JPH04114994A - ダイヤモンドの合成方法 - Google Patents

ダイヤモンドの合成方法

Info

Publication number
JPH04114994A
JPH04114994A JP23486090A JP23486090A JPH04114994A JP H04114994 A JPH04114994 A JP H04114994A JP 23486090 A JP23486090 A JP 23486090A JP 23486090 A JP23486090 A JP 23486090A JP H04114994 A JPH04114994 A JP H04114994A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plasma
diamond
carbon source
microwave
gas
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23486090A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoshi Katsumata
聡 勝又
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Idemitsu Petrochemical Co Ltd
Original Assignee
Idemitsu Petrochemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Idemitsu Petrochemical Co Ltd filed Critical Idemitsu Petrochemical Co Ltd
Priority to JP23486090A priority Critical patent/JPH04114994A/ja
Publication of JPH04114994A publication Critical patent/JPH04114994A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はダイヤモンドの合成方法に関し、特に、広い面
積に、高品質のダイヤモンドを低温て高速合成すること
か可能なダイヤモンドの合成方法に関する。
[従来の技術] ダイヤモンドは、その硬さ、電気特性、熱伝導性あるい
は化学的安定性などの点で、工業材料としてきわめて有
利な特性を有している。
近年、低圧領域で気相からダイヤモンドを合成する方法
か研究されており、これらの方法としては、大きく分け
て、物理的気相成長法[PVD(Phisical V
apor Deposition)法]と化学的気相成
長法[CV D (Chemical Vapor D
eposition)法コが知られている。
これらのうち、PVD法においては、スパッタリングに
よりダイヤモンドを合成できることが知られているか、
結晶性の低い膜しか得られないという問題かある。
また、CVD法の中ては、マイクロ波プラズマCVD法
によるダイヤモンドの合成が広く行なわれているか、こ
の方法は、合成時の基板温度が高いため、基板材質が制
限を受けたり、膜の熱応力により密着性か低下したり、
さらには、成膜面積が狭いという問題かある。
さらに、上記マイクロ波プラズマCVD法を応用した技
術として、有磁場マイクロ波プラズマCVD法か知られ
ている。有磁場マイクロ波プラズマCVD法は、磁場を
印加した空間にマイクロ波を導入し、電場と磁場の相互
作用によりプラズマを生成せしめる方法である。この有
磁場マイクロ波プラズマCVD法には、ECR(電子サ
イクロトロン共鳴)を使ってマイクロ波の共鳴吸収を起
こすことにより、イオン化率の高いプラズマを生成せし
めるECRマイクロ波ブラズ″7CVD法、および非共
鳴マイクロ波の導入により、高い圧力領域て高密度プラ
ズマを生成せしめるホイッスラー・モードマイクロ波プ
ラズマCVD法がある。
[発明か解決しようとする課題] しかしながら上述した有磁場マイクロ波プラズマCVD
法には、以下のような問題かある。
すなわち、ECRマイクロ波プラズマCVD法は、10
−4〜10−Torr台の真空度が必要とされるばかり
か、成膜速度か非常に低いという欠点かあり、ダイヤモ
ンドの合成には適さないという問題かある。
これに対して、ホイッスラー・モードマイクロ波プラズ
マCVD法は、0.1〜1oOTorrの比較的高い圧
力領域てダイヤモンドを合成しうるか、それても成膜速
度は最大でも0.5(μm/hr)と低く、基板温度も
500°C以上とせねばならず、低温化が十分達成され
ているとは言い難い。
なお、特開昭64−51396号には、先ずPVD法に
よって結晶性に優れたダイヤモンド結晶核を形成した後
、CVD法により、ダイヤモンド結晶核を高速に成長さ
せる技術か開示されている。また特開平1−29815
3号には、同一真空槽内でPVD法(スパッタリンク)
とCVD法(EC:Rマイクロ波プラズマCVD)を交
互に連続して行ない、スパッタリング膜とCVD膜の積
R膜を形成する技術か開示されている。
しかしながら、特開昭64−5]396号および特開平
1−298153号に開示の技術は、いずれもPVD法
とCVD法を別々に行なうものてあって、これらを同時
に行なうものてない。このため、両方法の相乗効果が現
われないとともに、上述した従来のPVD法やCVDが
個々に有する欠点を解消し得ないという問題かある。
本発明は、上記問題点にかんがみてなされたものて、広
い面積に、高品質のダイヤモンドを低温て高速合成てき
るダイヤモンドの合成方法の提供を目的とする。
本発明者は、上記目的を達成するため鋭意研究を重ねた
結果、有磁場マイクロ波プラズマ法によって形成された
プラズマ流を炭素源ターゲットに接触させて、スパッタ
リングとマイクロ波プラズマCVDを同時に行なうこと
により、予期せざる効果か現われることを見出し、本発
明を完成するに至った。
[課題を解決するだめの手段] すなわち、本発明のダイヤモンドの合成方法は、有磁場
マイクロ波プラズマ法によフて形成されたプラズマ流を
炭素源ターゲットに接触させて、上記プラズマ流中の一
部のイオンを利用してスパッタリングを行なうとともに
、プラズマ流中に炭素源ガスを導入して基体上にダイヤ
モンドを生成させるようにしである。
以下、本発明の詳細な説明する。
まず、本発明方法を実施する際に用いる装置例について
、第1図を参照して説明する。
同図において、1はプラズマ室、2はプラズマ室1の内
部に強い磁場を形成する磁気コイルである。磁気コイル
2による磁場の磁束密度は、ECR条件である875 
Gaussに限定されず、例えば、500〜3000 
Gauss、好ましくは875〜2000GaUssの
範囲内で調整できるようになっている。
また、磁気コイル2による磁場分布は、プラズマ室1か
ら基板ホルタ−の方向に向って弱くなる発散磁界となっ
ている。磁場分布は、スパッタターゲット表面近傍に局
所磁界か形成され、マグネトロンモート放電を利用した
スパッタか行なえるように、磁気コイル2によって調整
することか好ましい。
3はマイクロ波発振器(マグネトロン)、4は導波管、
5はマイクロ波導入窓てあり、これらによってプラズマ
室1の内部にマイクロ波が導入される。マイクロ波発振
器3は2.45Gl(、のマイクロ波を発生ずる。
6はプラズマカス供給管てあり、プラズマ室l内にプラ
ズマガスな供給する。プラズマガスとしては、アルゴン
(Ar)カス、あるいはアルゴン(Ar)ガスと水素(
H2)ガスとの混合ガス、さらにはアルゴン(Ar)ガ
スと水素(+1□)ガスと炭素源ガスとの混合ガス等か
用いられる。7はプラズマ室1を冷却するための冷却管
である。
8はプラズマ室1に隣接して設けられた反応室(試料室
)てあり、プラズマ室1と連通1コ9を介して連通して
いる。lOはスパッタターゲラ1−てあり、反応室8内
の連通口9の近傍に配設されている。スパッタターゲッ
ト10は、ターゲットへの負バイアス印加によりプラズ
マ室1から流出するプラズマ流11と接するように配置
されており、プラズマ流11中の一部のイオンを利用し
てスパッタリングを行なう。スパッタターゲット10は
、カーボン、グラファイト、ダイヤモンド、ダイヤモン
ド状炭素(Dl、C;Dian+ondo [,1kc
Carbon)等の炭素原子からなる材料で形成されて
いる612はスパッタ電源であり、スパッタターゲット
10に接続されていて、ターゲットを負バイアスにして
、正イオンを効率良くターゲットに引き込んでスパッタ
速度を調節する。
13は炭素源ガス供給管てあり、反応室8内に炭素源ガ
スを供給する。
炭素源ガスとしては、メタン(cH4)、−酸化炭素(
CO)、エタン、プロパン、ブタン、アセチレン、各種
アルコール、ハロゲン化炭化水素、アミン等の炭素原子
を含むガスか用いられる。また、これらの炭素源ガスは
、水素(H2)ガス等との混合ガスとしても用いること
もてきる。
I4は基板であり、基板ホルダー15上に載置されてい
る。
基板温度は、室温〜1100°C1好ましくは300〜
800°Cとすることが好ましい。基板温度か高いと成
膜速度が低下する。
基板14としては、モリブデン、シリコン、アルミニウ
ム、炭化ケイ素、アルミナ、窒化アルミニウム、タンク
ステン、タンクステンカーハイト等が用いられる。
16はプラズマ室1および反応室8内を所定の真空度に
保つための排気装置である。ここて、プラズマ室1内の
圧力は0.5Torr以下、好ましくは0、D5Tor
r以下とする。また1反応室8内の圧力は1〜O,0O
ITorr 、好ましくは1〜0.0]Torrの範囲
内とする。反応室8内の圧力が高い場合にはスパッタ効
率が低下し、磁気コイル2による磁界の効果が低減する
のて好ましくない。
なお、反応室8内のより好ましい圧力範囲(1〜f1.
01 Torr)は、ECR条件における圧力条件(1
0−:1Torr)と一致せず、上述したホイッスラー
・モートマイクロ波プラズマCVD条件となっている。
なお、圧力が低い場合、例えば1O−ffTorr以下
のECR条件では成膜速度が低くなる。
また、プラズマ室1と反応室8とは連通口9て連通して
いるため、差圧を十分とることかできず、このためプラ
ズマ室1および反応室8の双方にとって好適な圧力(例
えば、10−3〜l Torr)か適宜選択される。も
し、差圧を十分とれる程の大排気量の真空ポンプを使用
することかできる場合には、プラズマ室1内の圧力を0
.5Torr以下に、反応室8内の圧力を1.0−” 
Torr程度に保つことも可能である。
次に、上記装置を用いて行なう本発明のダイヤモンドの
合成方法について説明する。
マイクロ波発振器によって2.45GH□のマイクロ波
を発生させ、導波管4およびマイクロ波導入窓5を介し
てプラズマ室1の内部にマイクロ波を導入する。これと
同時に磁気コイル2によって500〜3000 Gau
ssの磁界をプラズマ室1の内部に印加する。そしてこ
の状態てアルゴン(Ar)ガス、もしくはアルゴン(A
r)ガスと水素(+12)ガスとの混合ガス、あるいは
アルゴン(Ar)ガスと水素(112)ガスと炭素源ガ
スとの混合ガスをプラズマ室l内に供給する。これによ
り、プラズマ室l内において電場と磁場の相互作用によ
りプラスマか生し、プラズマ流11となって反応室8へ
流出する。
本発明方法においては、こうして形成されたブラズマ流
11をスパッタターゲットに接触させて、プラズマ流1
1中の一部のイオンを利用してスパッタリングか行なわ
れる。スパッタによりスパッタターゲット1oから飛び
出したスパッタ粒子はプラズマ流によりイオン化か促進
される。さらに、プラズマ流11には、炭素源ガス導入
管13から炭素源を含む炭素源ガスが導入され、この炭
素源ガスがプラズマにより分解されて基板表面に供給さ
れる。
このように、プラズマmll中にはスパッタリングによ
る炭素の供給とともに、炭素源ガス導入管から炭素源ガ
スが導入され、これによって基板表面にダイヤモンドが
生成する。
本発明方法は、エレクトロニクス材料、光学部品、スピ
ーカ材料、耐摩耗性潤滑膜あるいは切削工具等の分野で
広く利用できる。
[実施例1 以下、実施例により本発明をさらに詳細に説明する。
実施例1 第1図に示した装置を用い、プラズマ室内にプラズマガ
スとしてアルゴンガス(Ar)を5[I SCCMの流
量で供給し、プラズマ室内の圧力を0.05 torr
に維持しつつ、1000 Gauss (プラズマ室の
中心刊近)の磁界をかけ、さらに2.45GH,のマイ
クロ波(出力500W)を照射して、電場と磁場の相互
作用でプラズマ流を発生させた。
これと同時に、スパッタターゲットにスパッタ電圧−2
00vを印加し、さらに、反応室内に炭素源ガスとして
、−酸化炭素(Go) 10 S(:CMと、水素(H
2) 903CCMとの混合ガスを供給して、基板上に
ダイヤモンドを合成した。基板としては、ダイヤモンド
微粉末で傷付処理した大きさ4インチφのシリコン基板
を用いた。また、基板温度は500°Cとした。
得られたダイヤモンドについてラマン分光分析を行なっ
たところ、ラマンスペクトルの1333cm−’の位置
にダイヤモン1〜であることを示すピークが認められた
。また、SEM (走査型電子顕微鏡)による観察を行
なったところ、ダイヤモンド自形を有する高品質のダイ
ヤモンドであることか確認された。なお、ダイヤモンド
の成長速度(成膜速度)は0.8 pLm/hrであっ
た。
以上の条件および結果を第1表に示す。
実施例2 炭素源ガスと水素ガスの流量を、それぞれ、Co 20
 SCCM、H280sCCMとした以外は実施例1と
同様にしてダイヤモンドの合成を行なった。
その結果、得られたダイヤモンドは実施例1と同様の性
状を示した。たたし、ダイヤモンドの成長速度は1.1
弘ts/hrであった。
実施例3 基板温度を400°Cとした以外は実施例工と同様にし
てダイヤモンドの合成を行なフた。
その結果、得られたダイヤモンドは実施例1と同様の性
状を示した。ただし、ダイヤモンドの成長速度は0.9
pLm/hrであった。
比較例1 炭素源ガスおよび水素ガスを用いなかったこと以外は実
施例1と同様にして反応を行なわせた。
その結果、得られたのはダイヤモンド性状炭素(DLC
膜)であった。また、その成長速度は0.5pm/hr
であった。
比較例2 基板温度を400°Cとしたこと以外は比較例1と同様
にして反応を行なわせた。
その結果、得られたのはDLC膜てあり、その成長速度
は0.す、m/hrであった。
比較例3 プラズマガス(Ar)を供給しなかったこと以外は実施
例1と同様にして反応を行なわせた。
その結果、ダイヤモンドか得られたが、その成長速度は
0.5 JLi/hrであり、低速であった。
比較例4 プラズマガス(Ar)を供給しなかったこと、および基
板温度を400℃としたこと以外は実施例1と同様にし
て反応を行なわせた。
その結果、得られたのはD L C膜であり、その成長
速度は3.4Bm/hrと低速てあった。
実施例1〜3、比較例1〜4の条件および結果を第1表
に示す。
[以下 余白] [発明の効果] 以」二説明したように、本発明のダイヤモンドの合成方
法によれば、広い面積の基体上に、高品質のダイヤモン
ドを低温で高速合成てきる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明方法の実施に用いられる装置例を示す
断面図である。 :プラズマ室 マイクロ波発振器 ニスバッタターゲット :プラズマ流 基板 2・磁気コイル 8:反応室 :炭素源ガス導入管

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  有磁場マイクロ波プラズマ法によって形成されるプラ
    ズマ流を炭素源ターゲットに接触させて、上記プラズマ
    流中の一部のイオンを利用してスパッタリングを行なう
    とともに、プラズマ流中に炭素源ガスを導入して基体上
    にダイヤモンドを生成させることを特徴としたダイヤモ
    ンドの合成方法。
JP23486090A 1990-09-05 1990-09-05 ダイヤモンドの合成方法 Pending JPH04114994A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23486090A JPH04114994A (ja) 1990-09-05 1990-09-05 ダイヤモンドの合成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23486090A JPH04114994A (ja) 1990-09-05 1990-09-05 ダイヤモンドの合成方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04114994A true JPH04114994A (ja) 1992-04-15

Family

ID=16977482

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23486090A Pending JPH04114994A (ja) 1990-09-05 1990-09-05 ダイヤモンドの合成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04114994A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0617147A3 (en) * 1993-03-25 1997-05-28 Canon Kk Method for producing a diamond crystal.

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0617147A3 (en) * 1993-03-25 1997-05-28 Canon Kk Method for producing a diamond crystal.

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3167938B2 (ja) 表面のプラズマ処理のための方法及び装置
US5368897A (en) Method for arc discharge plasma vapor deposition of diamond
JPS63107898A (ja) プラズマを用いるダイヤモンドの合成法
JPH04958B2 (ja)
JPH04114994A (ja) ダイヤモンドの合成方法
JP2962631B2 (ja) ダイヤモンド状炭素薄膜の製造方法
JPH03174397A (ja) 硬質物質の合成方法およびその合成装置
Chiang et al. Low-pressure deposition of diamond by electron cyclotron resonance microwave plasma chemical vapor deposition
JP3898622B2 (ja) 炭素膜形成方法及びその装置、並びに炭素膜及びその炭素膜を被覆された製造物
JPH0665744A (ja) ダイヤモンド状炭素薄膜の製造方法
JP3176086B2 (ja) ダイヤモンド結晶及びダイヤモンド形成用基体
JPH01317198A (ja) ダイヤモンド等の合成方法
JPH0723279B2 (ja) ダイヤモンド膜の製造方法
JPH0667797B2 (ja) ダイヤモンドの合成方法
JP2686970B2 (ja) 膜状ダイヤモンドの製造方法
JP2840750B2 (ja) 被膜形成方法
JP3025808B2 (ja) 薄膜作製方法
JP3980138B2 (ja) ダイヤモンドの製造方法
JPS63265890A (ja) ダイヤモンド薄膜又はダイヤモンド状薄膜の製造方法
JPH085748B2 (ja) ダイヤモンドの気相合成法
JPS6330397A (ja) ダイヤモンドの合成方法
JPS63215597A (ja) ダイヤモンド薄膜又はダイヤモンド状薄膜の製造方法
JPH01103988A (ja) イオンサイクロトロン共鳴法による硬質膜の製造方法
JPH0623437B2 (ja) 炭素および窒化ホウ素の作製方法
JPS63117996A (ja) ダイヤモンドの気相合成法