JPH04115167A - 布線検査機用ピンヘッド - Google Patents
布線検査機用ピンヘッドInfo
- Publication number
- JPH04115167A JPH04115167A JP2236234A JP23623490A JPH04115167A JP H04115167 A JPH04115167 A JP H04115167A JP 2236234 A JP2236234 A JP 2236234A JP 23623490 A JP23623490 A JP 23623490A JP H04115167 A JPH04115167 A JP H04115167A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pin
- inspection
- pin positioning
- plate
- upper plate
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 4
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- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
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- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は布線検査機用ピンヘッドに関し、特にプリント
基板の布線検査機用ピンヘッドに関する。
基板の布線検査機用ピンヘッドに関する。
［従来の技術］
従来の布線検査機用ピンヘッドは、第２図に示すように
ピン位置決め用絶縁板１の段付孔ｌａ内に、バネ機構を
有する検査プローブピン２を垂直に植立した構成となっ
ていた。
ピン位置決め用絶縁板１の段付孔ｌａ内に、バネ機構を
有する検査プローブピン２を垂直に植立した構成となっ
ていた。
また、別の形式の従来の布線検査機用ピンヘッドは、第
３図に示すように外側固定枠３にピン位置決め用上板４
とピン位置決め用下板５と共通絶縁板６とが固定されて
おり、ピン位置決め用上板４とピン位置決め用下板５に
は被検査基板の検査位置と同じ位置に検査ピン７が挿通
する貫通孔を有し、共通絶縁板６には全面に等間隔に検
査ピン７が挿通する貫通孔を有する構成となっていた。
３図に示すように外側固定枠３にピン位置決め用上板４
とピン位置決め用下板５と共通絶縁板６とが固定されて
おり、ピン位置決め用上板４とピン位置決め用下板５に
は被検査基板の検査位置と同じ位置に検査ピン７が挿通
する貫通孔を有し、共通絶縁板６には全面に等間隔に検
査ピン７が挿通する貫通孔を有する構成となっていた。
［発明が解決しようとする課Ｍ］
この従来の布線検査機用ピンヘッドでは、被検査基板が
基板の製造過程で伸縮した場合、この伸縮に検査ピンの
位置を合わせるためにピン位置決め用の板を基板の伸縮
に合わせて作り直してピンヘッドを組み直す必要があり
、またプリント基板は、繊維と樹脂の複合材であり、基
板の伸縮のばらつきが大きい性質があるため、基板の伸
縮を予め予測しても高精度な検査が困難となるという欠
点があった。
基板の製造過程で伸縮した場合、この伸縮に検査ピンの
位置を合わせるためにピン位置決め用の板を基板の伸縮
に合わせて作り直してピンヘッドを組み直す必要があり
、またプリント基板は、繊維と樹脂の複合材であり、基
板の伸縮のばらつきが大きい性質があるため、基板の伸
縮を予め予測しても高精度な検査が困難となるという欠
点があった。
また、従来の布線検査機用ピンヘッドでは、検査ピンの
自重によりピン位置決め用の板がたわみ、中央部がへこ
む性質があるため、ピン位置決め用の板の穴位置よりも
ピンの先端の検査点の位置の方が非線形で縮んでいる性
質があり、高精度な検査が困難となるという欠点があっ
た。
自重によりピン位置決め用の板がたわみ、中央部がへこ
む性質があるため、ピン位置決め用の板の穴位置よりも
ピンの先端の検査点の位置の方が非線形で縮んでいる性
質があり、高精度な検査が困難となるという欠点があっ
た。
本発明の目的は被検査基板上での検査位置の伸縮を調整
できる布線検査機用ピンヘッドを提供することにある。
できる布線検査機用ピンヘッドを提供することにある。
［課題を解決するための手段］
前記目的を達成するため、本発明に係る布線検査機用ピ
ンヘッドにおいては、検査ピンと、対をなすピン位置決
め用下板及びピン位置決め用上板と、昇降用ボルトとを
有する布線検査機用ピンヘッドであって、 検査ピンは、被検査基板に電気的に接触させるものであ
り、 対をなすピン位置決め用下板及びピン位置決め用上板は
、検査ピンを差込むための貫通孔をそれぞれ有したもの
で、検査ピンを貫通孔に挿通させて支持するものであり
、 ピン位置決め用上板は、ピン位置決め用下板に対して相
対変位するものであり、 昇降用ボルトは、ピン位置決め用上板を相対変位させる
ものであり、 さらに、ピン位置決め用上板の貫通孔位置は、ピン位置
決め用下板の貫通孔位置に対してずれているものである
。
ンヘッドにおいては、検査ピンと、対をなすピン位置決
め用下板及びピン位置決め用上板と、昇降用ボルトとを
有する布線検査機用ピンヘッドであって、 検査ピンは、被検査基板に電気的に接触させるものであ
り、 対をなすピン位置決め用下板及びピン位置決め用上板は
、検査ピンを差込むための貫通孔をそれぞれ有したもの
で、検査ピンを貫通孔に挿通させて支持するものであり
、 ピン位置決め用上板は、ピン位置決め用下板に対して相
対変位するものであり、 昇降用ボルトは、ピン位置決め用上板を相対変位させる
ものであり、 さらに、ピン位置決め用上板の貫通孔位置は、ピン位置
決め用下板の貫通孔位置に対してずれているものである
。
［作用］
ピン位置決め用上板の貫通孔位置がピン位置決め用下板
の貫通孔位置よりも若干縮少している。
の貫通孔位置よりも若干縮少している。
これにより、昇降用ボルトによりピン位置決め用上板を
上下させることで被検査基板上の検査位置を伸縮補正さ
せることができる。
上下させることで被検査基板上の検査位置を伸縮補正さ
せることができる。
［実施例］
次に本発明について図面を参照して説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示す断面図である。
図において、対向する外側固定枠８，８間には、ピン支
え板９とピン位置決め用下板ＩＯが横架固定してあり、
さらに固定枠８，８には、２本の昇降用ボルト１１．１
１が軸受８ａに支持されて平行に、かつ上下方向に配置
して取り付けである。２本の昇降用ボルトＩｆ、 ＩＩ
には、ピン位置決め用上板１２がねじ機構により水平に
支持され、ボルト１１の回動により上下動可能に取り付
けである。ピン位置決め用上板１２には、検査プローブ
ピン１３を通すための直径２．２胴の孔＋２ａ、 １２
ａ・・・が、被検査座標位置に１．０００２倍した位置
にあけてあり、同様にピン位置決め用下板ｌＯには、検
査プローブピン１３を通すための直径２．２ｍｍの孔１
０ａ、 ＩＯａ・・・が、被検査座標位置に１．０００
４倍した位置にあけである。検査プローブピン１３は、
内部にばね機構を有し、被検査基板を上から押し当てた
ときに適正な接触圧力が得られる。さらに検査プローブ
ピン１３は、その下部が細くなっており、この細径部分
のみがピン支え板９にあるピン位置決め用下板と同じ位
置で径が小さい貫通孔９ａ、 ９ａ・・・に挿通した構
成となっている。
え板９とピン位置決め用下板ＩＯが横架固定してあり、
さらに固定枠８，８には、２本の昇降用ボルト１１．１
１が軸受８ａに支持されて平行に、かつ上下方向に配置
して取り付けである。２本の昇降用ボルトＩｆ、 ＩＩ
には、ピン位置決め用上板１２がねじ機構により水平に
支持され、ボルト１１の回動により上下動可能に取り付
けである。ピン位置決め用上板１２には、検査プローブ
ピン１３を通すための直径２．２胴の孔＋２ａ、 １２
ａ・・・が、被検査座標位置に１．０００２倍した位置
にあけてあり、同様にピン位置決め用下板ｌＯには、検
査プローブピン１３を通すための直径２．２ｍｍの孔１
０ａ、 ＩＯａ・・・が、被検査座標位置に１．０００
４倍した位置にあけである。検査プローブピン１３は、
内部にばね機構を有し、被検査基板を上から押し当てた
ときに適正な接触圧力が得られる。さらに検査プローブ
ピン１３は、その下部が細くなっており、この細径部分
のみがピン支え板９にあるピン位置決め用下板と同じ位
置で径が小さい貫通孔９ａ、 ９ａ・・・に挿通した構
成となっている。
実施例では、ピン位置決め用上板１２とピン位置決め用
下板ＩＯとの距離が昇降用ボルトＩＩを回すことにより
４０ｍｍから８０順まで調整することができ、ピン位置
決め用下板ｌＯから検査プローブピン１３の先端までの
長さが１２０ ｍｍであるため、被検査基板上の長さが
５００ｍｍの場合、＋０．０５ｍｍから−０，１ｆｆｌ
Ｉ１１の範囲で伸縮の調整ができる。
下板ＩＯとの距離が昇降用ボルトＩＩを回すことにより
４０ｍｍから８０順まで調整することができ、ピン位置
決め用下板ｌＯから検査プローブピン１３の先端までの
長さが１２０ ｍｍであるため、被検査基板上の長さが
５００ｍｍの場合、＋０．０５ｍｍから−０，１ｆｆｌ
Ｉ１１の範囲で伸縮の調整ができる。
［発明の効果］
以上説明したように本発明は、被検査基板上での検査位
置の伸縮を調整できるため、高精度な布線検査ができる
という効果がある。
置の伸縮を調整できるため、高精度な布線検査ができる
という効果がある。
さらに、被検査基板上の検査位置を伸縮補正させること
に加えて、ピン位置決め用上板の孔位置と下板の孔位置
とがずれているため、検査ピンの自重がピン位置決め用
板に加わったとしても、それを打消すための力が作用す
ることとなり、検査ピンの自重でたわむことによる悪影
響を受けにくいという効果がある。
に加えて、ピン位置決め用上板の孔位置と下板の孔位置
とがずれているため、検査ピンの自重がピン位置決め用
板に加わったとしても、それを打消すための力が作用す
ることとなり、検査ピンの自重でたわむことによる悪影
響を受けにくいという効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示す断面図、第２図は従来
の布線検査機用ピンヘッドを示す断面図、第３図は従来
の他の形式の布線検査機用ピンヘッドを示す断面図であ
る。 ■・・・絶縁板 ２．）３・・検査プローブ
ピン３．８・・・外側固定枠 ４，１２・・・ピン位
置決め用上板５．１０・・・ピン位置決め用下板 ６・
・・共通絶縁板７・・・検査ピン ９・ピン支
え板１１・・昇降用ボルト
の布線検査機用ピンヘッドを示す断面図、第３図は従来
の他の形式の布線検査機用ピンヘッドを示す断面図であ
る。 ■・・・絶縁板 ２．）３・・検査プローブ
ピン３．８・・・外側固定枠 ４，１２・・・ピン位
置決め用上板５．１０・・・ピン位置決め用下板 ６・
・・共通絶縁板７・・・検査ピン ９・ピン支
え板１１・・昇降用ボルト
Claims (1)
- （１）検査ピンと、対をなすピン位置決め用下板及びピ
ン位置決め用上板と、昇降用ボルトとを有する布線検査
機用ピンヘッドであって、 検査ピンは、被検査基板に電気的に接触させるものであ
り、 対をなすピン位置決め用下板及びピン位置決め用上板は
、検査ピンを差込むための貫通孔をそれぞれ有したもの
で、検査ピンを貫通孔に挿通させて支持するものであり
、 ピン位置決め用上板は、ピン位置決め用下板に対して相
対変位するものであり、 昇降用ボルトは、ピン位置決め用上板を相対変位させる
ものであり、 さらに、ピン位置決め用上板の貫通孔位置は、ピン位置
決め用下板の貫通孔位置に対してずれていることを特徴
とする布線検査機用ピンヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2236234A JPH04115167A (ja) | 1990-09-06 | 1990-09-06 | 布線検査機用ピンヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2236234A JPH04115167A (ja) | 1990-09-06 | 1990-09-06 | 布線検査機用ピンヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04115167A true JPH04115167A (ja) | 1992-04-16 |
Family
ID=16997776
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2236234A Pending JPH04115167A (ja) | 1990-09-06 | 1990-09-06 | 布線検査機用ピンヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04115167A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012013713A (ja) * | 2001-03-13 | 2012-01-19 | Three M Innovative Properties Co | 高帯域幅プローブアセンブリ |
| KR20150140774A (ko) * | 2013-04-09 | 2015-12-16 | 테크노프로브 에스.피.에이. | 전자 장치의 검사 헤드 |
-
1990
- 1990-09-06 JP JP2236234A patent/JPH04115167A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012013713A (ja) * | 2001-03-13 | 2012-01-19 | Three M Innovative Properties Co | 高帯域幅プローブアセンブリ |
| KR20150140774A (ko) * | 2013-04-09 | 2015-12-16 | 테크노프로브 에스.피.에이. | 전자 장치의 검사 헤드 |
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