JPH04131391A - 三弗化窒素ガスの製造方法 - Google Patents
三弗化窒素ガスの製造方法Info
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- JPH04131391A JPH04131391A JP2251854A JP25185490A JPH04131391A JP H04131391 A JPH04131391 A JP H04131391A JP 2251854 A JP2251854 A JP 2251854A JP 25185490 A JP25185490 A JP 25185490A JP H04131391 A JPH04131391 A JP H04131391A
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Landscapes
- Electrodes For Compound Or Non-Metal Manufacture (AREA)
- Electrolytic Production Of Non-Metals, Compounds, Apparatuses Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は三弗化窒素ガス(Nh)の製造方法に関する。
更に詳しくは、フッ化水素酸とアンモニアを原料とする
NH,F −IP系溶融塩の電解法によるNFsガスの
製造方法に関する。
NH,F −IP系溶融塩の電解法によるNFsガスの
製造方法に関する。
(従来の技術及び発明が解決しようとする課!!I)N
Fsは沸点が一129℃、融点が一207℃の物性を示
す無色の気体である。
Fsは沸点が一129℃、融点が一207℃の物性を示
す無色の気体である。
NFffガスは半導体のドライエツチング剤やCV[l
装置のクリーニングガスとして近年注目され゛ているが
、これらの用途に使用されるNFsガスは、高純度のも
のが要求されている。
装置のクリーニングガスとして近年注目され゛ているが
、これらの用途に使用されるNFsガスは、高純度のも
のが要求されている。
しかしながら製造されるNFffガスは、窒素(N−)
、二弗化二窒素(N2FZ)、亜酸化窒素(NffiO
) 、二酸化炭素(COz) 、二弗化酸素(Oh)
、四弗化炭素(CF4) 、酸素(0□)、未反応の弗
化水素(HF)等の不純物を比較的多量に含んでおり、
本発明で対象とするN11.F −11F系溶融塩電解
法で製造されたNF2ガスも同様である。従って、上記
用途としての高純度のNFffガスを得るためには精製
が必要である。
、二弗化二窒素(N2FZ)、亜酸化窒素(NffiO
) 、二酸化炭素(COz) 、二弗化酸素(Oh)
、四弗化炭素(CF4) 、酸素(0□)、未反応の弗
化水素(HF)等の不純物を比較的多量に含んでおり、
本発明で対象とするN11.F −11F系溶融塩電解
法で製造されたNF2ガスも同様である。従って、上記
用途としての高純度のNFffガスを得るためには精製
が必要である。
NF3ガス中のこれらの不純物を除去する精製方法とし
ては、下記する方法が知られている。
ては、下記する方法が知られている。
これらの不純物のNtFt、 HF、 Cot、 N!
、0!は比較的容易に除去あるいは含有量を低減させる
方法が知られている。
、0!は比較的容易に除去あるいは含有量を低減させる
方法が知られている。
即ち、1)NJzはKl、NagSSNa、SzO,等
の水溶液と接触させる方法(J、 Massonne+
ケミ−・インジェニュール・テヒニール(Chew、
Ing、 Techn、)41゜(12)、695.(
1969) )や148.9〜537.8°Cの温度で
金属と接触させる方法(特公昭59−15081号)等
を用い、ガススフラッパーあるいは熱分解装置を設置す
ることで工業的にも簡単に除去することができる。2)
HFは水あるいは弱アルカリ性水溶液への吸収が容易
なことから、ガススフラッパーを設置することで簡単に
除去することが可能である。3)COlはアルカリ性水
溶液への吸収が良好であるため、HF同様にガススフラ
ッパーを設置することで工業的にも簡単に除去が可能で
ある。 4)Nzや0□等の低沸点成分は、−150〜
−190℃の温度に冷却して〜F、を液化することで除
去することができる。
の水溶液と接触させる方法(J、 Massonne+
ケミ−・インジェニュール・テヒニール(Chew、
Ing、 Techn、)41゜(12)、695.(
1969) )や148.9〜537.8°Cの温度で
金属と接触させる方法(特公昭59−15081号)等
を用い、ガススフラッパーあるいは熱分解装置を設置す
ることで工業的にも簡単に除去することができる。2)
HFは水あるいは弱アルカリ性水溶液への吸収が容易
なことから、ガススフラッパーを設置することで簡単に
除去することが可能である。3)COlはアルカリ性水
溶液への吸収が良好であるため、HF同様にガススフラ
ッパーを設置することで工業的にも簡単に除去が可能で
ある。 4)Nzや0□等の低沸点成分は、−150〜
−190℃の温度に冷却して〜F、を液化することで除
去することができる。
しかし、Oh 、NJも下記する方法で除去することは
可能であるが、工業的には完全とは言えない、 5)O
F、は、NazSzOt 、KI、 NazSOs、旧
、NazS等の水溶液と接触させる方法で除去すること
ができる。しかし、吸収効率が比較的低いため、OLを
含有するガスと該水溶液の接触効率を上げるべく、大型
のスフラッパーを設置したり、高い濃度の水溶液を使用
しなくてはならず、付帯する問題が多い、また、6)N
、Oはゼオライト等の吸着剤と接触させることで効率よ
く除去することができる(Chew、 Eng、、 8
4. 116. (1977)等〕。しかし、NzO
を含有するガスの通気後、ゼオライトの再生が必要であ
ること、また吸着能力の劣化によりゼオライトの更新が
必要となる等の問題がある。
可能であるが、工業的には完全とは言えない、 5)O
F、は、NazSzOt 、KI、 NazSOs、旧
、NazS等の水溶液と接触させる方法で除去すること
ができる。しかし、吸収効率が比較的低いため、OLを
含有するガスと該水溶液の接触効率を上げるべく、大型
のスフラッパーを設置したり、高い濃度の水溶液を使用
しなくてはならず、付帯する問題が多い、また、6)N
、Oはゼオライト等の吸着剤と接触させることで効率よ
く除去することができる(Chew、 Eng、、 8
4. 116. (1977)等〕。しかし、NzO
を含有するガスの通気後、ゼオライトの再生が必要であ
ること、また吸着能力の劣化によりゼオライトの更新が
必要となる等の問題がある。
しかしながら、CF、は上記した各方法では除去されず
、その効果的な除去方法は未だ知られていない、またC
F、は沸点が一128℃であって、NF3の沸点と非常
に接近しているのでNhの深冷蒸留によっても分離が困
難である。このためCF4の含有量を減らすためには、
発生量そのものを抑制することが最もを効な方法である
。
、その効果的な除去方法は未だ知られていない、またC
F、は沸点が一128℃であって、NF3の沸点と非常
に接近しているのでNhの深冷蒸留によっても分離が困
難である。このためCF4の含有量を減らすためには、
発生量そのものを抑制することが最もを効な方法である
。
本発明で対象とするNH,F −HF系溶融塩中で耐蝕
性に最も優れた陽極材料は炭素である。しかしながら、
炭素電極で電解を行なうと、NF、中に対し数100容
量pp−の割合でCF4が住成するため、高純度のII
F、製造には全く適していない、さらに、炭素電極にお
いては陽極効果の発生が実際の使用上の障害となる。
性に最も優れた陽極材料は炭素である。しかしながら、
炭素電極で電解を行なうと、NF、中に対し数100容
量pp−の割合でCF4が住成するため、高純度のII
F、製造には全く適していない、さらに、炭素電極にお
いては陽極効果の発生が実際の使用上の障害となる。
陽極効果とは、表面エネルギーの極めて低い膜が炭素電
極表面に形成されることによる二次的現象として電圧が
異常に上昇し、電流が殆ど流れなくなる現象を言う、こ
の現象が発生すると電解を継続できなくなるばかりでは
なく、電極表面の再生処理、著しい場合は電極の交換も
必要となる等、極めて深刻な状況となる。
極表面に形成されることによる二次的現象として電圧が
異常に上昇し、電流が殆ど流れなくなる現象を言う、こ
の現象が発生すると電解を継続できなくなるばかりでは
なく、電極表面の再生処理、著しい場合は電極の交換も
必要となる等、極めて深刻な状況となる。
陽極効果は、溶融塩中の微量水分によって引き起こされ
るものであり、炭素電極で電解を行ない、陽極効果発生
を防ぐための水分の許容上限は、数100pp翻とされ
ている。
るものであり、炭素電極で電解を行ない、陽極効果発生
を防ぐための水分の許容上限は、数100pp翻とされ
ている。
ところが、本発明で対象とする溶融塩は、原料自体が既
に数1000 ppmの水分を含有する酸性フッ化アン
モニウム(N)IaPJ)あるいはフッ化アンモニウム
(Nl(4F)にフッ化水素酸を加えて調製されるもの
であるため、該調製された溶融塩には少なくとも数10
00 ppygの水分混入は避けられず、この溶融塩を
そのまま使用して炭素電極での電解を行なうことは上記
理由により困難である。
に数1000 ppmの水分を含有する酸性フッ化アン
モニウム(N)IaPJ)あるいはフッ化アンモニウム
(Nl(4F)にフッ化水素酸を加えて調製されるもの
であるため、該調製された溶融塩には少なくとも数10
00 ppygの水分混入は避けられず、この溶融塩を
そのまま使用して炭素電極での電解を行なうことは上記
理由により困難である。
さて、このような場合、−船釣には溶融塩中の水分を除
去する方法が採られる。これには通常、脱水電解と呼ば
れる方法が用いられ、このためには陽極効果を起こさな
い電極材料、即ち、Niを電極として使用する方法が好
ましい。
去する方法が採られる。これには通常、脱水電解と呼ば
れる方法が用いられ、このためには陽極効果を起こさな
い電極材料、即ち、Niを電極として使用する方法が好
ましい。
脱水電解を伴う操業形態としては、脱水電解の実施後に
引続き電極を、炭素電極に切り替えて本電解を行ない、
溶融塩が消費されるに従い、溶融塩を補給して再び脱水
電解に戻る回分的方法と、脱水電解終了後の炭素電極で
の本電解中に、消費量見合い分の溶融塩を少量づつ補給
し、本電解を行なう連続的方法とがある。
引続き電極を、炭素電極に切り替えて本電解を行ない、
溶融塩が消費されるに従い、溶融塩を補給して再び脱水
電解に戻る回分的方法と、脱水電解終了後の炭素電極で
の本電解中に、消費量見合い分の溶融塩を少量づつ補給
し、本電解を行なう連続的方法とがある。
前者の回分的方法は、溶融塩中の水分量の許容範囲は比
較的広いものの、たびたびN i il 橿を使用する
ことによる後述のスラッジの問題、及び頻繁な電極の切
り替えが必要であることから実際的な方法とは言えない
。
較的広いものの、たびたびN i il 橿を使用する
ことによる後述のスラッジの問題、及び頻繁な電極の切
り替えが必要であることから実際的な方法とは言えない
。
後者の連続的方法の操業形態としては、理想的であるが
補給する溶融塩の水分含有量は、好ましくは500pp
−以下である必要があり、現状の溶融塩中の水分含有量
では陽極効果が発生するため好ましくない。補給する熔
融塩も脱水電解により脱水することも出来るが、やはり
後述のスラッジの問題を避けることはできない。
補給する溶融塩の水分含有量は、好ましくは500pp
−以下である必要があり、現状の溶融塩中の水分含有量
では陽極効果が発生するため好ましくない。補給する熔
融塩も脱水電解により脱水することも出来るが、やはり
後述のスラッジの問題を避けることはできない。
これらの理由により、CF、発生量低減のために従来は
炭素電極を使用せず、専らニッケル(Ni)あるいはN
iを主体とする合金が陽極として使用されてきた。
炭素電極を使用せず、専らニッケル(Ni)あるいはN
iを主体とする合金が陽極として使用されてきた。
NiあるいはNiを主体とする合金は該溶融塩中におい
て、最も耐蝕性に優れた金属材料である。Niあるいは
Niを主体とする合金を電極として使用した場合、CF
、の生成も極めて低く抑えることができ、また、陽極効
果の発生も起こらない。
て、最も耐蝕性に優れた金属材料である。Niあるいは
Niを主体とする合金を電極として使用した場合、CF
、の生成も極めて低く抑えることができ、また、陽極効
果の発生も起こらない。
しかし、電解に供される電流の内、Niの溶解に使われ
る電流の割合(溶解の電流効率)は数%程度あり、陽極
Niの消耗は避けられない、このため、陽極Niの更新
、あるいはNiの溶解により生成した溶融塩中のスラッ
ジの除去を、頻繁に実施しなくてはならず、大きな問題
となっている。
る電流の割合(溶解の電流効率)は数%程度あり、陽極
Niの消耗は避けられない、このため、陽極Niの更新
、あるいはNiの溶解により生成した溶融塩中のスラッ
ジの除去を、頻繁に実施しなくてはならず、大きな問題
となっている。
(課題を解決するための手段)
本発明者等はかかる状況に鑑み、鋭意検討を重ねた結果
、曲げ破壊強度の極めて高い炭素質材料を陽極として使
用し、また、NH4F −HF系熔融塩の原料として、
NH,F、HあるいはNH,Fを使用せず、溶融塩中の
アンモニア源として水分含有量の少ないアンモニア、並
びに水分含有量の少ないフッ化水素酸を使用すれば、陽
極効果を引き起こさない500pp@以下の水分含有量
である原料熔融塩を供給できることを見出したものであ
る。
、曲げ破壊強度の極めて高い炭素質材料を陽極として使
用し、また、NH4F −HF系熔融塩の原料として、
NH,F、HあるいはNH,Fを使用せず、溶融塩中の
アンモニア源として水分含有量の少ないアンモニア、並
びに水分含有量の少ないフッ化水素酸を使用すれば、陽
極効果を引き起こさない500pp@以下の水分含有量
である原料熔融塩を供給できることを見出したものであ
る。
該溶融塩を供給しながら、耐蝕性の最も優れた炭素質電
極で、かつCF、の生成を抑えながら、該溶融塩の連続
的な電解を可能とし、さらに、水分に由来するNeo
、OL等の不純物の低減が図れることを突き止め、本発
明を完成するに至ったものである。
極で、かつCF、の生成を抑えながら、該溶融塩の連続
的な電解を可能とし、さらに、水分に由来するNeo
、OL等の不純物の低減が図れることを突き止め、本発
明を完成するに至ったものである。
即ち、溶融塩電解法により三弗化窒素ガスを製造するに
おいて、フッ化水素酸とアンモニアより調製された溶融
塩を原料とし、曲げ破壊強度が1000kg/c■2以
上である炭素質電極を陽極とし、溶融塩電解法により電
解を行なうことを特徴とする三弗化窒素ガスの製造方法
に関する。
おいて、フッ化水素酸とアンモニアより調製された溶融
塩を原料とし、曲げ破壊強度が1000kg/c■2以
上である炭素質電極を陽極とし、溶融塩電解法により電
解を行なうことを特徴とする三弗化窒素ガスの製造方法
に関する。
(発明の詳細な開示)
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明を実施するためには、まず、調製された溶融塩に
外部から水分が侵入しない、密閉された溶融塩調製用容
器を用意する。該溶融塩調製用容器はフッ化水素酸ガス
とアンモニアガスの導入口を備え、また、溶融塩の抜き
出し、溶融塩調製用容器内部の圧力調整用の乾燥不活性
ガス導出入ができる構造となっている。その他に温度計
、圧力計、液面針が取り付けられる構造となっていれば
更に好ましい、また、溶融塩調製中の除熱、溶融塩保存
時の保温ができるよう加熱、冷却ができる構造となって
いる。
外部から水分が侵入しない、密閉された溶融塩調製用容
器を用意する。該溶融塩調製用容器はフッ化水素酸ガス
とアンモニアガスの導入口を備え、また、溶融塩の抜き
出し、溶融塩調製用容器内部の圧力調整用の乾燥不活性
ガス導出入ができる構造となっている。その他に温度計
、圧力計、液面針が取り付けられる構造となっていれば
更に好ましい、また、溶融塩調製中の除熱、溶融塩保存
時の保温ができるよう加熱、冷却ができる構造となって
いる。
溶融塩調製用容器は、テフロン製のものが好ましい、ニ
ッケル等の耐蝕性金属材料も使用できるが、フッ素樹脂
製あるいはフッ素樹脂をライニングあるいはコーティン
グした溶融塩調製用容器が望ましい、尚、使用直前にお
いて該溶融塩調製用容器内部は、十分な乾燥を行なう必
要がある。
ッケル等の耐蝕性金属材料も使用できるが、フッ素樹脂
製あるいはフッ素樹脂をライニングあるいはコーティン
グした溶融塩調製用容器が望ましい、尚、使用直前にお
いて該溶融塩調製用容器内部は、十分な乾燥を行なう必
要がある。
次に該溶融塩調製用容器内部を液体窒素より得た乾燥窒
素(N2)ガスで十分に1換する。アルゴン(Ar)、
ヘリウム(He)等の不活性ガスも使用可能であるが、
液化ガスを気化させた乾燥ガスを使用する必要があり、
コストを勘案するとNzガスが好ましい。溶融塩調製用
容器の内圧はガスシールと乾燥窒素を供給する圧力調整
器により調製され、常時大気圧よりやや高く保たれるよ
うにする。NHffおよびHFはいずれもN)Iff及
びHPの気化ガスを用いた。これらに含まれる水分含有
量は、−船釣に100〜30Opp−以下であり、外部
からの水分侵入が無ければ、調製された溶融塩の水分含
有量も低く保つことができる。
素(N2)ガスで十分に1換する。アルゴン(Ar)、
ヘリウム(He)等の不活性ガスも使用可能であるが、
液化ガスを気化させた乾燥ガスを使用する必要があり、
コストを勘案するとNzガスが好ましい。溶融塩調製用
容器の内圧はガスシールと乾燥窒素を供給する圧力調整
器により調製され、常時大気圧よりやや高く保たれるよ
うにする。NHffおよびHFはいずれもN)Iff及
びHPの気化ガスを用いた。これらに含まれる水分含有
量は、−船釣に100〜30Opp−以下であり、外部
からの水分侵入が無ければ、調製された溶融塩の水分含
有量も低く保つことができる。
NH3ガスおよび)IPガスは、ガス導入口を通し溶融
塩調製用容器内部へ導入されるが、NHffガスとIP
ガスの反応は極めて速やかに進み、また発熱も大きいた
め、−時に多量に導入することは避けるべきである。供
給速度は溶融塩調製用容器の大きさ、除熱能力を勘案し
、適宜選択される。
塩調製用容器内部へ導入されるが、NHffガスとIP
ガスの反応は極めて速やかに進み、また発熱も大きいた
め、−時に多量に導入することは避けるべきである。供
給速度は溶融塩調製用容器の大きさ、除熱能力を勘案し
、適宜選択される。
次に、調製された溶融塩の水分の定量を行なう。
該溶融塩が含有する水分は、およそ500pp−以下で
あり、簡易な水分測定法であるカールフィシャー法で水
分を定量することは難しい。そこで、溶融塩中の水分含
有量は、1988年(財)電気化学協会秋季大会におい
て、同志社大学、堀雅彦等によって発表された論文「溶
融フッ化物浴中の水分定量法の検討」に記載の方法によ
って測定した。
あり、簡易な水分測定法であるカールフィシャー法で水
分を定量することは難しい。そこで、溶融塩中の水分含
有量は、1988年(財)電気化学協会秋季大会におい
て、同志社大学、堀雅彦等によって発表された論文「溶
融フッ化物浴中の水分定量法の検討」に記載の方法によ
って測定した。
該測定方法は、バインダーレスカーボンを試験電極とし
て陽極に用い、白金/1!X解液の示す基準電極電位に
対し電位走査を行なう、この時現れる2つの電流ピーク
の高さの比率より、水分を定量する。即ち、2■付近に
現れるピーク高さは、試験電極の有効表面積に接する溶
融塩中の水分含有量に比例する。試験電極の有効表面積
は8V付近に現れるピーク高さに比例する。よって2つ
のピーク高さの比は溶融塩中の水分含有量に比例するの
で、これにより電解液中の水分含有量の検量線を求める
ことができる。
て陽極に用い、白金/1!X解液の示す基準電極電位に
対し電位走査を行なう、この時現れる2つの電流ピーク
の高さの比率より、水分を定量する。即ち、2■付近に
現れるピーク高さは、試験電極の有効表面積に接する溶
融塩中の水分含有量に比例する。試験電極の有効表面積
は8V付近に現れるピーク高さに比例する。よって2つ
のピーク高さの比は溶融塩中の水分含有量に比例するの
で、これにより電解液中の水分含有量の検量線を求める
ことができる。
これにより求めた溶融塩中の水分含有量は、400pp
−以下であり、NH4FJあるいはNHJFより調製し
た場合と比較して半分以下であった。
−以下であり、NH4FJあるいはNHJFより調製し
た場合と比較して半分以下であった。
次に電解を行なうが、炭素電極を用いたN11.F・H
F系溶融塩電解の運転形態は前述した理由により連続的
方法を適用する。
F系溶融塩電解の運転形態は前述した理由により連続的
方法を適用する。
まず電解槽に溶融塩を仕込む。溶融塩は前述で調製した
NH3ガスとHFガスからの溶融塩を用いたが、電解開
始時だけならば脱水電解を行なうことは差し支えないの
で、NH4F −HFあるいはN1(4Fを原料として
調製された溶融塩を用いても構わない。
NH3ガスとHFガスからの溶融塩を用いたが、電解開
始時だけならば脱水電解を行なうことは差し支えないの
で、NH4F −HFあるいはN1(4Fを原料として
調製された溶融塩を用いても構わない。
脱水電解はNi電極を陽極として、電流密度20mA/
am”程度で通電量40 A−hr/ f−溶融塩、以
上の電解を行なう、尚、陰極には鉄(Fe)を使用する
。
am”程度で通電量40 A−hr/ f−溶融塩、以
上の電解を行なう、尚、陰極には鉄(Fe)を使用する
。
次に電極の曲げ破壊強度が、loookg/cm2以上
を有する炭素質電極(東洋炭素株式会社製)に切り替え
て本電解に移行する。
を有する炭素質電極(東洋炭素株式会社製)に切り替え
て本電解に移行する。
炭素質電極の曲げ破壊強度は1000kg/cm”以上
が好ましい、また、その他の特性として、シロア硬度1
00以上、弾性係数1500kg/cm”以上、かさ比
重1.6以上を有するものが、より好ましい。
が好ましい、また、その他の特性として、シロア硬度1
00以上、弾性係数1500kg/cm”以上、かさ比
重1.6以上を有するものが、より好ましい。
曲げ破壊強度が1000kg/cm”未満では、電解に
より生成するNusガス中のCFaの含有量が1001
)+1−を越えるため、好ましくない。
より生成するNusガス中のCFaの含有量が1001
)+1−を越えるため、好ましくない。
連続電解において供給される溶融塩は、電解槽とは別に
設けられた溶融塩調製用容器中で調製された、溶融塩を
供給しながら行なうこともできるが、電解槽そのものを
該溶融塩調製用容器と考えても、本発明ではこれを等価
に実施出来るものである。
設けられた溶融塩調製用容器中で調製された、溶融塩を
供給しながら行なうこともできるが、電解槽そのものを
該溶融塩調製用容器と考えても、本発明ではこれを等価
に実施出来るものである。
即ち、電解槽にNH,ガスと)HFガスの導入口、槽内
圧力調製用の設備を新たに設けるだけでよい。
圧力調製用の設備を新たに設けるだけでよい。
電解槽で、原料である溶融塩を調製しながら電解を行な
うには、NH3ガスとl(Fガスを供給すれば良いが、
電解槽内の圧力変動をできるだけ少なくするために、N
il!ガスとHFガスの吹き出し口は、電解槽内の気相
部より溶融塩の液中に設けられているのが好ましい、吹
き出し口は出来るだけ接近している方が電解槽中の溶融
塩の組成が均一となるため好ましい、またNHsガス、
HFガス共に溶融塩にはきわめて速やかに吸収されるた
め、供給量が少ない場合等は供給管を逆流する虞がある
。このためNLガスおよび)HFガスに乾燥N2ガスを
lθ〜20%程度同伴させると、逆流は起こらずに安定
に供給が可能となる。
うには、NH3ガスとl(Fガスを供給すれば良いが、
電解槽内の圧力変動をできるだけ少なくするために、N
il!ガスとHFガスの吹き出し口は、電解槽内の気相
部より溶融塩の液中に設けられているのが好ましい、吹
き出し口は出来るだけ接近している方が電解槽中の溶融
塩の組成が均一となるため好ましい、またNHsガス、
HFガス共に溶融塩にはきわめて速やかに吸収されるた
め、供給量が少ない場合等は供給管を逆流する虞がある
。このためNLガスおよび)HFガスに乾燥N2ガスを
lθ〜20%程度同伴させると、逆流は起こらずに安定
に供給が可能となる。
尚、本発明はNH4F −)IF系溶融塩中でCF4生
成量を抑制できる炭素質1ttiを用いて電解を行なう
ことを主目的に実施されるものであるが、Ni等の金属
電極において電解を行なうことも、水分含有量の少ない
溶融塩を供給できるため、不純物であるOF、 、Fi
tO等の住成量を低く抑えられる利点を有している。
成量を抑制できる炭素質1ttiを用いて電解を行なう
ことを主目的に実施されるものであるが、Ni等の金属
電極において電解を行なうことも、水分含有量の少ない
溶融塩を供給できるため、不純物であるOF、 、Fi
tO等の住成量を低く抑えられる利点を有している。
(実施例)
以下、実施例により本発明を更に具体的に説明する。尚
、以下において%、ppmは特記しない限り容量基準を
表わす。
、以下において%、ppmは特記しない限り容量基準を
表わす。
実施例]
第1図に示す装置を使用して溶融塩を調製した。
まず、予め内面を十分に乾燥させた容量51!の溶融塩
調製用容器lに乾燥N、ガス2を3f!/winにて3
0分間供給し、容器内部を完全に乾燥N、ガスで置換し
た。
調製用容器lに乾燥N、ガス2を3f!/winにて3
0分間供給し、容器内部を完全に乾燥N、ガスで置換し
た。
次に、溶融塩調製用容器1本体を80℃の詞温浴5に浸
し、液化Nl(、ボンへより供給されるNH3ガス3、
および無水11Fボンベより供給されるHFガス4を各
々11 g/sin、39 g/minにて約100分
間供給し、組成NH4F・2HFの溶融塩5kgを調製
した。この間、溶融塩調製用容器内圧の若干の変動が微
圧計6で観測されたが、圧力は正圧に常時保たれた。
し、液化Nl(、ボンへより供給されるNH3ガス3、
および無水11Fボンベより供給されるHFガス4を各
々11 g/sin、39 g/minにて約100分
間供給し、組成NH4F・2HFの溶融塩5kgを調製
した。この間、溶融塩調製用容器内圧の若干の変動が微
圧計6で観測されたが、圧力は正圧に常時保たれた。
調製された溶融塩7の一部を水分定量用の小型セルに導
入し、水分含有量を測定したところ300ppmであっ
た。
入し、水分含有量を測定したところ300ppmであっ
た。
次に容量的201の電解槽9に、溶融塩調製用容器1で
調製された溶融塩7を満たし、曲げ破壊強度1200k
g/cm”を有する炭素質電極を用いて、電流密度20
mA/cm” 、約100OA−hrから逐次上昇し
、電流密度100 mA/cm”、約100OA−hr
で本電解を約1カ月行なった。この間、電解槽中の溶融
塩量を一定に保つため、溶融塩調製用容器1で調製した
溶融塩を適宜補給した。
調製された溶融塩7を満たし、曲げ破壊強度1200k
g/cm”を有する炭素質電極を用いて、電流密度20
mA/cm” 、約100OA−hrから逐次上昇し
、電流密度100 mA/cm”、約100OA−hr
で本電解を約1カ月行なった。この間、電解槽中の溶融
塩量を一定に保つため、溶融塩調製用容器1で調製した
溶融塩を適宜補給した。
以上の結果、炭素質電極を使用しての連続運転において
、陽極効果は発生せず、電解運転を長時間継続すること
が出来た。
、陽極効果は発生せず、電解運転を長時間継続すること
が出来た。
また、陽極より発生したガスを液体窒素で冷却された、
ステンレス製ボンベを用いて捕集した。
ステンレス製ボンベを用いて捕集した。
該ガスを室温においてボンベ内で気化させた後、ガスク
ロマトグラフィーにて分析を行なったところ、CF、の
含有量は約20 ppm、opgは検出限界以下であっ
た。
ロマトグラフィーにて分析を行なったところ、CF、の
含有量は約20 ppm、opgは検出限界以下であっ
た。
実施例2
実施例1において最初に電解槽9に仕込む溶融塩を、N
l(、F −11FおよびHF各々17kgと6.5
kgにより調製された水分台を量0.2%の溶融塩を調
製し、陽極にNiW極を使用して、電流密度20 mA
/cm”約100OA−hrの脱水電解を行なった後、
陽極のNi電極を実施例1と同様の炭素質電極に切り替
えて、電流密度100mA/cm”で本電解を約1カ月
行なった。
l(、F −11FおよびHF各々17kgと6.5
kgにより調製された水分台を量0.2%の溶融塩を調
製し、陽極にNiW極を使用して、電流密度20 mA
/cm”約100OA−hrの脱水電解を行なった後、
陽極のNi電極を実施例1と同様の炭素質電極に切り替
えて、電流密度100mA/cm”で本電解を約1カ月
行なった。
その結果、炭素質電極を使用しての連続運転において、
陽極効果は発生せず、電解運転を長時間継続することが
出来た。また、陽極12より発生するガス中に含まれる
CF4 は約25ρpIIl、Ohは検出限界以下であ
った。
陽極効果は発生せず、電解運転を長時間継続することが
出来た。また、陽極12より発生するガス中に含まれる
CF4 は約25ρpIIl、Ohは検出限界以下であ
った。
実施例3
実施例1で使用した電解槽9にN)I3ガス導入口10
とHFガス導入口11の供給口を設けた。該電解槽9に
実施例1と同様の方法で調製された溶融塩7を仕込み、
炭素質電極を用いて実施例1に従って電解を行なった。
とHFガス導入口11の供給口を設けた。該電解槽9に
実施例1と同様の方法で調製された溶融塩7を仕込み、
炭素質電極を用いて実施例1に従って電解を行なった。
この間、消費された溶融塩の補給は、乾燥窒素を10%
同伴させた液化NH,ボンベより供給されるNH,ガス
およびI(Fボンベより供給されるIPガスを直接電解
槽中の溶融塩に吹き込む方法で行なった。
同伴させた液化NH,ボンベより供給されるNH,ガス
およびI(Fボンベより供給されるIPガスを直接電解
槽中の溶融塩に吹き込む方法で行なった。
以上の結果、炭素質電極を使用しての連続運転において
、陽極効果は発生せず、電解運転を長時間継続すること
が出来た。また、陽極12より発生するガス中に含まれ
るCF、は20 pp−以下、OF、は検出限界以下で
あった。
、陽極効果は発生せず、電解運転を長時間継続すること
が出来た。また、陽極12より発生するガス中に含まれ
るCF、は20 pp−以下、OF、は検出限界以下で
あった。
実施例4
実施例1において、炭素質電極の替わりにNiを陽極と
して使用した他は、実施例1と同様に行なった。
して使用した他は、実施例1と同様に行なった。
本電解中に陽極12より発生するガスを液体窒素で冷却
されたボンベを用いて捕集した。該ガスを室温において
ボンベ内で気化させた後、該ガスをガスクロマトグラフ
ィーにて分析を行なったところ、N、Oの含有量は約3
00ppm、opzは検出限界以下であった。
されたボンベを用いて捕集した。該ガスを室温において
ボンベ内で気化させた後、該ガスをガスクロマトグラフ
ィーにて分析を行なったところ、N、Oの含有量は約3
00ppm、opzは検出限界以下であった。
(比較例)
比較例1
実施例1において、炭素質電極で行なう、本電解中に補
給する溶融塩をNHjF −)IPおよびHFにより調
製された組成NH4F・2旺、水分含有量0,12%の
溶融塩を使用した他は、実施例1と同様の方法で行なっ
た。
給する溶融塩をNHjF −)IPおよびHFにより調
製された組成NH4F・2旺、水分含有量0,12%の
溶融塩を使用した他は、実施例1と同様の方法で行なっ
た。
その結果、本電解開始後3日目に陽極効果が発生し、電
解の継続が不可能となった。
解の継続が不可能となった。
比較例2
実施例1において、曲げ強度800kg/cm”の炭素
質電極を使用した他は実施例1と同様に行った。
質電極を使用した他は実施例1と同様に行った。
その結果、陽極より発生するガス中に含まれるCF、は
270ppmであった。
270ppmであった。
比較例3
実施例4において、本電解中に供給する溶融塩にNH,
F −1(FおよびHFにより調製された組成、NH4
F・2HF、水分含有量0.2%の溶融塩を使用した他
は、実施例1と同様の方法で行なった。本電解中に陽極
より発生するガスを液体窒素で冷却されたボンベを用い
て捕集した。該ガスを室温においてボンベ内で気化させ
た後、ガスクロマトグラフィーにて分析を行なったとこ
ろ、N20の含有量は約2000 pp蒙、OF、番よ
約200pp閣であった。
F −1(FおよびHFにより調製された組成、NH4
F・2HF、水分含有量0.2%の溶融塩を使用した他
は、実施例1と同様の方法で行なった。本電解中に陽極
より発生するガスを液体窒素で冷却されたボンベを用い
て捕集した。該ガスを室温においてボンベ内で気化させ
た後、ガスクロマトグラフィーにて分析を行なったとこ
ろ、N20の含有量は約2000 pp蒙、OF、番よ
約200pp閣であった。
(発明の効果)
本発明は以上詳細に説明したように、NH,F −HF
系熔融塩の電解法によりNhガスを製造するに際し、溶
融塩中の水分含有量を低く抑え、かつ曲げ破壊強度の大
きい炭素質電極を用い、CF4の生成を抑え、なおかつ
陽極効果を起こさずに、安定した電解を継続させること
の出来る非常に有効な方法である。
系熔融塩の電解法によりNhガスを製造するに際し、溶
融塩中の水分含有量を低く抑え、かつ曲げ破壊強度の大
きい炭素質電極を用い、CF4の生成を抑え、なおかつ
陽極効果を起こさずに、安定した電解を継続させること
の出来る非常に有効な方法である。
これにより、曲げ破壊強度の大きい炭素質電極を使用す
ることにより高純度ガスが製造できるだけでなく、従来
のNiあるいはNiを主体とする合金を陽極とし、原料
にNH,FあるいはN)14F −!(Fを用いてNF
zガスを製造する際に問題であった課題が解決した。
ることにより高純度ガスが製造できるだけでなく、従来
のNiあるいはNiを主体とする合金を陽極とし、原料
にNH,FあるいはN)14F −!(Fを用いてNF
zガスを製造する際に問題であった課題が解決した。
即ち、溶解により消耗した電極の更新及びその作業の簡
略化、電極の溶解により溶融塩中に蓄積するスラッジの
除去、不純物ガス発生の増加等による、製造コスト増加
、危険作業を削減することが可能となった。
略化、電極の溶解により溶融塩中に蓄積するスラッジの
除去、不純物ガス発生の増加等による、製造コスト増加
、危険作業を削減することが可能となった。
更には、低い水分含有量の溶融塩を用い、継続して電解
を行えることから、水分が原因となる不純物であるN、
O、OF2等の不純物生成量も従来に比較して低く抑え
られる利点も有している。
を行えることから、水分が原因となる不純物であるN、
O、OF2等の不純物生成量も従来に比較して低く抑え
られる利点も有している。
このことはNiを陽極として使用する従来の製造方法に
採用されても同様の結果を得ることは言うまでもない。
採用されても同様の結果を得ることは言うまでもない。
第1図は実施例及び比較例で使用した溶融塩調製装置及
び電解装置を示す断面図である。 図において、 1−m−溶融塩調製用容器、 2−一−N2ガス導入口、 3 NH3ガス導入口、 4−−−)IFガス導入口、 5−一一調温浴、 6−−−微圧計、 7−−−溶融塩、 8−m−溶融塩抜出口弁、 9−m−電解槽、 1O−−−NHffガス導入口(を解槽吹き込み用)1
1−−−HFガス導入口(を解槽吹き込み用)12−m
−陽極、 13−m−陰極、 14−m−隔壁、 15−m−陽極ガス出口管、 16一−−陰極ガス出口管、 17−−−調温用ヒーター及びクーラーを示す。 特許出願人 三井東圧化学株式会社
び電解装置を示す断面図である。 図において、 1−m−溶融塩調製用容器、 2−一−N2ガス導入口、 3 NH3ガス導入口、 4−−−)IFガス導入口、 5−一一調温浴、 6−−−微圧計、 7−−−溶融塩、 8−m−溶融塩抜出口弁、 9−m−電解槽、 1O−−−NHffガス導入口(を解槽吹き込み用)1
1−−−HFガス導入口(を解槽吹き込み用)12−m
−陽極、 13−m−陰極、 14−m−隔壁、 15−m−陽極ガス出口管、 16一−−陰極ガス出口管、 17−−−調温用ヒーター及びクーラーを示す。 特許出願人 三井東圧化学株式会社
Claims (1)
- 1)溶融塩電解法により三弗化窒素ガスを製造するにお
いて、フッ化水素酸とアンモニアより調製された溶融塩
を原料とし、曲げ破壊強度が1000kg/cm^2以
上である炭素質電極を陽極とし、溶融塩電解法により電
解を行なうことを特徴とする三弗化窒素ガスの製造方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2251854A JP2854952B2 (ja) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | 三弗化窒素ガスの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2251854A JP2854952B2 (ja) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | 三弗化窒素ガスの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04131391A true JPH04131391A (ja) | 1992-05-06 |
JP2854952B2 JP2854952B2 (ja) | 1999-02-10 |
Family
ID=17228911
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2251854A Expired - Fee Related JP2854952B2 (ja) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | 三弗化窒素ガスの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2854952B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011179072A (ja) * | 2010-03-01 | 2011-09-15 | Central Glass Co Ltd | フッ素ガス生成装置 |
-
1990
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JP2011179072A (ja) * | 2010-03-01 | 2011-09-15 | Central Glass Co Ltd | フッ素ガス生成装置 |
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JP2854952B2 (ja) | 1999-02-10 |
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