JPH0378995A - 高周波加熱装置 - Google Patents

高周波加熱装置

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JPH0378995A
JPH0378995A JP21637289A JP21637289A JPH0378995A JP H0378995 A JPH0378995 A JP H0378995A JP 21637289 A JP21637289 A JP 21637289A JP 21637289 A JP21637289 A JP 21637289A JP H0378995 A JPH0378995 A JP H0378995A
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松本 孝広
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前原 直芳
Daisuke Betsusou
大介 別荘
Takashi Kashimoto
隆 柏本
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はインバータ電源を用いた高周波加熱装置に関す
るもので、特に異常動作を検知し、装置を制御するm能
を備えた高周波加熱装置に関する。
従来の技術 このような方式の高周波加熱装置は、その電源トランス
の小型化、軽量化、あるいは低コスト化のだめに、さま
ざまの構成のものが提案されている。
第6図は、従来の高周波加熱装置の回路図である。第6
図において、商用電源1の電力はダイオードブリッジ2
により整流され、単方向電源が形成されている。3は、
インダクタ、4はコンデンサであり、インバータの高周
波スイッチング動作に対するフィルタの役割を果たすも
のである。
インバータは共振コンデンサ5、昇圧トランス6、トラ
ンジスタ7、ダイオード8、および駆動回路9により構
成されている。トランジスタ7は駆動回路9より供給さ
れるベース電流によって所定の周期とデユーティ−(す
なわち、オンオフ時間比)でスイッチング動作する。こ
の結果、第7図(a)のような電流1c/Id 、すな
わち、トランジスタ7のコレクタ電流1cとダイオード
8の電流Idが流れる。一方、トランジスタ7のオフ時
にはコンデンサ5と1次巻線10との共振により第7図
(b)のような電圧Vce画トランジスタ7のC−E間
に発生する。このため1次巻線10には第7図(C)の
ような電流が流れ、1次巻線10の両端には高周波電力
が発生する。したがって、2次巻線II、および3次巻
線12、には各々高周波電圧が生じる。2次巻線11に
発生する高周波高圧電力はコンデンサ13、およびダイ
オード14により倍電圧整流されマグネトロン15のア
ノード・カソード間に供給される。一方、3次巻線12
に発生する高周波電圧はカソードヒータに供給される。
こうして、マグネトロン15は発振し、誘電加熱が可能
となるものである。なお、マグネトロン15ばマグネト
ロン本体15aと、フィルタを構成するコンデンサ16
゜17、18、チョークコイル19.20によりなるも
のである。
このような構成において、昇圧トランス6のコア断面積
は1次巻線10の両端に供給される電力の周波数が高い
ほど小さくなるので、たとえばインバータを20kHz
〜100kHz程度の周波数で動作させると商用電源周
波数のままで昇圧する場合に比べて、昇圧トランスの重
量、サイズを数分の−から士数分の−にでき、電源部の
低コスト化が可能であるという特徴を有するものである
発明が解決しようとする課題 このような従来の高周波加熱装置では次のような!l!
題があった。
高周波加熱装置を構成する部品のなかでマグネトロンの
寿命は比較的短いものである。これは、マグネトロンの
カソードフィラメントの電子を放出する能力が劣化して
いくことによる。高周波加熱装置は、長時間の使用後、
マグネトロンの寿命がつきたときには、安全に動作が停
止する必要がある。そして、マグネトロンを交換すれば
、正常に再び動作することが望ましい。
ところが、マグネトロンが劣化しカソードフィラメント
の電子放出能力が低下するとマグネトロンの発振が不安
定となりほぼ規格2倍の周波数で動作するいわゆるモー
ディング現象が発生する。
この状態を長時間続けるとマグネトロンが異常発熱して
、雰囲気温度が上昇し、インバータ回路の半導体素子を
破壊する、他の樹脂構成部品が溶ける等の課題があった
。また、モーディング状態では、インバータ回路からみ
たマグネトロン負荷が不安定なため、回路の共振動作が
乱れ、スイッチング素子の損失が増大し、破壊につなが
るという課題もあった。
すなわち、マグネトロンが寿命により故障したときに、
インバータ回路部品等の他の構成要素をも破壊される場
合があるため、マグネトロン以外の部品を交換しなけれ
ばならない等の保守の際にむだな費用がかかるという課
題を有していた。
さらに、マグネトロンが発振を開始する際、カソード・
フィラメントが充分熱せられていない過渡的な短期間で
はあるがモーディングが発生するので、マグネトロンの
劣化をモーディングの発生のみでは判断できないという
課題もあった。
そこで、本発明は、マグネトロンのモーディングを検知
する手段を提供することを第1の目的とする。
また、本発明は、マグネトロンの劣化によるモーディン
グをより正確に検知する手段を提供することを第2の目
的とする。
課題を解決するための手段 本発明は、上記第1の目的を達成するために、被調理物
を格納する加熱室と、前記被調理物にマイクロ波を放射
して調理するマグネトロンと、半導体スイッチング素子
を備えたインバータ回路と、前記インバータ回路の出力
を昇圧しマグネトロンを駆動する高圧トランスと、前記
加熱室内の電波を検出するアンテナと、前記アンテナの
検出した電波を検波する検波回路と、前記検波回路の出
力を整流する整流回路と、前記整流回路の出力の微分値
が所定の範囲を越えると前記半導体スイッチングのオン
オフ信号を停止する制御回路を備える構成としたもので
ある。
上記第2の目的を達成するために本発明の高周波加熱装
置はアンテナの検出した電波を検波する検波回路と、前
記検波回路の出力を整流する整流回路と、前記整流回路
の出力の微分値が所定の範囲を越えると動作するタイマ
ー回路を備え、前記タイマー回路の計時が所定値を越え
ると前記半導体スイッチのオンオフ信号を停止する制御
回路を備え構成としたものである。
作用 本発明は上記第1の構成により加熱室内に放射された高
周波をアンテナによって受信できる構成としている。そ
の受信量は加熱室内の被加熱物の状態によって決まる。
ところがマグネトロンが劣化しモーディングが発生する
と、加熱室にほぼ2倍の周波数が発生するため、アンテ
ナが受信する電力量が増加する。アンテナ出力信号は常
に振動しているのでモーディングの状態を検出するため
に、アンテナの検波出力信号を整流し、微分する。
この信号が所定値より大きくなれば、半導体スイッチの
オンオフを停止させて、マグネトロン以外の部品の破壊
を防ぐ作用を存する。
また、上記第2の構成により、本発明の高周波加熱装置
はアンテナの出力を検波、整流、微分した値が所定時間
、所定値を越えたとき半導体のスイッチングを停止する
ので、マグネトロンの発振開始時の短期間のモーディン
グでは、スイッチングを停止せず、劣化によるモーディ
ングのみを正確に検出し動作の停止を行う作用を有する
実施例 以下、本発明の一実施例を添付図面にもとづいて説明す
る。
第1図は本発明の実施例の高周波加熱装置の本体構成図
である。第1図において21は食品等の被加熱物、22
は加熱室、23はマグネトロンである。
24はインバータ回路部、25は高圧トランスでその出
力が倍電圧整流されて、マグネトロン23のアノード・
カソード間に印加される。マグネトロン23から放射さ
れる高周波は導波管26を通じて、加熱室22へ導かれ
る。27はアンテナで約3〜5mmの長さである。28
はアンテナの出力を検波し、減衰、整流、微分を行う検
波回路を含む整合回路である。
整合回路28の出力はインバータ回路24の制御部に接
続されている。29はマグネトロン23、インバータ回
路24、高圧トランス25等を冷却する冷却ファンであ
る。
第2図に本発明の高周波加熱装置の回路図を示す。図に
おいて、商用電源30とダイオードプリフジ31および
フィルタ用のインダクタ32、コンデンサ33は単方向
電源34を構成している。単方向電源34の出力は半導
体スイッチ35を持つインバータ回路38で高周波電力
に変換され、高圧トランス37で昇圧され、倍電圧整流
回路38で整流されマグネトロン39に印加される。マ
グネトロンの出力を安定するためにアノード電流検出器
40がアノード電流Iaを電圧信号に変換する。その信
号はアノード電流信号整流回路41で整流した信号と電
流基準信号42との差を電流誤差増幅回路43で増幅し
て、コンパレータ44に入力する。コンパレータ44は
この入力信号とのこぎり波発生回路45よりのこぎり波
とによりトランジスタ35のオンオフパルス信号を作成
する。アノード電流1aが減少すると電流誤差増幅回路
43の出力が上昇し、オンオフパルスのオン時間が長く
なりアノード電流Iaを増す方向に動作する。逆にアノ
ード電流1aが増加すると電流を凍らす方向に動作する
。このように、アノード電流をフィールドバックするこ
とで高周波出力の安定化を図っている。
一方、アンテナ45からの信号は検波回路を含む整合回
路47で減衰、検波、増幅され、検波出力信号Vdとし
てあられれる。この出力信号はVd第3図に示すように
マグネトロンがモーディング状態の時には、出力が大き
くなる。また、この信号は、電源周波数や被加熱物の負
荷変動により振動しているので、微分回路4日、整流回
路49により第3図に示すような微分信号整流電圧Vo
に変換し、それが所定値より大きいときに、モーディン
グ状態と判断する。第2図において、微分信号整流電圧
V。
はコンパレータ50で所定のモーデメング基準電圧51
と比較し、所定値を越えると論理積回路52にロウ信号
を入力する。半導体スイッチ35のスイッチングのオン
オフ信号は論理積回路52の出力なので入力のどちらか
少なくとも一方ロウ信号が入力されていると、オンオフ
動作を停止する。短期間のモーディング現象は、マグネ
トロンの発振開始時のカソードフィラメントが充分加熱
されていないときにも発生するため、タイマー回路53
は短期間のモーディングではスイッチングを停止しない
ようにしている。
第4図は、アンテナ46で取りこんだ電波を検波する整
合回路47の回路図である。マツチング用の抵抗50、
検波ダイオード51、抵抗52.53、バイパスコンデ
ンサ54は検波回路55を構成し、電波を電圧Vdとし
て検出する。なお、マグネトロンが加熱室内に放射する
出力は数百ワットであり、過大入力でダイオード等の素
子が破壊しないようにするために、減衰器56を用いて
いる。
第5図は、整合回路47の検波回路55をマイクロスト
リップラインで構成した図である。ある誘電率εrを有
する誘電体基板57上に銅箔のパターン58、59をエ
ツチングしている。銅箔58の部分は特性インピーダン
ス50Ωであり、59の部分はアースである。マイクロ
ストリップライン上で検波回路を構成することによって
、ラインの長さを検波する周波数帯に合わせて最適に設
計するのが容易であり、エツチングで行っているので検
波精度が向上する。
以上のような構成をとることによってマグネトロンのモ
ーディング状態を検出することができ、インバータ回路
の動作を停止することで、マグネトロンの故障時の他の
部品の破壊が防げる。したがって、保守の際の部品交換
等の費用が少なくてよい。
また、モーディングの検出にタイマー回路を設けた構成
をとることにより、発信開始時等の短期間のモーディン
グを検出せず、マグネトロンの劣化をより正確に判断で
きる。
発明の効果 以上のように本発明は、マクネトロンのモーディング状
態を加熱室に設けたアンテナの出力を微分・整流し検出
し、半導体スイッチングのオンオフ動作を停止させるの
で、マグネトロンが劣化しカソードフィラメントの電子
放出能力が低下して、連続的にモーディングが発生して
生じるマグネトロンの異常発熱や、マグネトロン負荷の
不安定性による損失の増大を防止できる。したがって半
導体スイッチング素子の破壊やマグネトロン近傍の樹脂
部品の融解を防止できる。保守の際にはマグネトロンの
交換のみでよく、費用が安くてよい。
さらに、アンテナの出力の検出信号で、モーディングを
判定する際に、所定の期間連続しているか判定するタイ
マー回路を設ける構成としたものでは、マグネトロンの
発信開始時の短期間のモーディングを検出することがな
く、正確なモーディング検出が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の高周波加熱装置の断面図、
第2図は同装置の回路図、第3図は同装置におけるアン
テナ検出信号の特性図、第4図は同装置のアンテナ検出
出力の整合回路図、第5図は同装置のマイクロストリッ
プライン上の構成断面図、第6図は従来例の高周波加熱
装置の回路図、第7図は同回路図の各部波形図である。 22・・・・・・加熱室、23・・・・・・マグネトロ
ン、24・・・・・・インバータ回路、25・・・・・
・高圧トランス、27・・・・・・アンテナ、28・・
・・・・整合回路(検波回路)、35・・・・・・半導
体スイッチ素子、36・・・・・・インバータ回路、3
7・・・・・・高圧トランス、39・・・・・・マグネ
トロン、40・・・・・・アノ−ド電流検出回路、46
・・・・・・アンテナ、47・・・・・・整合回路(検
波回路)、49・・・・・・整流回路、53・・・・・
・タイマー回路、55・・・・・・検波回路。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被調理物を格納する加熱室と、前記被調理物にマ
    イクロ波を放射して調理するマグネトロンと、半導体ス
    イッチング素子を備えたインバータ回路と、前記インバ
    ータ回路の出力を昇圧しマグネトロンを駆動する高圧ト
    ランスと、前記加熱室内の電波を検出するアンテナと、
    前記アンテナの検出した電波を検波する検波回路と、前
    記検波回路の出力を整流する整流回路と、前記整流回路
    の出力の微分値が所定の範囲を越えると前記半導体スイ
    ッチのオンオフ信号を停止する制御回路を備えた高周波
    加熱装置。
  2. (2)被調理物を格納する加熱室と、前記被調理物にマ
    イクロ波を放射して調理するマグネトロンと、半導体ス
    イッチング素子を備えたインバータ回路と、前記インバ
    ータ回路の出力を昇圧しマグネトロンを駆動する高圧ト
    ランスと、前記加熱室内の電波を検出するアンテナと、
    前記アンテナの検出した電波を検波する検波回路と、前
    記検波回路の出力を整流する整流回路と、前記整流回路
    の出力の微分値が所定の範囲を越えると動作するタイマ
    ー回路を備え、前記タイマー回路の計時が所定値を越え
    ると前記半導体スイッチのオンオフ信号を停止する制御
    回路を備えた高周波加熱装置。
  3. (3)マグネトロンのアノード電流検出回路を備え、前
    記アノード電流検出回路の信号をフィードバックして、
    半導体スイッチのオンオフ信号のオンオフ時間比を制御
    する制御回路を備えた特許請求の範囲第1項記載の高周
    波加熱装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008218362A (ja) * 2007-03-08 2008-09-18 Micro Denshi Kk マグネトロンの寿命検出方法とその寿命検出装置
JP2009099494A (ja) * 2007-10-19 2009-05-07 Micro Denshi Kk 寿命判定機能を有するマグネトロンの駆動装置
JP2010107110A (ja) * 2008-10-30 2010-05-13 Panasonic Corp 電子レンジ

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JPS5682597A (en) * 1979-12-07 1981-07-06 Tokyo Shibaura Electric Co Electronic range

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