、光検出器
とを結合した光論理素子に関するものである。 〔従来の技術〕 第7図は従来の二電極型半導体レーザの一例を
示す模式図で、1は二電極型半導体レーザ(以
下、特に必要なところ以外は単に半導体レーザと
いう)、2は電極、Poは前記半導体レーザ1の光
出力、Il、Irは前記電極2に注入する電流であ
る。 従来の半導体レーザ1は上記のように構成され
ており、一方の電流Irを適当な値に固定して他方
の電流Ilを変化させると、しきい値電流以上にお
ける利得特性に非線型性を作り出し得ることが本
発明者等の研究により判明した。これを第8図a
の半導体レーザ1の注入電流に対する光出力の特
性図に示す。 〔発明が解決しようとする問題点〕 ところで、最近の半導体デバイスの製造技術の
発展は著しく、集積度は年々向上し、高密度かつ
大規模になつてきている。ところが、単純に各素
子をさらに小さくして集積度を上げても、あまり
メリツトが得られないレベルに達しつつある。 その理由は第1に、集積度の向上につれて、論
理素子や記憶素子が搭載されているチツプ内部の
配線が著しく複雑化することである。 第2に、サイズが小さくなるにつれて、配線間
の漏話の問題が深刻になることである。 第3に、信号の伝播遅延の問題である。すなわ
ち、チツプ内の素子と配線を、さらに小さくして
いつた場合、素子そのものの応答は縮小率に比例
して速くなるが、素子間の伝達遅延時間は速くな
らず一定である。これらすべての問題点を解決す
る有力な候補として光の重要性が広く認識されて
おり、コンピユータの素子を光素子に置き換えて
いこうとする試みが多く行われている。 一方、最小単位の論理素子が二値のものでな
く、多値(三値以上)であれば、必要な計算処理
能力に対するチツプ内の素子数は少なくてすむ。
当然、配線数も少なくてすむため、上記の問題点
は著しく緩和される。これらのことから多値の光
論理素子の実現が待ち望まれるところであるが、
研究報告例は非常に少なく、特に、将来の集積化
に適した半導体素子による文献は皆無といつてよ
い。 この発明は、上記の問題点を解決するためにな
されたもので、この光出力の一部を光検出器で受
けてレーザに帰還をかけることにより、三重安定
性を始めとする種々の機能を持つた光論理素子を
得ることを目的とする。 一方、第8図bの特性図に示すように、しきい
値電流以上での利得が線型である通常の半導体レ
ーザと光検出器との組み合わせにより双安定素子
を作れることは知られており(光双安定半導体レ
ーザ、小川洋他、応用物理1983年10月号、59頁参
照)、したがつて、この発明では、このうちの半
導体レーザを特殊な特性のものに置き換えること
に相当するが、これにより、はるかに機能が高度
で、自由度の高い素子を得ることを目的とする。 〔問題点を解決するための手段〕 この発明にかかる光論理素子は、横モードの変
化によりしきい値以上の電流値において、注入電
流に対して光出力が非線型性を有する二電極型半
導体レーザと、この二電極型半導体レーザの光出
力の一部を受光して正帰還をかける光検出器とか
らなるものである。 〔作用〕 二電極型半導体レーザの光出力の一部を光検出
器に受光して二電極型半導体レーザに正帰還をか
け、かつ光帰還率や電流増幅器の増幅率または光
検出器の特性を変化させることで光論理素子に多
安定性、微分利得特性および三重安定性が得られ
る。 〔実施例〕 第1図はこの発明の一実施例を示す構成図で、
第7図と同一符号は同一部分を示し、3は光検出
器、4は電流増幅器、Piは前記光検出器3への光
入力、fPoは前記光出力Poの一部で、fは前記半
導体レーザ1の光出力Poのうち光検出器3は入
射する割合を示す光帰還率である。 Ipは前記光検出器3から半導体レーザ1への帰
還電流、Ibはバイアス電流である。 まず、光入力および光出力素子として使用する
場合について説明する。 半導体レーザ1からの光出力Poの一部fPoを光
検出器3で受け、電流増幅器4を通して電流Ilに
帰還する。電流Irとバイアス電流Ibは固定し、光
検出器3への光入力Piを変化させる。半導体レー
ザ1の特性を第2図aのように単純化して Po=0(0Ib 1)
=a(Ip+Ib-I1)(I1 Ib 2)
=M(I2 Ib 3)
=b(Ip+Ib-I3)+M(I3 Ib) ……(1)
とする。ここで、aおよびbはそれぞれの領域で
の微分量子効率、I1,I2,I3は前記半導体レーザ
1の注入電流Ilに対する光出力Poの特性線上の折
曲点に対応する電流である。 一方、光検出器3の特性も第2図bのように単
純化して、帰還電流Ipを Ip=Ak(Pi+fPo)(Pi+fpo =Ak Ps(Ps<Pi+fPo) ……(2)
とする。ここで、kは前記光検出器3の光入力Pi
に対する帰還電流Ipの交換係数、Aは前記増幅器
4の電流増幅率、Psは前記光検出器3の出力電
流が飽和する入力光パワーである。 第(1)式および第(2)式から帰還電流Ipを消去すれ
ば光入力Piと光出力Poとの関係がわかるが、さ
らに、わかり易くするため、図式解法により説明
する。 第3図は光帰還率fが比較的高く、三重安定点
が存在する場合の例を示している。 この図において、O1,O2,O3,O4は半導体レ
ーザ1の注入電流Ipに対する光出力Poの特性線
上の折曲点、l1,l2,l3,l4はそれぞれ折曲点O1,
O2,O3,O4を通る光検出器の特性線、P1,P2,
P3,P4はそれぞれ特性線l1,l2,l3,l4の光検出器
3の特性を与える入力光パワー、L、M、Hは出
力光−入力特性が平たんになる領域の出力光パワ
ーのレベル(以下単にレベルという)である。 半導体レーザ1の特性線と光検出器3の特性線
の交点のうち安定な点が動作点となり得る。第3
図で光入力Piを0からP2→P4→P1→P3と連続的
に増加させた場合、光検出器3の特性線は図中右
の方へ移動してゆく。ただし、飽和電流値AkPs
は変わらない。最初は発光していないので光出力
Po=Lであり、光入力PiがPiを越える時に光出
力PoはレベルLからMへ飛び、さらに光入力Pi
がP3を越える時に光出力PoはレベルMからレベ
ルHへ飛ぶ。次に光入力Piを連続的に減少させて
いくと、光入力PiがP4より小さくなつた瞬間に
光出力PoはレベルHからレベルMへ飛び、光入
力PiがP2より小さくなつた時に光出力Poはレベ
ルMからレベルLへ飛ぶ。またレベルMにある時
に、PiをP4とP1の間の値にした場合は、レベル
はMに止まつている。この様子は第4図aに示さ
れている。これは三値の記憶素子として使える。
逆の典型的な例として、光帰還率fが十分低い場
合には特性線の傾きが変わり、入力光パワーP1
<P2<P3<P4となり、第4図bに示すように履
歴現象は生せず、微分利得特性となる。同図では
分り易くするためにP1とP2の間、P3とP4の間の
線を斜めに描いてあるが、これはほとんど垂直に
すことが可能である。P1とP2をほぼ等しく、P3
とP4をほぼ等しくすればよい。これは三値のア
ナログ−デジタル変換素子、論理演算素子として
使える。半導体レーザ1の微分量子効果a,bお
よび光帰還率fの値に応じて入力光パワーP1〜
P4の大小関係は(P2<P3の関係を除いて)変わ
り、第4図a〜lに示したように、全部で12通り
の場合が存在する。第4図aは三重安定性、bは
2個所の微分利得性、fとiは特殊な三重安定
性、hは双安定性、gは2個所の双安定性、その
他c,d,e,i,k,lは双安定性と微分利得
性の両方を持つている。 この発明の光論理素子をモノリシツクに集積化
するには、具体的には、例えば第5図のように半
導体レーザ1と光検出器3を、同じ基板上の隣接
する場所に取り付ければよい(前述の小川氏の文
献参考)。この場合電流の帰還は素子内部で行わ
れる。 上記の説明では、光帰還率(第(2)式のf)を変
えることにより第4図の12通りの特性の1つを選
ぶこととしてきたが、この方式の場合には第5図
のような集積回路を作つた後での特性の変更は難
しい。そこで、電流増幅率(第(2)式のA)を変え
ることにすれば第4図a〜lの12通りの特性が得
られ、しかも光検出器3から半導体レーザ1への
帰還電流Ipが外部を通るようにしておくと、集積
回路作成後に外部から特性を選べるようにするこ
とも可能である。ただし、電流増幅率Aを変える
場合には、第4図における出力光PoのレベルH
の値が変わることになる。 またこの発明の素子は電流入力−光出力素子と
して使用することもできる。この用途には、第1
図の光入力Piは固定(0でもよい)してバイアス
電流Ibを変化させる。この場合にも、第4図a〜
lの12通りにほぼ対応する特性が得られるが、光
出力Poの一番上のレベルHの値がバイアス電流
Ibに対して変化することのみが異なる点である。
一例として、第4図aに対応する特性を第6図に
示す。 〔発明の効果〕 以上説明したように、この発明にかかる光論理
素子は、しきい値以上の電流値において注入電流
に対して横モードの変化により光出力が非線型性
を呈する、共振器軸と平行に配置された二本の互
いに平行な電極をもつ二電極型半導体レーザと、
この二電極型半導体レーザの光出力の一部を受光
して光電変換し、二電極型半導体レーザに正帰還
をかける光検出器とで構成したので、従来、例が
なかつた半導体材料による三重安定光論理素子を
始めとする種々の論理素子が得られる。この発明
の素子の機能は、細かく見れば12通りを有し、し
かも、これらのうちどの機能を持たせるかは、帰
還量の調整のみでよく、非常に簡単であり、また
パラメータとして固定しておく電流の値を変える
ことによつても機能の変更は可能である。このよ
うに、この発明により、集積化が可能な半導体材
料で、機能が高く、かつ柔軟性に富んだ光論理素
子を得ることができる利点がある。
とを結合した光論理素子に関するものである。 〔従来の技術〕 第7図は従来の二電極型半導体レーザの一例を
示す模式図で、1は二電極型半導体レーザ(以
下、特に必要なところ以外は単に半導体レーザと
いう)、2は電極、Poは前記半導体レーザ1の光
出力、Il、Irは前記電極2に注入する電流であ
る。 従来の半導体レーザ1は上記のように構成され
ており、一方の電流Irを適当な値に固定して他方
の電流Ilを変化させると、しきい値電流以上にお
ける利得特性に非線型性を作り出し得ることが本
発明者等の研究により判明した。これを第8図a
の半導体レーザ1の注入電流に対する光出力の特
性図に示す。 〔発明が解決しようとする問題点〕 ところで、最近の半導体デバイスの製造技術の
発展は著しく、集積度は年々向上し、高密度かつ
大規模になつてきている。ところが、単純に各素
子をさらに小さくして集積度を上げても、あまり
メリツトが得られないレベルに達しつつある。 その理由は第1に、集積度の向上につれて、論
理素子や記憶素子が搭載されているチツプ内部の
配線が著しく複雑化することである。 第2に、サイズが小さくなるにつれて、配線間
の漏話の問題が深刻になることである。 第3に、信号の伝播遅延の問題である。すなわ
ち、チツプ内の素子と配線を、さらに小さくして
いつた場合、素子そのものの応答は縮小率に比例
して速くなるが、素子間の伝達遅延時間は速くな
らず一定である。これらすべての問題点を解決す
る有力な候補として光の重要性が広く認識されて
おり、コンピユータの素子を光素子に置き換えて
いこうとする試みが多く行われている。 一方、最小単位の論理素子が二値のものでな
く、多値(三値以上)であれば、必要な計算処理
能力に対するチツプ内の素子数は少なくてすむ。
当然、配線数も少なくてすむため、上記の問題点
は著しく緩和される。これらのことから多値の光
論理素子の実現が待ち望まれるところであるが、
研究報告例は非常に少なく、特に、将来の集積化
に適した半導体素子による文献は皆無といつてよ
い。 この発明は、上記の問題点を解決するためにな
されたもので、この光出力の一部を光検出器で受
けてレーザに帰還をかけることにより、三重安定
性を始めとする種々の機能を持つた光論理素子を
得ることを目的とする。 一方、第8図bの特性図に示すように、しきい
値電流以上での利得が線型である通常の半導体レ
ーザと光検出器との組み合わせにより双安定素子
を作れることは知られており(光双安定半導体レ
ーザ、小川洋他、応用物理1983年10月号、59頁参
照)、したがつて、この発明では、このうちの半
導体レーザを特殊な特性のものに置き換えること
に相当するが、これにより、はるかに機能が高度
で、自由度の高い素子を得ることを目的とする。 〔問題点を解決するための手段〕 この発明にかかる光論理素子は、横モードの変
化によりしきい値以上の電流値において、注入電
流に対して光出力が非線型性を有する二電極型半
導体レーザと、この二電極型半導体レーザの光出
力の一部を受光して正帰還をかける光検出器とか
らなるものである。 〔作用〕 二電極型半導体レーザの光出力の一部を光検出
器に受光して二電極型半導体レーザに正帰還をか
け、かつ光帰還率や電流増幅器の増幅率または光
検出器の特性を変化させることで光論理素子に多
安定性、微分利得特性および三重安定性が得られ
る。 〔実施例〕 第1図はこの発明の一実施例を示す構成図で、
第7図と同一符号は同一部分を示し、3は光検出
器、4は電流増幅器、Piは前記光検出器3への光
入力、fPoは前記光出力Poの一部で、fは前記半
導体レーザ1の光出力Poのうち光検出器3は入
射する割合を示す光帰還率である。 Ipは前記光検出器3から半導体レーザ1への帰
還電流、Ibはバイアス電流である。 まず、光入力および光出力素子として使用する
場合について説明する。 半導体レーザ1からの光出力Poの一部fPoを光
検出器3で受け、電流増幅器4を通して電流Ilに
帰還する。電流Irとバイアス電流Ibは固定し、光
検出器3への光入力Piを変化させる。半導体レー
ザ1の特性を第2図aのように単純化して Po=0(0
の微分量子効率、I1,I2,I3は前記半導体レーザ
1の注入電流Ilに対する光出力Poの特性線上の折
曲点に対応する電流である。 一方、光検出器3の特性も第2図bのように単
純化して、帰還電流Ipを Ip=Ak(Pi+fPo)(Pi+fpo
に対する帰還電流Ipの交換係数、Aは前記増幅器
4の電流増幅率、Psは前記光検出器3の出力電
流が飽和する入力光パワーである。 第(1)式および第(2)式から帰還電流Ipを消去すれ
ば光入力Piと光出力Poとの関係がわかるが、さ
らに、わかり易くするため、図式解法により説明
する。 第3図は光帰還率fが比較的高く、三重安定点
が存在する場合の例を示している。 この図において、O1,O2,O3,O4は半導体レ
ーザ1の注入電流Ipに対する光出力Poの特性線
上の折曲点、l1,l2,l3,l4はそれぞれ折曲点O1,
O2,O3,O4を通る光検出器の特性線、P1,P2,
P3,P4はそれぞれ特性線l1,l2,l3,l4の光検出器
3の特性を与える入力光パワー、L、M、Hは出
力光−入力特性が平たんになる領域の出力光パワ
ーのレベル(以下単にレベルという)である。 半導体レーザ1の特性線と光検出器3の特性線
の交点のうち安定な点が動作点となり得る。第3
図で光入力Piを0からP2→P4→P1→P3と連続的
に増加させた場合、光検出器3の特性線は図中右
の方へ移動してゆく。ただし、飽和電流値AkPs
は変わらない。最初は発光していないので光出力
Po=Lであり、光入力PiがPiを越える時に光出
力PoはレベルLからMへ飛び、さらに光入力Pi
がP3を越える時に光出力PoはレベルMからレベ
ルHへ飛ぶ。次に光入力Piを連続的に減少させて
いくと、光入力PiがP4より小さくなつた瞬間に
光出力PoはレベルHからレベルMへ飛び、光入
力PiがP2より小さくなつた時に光出力Poはレベ
ルMからレベルLへ飛ぶ。またレベルMにある時
に、PiをP4とP1の間の値にした場合は、レベル
はMに止まつている。この様子は第4図aに示さ
れている。これは三値の記憶素子として使える。
逆の典型的な例として、光帰還率fが十分低い場
合には特性線の傾きが変わり、入力光パワーP1
<P2<P3<P4となり、第4図bに示すように履
歴現象は生せず、微分利得特性となる。同図では
分り易くするためにP1とP2の間、P3とP4の間の
線を斜めに描いてあるが、これはほとんど垂直に
すことが可能である。P1とP2をほぼ等しく、P3
とP4をほぼ等しくすればよい。これは三値のア
ナログ−デジタル変換素子、論理演算素子として
使える。半導体レーザ1の微分量子効果a,bお
よび光帰還率fの値に応じて入力光パワーP1〜
P4の大小関係は(P2<P3の関係を除いて)変わ
り、第4図a〜lに示したように、全部で12通り
の場合が存在する。第4図aは三重安定性、bは
2個所の微分利得性、fとiは特殊な三重安定
性、hは双安定性、gは2個所の双安定性、その
他c,d,e,i,k,lは双安定性と微分利得
性の両方を持つている。 この発明の光論理素子をモノリシツクに集積化
するには、具体的には、例えば第5図のように半
導体レーザ1と光検出器3を、同じ基板上の隣接
する場所に取り付ければよい(前述の小川氏の文
献参考)。この場合電流の帰還は素子内部で行わ
れる。 上記の説明では、光帰還率(第(2)式のf)を変
えることにより第4図の12通りの特性の1つを選
ぶこととしてきたが、この方式の場合には第5図
のような集積回路を作つた後での特性の変更は難
しい。そこで、電流増幅率(第(2)式のA)を変え
ることにすれば第4図a〜lの12通りの特性が得
られ、しかも光検出器3から半導体レーザ1への
帰還電流Ipが外部を通るようにしておくと、集積
回路作成後に外部から特性を選べるようにするこ
とも可能である。ただし、電流増幅率Aを変える
場合には、第4図における出力光PoのレベルH
の値が変わることになる。 またこの発明の素子は電流入力−光出力素子と
して使用することもできる。この用途には、第1
図の光入力Piは固定(0でもよい)してバイアス
電流Ibを変化させる。この場合にも、第4図a〜
lの12通りにほぼ対応する特性が得られるが、光
出力Poの一番上のレベルHの値がバイアス電流
Ibに対して変化することのみが異なる点である。
一例として、第4図aに対応する特性を第6図に
示す。 〔発明の効果〕 以上説明したように、この発明にかかる光論理
素子は、しきい値以上の電流値において注入電流
に対して横モードの変化により光出力が非線型性
を呈する、共振器軸と平行に配置された二本の互
いに平行な電極をもつ二電極型半導体レーザと、
この二電極型半導体レーザの光出力の一部を受光
して光電変換し、二電極型半導体レーザに正帰還
をかける光検出器とで構成したので、従来、例が
なかつた半導体材料による三重安定光論理素子を
始めとする種々の論理素子が得られる。この発明
の素子の機能は、細かく見れば12通りを有し、し
かも、これらのうちどの機能を持たせるかは、帰
還量の調整のみでよく、非常に簡単であり、また
パラメータとして固定しておく電流の値を変える
ことによつても機能の変更は可能である。このよ
うに、この発明により、集積化が可能な半導体材
料で、機能が高く、かつ柔軟性に富んだ光論理素
子を得ることができる利点がある。
第1図はこの発明の一実施例を示す構成図、第
2図aは半導体レーザの単純化した特性曲線を示
す図、第2図bは光検出器の単純化した特性曲線
を示す図、第3図は第1図の光論理素子の動作説
明図、第4図a〜lは第1図の光論理素子の光入
力に対する光出力特性を示す図、第5図はこの発
明の光論理素子をモノリシツクに集積化した場合
を示す構成図、第6図はこの発明の光論理素子の
電流入力に対する光出力の特性を示す図、第7図
は従来の半導体レーザの一例を示す模式図、第8
図aは従来の半導体レーザの注入電流に対する光
出力特性を示す図、第8図bは通常の半導体レー
ザの注入電流に対する光出力特性を示す図であ
る。 図中、1は半導体レーザ、2は電極、3は光検
出器、4は電流増幅器である。
2図aは半導体レーザの単純化した特性曲線を示
す図、第2図bは光検出器の単純化した特性曲線
を示す図、第3図は第1図の光論理素子の動作説
明図、第4図a〜lは第1図の光論理素子の光入
力に対する光出力特性を示す図、第5図はこの発
明の光論理素子をモノリシツクに集積化した場合
を示す構成図、第6図はこの発明の光論理素子の
電流入力に対する光出力の特性を示す図、第7図
は従来の半導体レーザの一例を示す模式図、第8
図aは従来の半導体レーザの注入電流に対する光
出力特性を示す図、第8図bは通常の半導体レー
ザの注入電流に対する光出力特性を示す図であ
る。 図中、1は半導体レーザ、2は電極、3は光検
出器、4は電流増幅器である。
Claims (1)
- 1 共振器軸と平行に配置された二本の互いに平
行な電極をもち、しきい値以上の注入電流に対し
て横モードの変化により光出力が非線型性を呈す
る二電極型半導体レーザと、この二電極型半導体
レーザの光出力の一部を受光して光電変換し、前
記二電極型半導体レーザに正帰還をかける光検出
器とからなることを特徴とする光論理素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29910685A JPS62157014A (ja) | 1985-12-28 | 1985-12-28 | 光論理素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29910685A JPS62157014A (ja) | 1985-12-28 | 1985-12-28 | 光論理素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62157014A JPS62157014A (ja) | 1987-07-13 |
JPH0413689B2 true JPH0413689B2 (ja) | 1992-03-10 |
Family
ID=17868213
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29910685A Granted JPS62157014A (ja) | 1985-12-28 | 1985-12-28 | 光論理素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62157014A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5912421A (ja) * | 1982-07-13 | 1984-01-23 | Nec Corp | 非線形光双安定素子 |
-
1985
- 1985-12-28 JP JP29910685A patent/JPS62157014A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5912421A (ja) * | 1982-07-13 | 1984-01-23 | Nec Corp | 非線形光双安定素子 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62157014A (ja) | 1987-07-13 |
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