JPH0382149A - マイクロ波帯のセラミック複合モジュール - Google Patents

マイクロ波帯のセラミック複合モジュール

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JPH0382149A
JPH0382149A JP21914289A JP21914289A JPH0382149A JP H0382149 A JPH0382149 A JP H0382149A JP 21914289 A JP21914289 A JP 21914289A JP 21914289 A JP21914289 A JP 21914289A JP H0382149 A JPH0382149 A JP H0382149A
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Japan
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ceramic
sealing
space
chip
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JP21914289A
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植田 博和
Hiroshi Suzuki
寛 鈴木
Kenji Omiya
健司 大宮
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 セラミック基板に抵抗及びコンデンサ、インダクタを一
体化したセラミックモジュールに、半導体チップを実装
するマイクロ波帯のセラくツタ複合モジュールに関し、 マイクロ波帯で使用する際も、半導体チップを封止する
際の損失が小さくて済むセラミックの複合モジュールを
目的とし、 セラミックモジュールに、半導体チップを、該モジュー
ルの内部に設けたチップ取付はスペースに実装し、該セ
ラミック基板の一部をメタライズした部分又は金属板に
鑞付した封止板で封止を行うように構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明はセラごツタ基板に抵抗及びコンデンサ。
インダクタを一体化し構成したモジュール上に半導体チ
ップを実装したマイクロ波帯で使用されるセラミック複
合モジュールに関する。
〔従来の技術〕
従来のマイクロ波帯のセラミック複合モジュールは、第
2図の構造図の(a)に示す如き、セラG 7り基板2
0に抵抗1及びコンデンサ2.インダクタ3を一体化し
構成したセラ57クモジユール6上で、第2図〜)(C
)に示す如く、半導体チップ4を伝送線路A5と伝送線
路85’に封止する封止領域7を点線の如く決め、第2
図(d)(e)に示す如く、封止領域7を囲むセラミッ
クキャップ8を、基板20とのポンディング用の樹脂9
により樹脂封止を行っているので、完全な気密封止とは
言えず、信頼性の高い気密封止が得られない。又上記の
如く、半導体チップ4の封止を樹脂封止で行っているの
で、マイクロ波帯で使用する際は該樹脂による損失が大
きいという問題があった。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明は、マイクロ波帯で使用する際も、半導体チップ
を封止する際の損失が小さくて済むセラミックの複合モ
ジュールを提供する事を課題とする。
〔課題を解決するための手段〕
この課題は、第1図の如く、セラミック基板20に抵抗
l及びコンデンサ2.インダクタ3を一体化し構成した
セラミックモジュール6において、半導体チップ4を、
セラミックモジュール6上ではなくて、セラミックモジ
ュール6の内部に設けたチップ取付はスペース11に実
装し、セラごツタ基板20の一部をメタライズした部分
又は金属板21に鑞付した封止板10で封止を行うよう
にした本発明によって解決される。
本発明のマイクロ波帯のセラミック複合モジュールの基
本構成を示す第1図の原理図において、lは、セラミッ
ク基板20に設けられモジュール6を構成する抵抗であ
る。
2は、抵抗1と共に一体化してセラミック基板20に設
けられモジュール6を構成するコンデンサである。
3は、抵抗1.コンデンサ2と共に一体化してセラミッ
ク基板20に設けられモジュール6を構成するインダク
タである。
4は、モジュール6上ではなくて、セラくツクのモジュ
ール6の内部に設けたチップ取付はスペース11に実装
される半導体チップである。
5.5′は、半導体チップ4を封止する伝送線路角と伝
送線路Bである。
6は、セラミック基板20に抵抗■及びコンデンサ2、
インダクタ3を一体化して構成したセラミックモジュー
ルである。
10は、半導体チップ4を、セラミック基板2oの一部
をメタライズした部分又は金属板21に鑞付して封止す
る封止板である。
11は、セラミック基板20の内部の半導体チップ4を
取付ける為のチップ取付はスペースである。
そしてセラミック基板20の内部のチップ取付はスペー
ス11に半導体チップ4を実装し、封止板1゜で封止す
るように構成する。
〔作用〕
半導体チップ4は、セラミック基板2oに抵抗1及びコ
ンデンサ2.インダクタ3を一体化して構成したセラミ
ックのモジュール6の内部に設けたチップ取付はスペー
ス11に実装され、セラくツク基板20の一部をメタラ
イズした部分又は金属板21に封止板IOを鑞付して封
止する。そして半導体チップ4をチップ取付はスペース
11内の伝送線路A5と伝送線路B5’に鑞付する。
従って本発明のマイクロ波帯のセラごツク複合モジュー
ルは、半導体チップ4を伝送線路A5と伝送線路B5’
に接続するのに、従来のボンディングで接着する為の樹
脂9を使用せず、モジュール6の内部に設けたチップ取
付はスペース11に実装し、該スペース11内の伝送線
路A5と伝送線路B5’に鑞付するので、マイクロ波帯
で使用する際、従来のボンディング用の樹脂9による損
失が無くなり損失が小さくなるので、問題は解決される
〔実施例〕
第1図の原理図はそのまま、本発明の実施例のマイクロ
波帯のセラ5ツタ複合モジュールの構成を示す。セラミ
ック基板2oに抵抗1及びコンデンサ2.インダクタ3
を一体化構成したセラごツクモジュール6の内部に半導
体チップ4を実装する為のチップ取付はスペース11を
設け、半導体チップ4を実装する。そして伝送線路A5
と伝送線路85′に必要な配線を終了した後、セラミッ
ク基板20の一部をメタライズした部分又は金属板21
に封止板10を鑞付けして該チップ取付はスペース11
を封止する。この封止により、非常に信頼性の高い気密
封止ができる。また、本発明のセラミック複合モジュー
ルは、従来のように樹脂を使用しないので、マイクロ波
帯で使用する際も損失が小さくなって問題は無い。
[発明の効果〕 以上説明した如く、本発明によれば、高い信頼性の気密
封止が可能なマイクロ波帯のセラQ7り複合モジュール
を提供できる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のマイクロ波帯のセラミック複合モジュ
ールの基本構成を示す原理図、第2図は従来のマイクロ
波帯のセラミック複合モジュールの構造図である。 図
において、1は抵抗、2はコンデンサ、3はインダクタ
、4は半導体チップ、5,5′は伝送線路、6はセラミ
ックモジュール、10は封止板、11はチップ取付はス
ペース、20はセラミック基板である。 防 (α) (t)) (C) (d) (e) 従粟のマイ70波千のセラミ・ソフ複きtシ;−ルの+
4童図第 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. セラミック基板(20)に抵抗(1)及びコンデンサ(
    2)、インダクタ(3)を一体化したセラミックモジュ
    ール(6)において、半導体チップ(4)を、該セラミ
    ックモジュール(6)の内部に設けたチップ取付けスペ
    ース(11)に実装し、該セラミック基板(20)の一
    部をメタライズした部分又は金属板(21)に鑞付した
    封止板(10)で封止を行うようにしたことを特徴とす
    るマイクロ波帯のセラミック複合モジュール。
JP21914289A 1989-08-25 1989-08-25 マイクロ波帯のセラミック複合モジュール Expired - Lifetime JP2663645B2 (ja)

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