JPH038144A - 光デイスク複製用スタンパ製造方法 - Google Patents
光デイスク複製用スタンパ製造方法Info
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- JPH038144A JPH038144A JP14272489A JP14272489A JPH038144A JP H038144 A JPH038144 A JP H038144A JP 14272489 A JP14272489 A JP 14272489A JP 14272489 A JP14272489 A JP 14272489A JP H038144 A JPH038144 A JP H038144A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 6
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims abstract description 68
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 30
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 11
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 11
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 8
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 abstract description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 7
- 230000003362 replicative effect Effects 0.000 description 7
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 3
- WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M Potassium chloride Chemical compound [Cl-].[K+] WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 150000001242 acetic acid derivatives Chemical class 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000010076 replication Effects 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 235000011164 potassium chloride Nutrition 0.000 description 1
- 239000001103 potassium chloride Substances 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光ディスク複製用スタンバ製造方法に関する
。
。
従来の技術
従来、光ディスク複製用スタンパを製造する方法として
は、ガラス基板上に形成したプリグルーブパターン上に
導体化膜を形成した後、この導体化膜を陰極としてNi
めっきしガラス基板を剥離することによりマスタを得、
このマスタを剥離被膜処理した後Niめっきし前記マス
タから剥離することによりマザーを得、このマザーを剥
離被膜処理した後Niめっきし前記マザーから剥離する
ことによりサン(スタンパ)を得るようにしたものが、
例えば特開昭60−197959号公報等により知られ
ている。
は、ガラス基板上に形成したプリグルーブパターン上に
導体化膜を形成した後、この導体化膜を陰極としてNi
めっきしガラス基板を剥離することによりマスタを得、
このマスタを剥離被膜処理した後Niめっきし前記マス
タから剥離することによりマザーを得、このマザーを剥
離被膜処理した後Niめっきし前記マザーから剥離する
ことによりサン(スタンパ)を得るようにしたものが、
例えば特開昭60−197959号公報等により知られ
ている。
発明が解決しようとする課題
即ち、剥離被膜処理したマスタ及び剥離被膜処理したマ
ザーを各々Niめっきすることにより、マザー及びサン
を複製するものである。
ザーを各々Niめっきすることにより、マザー及びサン
を複製するものである。
今、マスタからマザーを複製する場合を例にとり、第5
図及び第6図を参照して、そのめっき工程を考える。ま
ず、第5図に示すようにマスタ1を陰極とし、陽極(N
iアノード)2とともにめっき浴3中に浸漬させること
によりめっき工程を行う。この時、剥離被膜処理された
マスタlの温度がめつき浴温に達するまでマスタlと陽
極2とをめっき浴3中に浸漬させている間に、マスタ1
と陽極2との間に微小なる逆電圧が発生し、電極間電位
差が生じ、マスタ1上の剥離被膜がめつき浴3に溶解し
てしまう。即ち、通常は陰極としてNiめっきが析出す
べきマスタlが陽極となって溶解することになる。一般
に、めっき浴3中での固液界面(円はマスタlの剥離被
膜層、液はめっき浴3)には、第6図に示すような+、
一対による電気二重層が存在し、マスタlの最表面には
十で示す同極の電荷が存在し、その外側で電位が逆転す
る。この大きな電位変化によりめっき浴3のイオンの影
響を受けないことになる。しかし、めっき浴3中に陽極
2を入れることにより、電極1゜2間に電位差が発生す
ると、このような電気二重層が破壊されて、各々の電極
1,2部分で第6図に示すようにNiの溶解、析出が起
こるものである。これにより、剥離被膜が消滅し、複製
後の剥離が困難となる。仮に、剥離できても転写溝形状
が完全に破壊されてしまい、品質の悪いものとなってし
まう。
図及び第6図を参照して、そのめっき工程を考える。ま
ず、第5図に示すようにマスタ1を陰極とし、陽極(N
iアノード)2とともにめっき浴3中に浸漬させること
によりめっき工程を行う。この時、剥離被膜処理された
マスタlの温度がめつき浴温に達するまでマスタlと陽
極2とをめっき浴3中に浸漬させている間に、マスタ1
と陽極2との間に微小なる逆電圧が発生し、電極間電位
差が生じ、マスタ1上の剥離被膜がめつき浴3に溶解し
てしまう。即ち、通常は陰極としてNiめっきが析出す
べきマスタlが陽極となって溶解することになる。一般
に、めっき浴3中での固液界面(円はマスタlの剥離被
膜層、液はめっき浴3)には、第6図に示すような+、
一対による電気二重層が存在し、マスタlの最表面には
十で示す同極の電荷が存在し、その外側で電位が逆転す
る。この大きな電位変化によりめっき浴3のイオンの影
響を受けないことになる。しかし、めっき浴3中に陽極
2を入れることにより、電極1゜2間に電位差が発生す
ると、このような電気二重層が破壊されて、各々の電極
1,2部分で第6図に示すようにNiの溶解、析出が起
こるものである。これにより、剥離被膜が消滅し、複製
後の剥離が困難となる。仮に、剥離できても転写溝形状
が完全に破壊されてしまい、品質の悪いものとなってし
まう。
これは、マザーからサンを複製するためのマザーについ
てのめっき工程時も同様である。
てのめっき工程時も同様である。
課題を解決するための手段
ガラス基板上に形成したプリグルーブパターン上に導体
化膜を形成した後、この導体化膜を陰極としてNiめっ
きしガラス基板を剥離することによりマスタを得、この
マスタを剥離被膜処理した後Niめっきし前記マスタか
ら剥離することによりマザーを得、このマザーを剥離被
膜処理した後Niめっきし前記マザーから剥離すること
によりサンを得るようにした光ディスク複製用スタンバ
製造方法において、マスタをめっき浴に浸漬させめっき
用の陽極と陰極との電極間電位差をOとしてマスタから
マザーを複製するめっき工程を行い、マザーをめっき浴
に浸漬させめっき用の陽極と陰極との電極間電位差を0
としてマザーからサンを複製するめっき工程を行うよう
にした。
化膜を形成した後、この導体化膜を陰極としてNiめっ
きしガラス基板を剥離することによりマスタを得、この
マスタを剥離被膜処理した後Niめっきし前記マスタか
ら剥離することによりマザーを得、このマザーを剥離被
膜処理した後Niめっきし前記マザーから剥離すること
によりサンを得るようにした光ディスク複製用スタンバ
製造方法において、マスタをめっき浴に浸漬させめっき
用の陽極と陰極との電極間電位差をOとしてマスタから
マザーを複製するめっき工程を行い、マザーをめっき浴
に浸漬させめっき用の陽極と陰極との電極間電位差を0
としてマザーからサンを複製するめっき工程を行うよう
にした。
作用
マスタからマザーを複製するめっき工程、及び、マザー
からサンを複製するめっき工程において、めっき用の陽
極と陰極との電極間電位差を0として行うことにより、
マスタ最表面及びマザー最表面の電気二重層は化学的に
安定したものとなる。
からサンを複製するめっき工程において、めっき用の陽
極と陰極との電極間電位差を0として行うことにより、
マスタ最表面及びマザー最表面の電気二重層は化学的に
安定したものとなる。
よって、めっき浴中で剥離被膜が溶解することがなく、
複製後の剥離性は安定したものとなり、欠陥の少ない高
品質のスタンパが製造される。
複製後の剥離性は安定したものとなり、欠陥の少ない高
品質のスタンパが製造される。
実施例
本発明の第一の実施例を第1図ないし第3図を参照して
説明する。
説明する。
まず、ガラス基板上に形成したプリグルーブパターン上
に導体化膜を形成した後、この導体化膜を陰極としてN
iめっきしガラス基板を剥離することによりマスタを得
る。次に、このマスタを剥離被膜処理した後、Niめっ
きし、このマスタから剥離することによりマザーを得る
。剥離後、マザーの表面を剥離被膜処理した後、Niめ
っきし、このマザーから剥離することによりサンを得る
。
に導体化膜を形成した後、この導体化膜を陰極としてN
iめっきしガラス基板を剥離することによりマスタを得
る。次に、このマスタを剥離被膜処理した後、Niめっ
きし、このマスタから剥離することによりマザーを得る
。剥離後、マザーの表面を剥離被膜処理した後、Niめ
っきし、このマザーから剥離することによりサンを得る
。
このような工程中のめっき工程において、本実施例では
めっき浴中に陽極及び陰極を浸漬させた場合の両電極間
電位を0とさせるものである。具体的には、例えばマス
タ最表面の電気二重層を化学的に安定させるため、電極
間に発生する微小電圧と逆極性で絶対値の等しい微小外
部電圧を電極間に印加させるものである。
めっき浴中に陽極及び陰極を浸漬させた場合の両電極間
電位を0とさせるものである。具体的には、例えばマス
タ最表面の電気二重層を化学的に安定させるため、電極
間に発生する微小電圧と逆極性で絶対値の等しい微小外
部電圧を電極間に印加させるものである。
実際のめっき装置における電圧制御としては、エレクト
ロメータ等を用いて各々の電極間電位差がO(即ち、各
々の電極電位が等しくなる)となるように、微小外部電
圧を印加する。例えば、第1図はマスタからマザーを複
製するためのめっき装置例を示し、めっき槽10のめっ
き浴II中にNiアノード(陽極)12を浸漬させると
ともに、このNiアノード12に対向し駆動軸13によ
り面方向に回転されるマスタ14を陰極としてめっき浴
11中に浸漬させる。このマスタ14は剥離被膜処理さ
れたものである。ここに、塩化カリウム飽和水溶液15
を収納した補助槽16も設けられ、この水溶液15中に
は飽和甘こう電極(SCE)17が浸漬されている。ま
た、これらの槽lo、16に対しては陰極電位測定用の
ルギン毛管18及び塩橋19が浸漬され、マスタ(陰極
)14と前記飽和甘こう電極17との間に接続したエレ
クトロメータ20によりマスタ電位の測定が可能とされ
ている。同様に、これらの槽10.16に対しては陽極
電位測定用のルギン毛管21及び塩橋22が浸漬され、
NiアノードJ2と前記飽和甘こう電極17との間に接
続したエレクトロメータ23により陽極電位の測定が可
能とされている。さらに、前記マスタ(陰極)14とN
iアノード12との間には分解能が1.mVのDC@源
24が接続されている。このDC?it源24がエレク
トロメータ20,23による電位測定結果に基づき、両
電[14,12間の微小電位を打ち消す微小電位を印加
することになる。
ロメータ等を用いて各々の電極間電位差がO(即ち、各
々の電極電位が等しくなる)となるように、微小外部電
圧を印加する。例えば、第1図はマスタからマザーを複
製するためのめっき装置例を示し、めっき槽10のめっ
き浴II中にNiアノード(陽極)12を浸漬させると
ともに、このNiアノード12に対向し駆動軸13によ
り面方向に回転されるマスタ14を陰極としてめっき浴
11中に浸漬させる。このマスタ14は剥離被膜処理さ
れたものである。ここに、塩化カリウム飽和水溶液15
を収納した補助槽16も設けられ、この水溶液15中に
は飽和甘こう電極(SCE)17が浸漬されている。ま
た、これらの槽lo、16に対しては陰極電位測定用の
ルギン毛管18及び塩橋19が浸漬され、マスタ(陰極
)14と前記飽和甘こう電極17との間に接続したエレ
クトロメータ20によりマスタ電位の測定が可能とされ
ている。同様に、これらの槽10.16に対しては陽極
電位測定用のルギン毛管21及び塩橋22が浸漬され、
NiアノードJ2と前記飽和甘こう電極17との間に接
続したエレクトロメータ23により陽極電位の測定が可
能とされている。さらに、前記マスタ(陰極)14とN
iアノード12との間には分解能が1.mVのDC@源
24が接続されている。このDC?it源24がエレク
トロメータ20,23による電位測定結果に基づき、両
電[14,12間の微小電位を打ち消す微小電位を印加
することになる。
今、このような電位測定装置を含むめっき装置において
、めっき浴11に対する電極14.12の浸漬による両
電極間電位差の経時変化を測定したところ、第2図に示
すような特性が得られたものである。そして、例えば浸
漬後6分経過した時点で外部微小電圧としてtVを画電
極14.12間に印加したところ、電極間電位差は+9
68mVとなったものである。つまり、32mVの電位
差があったことになる。
、めっき浴11に対する電極14.12の浸漬による両
電極間電位差の経時変化を測定したところ、第2図に示
すような特性が得られたものである。そして、例えば浸
漬後6分経過した時点で外部微小電圧としてtVを画電
極14.12間に印加したところ、電極間電位差は+9
68mVとなったものである。つまり、32mVの電位
差があったことになる。
しかして、本実施例では、マスタ14からマザーを複製
するためのめっき工程において、マスタ14をめっき浴
11に入れ、陽極との間に30mVなる外部微小電圧を
印加しぬっき浴温に到達した後にめっきを行い、マザー
を複製する。マザーらサンを複製するためのめっき工程
においても、これと同じ方法でめっきを行い、サンを複
製するようにしたものである。このようなめつき工程を
経て複製された光ディスクの信号特性(半径位置による
ID部のトラッキング誤差信号特性)を第3図に示す。
するためのめっき工程において、マスタ14をめっき浴
11に入れ、陽極との間に30mVなる外部微小電圧を
印加しぬっき浴温に到達した後にめっきを行い、マザー
を複製する。マザーらサンを複製するためのめっき工程
においても、これと同じ方法でめっきを行い、サンを複
製するようにしたものである。このようなめつき工程を
経て複製された光ディスクの信号特性(半径位置による
ID部のトラッキング誤差信号特性)を第3図に示す。
図中、○印はマスタ、Δ印はサンを示す。
つづいて、本発明の第二の実施例を第4図を参照して説
明する。本実施例は前記実施例と同じ方法によりマスタ
からマザーの複製、マザーからサンの複製を行うが、め
っき工程において陽極と陰極との間に印加する外部微小
電圧を30mVに代えて50mVとしたものである。こ
のようなめっき工程を経て複製された光ディスクの信号
特性を第4図に示す。
明する。本実施例は前記実施例と同じ方法によりマスタ
からマザーの複製、マザーからサンの複製を行うが、め
っき工程において陽極と陰極との間に印加する外部微小
電圧を30mVに代えて50mVとしたものである。こ
のようなめっき工程を経て複製された光ディスクの信号
特性を第4図に示す。
ちなみに、これらの実施例に対する比較例1として、同
一の工程において、外部微小電圧を15mVとした場合
に、複製された光ディスクの信号特性を第7図に示す。
一の工程において、外部微小電圧を15mVとした場合
に、複製された光ディスクの信号特性を第7図に示す。
この場合には、第3図や第4図の結果よりも劣化してい
る。さらに、比較例2として、めっき工程で外部微小電
圧を印加することなく、従来方式により、複製された光
ディスクの信号特性を第8図に示す。この場合、かなり
劣化している。
る。さらに、比較例2として、めっき工程で外部微小電
圧を印加することなく、従来方式により、複製された光
ディスクの信号特性を第8図に示す。この場合、かなり
劣化している。
これらの第3図、第4図、第7図及び第8図に示す信号
特性によれば、めっき工程において、陽極と陰極との間
に両Ml極間電位差を打ち消す外部微小電圧を印加する
のが有効であることが判る。
特性によれば、めっき工程において、陽極と陰極との間
に両Ml極間電位差を打ち消す外部微小電圧を印加する
のが有効であることが判る。
印加電圧としては、15mV程度では不十分であり、3
0mV以上50mV以下程度が適当といえる。
0mV以上50mV以下程度が適当といえる。
発明の効果
本発明は、上述したようにマスタからマザーを複製する
めっき工程、及び、マザーからサンを複製するめっき工
程において、めっき用の陽極と陰極との電極間電位差を
Oとして行うようにしたので、めっき浴中でマスタ最表
面及びマザー最表面の電気二重層は化学的に安定したも
のとなり、よって、めっき浴中で剥離被膜が溶解されて
しまうことがなく、複製後の剥離性が損なわれず安定し
たものとなり、欠陥の少ない高品質のスタンバを製造す
ることができる。
めっき工程、及び、マザーからサンを複製するめっき工
程において、めっき用の陽極と陰極との電極間電位差を
Oとして行うようにしたので、めっき浴中でマスタ最表
面及びマザー最表面の電気二重層は化学的に安定したも
のとなり、よって、めっき浴中で剥離被膜が溶解されて
しまうことがなく、複製後の剥離性が損なわれず安定し
たものとなり、欠陥の少ない高品質のスタンバを製造す
ることができる。
第1図は本発明の第一の実施例を示す電位!lf’l定
装置を含むめっき装置の概略構成図、第2図は浸H1時
間に対する電極間電位差の経時変化特性図、第3図は信
号特性図、第4図は本発明の第二の実施例による信号特
性図、第5図は一般的なめっき工程を示す構成図、第6
図は電気二重層の様子を示す説明図、第7図は比較例1
による信号特性図、第8図は比較例2による信号特性図
である。 II ・・めっき浴、I2・・陽極、I4 ・マスタ陰
極 出 願 人 株式会社 リ コ」 」 図 」8図 生色(mm) Ju図 JZ母 浸漬府間(分)
装置を含むめっき装置の概略構成図、第2図は浸H1時
間に対する電極間電位差の経時変化特性図、第3図は信
号特性図、第4図は本発明の第二の実施例による信号特
性図、第5図は一般的なめっき工程を示す構成図、第6
図は電気二重層の様子を示す説明図、第7図は比較例1
による信号特性図、第8図は比較例2による信号特性図
である。 II ・・めっき浴、I2・・陽極、I4 ・マスタ陰
極 出 願 人 株式会社 リ コ」 」 図 」8図 生色(mm) Ju図 JZ母 浸漬府間(分)
Claims (1)
- ガラス基板上に形成したプリグルーブパターン上に導
体化膜を形成した後、この導体化膜を陰極としてNiめ
っきしガラス基板を剥離することによりマスタを得、こ
のマスタを剥離被膜処理した後Niめっきし前記マスタ
から剥離することによりマザーを得、このマザーを剥離
被膜処理した後Niめっきし前記マザーから剥離するこ
とによりサンを得るようにした光ディスク複製用スタン
パ製造方法において、マスタをめっき浴に浸漬させめっ
き用の陽極と陰極との電極間電位差を0としてマスタか
らマザーを複製するめっき工程を行いマザーをめっき浴
に浸漬させめっき用の陽極と陰極との電極間電位差を0
としてマザーからサンを複製するめっき工程を行うよう
にしたことを特徴とする光ディスク複製用スタンパ製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14272489A JPH038144A (ja) | 1989-06-05 | 1989-06-05 | 光デイスク複製用スタンパ製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14272489A JPH038144A (ja) | 1989-06-05 | 1989-06-05 | 光デイスク複製用スタンパ製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH038144A true JPH038144A (ja) | 1991-01-16 |
Family
ID=15322110
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14272489A Pending JPH038144A (ja) | 1989-06-05 | 1989-06-05 | 光デイスク複製用スタンパ製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH038144A (ja) |
-
1989
- 1989-06-05 JP JP14272489A patent/JPH038144A/ja active Pending
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