JPH04117435U - 基板の表面処理装置 - Google Patents

基板の表面処理装置

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JPH04117435U
JPH04117435U JP2877691U JP2877691U JPH04117435U JP H04117435 U JPH04117435 U JP H04117435U JP 2877691 U JP2877691 U JP 2877691U JP 2877691 U JP2877691 U JP 2877691U JP H04117435 U JPH04117435 U JP H04117435U
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 処理液の消費量を少なくし、大型の矩形基板
の表面処理を一層均一にする。 【構成】 処理ステーション10の左右に配置した搬送ロ
ーラ2aを、その軸線方向に退避させて基板昇降支持具16
との間で基板を受け渡し可能に構成する。搬送ローラ2a
の下方に皿状の処理槽11を配置し、処理槽11の排液口12
aを基板Wの昇降動作と連動させて開閉する。基板昇降手
段16で処理槽11内に基板Wを沈着して排液口12aを閉じ
る。処理槽11の上方に配置した処理液供給ノズル20より
処理液Qを供給し、基板Wの表面処理をし、処理液Qは基板W
の枚葉処理毎に交換する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、フラットパネルや液晶用ガラス基板等の薄板状被処理基板(以下 単に基板という)を一枚ずつ処理ステーションへ搬入して、現像処理又は腐食処 理、剥膜処理等の表面処理を行う装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
この種の表面処理装置としては、従来より例えば本出願人の提案に係る特開昭 62−261126号公報に開示されたもの(以下従来例1という)、あるいは 特開平2−246319号公報に開示されたもの(以下従来例2という)が知ら れている。 従来例1は、基板を搬送するロールコンベアと、処理液を貯溜し処理ステーシ ョンを構成する処理槽と、処理槽よりオーバーフローした処理液を回収する回収 タンクと、回収した処理液を処理槽に循環させる循環手段とを具備して成り、基 板を処理槽内に浸漬して表面処理するように構成されている。 また従来例2は、基板に処理液を供給して表面処理をする処理ステーションを 具備して成り、処理ステーションは、基板を載置して回転する回転板と、回転板 を囲む昇降可能な処理槽枠部材とを備え、両者で皿状の処理槽を形成し、基板を 皿状の処理槽内に停留させ、回転板を回転させながら表面処理し、処理槽内に貯 溜した処理液は基板の枚葉処理毎に交換するように構成されている。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
上記従来例1は、処理ステーションを構成する処理槽に処理液を貯溜し、処理 槽よりオーバーフローした処理液を回収タンクで回収して循環させる構造である から、多量の処理液を消耗するうえ、時間の経過と共に処理液が疲労し、製造ロ ットにより仕上がりの微差が生じる。しかし近年では一層の均一処理が要求され るようになり、従来許容されていたこの程度の微差は許容されなくなってきた。 また従来例2では、処理液を皿状の処理槽に貯溜して、基板の枚葉処理毎に交 換する構造であるから、処理液の消耗は少なく、上記のような生産ロットによる ばらつきも無いが、基板を回転させながら表面処理する構造であるため、特に大 型で矩形の基板を処理する場合には、基板の中央部と周辺部とで、処理液の流速 が異なり、処理ムラが生じ易い。 本考案はこのような事情を考慮してなされたもので、上記従来例1及び従来例 2の欠点を解消して、一層均一な表面処理を可能にすることを技術課題とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】
本考案は上記課題を解決するものとして、以下のように構成される。 即ち、薄板矩形状の基板に処理液を供給して表面処理をする処理ステーション と、基板の左右両端部下面を支持し、処理ステーションへ基板を搬入搬出するロ ールコンベアとを具備して成り、ロールコンベアは、少なくとも処理ステーショ ンの左右に配置した搬送ローラを、その軸線方向に退避可能に構成するとともに 、処理ステーションに基板昇降支持具を付設して、搬送ローラと基板昇降支持具 との間で基板を受け渡し可能に構成し、 請求項1の考案では、処理ステーションは、ロールコンベアの下方に皿状の 処理槽を配置し、処理槽の下方に排液口を開口して、排液口を基板昇降支持具の 昇降動作と連動させて開閉可能に構成するとともに、基板昇降支持具で基板を処 理槽内に沈着するように構成し、処理槽の上方に処理液供給ノズルを配置し、処 理槽内に貯溜した処理液を基板の枚葉処理毎に交換可能に構成したことを特徴と するものである。
【0005】 そして請求項4の考案では、処理ステーションは、ロールコンベアの下方に排 液槽を配置するとともに、ロールコンベアの上方に矩形状の処理槽枠部材を配置 し、処理槽枠部材の下面にシーリングを固設し、基板昇降支持具で持ち上げた基 板を処理槽枠部材のシーリングと密接させて、処理槽枠部材と基板とで皿状の処 理槽を形成するとともに、シーリングとの密接を解除して排液口を開くように構 成し、処理槽の上方に処理液供給ノズルを配置し、処理槽内に貯溜した処理液を 基板の枚葉処理毎に交換可能に構成したことを特徴とするものである。
【0006】
【作 用】
本考案では、基板の左右両端部下面をロールコンベアで支持し、処理ステーシ ョンへ基板を搬入搬出する。このときロールコンベアは、少なくとも処理ステー ションの左右に配置した搬送ローラが、その軸線方向に退避して基板を基板昇降 支持具に引き渡す。処理ステーションは、ロールコンベアの下方または上方に配 置された皿状の処理槽と処理槽の上方に配置された処理液供給ノズルを備え、基 板昇降支持具がロールコンベアから受け取った基板は、皿状の処理槽内で表面処 理される。そして処理槽内に貯溜した処理液は基板の枚葉処理毎に交換される。
【0007】
【実施例】
以下本考案の実施例を図面に基づいて説明する。図1は請求項1に記載した考 案の第1の実施例に係る表面処理装置の縦断正面図、図2はその平面図である。 この実施例装置は、薄板矩形状の基板Wに処理液Qを供給して表面処理をする 処理ステーション10と、処理ステーション10へ基板Wを搬入・搬出するロー ルコンベア1とを具備して成る。
【0008】 ロールコンベア1は、基板Wの左右両端部下面を支持し水平搬送する搬送ロー ラ2を多数連設して成り、これらの搬送ローラ2のうち処理ステーション10の 左右に配置した搬送ローラ2aを軸線方向に出退自在に設け、処理ステーション 10へ基板Wを引き渡す際にその搬送ローラ2aを後退させるように構成されて いる。なお、出退可能な搬送ローラ2aと平行に基板整列部材4が出退自在に付 設配置されており、処理ステーション10から基板Wを搬出する際に、この基板 整列部材4のピン5を基板Wの左右両端に当接させて基板Wの位置を整列させる ように構成されている。
【0009】 処理ステーション10は、上記搬送ローラ2aの下方に配置され処理槽11を 構成する処理槽本体11Aと、処理槽本体11A内に昇降自在に付設され基板昇 降支持具16を構成する4本のピン16aと、処理槽本体11Aの上方に配置し た処理液供給ノズル20とを具備して成り、当該ピン16を介して搬送ローラ2 aとの間で基板Wを受け渡し、かつ基板Wを処理槽11内に沈着して表面処理す るように構成されている。
【0010】 上記処理槽本体11Aはその内部が基板Wの周縁部を支える支持板12によっ て上半部と下半部とに区画され、上半部周壁11aの4カ所には基板Wを着脱す る際のガイドローラ13が付設され、下半部底壁11bにはドレン口14が開口 されている。支持板12の中央部には大きな矩形の排液口12aが開口され、基 板Wは支持板12に固定したシーリング15に接離され、この基板Wの上に処理 液供給ノズル20より処理液Qを供給することにより、上半部の処理槽11内に 処理液Qを貯溜して基板Wを表面処理するように構成されている。表面処理を終 えた基板Wを上記ピン16aで持ち上げると排液口12aが開き、使用済みの処 理液Qは排出される。
【0011】 つまりこの実施例はその上半部周壁11aと支持板12とシーリング15と基 板Wとによって皿状の浅い処理槽11を形成するものであり、シーリング15を 介して支持板12上に基板Wを着脱させて排液口12aを開閉することにより、 基板Wの枚葉処理毎に処理液Qを新液と交換するように構成したものである。な お、図1中の符号17は薄い基板Wを支える支柱であり、図2中の符号18は処 理槽本体11A内の下半部を減圧して基板Wとシーリング15とのシール性を高 める排気口、符号19は減圧シールを解除するのに用いられるN2ガスの給気口 である。また表面処理を促進するために必要に応じて、例えば超音波発生装置等 が処理槽本体11Aに付設される。
【0012】 図3は処理液供給ノズル20の概要図である。この処理液供給ノズル20は給 液管21の周囲に恒温水Hを循環させ、所定温度の処理液Qを処理槽11内に供 給するように構成されている。また、給液管21には図示しないサックバック機 構が連通されており、給液管21の先端21aに残留する処理液Qが不用意に滴 下するのを防止するように構成されている。
【0013】 以下上記実施例装置の動作について簡単に説明する。 先ずロールコンベア1で基板Wを搬入し、処理ステーション10の上側で停止 する。基板昇降支持用ピン16aを上昇させて基板Wを搬送ローラ2aから受け 取り、搬送ローラ2aを退避させる。次いで、基板昇降支持用ピン16aを下降 させて基板Wをシーリング15上に着地させ、処理槽本体11A内の下半部を減 圧してシールを確実にする。その後処理槽本体11Aの上半部(処理槽11)内 に処理液Qを供給して基板Wの表面処理をする。
【0014】 一定時間の表面処理を終えると、処理槽本体11A内下半部にN2ガスを供給 して減圧を解除し、基板昇降支持用ピン16aにより基板Wを上昇させ、基板整 列手段4で基板Wを整列させてから搬送ローラ2aに引き渡す。基板Wの上昇に より排液口12aが開かれ、用尽処理液Qは排液口12aより流下してドレーン 口14より排出される。以下同様にして、順次基板Wの表面処理がなされる。 このように表面処理を終えた基板Wはロールコンベア1によって搬出され、図 示していない液切り用エアナイフで基板Wの表面に残っている表面処理液を液切 りし、その後水洗、乾燥等の一連の処理を行う。
【0015】 上記実施例では、支柱17で基板Wを支持することによって、基板Wの自重、 基板Wに加わる表面処理液の重量、さらには処理槽本体11Aの下半部を減圧す ることによる差圧等のために生じる基板Wの下方への撓わみが防がれる。しかし ながらピン16aのみでこのような下方への撓わみを防いで基板Wを支持できる 場合は支柱17は必ずしも必要ではない。 また逆に、きばんWが大型寸法の場合(一例を挙げると縦500mm以上、横5 00mm以上、厚さ1.0mm以上)、支柱17のみならずピン16aの両者に よって基板Wを支持させ、このような撓わみを防ぐようにしてもよい。 また処理液供給ノズル20は図3に示される種類に限らず、たとえばスリット 状ノズル、管体に複数の孔を開口したノズル等を用いてもよい。 また処理槽の10の周囲に処理液温度管理用の温調手段を付設すればさらに好 ましい表面処理を行うことができる。 処理槽の本体11Aの上半部内に供給される処理液Qの基板表面から液面まで の深さは数mm(例えば1〜2mm)と小さい程処理液の消費量がさらに少なくて済 むのは言うまでもない。
【0016】 図4は請求項1に記載した考案の第2の実施例に係る表面処理の平面図である 。この実施例装置は、基板Wを支える支持板12に円形の排液口12aを開口し て、円形のシーリング15を固定した点が先のものと異なり、その他の点では第 1の実施例と同様に構成されている。
【0017】 図5は請求項1に記載した考案の第3の実施例に係る表面処理装置の縦断正面 図、図6はその平面図である。この実施例装置は処理槽自体11が皿状に浅く形 成され、その下面には恒温水の循環パイプ22が付設されており、処理液Qを所 定温度に維持するように構成されている。上記処理槽11の外周には樋部24が 一体に形成され、オーバーフローした処理液Qを樋部24で回収するように構成 されている。また、この実施例では排液口12aはドレーン口14を兼ね、この ドレーン口14には開閉弁14aが付設され、開閉弁14aを基板昇降支持用ピ ン16aの昇降動作と連動させて開閉することにより、処理槽11内の処理液Q を基板Wの枚葉処理毎に新液と交換するように構成されている。また基板Wの支 持のための支柱17を省き、下降したピン16aを用いている。さらに減圧シー リング達成のための排気口18、給気口19も必要としない。なお、その他の点 では第1の実施例と同様に構成されている。
【0018】 図7は請求項1に記載した考案の第4の実施例に係る表面処理装置の縦断正面 図である。この実施例装置は処理槽自体11が皿状に浅く形成され、基板昇降支 持具がチャック26から成り、チャック26の上面で基板Wを保持して処理槽1 1内に沈着可能に構成されている。そしてチャック26の下面は弁体として形成 され、処理槽11の底壁11bにあけた排液口12aを閉止するように構成され ている。なお、符号25は排液口12aのシーリングである。また、処理槽11 の下方には図示しない排液回収槽が配置されており、その他の点では第1の実施 例と同様に構成されている。
【0019】 図8は請求項4に記載した考案の実施例(以下第5の実施例という)に係る表 面処理装置の縦断正面図である。この実施例装置は、処理槽11がロールコンベ ア1の上方に配置された矩形状の処理槽枠部材31と、処理槽枠部材31の下面 に固定したシーリング32と、シーリング32の下面に密接される基板Wとから 成る。また、ロールコンベア1の下方には排液槽35が配置され、排液槽35内 にチャック26が昇降自在に付設され、ロールコンベア1との間で基板Wを受け 渡すように構成されいる。なお、この実施例では、シーリング32の内周面が排 液口12aに相当する。つまり、チャック26で基板Wを持ち上げてシーリング 32に密接させて排液口12aを閉止し、次いで処理槽11内に処理液を貯溜て 基板Wの表面処理をする。そして使用済みの処理液Qは基板Wの枚葉処理毎に交 換される。その他の点では第1の実施例と同様に構成されている。
【0020】
【考案の効果】
以上の説明で明らかなように、本考案では、ロールコンベアの下方または上方 に配置された皿状の浅い処理槽内に処理液を貯溜して基板の表面処理をなし、枚 葉処理毎に新液と交換するように構成したので、処理液の消費量が少なく、かつ 基板を処理槽内に停留したまま処理するので、従来例2に比べて大型の矩形基板 でも一層均一な表面処理が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の第1の実施例に係る表面処理装置の縦
断正面図である。
【図2】本考案の第1の実施例に係る表面処理装置の平
面図である。
【図3】処理液供給ノズルの概要図である。
【図4】本考案の第2の実施例に係る表面処理装置の平
面図である。
【図5】本考案の第3の実施例に係る表面処理装置の縦
断正面図である。
【図6】本考案の第3の実施例に係る表面処理装置の平
面図である。
【図7】本考案の第4の実施例に係る表面処理装置の縦
断正面図である。
【図8】本考案の第5の実施例に係る表面処理装置の縦
断正面図である。
【符号の説明】
1…ロールコンベア、 2a…搬送ローラ、 10
…処理ステーション、11…処理槽、 12a
…排液口、 15・25…シーリング、16…基板
昇降支持具、 20…処理液供給ノズル、 31…処理
槽枠部材、32…シーリング、 W…基板、
Q…処理液。

Claims (4)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 薄板矩形状の基板に処理液を供給して表
    面処理をする処理ステーションと、基板の左右両端部下
    面を支持し、処理ステーションへ基板を搬入搬出するロ
    ールコンベアとを具備して成り、基板を処理ステーショ
    ンに停留させて表面処理するように構成した基板の表面
    処理装置において、ロールコンベアは、少なくとも処理
    ステーションの左右に配置した搬送ローラを、その軸線
    方向に退避可能に構成するとともに、処理ステーション
    に基板昇降支持具を付設して、搬送ローラと基板昇降支
    持具との間で基板を受け渡し可能に構成し、処理ステー
    ションは、ロールコンベアの下方に皿状の処理槽を配置
    し、処理槽の下方に排液口を開口して、排液口を基板昇
    降支持具の昇降動作と連動させて開閉可能に構成すると
    ともに、基板昇降支持具で基板を処理槽内に沈着するよ
    うに構成し、処理槽の上方に処理液供給ノズルを配置
    し、処理槽内に貯溜した処理液を基板の枚葉処理毎に交
    換可能に構成したことを特徴とする基板の表面処理装
    置。
  2. 【請求項2】 処理槽の排液口の外側部にシーリングを
    固設し、シーリング上に基板を接離して排液口を開閉自
    在に構成した請求項1に記載した基板の表面処理装置。
  3. 【請求項3】 処理槽の排液口の外周にシーリングを固
    設し、シーリング上に基板昇降支持具を接離して排液口
    を開閉自在に構成した請求項1に記載した基板の表面処
    理装置。
  4. 【請求項4】 薄板矩形状の基板に処理液を供給して表
    面処理をする処理ステーションと、基板の左右両端部下
    面を支持し、処理ステーションへ基板を搬入搬出するロ
    ールコンベアとを具備して成り、基板を処理ステーショ
    ンに停留させて表面処理するように構成した基板の表面
    処理装置において、ロールコンベアは、少なくとも処理
    ステーションの左右に配置した搬送ローラを、その軸線
    方向に退避可能に構成するとともに、処理ステーション
    に基板昇降支持具を付設し、搬送ローラと基板昇降支持
    具との間で基板を受け渡し可能に構成し、処理ステーシ
    ョンは、ロールコンベアの下方に排液槽を配置するとと
    もに、ロールコンベアの上方に矩形状の処理槽枠部材を
    配置し、処理槽枠部材の下面にシーリングを固設し、基
    板昇降支持具で持ち上げた基板を処理槽枠部材のシーリ
    ングと密接させて、処理槽枠部材と基板とで皿状の処理
    槽を形成するとともに、シーリングとの密接を解除して
    排液口を開くように構成し、処理槽の上方に処理液供給
    ノズルを配置し、処理槽内に貯溜した処理液を基板の枚
    葉処理毎に交換可能に構成したことを特徴とする基板の
    表面処理装置。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS62136428A (ja) * 1985-12-07 1987-06-19 Hitachi Electronics Eng Co Ltd 角形マスク基板移送機構
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