JPH04123500A - 電子部品の観察装置 - Google Patents

電子部品の観察装置

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JPH04123500A
JPH04123500A JP2244347A JP24434790A JPH04123500A JP H04123500 A JPH04123500 A JP H04123500A JP 2244347 A JP2244347 A JP 2244347A JP 24434790 A JP24434790 A JP 24434790A JP H04123500 A JPH04123500 A JP H04123500A
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light
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electronic component
camera
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Takayuki Hatase
貴之 畑瀬
Toshiaki Nakajima
俊明 中島
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は電子部品の観察装置に係り、詳しくは、大小の
電子部品を明瞭に観察するための装置に関する。
(従来の技術) 電子部品を基板に実装する手段は、一般に、電子部品を
移載ヘットのノズルに吸着し、基板に移送搭載するよう
になっている。この場合、ノズルに吸着された電子部品
は、位置ずれを有していることから、カメラなどの観察
装置によりこの位置ずれを検出し、これを補正したうえ
で、基板に搭載するようになっている。
このような電子部品の観察装置として、特開昭60−2
8298号公報に開示されたものが知られている。この
ものは、ノズルに吸着された電子部品へ向かって光を照
射し、ノズルの基端部に設けられた光拡散体により光を
散乱させることにより、電子部品のシルエットをカメラ
により“観察し、その位置ずれを検出するようになって
いる。
(発明が解決しようとする課B) 電子部品の寸法は大小様々であり、−辺が1鶴以下のも
のから、数1以上のものまである。
ところが上記光拡散体の寸法には限界があることから、
例えばSOPやQFPのような大形の電子部品は、光拡
散体からはみ出してしまい、カメラによりその全体を明
瞭に観察できない問題があった。
(課題を解決するための手段) 本発明は、移載ヘッドのノズルに吸着された電子部品を
観察するカメラと、この電子部品へ向かって光を照射す
る光源と、この光源から照射された光を上記電子部品の
背面側へ透過し、電子部品の背面へ向かって漏光する光
透過体と、この光透過体を、上記光源の光の透過位置と
非透過位置に選択的に移動させる移動手段とから電子部
品の観察装置を構成している。
(作用) 上記構成において、大形の電子部品を観察するときは、
移動手段を駆動して、光透過体を透過位置に移動させ、
光源から照射された光を電子部品の背面へ向かって漏光
させることにより、電子部品のシルエy)をカメラによ
り明瞭に観察できる。
(実施例) 次に、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図は電子部品の観察装置Aと移載−・ノドBの正面
図である。移載ヘットBは、ヘット本体1と、このヘッ
ド本体1から下方に延出するノズル2を備えている。ノ
ズル2の下端部には、小形の電子部品P1や、大形の電
子部品P2か真空吸着される。またへラド本体lの下部
には、アクリル樹脂板などの光拡散体3が設けられてい
る。
観察装置Aは、カメラ4と、リング状の光源5と、一対
の光透過体6から成っている。光透過体6は、ガラスや
樹脂などの透明材により形成されており、主体部6aと
、この主体部6aの上部から内方へつば状に延出する延
出部6bを有している(第3図も参照)、主体部6aの
底面aと、延出部6bの下面す以外の表面は、白色塗料
を塗布するなどして、透過光が漏光しないように漏光防
止手段7が施されている。
8は移動手段としてのシリンダであり、そのロッド9は
、光透過体6の背面に結合されている。したがって、ロ
ット9が引き込んだ状態で、光透過体6の底面aは、光
源5の側方の非透過位置に退去する(第1図実線参照)
。またロッド9が突出すると、この底面aは、光#6の
直上の透過位置に移動し、また延出部6bの下面すは、
電子部品Pの上方に背面側に位置する(同図鎖線及び第
2図参照)。この状態で、光源5から照射された光は、
光透過体6の内部を屈折しながら電子部品Pの背面側へ
透過し、延出部6bの下面すから、電子部品Pの背面へ
向って漏光する。
本装置は上記のような構成より成り、小形の電子部品P
Iを観察する場合は、光透過体6は非透過位置に退去さ
せる。この状態で、光源5から発光させた光は、光拡散
体3に照射されて散乱し、電子部品P1のシルエットが
カメラ4に観察される。
また大形の電子部品P2を観察する場合は、光透過体6
を透過位置に移動させる。この状態で、光源5から発光
した光は、光透過体εσ内部を透過し、延出部6bの下
面すから漏光するので、電子部品P2のフルエツトがカ
メラに観察される。この場合、電子部品P2の背景とな
る延出部6の少なくとも上面の漏光防止手段7aを、白
色などの明色にしておけば、電子部品P2は明るい背景
の中に、黒のシルエ・7トとして明瞭に観察できる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、移載ヘットのノズルに吸
着された電子部品を観察するカメラと、この電子部品へ
向かって光を照射する光源と、この光源から照射された
光を上記電子部品の背面側へ透過し、電子部品の背面へ
向かって漏光する光透過体と、この光透過体を、上記光
源の光の透過位置と非透過位置に選択的に移動させる移
動手段とから電子部品の観察装置を構成しているので、
光透過体を移動させることにより、小形の電子部品だけ
でなく、大形の電子部品の全体を明瞭に観察できる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例を示すものであって、第1図は電子
部品の観察装置の正面図、第2図は部分平面図、第3図
は光透過体の斜視図である。 A・・・観察装置 1・・・移載ヘソF 2・・・ノズル 4・・・カメラ 5・・・光源 6・・・光透過体

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  移載ヘッドのノズルに吸着された電子部品を観察する
    カメラと、この電子部品へ向かって光を照射する光源と
    、この光源から照射された光を上記電子部品の背面側へ
    透過し、電子部品の背面へ向かって漏光する光透過体と
    、この光透過体を、上記光源の光の透過位置と非透過位
    置に選択的に移動させる移動手段とから成ることを特徴
    とする電子部品の観察装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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