JPH0377073A - 絶縁抵抗測定装置 - Google Patents

絶縁抵抗測定装置

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Publication number
JPH0377073A
JPH0377073A JP1213374A JP21337489A JPH0377073A JP H0377073 A JPH0377073 A JP H0377073A JP 1213374 A JP1213374 A JP 1213374A JP 21337489 A JP21337489 A JP 21337489A JP H0377073 A JPH0377073 A JP H0377073A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
capacitor
discharge
insulation resistance
current
Prior art date
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Pending
Application number
JP1213374A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoshi Tanaka
智 田中
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Priority to KR1019900012723A priority patent/KR940007922B1/ko
Publication of JPH0377073A publication Critical patent/JPH0377073A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/025Measuring very high resistances, e.g. isolation resistances, i.e. megohm-meters

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、コンデンサの絶縁抵抗測定装置に関するもの
である。
従来の技術 近年、コンデンサはその性能の向上に伴ない絶縁抵抗が
よυ高くなって非常に高い抵抗値の測定が必要となって
いるが、一方で生産性の向上に伴なって、その測定時間
の短縮が求められている。
以下図面’fr8照しながら従来のコンデンサの絶縁抵
抗測定装置の一例について説明する。
第2図は、従来の絶縁抵抗測定装置の一構成例金示すも
のである。第2図にかいて、1はコンテ゛ンサに一定電
圧金印加するための定電圧電源、2は被測定コンデンサ
、3は電流検出用抵抗24は増幅用アンプ、6は被測定
コンデンt2を測定装置に接続させるための接触子、8
は検出値より絶縁抵抗を求める演算回路である。
以上のように構成された絶縁抵抗測定装置について、以
下その動作について説明する。
まず、被測定コンデンサ2金接触子6を介して、絶縁抵
抗測定装置に接続する。被測定コンデンサ2に電荷が蓄
積されていなければ(両端の電圧が0であれば)、コン
デンサ2に流れる電流は第3図のようになる。この電流
を検出抵抗3で電圧に変換し、増幅アンプ4で増幅し、
演算回路8で演算上して絶縁抵抗上京める。しかし、絶
縁抵抗はコンデンサ2に電荷が十分に蓄積された後(両
端の電圧が印加電圧とほぼ等しくなった後)、コンデン
サ内部に発生する漏れ電流により定義されるから、測定
はコンデンサ2がf分に充電された後に電流が一定にな
ってから測定しなければならず、絶縁抵抗が高くなれば
なるほど、これに要する時間は長くなる。このため、従
来の方法としては、あらかじめ別の電源を用いてコンデ
ンサ2に予備充電を行ない(通常数秒〜数十秒)、絶縁
抵抗の測定は第3図の■点以降の状態測定時間の短縮を
図っている。
発明が解決しようとする課題 しかしながら上記のような構成では、接触子でのコンデ
ンサとの接続がうまく行なわれない場合、測定値は無限
大となってし1って、コンデンサとしては良品と判断さ
れてし筐う(コンデンサとしては絶縁抵抗が一定値以上
は良品である。)という欠点分有している。
本発明は上記欠点に鑑み、接触子にかける接続不良金判
定可能な絶縁抵抗測定装置を提供するものである。
課題を解決するための手段 この目的を達成するために本発明の絶縁抵抗測定装置は
、定電圧電源から流出する電流を測定する電流測定手段
と、コンデンサに充電された電荷上放電する放電回路と
、放電電流上検出する放電電流検出回路から構成されて
いる。
作用 この構成によって、接触子により接続されたコンデンサ
の電荷を放電させる事によって、接1読の良否の判定が
可能となる。
実施例 以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。
第1図は本発明の一実施例に釦ける絶縁抵抗測定装置の
構成を示すものである。第1図に釦いて、1はコンデン
サに一定電圧金印加するための定電圧電源、2は被測定
コンデンサ、3は電流測定手段金構成する電流検出用抵
抗、4は増幅アンプ、6はコンデンサ2の電荷上放電す
るための放電回路で、放電抵抗9が設けられている。6
は被測定コンデンサ2を測定装置に接続させるための接
触子、7はコンデンサ2の電荷を放電させた時に流れる
電流金検出する放電電流検出回路、8は検出値よう絶縁
抵抗を求める演算回路である。
以上のように構成された絶縁抵抗測定装置について、以
下その動作金説明する。
まず、被測定コンデンサ2を接触子6を介して、絶縁抵
抗測定装置に接続する。コンデンサ2に十分充電がなさ
れた後はコンデンサ2に流れる電流は漏れ電流のみとな
り、検出抵抗3でこの電流紫電圧に変換し、増幅アンプ
4で増幅して検出値v。
を得る。演算回路8で、定電圧電源1の電圧v1と演算
を行ない絶縁抵抗金算出する。
次に、放電回路6を動作させ、コンデンサ2に蓄積され
た電荷上放電抵抗9を介して放電させる。
この時の電流は、第4図のようになる。この電流を放電
電流検出回路7で検出を行なうが、この時の電流ピーク
値は、コンデンサ2の容量釦よび放電抵抗値にもよるが
、一般に放電開始直後数十m秒以内に検出される。
一方、接触子6に釦いて接続不良が発生した場合には、
漏れ電流はOになるため絶縁抵抗は無限大となるが、放
電回路5を動作させても放電電流は流れず、放電電流検
出回路7での検出が行なわれない。これによう、接触子
6における接続の良否が判定できる。
以上のように本実施例によれば、放電回路6と放電電流
検出回路7を設ける事により、接触子6での接続の良否
金数Fm秒程度で判定する事が出来る。
なか、予備充電を行なう定電rE電源を併用する事によ
り、よう測定時間の短縮が図れる事はいう1でもない。
発明の効果 以上のように本発明は、定電圧電源と、電流測定手段と
、コンデンサに充電された電荷上放電する放電回路と、
放電電流上検出する放電電流検出回路金設ける事により
、接触子に釦ける接続の良否の判定を可能とすることが
でき、その実用的効果は大なるものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例にかける絶縁抵抗測定装置の
構成図、第2図は従来の絶縁抵抗測定装置の構成図、第
3図は充電電流波形図、第4図は放電電流波形図である
。 1・・・・・・定電圧電源、2・・・・・コンデンサ、
3・・・・・検出抵抗、6・・・・・放電回路、7・・
・・・・放電電流検出回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. コンデンサの両端に一定電圧を印加する定電圧電源と、
    前記電源から流出する電流を測定する電流測定手段と、
    コンデンサに充電された電荷を放電する放電回路と、放
    電電流を検出する放電電流検出回路とを有し、前記放電
    電流検出回路において放電電流を検出してコンデンサと
    の接続の良否を判定する事を特徴とした絶縁抵抗測定装
    置。
JP1213374A 1989-08-18 1989-08-18 絶縁抵抗測定装置 Pending JPH0377073A (ja)

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JP1213374A JPH0377073A (ja) 1989-08-18 1989-08-18 絶縁抵抗測定装置
KR1019900012723A KR940007922B1 (ko) 1989-08-18 1990-08-18 절연저항 측정장치

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JP1213374A JPH0377073A (ja) 1989-08-18 1989-08-18 絶縁抵抗測定装置

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JPH0377073A true JPH0377073A (ja) 1991-04-02

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KR910005065A (ko) 1991-03-29
KR940007922B1 (ko) 1994-08-29

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