JPH04101513A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
- Publication number
- JPH04101513A JPH04101513A JP2220482A JP22048290A JPH04101513A JP H04101513 A JPH04101513 A JP H04101513A JP 2220482 A JP2220482 A JP 2220482A JP 22048290 A JP22048290 A JP 22048290A JP H04101513 A JPH04101513 A JP H04101513A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- compensating
- data
- correction
- terminal
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 11
- 238000009966 trimming Methods 0.000 abstract description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
の1
この発明は半導体集積回路に関し、特に1チップ上に同
一回路が多数搭載されている半導体集積回路に関する。
一回路が多数搭載されている半導体集積回路に関する。
従】ぴU支床−
従来、この種の半導体集積回路は、例えば出力トランジ
スタの出力電流偏差を補正する場合、第4図に示すよう
に、1回路ごとにトリミング抵抗25a 〜25cを内
蔵し、GND端子22と所望の印加端子23a〜23c
に電流を印加し、所望のヒユーズ26a〜26Cを溶断
して、抵抗値を変化させることにより、出力トランジス
タ28のゲートにかかるバイアスを変化させ、出力電流
偏差を補正していた。
スタの出力電流偏差を補正する場合、第4図に示すよう
に、1回路ごとにトリミング抵抗25a 〜25cを内
蔵し、GND端子22と所望の印加端子23a〜23c
に電流を印加し、所望のヒユーズ26a〜26Cを溶断
して、抵抗値を変化させることにより、出力トランジス
タ28のゲートにかかるバイアスを変化させ、出力電流
偏差を補正していた。
よ゛
ところで、上記従来の半導体集積回路は、補正対象の1
回路ごとに多数の印加端子(例えばプローブ針当て用パ
ッド)が必要となり、補正対象回路が多数になると、印
加端子のチップに占める面積も大きくなり、出力トラン
ジスタの初期電流測定から、所望の補正対象回路の所望
のヒユーズを溶断するまでの過程も複雑になる(チップ
面積を大きくさせないためには、例えばチップ上の任意
の位置にプローブ針を当てたり、任意の位置を溶断する
ためのレーザシステムなどが必要となる)という欠点が
あった。
回路ごとに多数の印加端子(例えばプローブ針当て用パ
ッド)が必要となり、補正対象回路が多数になると、印
加端子のチップに占める面積も大きくなり、出力トラン
ジスタの初期電流測定から、所望の補正対象回路の所望
のヒユーズを溶断するまでの過程も複雑になる(チップ
面積を大きくさせないためには、例えばチップ上の任意
の位置にプローブ針を当てたり、任意の位置を溶断する
ためのレーザシステムなどが必要となる)という欠点が
あった。
−−の
この発明の半導体集積回路は、偏差を有する回路に補正
データを伝達するシフトレジスタと、上記シフトレジス
タに伝達された補正データにより、所望の回路の特性を
補正する機能を有する補正回路を1チップ上に搭載して
いる。
データを伝達するシフトレジスタと、上記シフトレジス
タに伝達された補正データにより、所望の回路の特性を
補正する機能を有する補正回路を1チップ上に搭載して
いる。
■
上記構成によると、補正対象回路に個々の印加→は補正
対象となる回路の所望の特性を補正することができる。
対象となる回路の所望の特性を補正することができる。
補正回路内でトリミングする場合、選択的にトリミング
するデータを伝達することにより、印加端子も全回路共
通に使用でき、印加端子の面積を小さくできる。
するデータを伝達することにより、印加端子も全回路共
通に使用でき、印加端子の面積を小さくできる。
尖凰桝
以下、この発明について図面を参照して説明する。
第1図はこの発明の一実施例の全体ブロック図である。
図において、1はデータ入力、2はDフリップフロップ
21〜2nからなるシフトレジスタ、3は補正回路31
〜3nからなる補正回路ブロック、4は補正対象回路d
1〜dnからなる補正対象回路ブロックである。
21〜2nからなるシフトレジスタ、3は補正回路31
〜3nからなる補正回路ブロック、4は補正対象回路d
1〜dnからなる補正対象回路ブロックである。
第2図は第1図の補正回路3□〜3nの一実施例の回路
図である。図において、5,6はシフトレジスタ21〜
2nからの補正データ入力、7はトリミング信号入力、
8,9,10は印加端子または電位固定端子、11a、
flbはヒユーズ、12 a、 12 bはトランジ
スタスイッチ、13゜14.15はそれぞれスイッチ1
2a、12bのゲート電位をコントロールするためのA
ND 、NOT 。
図である。図において、5,6はシフトレジスタ21〜
2nからの補正データ入力、7はトリミング信号入力、
8,9,10は印加端子または電位固定端子、11a、
flbはヒユーズ、12 a、 12 bはトランジ
スタスイッチ、13゜14.15はそれぞれスイッチ1
2a、12bのゲート電位をコントロールするためのA
ND 、NOT 。
NAND回路である。
第3図は第1図の補正対象回路4.〜4nの一実施例の
回路図である。図において7 a + 7 bは補正
回路31〜3nからのトリミング信号入力、16は出力
トランジスタおよび16a、16bは補正用出力トラン
ジスタ、17は出力端子、18は出力トランジスタ16
のゲートに電圧を印加するバイアス端子、19はGND
端子、20a。
回路図である。図において7 a + 7 bは補正
回路31〜3nからのトリミング信号入力、16は出力
トランジスタおよび16a、16bは補正用出力トラン
ジスタ、17は出力端子、18は出力トランジスタ16
のゲートに電圧を印加するバイアス端子、19はGND
端子、20a。
20bはトリミング信号入カフ a + 7 bにより
補正用出力トランジスタlea、IEibのゲート21
に印加する電圧を選択するスイッチである。
補正用出力トランジスタlea、IEibのゲート21
に印加する電圧を選択するスイッチである。
次に、上記の回路図の動作について説明する。
まず、データ入力1からシフトレジスタブロック2に補
正対象回路41〜4nの初期特性を測定する状態のデー
タ(カットデータ人力5.トリミングデータ入力6がロ
ウのデータ、端子8,9゜10はGNDに固定しトリミ
ング信号比カフをGNDに固定させ、補正用出力トラン
ジスタ16a。
正対象回路41〜4nの初期特性を測定する状態のデー
タ(カットデータ人力5.トリミングデータ入力6がロ
ウのデータ、端子8,9゜10はGNDに固定しトリミ
ング信号比カフをGNDに固定させ、補正用出力トラン
ジスタ16a。
16bをオフさせる)を伝達させ、テスタにより初期特
性を測定する。
性を測定する。
次に、この測定値から各回路のアドレスや補正値をテス
タにより演算処理させ、補正データとしてデータ人力1
よりシフトレジスタブロック2に伝達する。シフトレジ
スタブロック2に伝達されたデータは、各々補正回路3
1〜3nにより所望のスイッチ20a、20bをオンま
たはオフさせ、GNDに固定した端子8,9と印加端子
10との間に電流を印加し、所望のヒユーズlla、1
1bを溶断する。
タにより演算処理させ、補正データとしてデータ人力1
よりシフトレジスタブロック2に伝達する。シフトレジ
スタブロック2に伝達されたデータは、各々補正回路3
1〜3nにより所望のスイッチ20a、20bをオンま
たはオフさせ、GNDに固定した端子8,9と印加端子
10との間に電流を印加し、所望のヒユーズlla、1
1bを溶断する。
次に、カットデータ人力5.トリミングデータ入力6を
ロウにするようなデータを伝達し、GND端子9をGN
Dに、ハイ側端子8をハイに固定すると、補正用出力ト
ランジスタI E3 a、 16 bの所望のものの
みがオンし、出力トランジスタ16の出力特性が補正さ
れる。
ロウにするようなデータを伝達し、GND端子9をGN
Dに、ハイ側端子8をハイに固定すると、補正用出力ト
ランジスタI E3 a、 16 bの所望のものの
みがオンし、出力トランジスタ16の出力特性が補正さ
れる。
この実施例によれば、外部からのデータにより補正回路
31〜3nを動作させ、所望の補正対象回路4I〜4n
を補正することができ、直接所望箇所の補正をするため
の端子や複雑な装置を必要としないという利点がある。
31〜3nを動作させ、所望の補正対象回路4I〜4n
を補正することができ、直接所望箇所の補正をするため
の端子や複雑な装置を必要としないという利点がある。
光肌囚処果
以上説明したように、この発明は同一回路が多数搭載さ
れている半導体集積回路において、偏差を有する所望の
回路に補正データを伝達するシフトレジスタと、上記シ
フトレジスタに伝達された補正データにより所望の回路
特性を補正する機能を有する補正回路を1チップ上に搭
載したことにより、個々の回路を補正する多数の端子や
所望の箇所を加工するなとの複雑な装置がなくても所望
回路を補正することができる効果がある。
れている半導体集積回路において、偏差を有する所望の
回路に補正データを伝達するシフトレジスタと、上記シ
フトレジスタに伝達された補正データにより所望の回路
特性を補正する機能を有する補正回路を1チップ上に搭
載したことにより、個々の回路を補正する多数の端子や
所望の箇所を加工するなとの複雑な装置がなくても所望
回路を補正することができる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例の半導体集積回路の全体ブ
ロック図、第2図は第1図の補正回路の一実施例の回路
図、第3図は第1図の補正対象回路の一実施例の回路図
である。 第4図は従来の補正回路部の一回路図である。 1・・・・・・データ入力、 2□〜2n・・・・・・シフトレジスタ、3、〜3n・
・・・・・補正回路、 41〜4n・・・・・・補正対象回路。
ロック図、第2図は第1図の補正回路の一実施例の回路
図、第3図は第1図の補正対象回路の一実施例の回路図
である。 第4図は従来の補正回路部の一回路図である。 1・・・・・・データ入力、 2□〜2n・・・・・・シフトレジスタ、3、〜3n・
・・・・・補正回路、 41〜4n・・・・・・補正対象回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1チップ上に同一回路が多数搭載されている半導体集積
回路において、 偏差を有する所望の回路に補正データを伝達するシフト
レジスタと、上記シフトレジスタに伝達された補正デー
タにより所望の回路の特性を補正する機能を有する補正
回路を1チップ上に搭載したことを特徴とする半導体集
積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2220482A JPH04101513A (ja) | 1990-08-21 | 1990-08-21 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2220482A JPH04101513A (ja) | 1990-08-21 | 1990-08-21 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04101513A true JPH04101513A (ja) | 1992-04-03 |
Family
ID=16751780
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2220482A Pending JPH04101513A (ja) | 1990-08-21 | 1990-08-21 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04101513A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6002261A (en) * | 1996-10-09 | 1999-12-14 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Trimming circuit |
-
1990
- 1990-08-21 JP JP2220482A patent/JPH04101513A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6002261A (en) * | 1996-10-09 | 1999-12-14 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Trimming circuit |
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