KR100641603B1 - 고순도 불소의 제조방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전기분해에 의한 고순도 불소(F2)의 제조방법에 관한 것으로, 본 발명에 따르면 양극 재료로서 탄소 함유량 0.01% 이하이고 순도가 99.8%이상인 니켈을 사용해서 불산(HF)을 전기분해함으로써 순도 99.999% 이상의 고순도 불소를 경제적으로 제조할 수 있으며, 이러한 고순도 불소는 고순도를 요하는 삼불화질소(NF3)의 제조 원료로서 유용하게 이용될 수 있다.

Description

고순도 불소의 제조방법 {PREPARATION OF HIGH PURITY FLUORINE GAS}
본 발명은 고순도 불소(F2)의 제조방법에 관한 것으로, 본 발명에 따라 제조된 불소는 순도 99.999% 이상의 고순도이므로 고순도 삼불화질소(NF3) 제조 등에 유용하게 이용할 수 있다.
불소는 여러 가지 산업 분야에 많이 이용되고 있으며, 특히 CVD 장치 클리닝제 및 반도체의 에칭제로서 공업적으로 널리 사용되고 있는 삼불화질소 제조 원료로서 점점 그 중요성이 증가하고 있다. 최근 클리닝제 및 에칭제로 사용되는 삼불화질소는 점점 고순도를 요구하고 있다. 특히 삼불화질소 중의 사불화탄소(CF4) 함량의 저감이 중요하고 그 목표치는 10ppm 이하 정도이다.
삼불화질소의 공업적인 생산 방법은, 양극의 전극재료로서 탄소를 사용하여 불산(HF)을 전기분해해서 불소를 제조하고 이 제조된 불소와 암모니아(NH3) 또는 불화암모늄 등의 암모늄염을 반응시켜서 삼불화질소를 제조하는 방법이 일반적이다(한국 특허공개 제 2003-21661 호 참조).
그러나 상기 방법으로 제조된 삼불화질소(NF3)에는 불소의 제조과정에서 생성된 사불화탄소(CF4)가 소량, 보통 20 내지 1,000 ppm 정도 혼입되어 있어 고순도를 요구하는 삼불화질소의 제조에는 문제가 있다는 것이 인식되었다.
이 삼불화질소(NF3) 가스 중의 사불화탄소(CF4)의 저감방법으로서 분자체(molecular sieve)에 의한 분리 제거 방법이 제안되고 있지만(일본 특허공개 평3-208806 및 미국 특허 제5,069,690호 참조), 삼불화질소와 사불화탄소는 분자의 크기가 거의 같을 뿐만 아니라 극성도 거의 비슷하기 때문에, 흡착제에 의한 흡착법이나 흡수제와의 접촉에 의한 분리제거 및 냉동증류에 의한 분리제거와 같은 통상의 방법으로 경제적으로 서로 분리하는 것은 매우 어려우며, 사불화탄소를 10ppm 이하로 분리하는 것은 대단히 어렵다.
따라서 사불화탄소(CF4)가 적은 고순도 삼불화질소 제조용 고순도 불소의 경제적인 제조 방법의 확립이 절실히 요구된다.
따라서, 본 발명자들은 불산(HF)의 전기분해에 의해 불소를 제조하는 방법에 있어서 사용되는 양극재료에 대하여 예의 연구한 결과, 양극 재료용으로서 탄소함량 0.01% 이하 및 순도 99.8% 이상의 니켈을 사용함으로써 사불화탄소(CF4)가 적은 불소 제조가 가능하다는 것을 밝혀내고 본 발명을 완성하게 되었다.
상기 기술적 과제를 이루기 위하여, 본 발명에서는, 불산(HF)을 전기분해하여 불소를 제조하는 방법에 있어서 탄소 함량 0.01% 이하 및 순도 99.8%이상의 니켈을 양극 재료로 사용함을 특징으로 하는, 고순도 불소 제조 방법을 제공한다.
본 발명에서는 또한, 상기 방법에 의해 제조된 불소를 암모니아(NH3) 또는 불화암모늄(NH4FㆍHF)과 반응시켜 삼불화질소(NF3)를 제조하는 방법을 제공한다.
이하 본 발명을 보다 상세히 설명한다.
본 발명은 불산(HF)을 함유하는 용융염을 전기분해하여 불소를 제조하는 방법에 있어서 탄소 함량 0.01% 이하 및 순도 99.8%이상의 니켈을 양극 재료로 사용함을 특징으로 한다.
본 발명에서 출발물질로 사용되는 불산(HF)은 순도 99.8%이상의 고순도의 것이 바람직하다. 순도가 낮으면 사불화탄소(CF4)의 생성량이 증가하여 생성되는 불소의 순도가 저하된다.
본 발명에서 사용되는 양극 전극 재료로서의 니켈은 탄소함유량 0.01%이하이고 동시에 순도 99.8% 이상의 고순도의 것이 사용된다. 니켈 전극 중의 불순물인 탄소 함유량이 높으면 사불화탄소의 생성량이 증가하여 10ppm이하로 하는 것이 불가능하다.
본 발명에 따른 불산 전기분해는, 불산과 그의 염, 예를 들면 알칼리금속염 을 1.5 내지 3.0: 1 몰비로 함유하는(예를 들면 KF 60중량%, HF 40중량% 함유) 혼합 용융염의 전해액에 상기 조건을 만족하는 니켈 양극과 적절한 재료의 음극, 바람직하게는 니켈 또는 스테인레스강 재질의 음극을 넣고, 여기에 20 내지 1,500 A/m2 범위의 전류를 100 내지 4,000 범위의 시간동안 인가함으로써 달성할 수 있다.
본 발명에 따르면 순도 99.999% 이상 및 사불화탄소 함량 10 ppm 이하의 고순도의 불소가 양극 가스로서 수득되며, 이어서 이를 통상의 삼불화질소 제법인 불소와 암모니아(NH3) 또는 암모늄염과의 반응에 의해 삼불화질소(NF3)를 제조하는데 유용하게 이용할 수 있다 (일본 특허공개 평1-191792, 평5-70982, 미국 특허 제 3,235,474 호 및 제 4,091,081 호 참조).
하기 실시예로서 본 발명을 설명하나, 본 발명이 이로써 국한되는 것은 아니다.
실시예
폭 100mm, 길이 500mm, 높이 400mm, 용적 20L의 전해조로 폭 5mm, 길이 80mm, 높이 300mm의 탄소 함유량 0.01%이하이고 순도 99.8%이상의 니켈 판 3장을 삽입하여, 중앙의 전극은 콜렉터(collector)를 붙여 양극으로 하고 나머지 2장은 음극으로 하였다. 여기에 KF 30Kg 및 HF 20Kg을 공급하고 전해조의 온도를 65~95℃로 유지한 후, 100A/M2의 전류 밀도로 전류를 통전하였다. 운전이 정상으로 된 후 양극에서 발생하는 가스(불소 가스)를 분석한 바 사불화탄소(CF4) 농도는 1.6ppm(부피 기준)이었다.
이어서, 이 불소가스를 사용하여 통상의 방법으로 암모니아와 반응시켜 삼불화질소(NF3)를 포함한 생성 가스를 얻었다. 이 가스를 5% KOH 수용액으로 세정하고 다음으로 건조제를 통해 건조한 후 분자체 5A로 N2O를 제거하여 액체 질소를 냉매로 한 응축기에서 -130℃로 삼불화질소(NF3)를 응축시켰다. 이 응축액을 가스 크로마토그래피에 의해 함량 분석한 결과, 삼불화질소(NF3)안에 포함된 사불화탄소(CF4)의 농도는 8.7ppm이었다.
비교예 1
상기 실시예 1과 동일하되, 탄소 함량 0.05%이하 및 순도 98.7%이상의 니켈 판 3장을 사용하여 양극에서 사불화탄소 농도 5.6ppm으로 가스를 수득하였으며, 이 불소 가스를 사용하여 암모니아와 반응시킨 결과 생성된 삼불화질소(NF3)안에 포함된 사불화탄소(CF4)의 농도는 17.8ppm이었다.
비교예 2
상기 실시예 1과 동일하되, 전해조 안에 니켈판 대신에 양극으로 탄소판을 음극으로 철판을 삽입하여 사불화탄소 농도 9.2ppm으로 양극 가스를 얻었으며, 이 불소가스를 사용하여 암모니아와 반응시킨 결과 삼불화질소(NF3)안에 포함된 사불화탄소(CF4)의 농도는 38.1ppm이었다.
본 발명에 따르면, 불산(HF)의 전기분해에 의해 불소를 제조하는 방법에 있어서 종래에 사용되던 탄소 전극을 탄소함량 0.01% 이하 및 순도 99.8% 이상의 니켈 전극으로 변경함으로써 불순물인 사불화탄소(CF4)가 10ppm이하인 불소 가스를 공업적으로 값싸게 제조할 수 있으며, 이 불소 가스는 암모니아(NH3) 또는 불화 암모늄등의 암모늄염과 반응시 사불화탄소(CF4)가 10ppm 이하인 고순도 삼불화질소(NF3)를 제공할 수 있다.

Claims (4)

  1. 불산과 그의 알칼리금속염을 1.5 내지 3 : 1 범위의 몰비로 함유하는 전해액 중에 탄소 함량 0.01% 이하 및 순도 99.8%이상의 니켈 양극과 니켈 또는 스테인레스강 음극을 넣고 전류를 인가하여 전기분해를 수행함을 특징으로 하는, 사불화탄소 함량이 10 ppm 이하인 불소의 제조 방법.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    제조된 불소가 순도가 99.999% 이상임을 특징으로 하는 방법.
  4. 제 1 항 또는 제 3 항에 따라 제조된 불소를 암모니아(NH3) 또는 불화암모늄과 반응시켜 삼불화질소(NF3)를 제조하는 방법.
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Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USD765081S1 (en) 2012-05-25 2016-08-30 Flir Systems, Inc. Mobile communications device attachment with camera
US9473681B2 (en) 2011-06-10 2016-10-18 Flir Systems, Inc. Infrared camera system housing with metalized surface
US9674458B2 (en) 2009-06-03 2017-06-06 Flir Systems, Inc. Smart surveillance camera systems and methods
US9998697B2 (en) 2009-03-02 2018-06-12 Flir Systems, Inc. Systems and methods for monitoring vehicle occupants
US9843742B2 (en) 2009-03-02 2017-12-12 Flir Systems, Inc. Thermal image frame capture using de-aligned sensor array
US10244190B2 (en) 2009-03-02 2019-03-26 Flir Systems, Inc. Compact multi-spectrum imaging with fusion
US9517679B2 (en) 2009-03-02 2016-12-13 Flir Systems, Inc. Systems and methods for monitoring vehicle occupants
WO2012170949A2 (en) 2011-06-10 2012-12-13 Flir Systems, Inc. Non-uniformity correction techniques for infrared imaging devices
US9948872B2 (en) 2009-03-02 2018-04-17 Flir Systems, Inc. Monitor and control systems and methods for occupant safety and energy efficiency of structures
US9986175B2 (en) 2009-03-02 2018-05-29 Flir Systems, Inc. Device attachment with infrared imaging sensor
US9756264B2 (en) 2009-03-02 2017-09-05 Flir Systems, Inc. Anomalous pixel detection
US9451183B2 (en) 2009-03-02 2016-09-20 Flir Systems, Inc. Time spaced infrared image enhancement
US10757308B2 (en) 2009-03-02 2020-08-25 Flir Systems, Inc. Techniques for device attachment with dual band imaging sensor
WO2012170946A2 (en) 2011-06-10 2012-12-13 Flir Systems, Inc. Low power and small form factor infrared imaging
US9635285B2 (en) 2009-03-02 2017-04-25 Flir Systems, Inc. Infrared imaging enhancement with fusion
US9235876B2 (en) 2009-03-02 2016-01-12 Flir Systems, Inc. Row and column noise reduction in thermal images
US9208542B2 (en) 2009-03-02 2015-12-08 Flir Systems, Inc. Pixel-wise noise reduction in thermal images
US9819880B2 (en) 2009-06-03 2017-11-14 Flir Systems, Inc. Systems and methods of suppressing sky regions in images
US9716843B2 (en) 2009-06-03 2017-07-25 Flir Systems, Inc. Measurement device for electrical installations and related methods
US10091439B2 (en) 2009-06-03 2018-10-02 Flir Systems, Inc. Imager with array of multiple infrared imaging modules
US9756262B2 (en) 2009-06-03 2017-09-05 Flir Systems, Inc. Systems and methods for monitoring power systems
US9292909B2 (en) 2009-06-03 2016-03-22 Flir Systems, Inc. Selective image correction for infrared imaging devices
US9843743B2 (en) 2009-06-03 2017-12-12 Flir Systems, Inc. Infant monitoring systems and methods using thermal imaging
US9848134B2 (en) 2010-04-23 2017-12-19 Flir Systems, Inc. Infrared imager with integrated metal layers
US9706138B2 (en) 2010-04-23 2017-07-11 Flir Systems, Inc. Hybrid infrared sensor array having heterogeneous infrared sensors
US9918023B2 (en) 2010-04-23 2018-03-13 Flir Systems, Inc. Segmented focal plane array architecture
US9207708B2 (en) 2010-04-23 2015-12-08 Flir Systems, Inc. Abnormal clock rate detection in imaging sensor arrays
US9900526B2 (en) 2011-06-10 2018-02-20 Flir Systems, Inc. Techniques to compensate for calibration drifts in infrared imaging devices
US9509924B2 (en) 2011-06-10 2016-11-29 Flir Systems, Inc. Wearable apparatus with integrated infrared imaging module
US9058653B1 (en) 2011-06-10 2015-06-16 Flir Systems, Inc. Alignment of visible light sources based on thermal images
US10169666B2 (en) 2011-06-10 2019-01-01 Flir Systems, Inc. Image-assisted remote control vehicle systems and methods
US9961277B2 (en) 2011-06-10 2018-05-01 Flir Systems, Inc. Infrared focal plane array heat spreaders
US9706137B2 (en) 2011-06-10 2017-07-11 Flir Systems, Inc. Electrical cabinet infrared monitor
US9143703B2 (en) 2011-06-10 2015-09-22 Flir Systems, Inc. Infrared camera calibration techniques
US10079982B2 (en) 2011-06-10 2018-09-18 Flir Systems, Inc. Determination of an absolute radiometric value using blocked infrared sensors
EP2719166B1 (en) 2011-06-10 2018-03-28 Flir Systems, Inc. Line based image processing and flexible memory system
US9235023B2 (en) 2011-06-10 2016-01-12 Flir Systems, Inc. Variable lens sleeve spacer
US10841508B2 (en) 2011-06-10 2020-11-17 Flir Systems, Inc. Electrical cabinet infrared monitor systems and methods
US10389953B2 (en) 2011-06-10 2019-08-20 Flir Systems, Inc. Infrared imaging device having a shutter
US10051210B2 (en) 2011-06-10 2018-08-14 Flir Systems, Inc. Infrared detector array with selectable pixel binning systems and methods
US9811884B2 (en) 2012-07-16 2017-11-07 Flir Systems, Inc. Methods and systems for suppressing atmospheric turbulence in images
EP2873058B1 (en) 2012-07-16 2016-12-21 Flir Systems, Inc. Methods and systems for suppressing noise in images
US10996542B2 (en) 2012-12-31 2021-05-04 Flir Systems, Inc. Infrared imaging system shutter assembly with integrated thermister
US9973692B2 (en) 2013-10-03 2018-05-15 Flir Systems, Inc. Situational awareness by compressed display of panoramic views
US11297264B2 (en) 2014-01-05 2022-04-05 Teledyne Fur, Llc Device attachment with dual band imaging sensor

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05140783A (ja) * 1990-04-05 1993-06-08 Bayer Ag 電気化学的フツ素化及びフツ素製造のためのアノード及びその製造方法
KR20010006624A (ko) * 1999-02-10 2001-01-26 사토 아키오 고순도의 3불화질소가스의 제조방법
KR20010062509A (ko) * 1999-12-21 2001-07-07 사토 아키오 3불화질소가스의 제조에 사용되는 전극 및 전해액,그리고, 이들을 사용한 3불화질소가스의 제조방법
KR20030019338A (ko) * 2000-04-07 2003-03-06 도요탄소 가부시키가이샤 불소가스 발생장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05140783A (ja) * 1990-04-05 1993-06-08 Bayer Ag 電気化学的フツ素化及びフツ素製造のためのアノード及びその製造方法
KR20010006624A (ko) * 1999-02-10 2001-01-26 사토 아키오 고순도의 3불화질소가스의 제조방법
KR20010062509A (ko) * 1999-12-21 2001-07-07 사토 아키오 3불화질소가스의 제조에 사용되는 전극 및 전해액,그리고, 이들을 사용한 3불화질소가스의 제조방법
KR20030019338A (ko) * 2000-04-07 2003-03-06 도요탄소 가부시키가이샤 불소가스 발생장치

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