JPH06236966A - 集積回路 - Google Patents
集積回路Info
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- JPH06236966A JPH06236966A JP33225592A JP33225592A JPH06236966A JP H06236966 A JPH06236966 A JP H06236966A JP 33225592 A JP33225592 A JP 33225592A JP 33225592 A JP33225592 A JP 33225592A JP H06236966 A JPH06236966 A JP H06236966A
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- 230000005669 field effect Effects 0.000 abstract description 16
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 4
- 101000664599 Homo sapiens Tripartite motif-containing protein 2 Proteins 0.000 abstract description 2
- 102100038799 Tripartite motif-containing protein 2 Human genes 0.000 abstract description 2
- 101000766246 Homo sapiens Probable E3 ubiquitin-protein ligase MID2 Proteins 0.000 description 1
- 102100026310 Probable E3 ubiquitin-protein ligase MID2 Human genes 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
- H01L27/08—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
- H01L27/0802—Resistors only
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 集積回路の部品として製造される別の素子と
共に動作するための正確な抵抗値を得るために、回路の
製造後に抵抗値を変更できるようにする。 【構成】 複数個の回路素子と、互いに直列に接続され
た複数個の集積回路抵抗と、集積回路素子の他の抵抗値
を考慮してその集積回路に必要な抵抗値を得るために充
分な数の抵抗を複数個の集積回路抵抗から選択する装置
とを有する。
共に動作するための正確な抵抗値を得るために、回路の
製造後に抵抗値を変更できるようにする。 【構成】 複数個の回路素子と、互いに直列に接続され
た複数個の集積回路抵抗と、集積回路素子の他の抵抗値
を考慮してその集積回路に必要な抵抗値を得るために充
分な数の抵抗を複数個の集積回路抵抗から選択する装置
とを有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はディジタル回路に関し、
特に正確な出力値を得るために集積回路抵抗の抵抗値を
変更するための回路に関する。
特に正確な出力値を得るために集積回路抵抗の抵抗値を
変更するための回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】製造技術の継続的な向上によって、集積
回路チップ上に配設できるトランジスタ素子の個数が増
大し、前記チップのサイズは縮小している。集積回路で
使用される電界効果形トランジスタ及び同様の素子は極
めて精密な特性を以て製造できるものの、集積回路の一
部である回路部品は必ずしもそうではない。例えば、集
積回路抵抗の値は目標値から２０％も変化することがよ
くある。多くの場合、回路が誤差なく動作するかどうか
は抵抗値に懸かっている。例えば、各個の部品から成っ
ている回路では、正確な電圧レベル出力を生成するため
には、電圧標準回路は代表的には精密抵抗値に左右され
る。集積回路では、その回路で使用される抵抗値を制御
することが困難であるため、電圧標準回路を構成するこ
とが一層困難である。
回路チップ上に配設できるトランジスタ素子の個数が増
大し、前記チップのサイズは縮小している。集積回路で
使用される電界効果形トランジスタ及び同様の素子は極
めて精密な特性を以て製造できるものの、集積回路の一
部である回路部品は必ずしもそうではない。例えば、集
積回路抵抗の値は目標値から２０％も変化することがよ
くある。多くの場合、回路が誤差なく動作するかどうか
は抵抗値に懸かっている。例えば、各個の部品から成っ
ている回路では、正確な電圧レベル出力を生成するため
には、電圧標準回路は代表的には精密抵抗値に左右され
る。集積回路では、その回路で使用される抵抗値を制御
することが困難であるため、電圧標準回路を構成するこ
とが一層困難である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の課題
は集積回路において正確な抵抗値を得ることにある。本
発明の別のより詳細な課題は、集積回路の一部として製
造される他の素子と共に動作するための正確な抵抗値を
得るために、回路の製造後に変更できる抵抗値を得るこ
とである。
は集積回路において正確な抵抗値を得ることにある。本
発明の別のより詳細な課題は、集積回路の一部として製
造される他の素子と共に動作するための正確な抵抗値を
得るために、回路の製造後に変更できる抵抗値を得るこ
とである。
【０００４】本発明のさらに他の目的は、回路の製造後
に抵抗値を変えることができる集積回路基準電圧を供給
することである。
に抵抗値を変えることができる集積回路基準電圧を供給
することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の上記の、及びそ
の他の課題は、複数個の回路素子と、互いに直列に接続
された複数個の集積回路抵抗と、他の集積回路素子の抵
抗値からその集積回路に必要な抵抗値と整合させるため
に充分な数の抵抗を複数個の集積回路抵抗から選択する
装置とから構成された集積回路によって達成される。
の他の課題は、複数個の回路素子と、互いに直列に接続
された複数個の集積回路抵抗と、他の集積回路素子の抵
抗値からその集積回路に必要な抵抗値と整合させるため
に充分な数の抵抗を複数個の集積回路抵抗から選択する
装置とから構成された集積回路によって達成される。
【０００６】本発明の上記の、及びその他の課題と特徴
は図面を参照しつつ本発明の以下の詳細な説明によって
明らかにされる。図中、同一の素子には同一の符号が付
されている。
は図面を参照しつつ本発明の以下の詳細な説明によって
明らかにされる。図中、同一の素子には同一の符号が付
されている。
【０００７】
【実施例】さて図１を参照すると、本発明の原理に従っ
て設計された回路１０が図示されている。本実施例で
は、回路１０は、電圧標準回路１２によって一対の出力
端子に供給される出力電圧レベルを制御するために正確
な抵抗値を供給するのに利用される。電圧標準回路は従
来から公知である。一般に、これらの回路では正確な出
力値を生成できるように、回路を電圧源へ接続するのに
精密抵抗を使用する必要がある。電圧標準回路１２の動
作自体は本発明を理解する上で重要ではないので、その
詳細は本明細書では詳述しない。
て設計された回路１０が図示されている。本実施例で
は、回路１０は、電圧標準回路１２によって一対の出力
端子に供給される出力電圧レベルを制御するために正確
な抵抗値を供給するのに利用される。電圧標準回路は従
来から公知である。一般に、これらの回路では正確な出
力値を生成できるように、回路を電圧源へ接続するのに
精密抵抗を使用する必要がある。電圧標準回路１２の動
作自体は本発明を理解する上で重要ではないので、その
詳細は本明細書では詳述しない。
【０００８】しかし、簡略に説明すると、第１のＰチャ
ネル電界効果形トランジスタＭ１のソース及びドレン端
子はＮチャネル電界効果形トランジスタＭ３のソース及
びドレン端子と直列に接続されている。このトランジス
タＭ１とＭ３とは、電圧源Ｖccと、第２の電圧源Ｖssも
しくはアースに接続された直列連鎖抵抗１６との間に接
続される。第２のＰチャネル電界効果形トランジスタＭ
２のソース及びドレン端子は電圧源ＶccとＶssとの間
で、第２のＮチャネル電界効果形トランジスタＭ４のソ
ース及びドレン端子と直列に接続されている。
ネル電界効果形トランジスタＭ１のソース及びドレン端
子はＮチャネル電界効果形トランジスタＭ３のソース及
びドレン端子と直列に接続されている。このトランジス
タＭ１とＭ３とは、電圧源Ｖccと、第２の電圧源Ｖssも
しくはアースに接続された直列連鎖抵抗１６との間に接
続される。第２のＰチャネル電界効果形トランジスタＭ
２のソース及びドレン端子は電圧源ＶccとＶssとの間
で、第２のＮチャネル電界効果形トランジスタＭ４のソ
ース及びドレン端子と直列に接続されている。
【０００９】電圧標準回路１２が動作中はトランジスタ
Ｍ１−Ｍ４は全てオン状態である。電流は抵抗連鎖１６
の抵抗値によって制御されるトランジスタＭ１とＭ３と
を経てＶccとＶssとの間を流れる。電流はさらにトラン
ジスタＭ２とＭ４とを経てＶccとＶssとの間を流れる。
トランジスタＭ２とＭ４とは同じサイズであり、一方の
ゲート端子の電圧は他方のゲート端子の電圧と同じであ
るので、各トランジスタを経て流れる電流は同じにな
る。トランジスタＭ１とＭ３を流れる電流は抵抗１６を
経て流れる。その結果、抵抗１６の値はトランジスタＭ
１とＭ３を流れる電流を制御する。トランジスタＭ１と
Ｍ２を流れる電流は同じなので、トランジスタＭ２とＭ
４との間の電圧値ＮＲＥＦと、トランジスタＭ１とＭ３
との間の電圧値ＰＲＥＦとは抵抗１６を経たバイアス電
流の関数である。従って、抵抗１６の全抵抗値の変化は
結果として生ずる基準出力電圧に直接影響を及ぼす。
Ｍ１−Ｍ４は全てオン状態である。電流は抵抗連鎖１６
の抵抗値によって制御されるトランジスタＭ１とＭ３と
を経てＶccとＶssとの間を流れる。電流はさらにトラン
ジスタＭ２とＭ４とを経てＶccとＶssとの間を流れる。
トランジスタＭ２とＭ４とは同じサイズであり、一方の
ゲート端子の電圧は他方のゲート端子の電圧と同じであ
るので、各トランジスタを経て流れる電流は同じにな
る。トランジスタＭ１とＭ３を流れる電流は抵抗１６を
経て流れる。その結果、抵抗１６の値はトランジスタＭ
１とＭ３を流れる電流を制御する。トランジスタＭ１と
Ｍ２を流れる電流は同じなので、トランジスタＭ２とＭ
４との間の電圧値ＮＲＥＦと、トランジスタＭ１とＭ３
との間の電圧値ＰＲＥＦとは抵抗１６を経たバイアス電
流の関数である。従って、抵抗１６の全抵抗値の変化は
結果として生ずる基準出力電圧に直接影響を及ぼす。
【００１０】抵抗１６は各々、全ての別の抵抗１６と直
列接続されている。回路１０の好ましい実施例では、図
面の右側から５番目と６番目の抵抗１６の間で電圧標準
回路１２に接続されている。直列接続された最も左側の
抵抗１６は電圧Ｖssが印加される端子に接続されてい
る。
列接続されている。回路１０の好ましい実施例では、図
面の右側から５番目と６番目の抵抗１６の間で電圧標準
回路１２に接続されている。直列接続された最も左側の
抵抗１６は電圧Ｖssが印加される端子に接続されてい
る。
【００１１】電圧Ｖssは右側の５個の抵抗１６を除い
て、全ての抵抗１６を経て回路１２に供給される。抵抗
１６の抵抗値が極めて精密である場合は、電圧標準回路
１２は精密な基準電圧レベルを生成する。ところが、集
積回路の製造工程で製造された抵抗の値が極めて正確で
あるとは限らない。実際に、前記抵抗値は目標値から２
０％も異なることがよくある。従って、回路１２によっ
て発生される基準電圧ＮＲＥＦとＰＲＥＦは正確ではな
いことになる。
て、全ての抵抗１６を経て回路１２に供給される。抵抗
１６の抵抗値が極めて精密である場合は、電圧標準回路
１２は精密な基準電圧レベルを生成する。ところが、集
積回路の製造工程で製造された抵抗の値が極めて正確で
あるとは限らない。実際に、前記抵抗値は目標値から２
０％も異なることがよくある。従って、回路１２によっ
て発生される基準電圧ＮＲＥＦとＰＲＥＦは正確ではな
いことになる。
【００１２】正確な電圧標準値を生成するために必要な
範囲内で回路１２に抵抗値を付与するために、第１及び
第２のＮチャネル電界効果形トランジスタＭ５及びＭ６
が使用される。トランジスタＭ５のソース及びドレン端
子は単一の抵抗１６を跨いで接続されている。一方、ト
ランジスタＭ５のゲート端子は外部パッドに結合されて
いる。したがってそこに信号ＴＲＩＭ１が加わるとトラ
ンジスタＭ５が導通して単一セグメントの抵抗１６を短
絡する。同様にして、トランジスタＭ６のソース及びド
レン端子は３個の抵抗１６を跨いで接続され、トランジ
スタＭ６のゲート端子は別の外部パッドに結合されてい
る。したがって信号ＴＲＩＭ２をそのパッドに加えると
トランジスタＭ６が導通し、３個の抵抗１６を短絡させ
る。
範囲内で回路１２に抵抗値を付与するために、第１及び
第２のＮチャネル電界効果形トランジスタＭ５及びＭ６
が使用される。トランジスタＭ５のソース及びドレン端
子は単一の抵抗１６を跨いで接続されている。一方、ト
ランジスタＭ５のゲート端子は外部パッドに結合されて
いる。したがってそこに信号ＴＲＩＭ１が加わるとトラ
ンジスタＭ５が導通して単一セグメントの抵抗１６を短
絡する。同様にして、トランジスタＭ６のソース及びド
レン端子は３個の抵抗１６を跨いで接続され、トランジ
スタＭ６のゲート端子は別の外部パッドに結合されてい
る。したがって信号ＴＲＩＭ２をそのパッドに加えると
トランジスタＭ６が導通し、３個の抵抗１６を短絡させ
る。
【００１３】代表的には、抵抗１６の製造時に、それら
の値が、最も左の抵抗１６は回路１２用に適切な抵抗値
を付与するためには必要がないような抵抗値に選択され
る。このような場合は、トランジスタＭ５に入力信号が
供給されて、このトランジスタをオンとし、最も左の抵
抗１６を短絡させる。しかし、回路１２から正確な出力
電圧を供給するためにその抵抗値が不十分である場合
は、トランジスタＭ５をオフにして、最も左の抵抗１６
の抵抗値を全抵抗値に含めることができる。もちろん、
電圧源Ｖssと回路１２との間の経路に配設された抵抗値
を変更させるために、トランジスタＭ５及びＭ６の一方
又は他方をオフにすることができる。さらに、トランジ
スタＭ５及びＭ６と同様の付加的なトランジスタを使用
することもできよう。それらのトランジスタを設けるこ
とにより抵抗値の選択に一層の柔軟性を付与することが
できる。
の値が、最も左の抵抗１６は回路１２用に適切な抵抗値
を付与するためには必要がないような抵抗値に選択され
る。このような場合は、トランジスタＭ５に入力信号が
供給されて、このトランジスタをオンとし、最も左の抵
抗１６を短絡させる。しかし、回路１２から正確な出力
電圧を供給するためにその抵抗値が不十分である場合
は、トランジスタＭ５をオフにして、最も左の抵抗１６
の抵抗値を全抵抗値に含めることができる。もちろん、
電圧源Ｖssと回路１２との間の経路に配設された抵抗値
を変更させるために、トランジスタＭ５及びＭ６の一方
又は他方をオフにすることができる。さらに、トランジ
スタＭ５及びＭ６と同様の付加的なトランジスタを使用
することもできよう。それらのトランジスタを設けるこ
とにより抵抗値の選択に一層の柔軟性を付与することが
できる。
【００１４】図１には更に一対のＮチャネル電界効果形
トランジスタＭ１０及びＭ１１が図示されている。この
トランジスタＭ１０及びＭ１１は直列の抵抗１６の抵抗
値を測定できるように、抵抗１６を出力端子ＲＥＳに接
続するために利用している。トランジスタＭ１０とＭ１
１とを導通させるために、高い電圧値が外部端子ＲＥＳ
ＨからトランジスタＭ１０とＭ１１のゲート端子に供給
される。トランジスタＭ７とＭ８を含むインバータの入
力端子も端子ＲＥＳＨに接続されている。インバータ機
能は、Ｎチャネル電界効果形トランジスタＭ９から非導
通状態のトランジスタＭ１０とＭ１１との接続点にＶcc
を印加して、その接続点での静電荷が回路１０を損傷す
ることがないようにするためのものである。
トランジスタＭ１０及びＭ１１が図示されている。この
トランジスタＭ１０及びＭ１１は直列の抵抗１６の抵抗
値を測定できるように、抵抗１６を出力端子ＲＥＳに接
続するために利用している。トランジスタＭ１０とＭ１
１とを導通させるために、高い電圧値が外部端子ＲＥＳ
ＨからトランジスタＭ１０とＭ１１のゲート端子に供給
される。トランジスタＭ７とＭ８を含むインバータの入
力端子も端子ＲＥＳＨに接続されている。インバータ機
能は、Ｎチャネル電界効果形トランジスタＭ９から非導
通状態のトランジスタＭ１０とＭ１１との接続点にＶcc
を印加して、その接続点での静電荷が回路１０を損傷す
ることがないようにするためのものである。
【００１５】抵抗連鎖の抵抗１６の値が決定されると、
トランジスタＭ５とＭ６のいずれか一つが電圧標準回路
１２に精密な抵抗値を付与するために動作する。集積回
路と共に使用する場合は、回路１０の寿命を通してトラ
ンジスタＭ５及びＭ６の選択された状態を保持するため
に、外部端子パッドからトランジスタＭ５及びＭ６に供
給される入力信号はＵＰＲＯＭ（プログラミングが変化
しないように金属シールドのような装備を備えたＥＰＲ
ＯＭ）のような回路によって供給するのが望ましい。
トランジスタＭ５とＭ６のいずれか一つが電圧標準回路
１２に精密な抵抗値を付与するために動作する。集積回
路と共に使用する場合は、回路１０の寿命を通してトラ
ンジスタＭ５及びＭ６の選択された状態を保持するため
に、外部端子パッドからトランジスタＭ５及びＭ６に供
給される入力信号はＵＰＲＯＭ（プログラミングが変化
しないように金属シールドのような装備を備えたＥＰＲ
ＯＭ）のような回路によって供給するのが望ましい。
【００１６】本発明をこれまで好ましい実施例に従って
説明してきたが、本発明の趣旨と範囲を逸脱することな
く、多くの修正と変更が可能であることが専門家には理
解されよう。従って、本発明は特許請求項によってのみ
限定されるものである。
説明してきたが、本発明の趣旨と範囲を逸脱することな
く、多くの修正と変更が可能であることが専門家には理
解されよう。従って、本発明は特許請求項によってのみ
限定されるものである。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように、回路の製造後に抵
抗値を変更することができる。したがって、集積回路の
正確な電圧レベル出力を生成することができる。
抗値を変更することができる。したがって、集積回路の
正確な電圧レベル出力を生成することができる。
【図１】本発明に従って構成された集積回路の回路図で
ある。
ある。
１０ 回路 １２ 電圧標準回路 １６ 抵抗 Ｍ１ Ｐチャネル電界効果形トランジスタ Ｍ２ Ｐチャネル電界効果形トランジスタ Ｍ３ Ｎチャネル電界効果形トランジスタ Ｍ４ Ｎチャネル電界効果形トランジスタ Ｍ５ Ｎチャネル電界効果形トランジスタ Ｍ６ Ｎチャネル電界効果形トランジスタ Ｍ７ トランジスタ Ｍ８ トランジスタ Ｍ９ Ｎチャネル電界効果形トランジスタ Ｍ１０ トランジスタ Ｍ１１ トランジスタ Ｖcc 電圧源 Ｖss電圧源 ＮＲＥＦ 基準電圧 ＰＲＥＦ 基準電圧 ＲＥＳＨ 外部端子
Claims (2)
- 【請求項１】 集積回路において、 複数個の回路素子と、 互いに直列に接続された複数個の集積回路抵抗と、 集積回路の他の素子の抵抗値を考慮してその集積回路に
必要な抵抗値と整合するのに充分な数の抵抗を前記複数
個の集積回路抵抗から選択する装置とを有することを特
徴とする集積回路。 - 【請求項２】 制御された電流が流れる電導経路を備え
た基準電圧値を生成する集積回路において、前記導電経
路が、互いに直列に接続された複数個の集積回路抵抗
と、集積回路の他の素子の抵抗値を考慮してその集積回
路に必要な抵抗値と整合するのに充分な数の抵抗を前記
複数個の集積回路抵抗から選択する装置とから構成され
ていることを特徴とする集積回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US79441891A | 1991-11-19 | 1991-11-19 | |
| US794418 | 1991-11-19 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06236966A true JPH06236966A (ja) | 1994-08-23 |
Family
ID=25162573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33225592A Pending JPH06236966A (ja) | 1991-11-19 | 1992-11-19 | 集積回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06236966A (ja) |
| DE (1) | DE4238114A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6417726B1 (en) | 2000-12-18 | 2002-07-09 | Mitsubish Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device capable of adjusting an internal power supply potential in a wide range |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2728689A1 (fr) * | 1994-12-23 | 1996-06-28 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuit d'etalonnage de resistances |
| DE10039350C2 (de) | 2000-08-11 | 2003-04-03 | Infineon Technologies Ag | Integrierte Schaltung und Verfahren zum parallelen Testen von integrierten Schaltungen |
-
1992
- 1992-11-12 DE DE19924238114 patent/DE4238114A1/de not_active Withdrawn
- 1992-11-19 JP JP33225592A patent/JPH06236966A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6417726B1 (en) | 2000-12-18 | 2002-07-09 | Mitsubish Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device capable of adjusting an internal power supply potential in a wide range |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4238114A1 (en) | 1993-05-27 |
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