JPH0375368A - スパッタリング装置 - Google Patents

スパッタリング装置

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JPH0375368A
JPH0375368A JP21149889A JP21149889A JPH0375368A JP H0375368 A JPH0375368 A JP H0375368A JP 21149889 A JP21149889 A JP 21149889A JP 21149889 A JP21149889 A JP 21149889A JP H0375368 A JPH0375368 A JP H0375368A
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JP
Japan
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target
sputtering
substrate
film
targets
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JP21149889A
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Junji Nakada
純司 中田
Hideaki Takeuchi
英明 竹内
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、スパッタリング装置に関し、特に連続的に
移送される基板上に連続的にスパッタリングを行い薄膜
を形成するスパッタリング装置に関するものである。
〔従来技術〕
近年、光磁気記録媒体はレーザー光による書き込み、読
み出しが可能な光磁気ディスクとして大容量のデータフ
ァイル等に広く利用されている。
前記光磁気ディスクは、ガラスやプラスチック等の透明
基体上に形成された誘電体層、記録層及び保護層等から
成る多層構造で構成されている。例えば、光磁気効果を
示す前記記録層は、希土類金属(以下REと称す)と遷
移金属(以下TMと称す)の混合膜或いは積層膜とから
戒っており、このような薄膜を形成する薄膜形成法とし
てスパッタ法がある。
前記スパッタ法とは、低圧雰囲気中においてArガス等
の不活性ガスを導入してグロー放電を発生せしめ、プラ
ズマ中のイオンを陰極ターゲットに照射してターゲット
材料表面から構造原子、分子を叩き出すことにより、該
ターゲットに対向するように配置された陽極基体ホルダ
ー上の基体表面に薄膜を付着形成する薄膜形成方法であ
り、広く工業的に利用されている。
なかでも、前記ターゲット上に該ターゲットと概ね平行
な磁場成分を形成し、電界と磁界をほぼ直交させるマグ
ネトロンスパッタ法は、成膜速度が速く、被スパツタリ
ング基体の温度上昇が抑えられる等の効果があり、非常
に有効な薄膜形成方法として半導体や磁気記録媒体の製
造工程等で広く利用されている。
次に、従来の光磁気記録媒体の記録層の製造装置につい
て説明する。
従来の製造装置にはその一つに回転成膜方式と呼ばれて
いるマグネトロン型スパッタリング装置があり、この基
本的構造はスパッタ室内において、室内上方に回転する
ホルダーが設置され、このホルダーに成膜用基板を装着
するように構成され、更に、スパッタ室内の低部に、例
えば2つのマグネトロンスパッタカソードがそれぞれ成
膜材料であるRE金金属TM金金属から威る円形のター
ゲットを有し、マグネトロン放電を可能にするために各
ターゲット裏面側には永久磁石を備えた構成にて所定の
間隔をあけて配置されている。
前記回転成膜方式の装置には、前記マグネトロンスパッ
タカソードに対向するように設けられた前記ホルダーに
は、単に公転する構造のものと、自公転(遊星ギア等を
有した構成)する構造のものとがある。公転型の場合は
膜圧分布を均一にするために膜厚分布修正板が配置され
ており、自公転型のもは前記膜厚分布修正板が無くとも
膜厚分布の均一化が良好にできる。
このような回転成膜方式の成膜装置によれば、前記RE
金属層とTM金属層の積層構造を自由に変えることがで
きるので、記録層の磁化量、保磁力、光磁気効果(カー
効果)等の優れた特性を有する高品質な光磁気記録媒体
が得られる。更に、記録層の積層構造変化は前記基板ホ
ルダーの公転成いは自転の回転数と前記両ターゲットに
印加するスパッタパワー比とでコントロールできるため
に、比較的制御性が良い。
しかしながら従来装置によれば、膜厚の均一性を図るた
めに前記膜厚分布修正板や自公転機構等の機械的動作構
造に多く依存しているので、前記スパッタ室内の清浄性
の点から望ましくなく、例えば前記膜厚分布修正板に付
着したスパッタ粒子に起因したダストが薄膜を形成する
基板上に付着して薄膜のピンホールを発生する。
また、前記自公転式の成膜装置においては、前記基板を
自公転機構に取り付ける作業は複雑で自動化しにくく生
産性が低い。また、駆動機構が複雑で設備コストが高い
だけでなく、メンテナンス性においても問題がある。
更に、上記回転成膜方式の成膜装置においては、前記基
板上への誘電体層、保護層、記録層等の各層の成膜がそ
れぞれ独立したスパッタ室で行われるため、スパッタ室
の開放は一回のスパッタリング毎に必要になることは当
然のことながら、前記基板ホルダーは前記各スパッタ室
間の移送や前記各スパッタ室内の回転軸への取付けの際
にチャッキングが必要になる。このため、前記基板ホル
ダーのセツティング時間が大きくなり、生産性が上がら
ないと言う問題がある。
そこで、前記生産性の向上のために、第9図に示した様
な通過成膜方式の連続スパッタ装置がある。
前記通過成膜方式の連続スパッタ装置は、それぞれ独立
した排気系を持つ複数の真空室を有しており、そのうち
連続して設けられたスパッタ室126゜127.128
では連続してスパッタが行われる。前記スパッタ室12
6.127.128はゲートバルブ131により連通し
て分けられている。そして、搬送経路を形成した搬送ロ
ール120に案内された複数の基板ホルダー121は、
前記スパッタ室126.127.128内に連続して一
定速度で移送されるように構成されている。また、前記
基板ホルダー121は、その移送方向に対して水平直交
方向に並んだ複数のプラスチック基板125を保持して
いる。
そして、例えば前記スパッタ室127内には、底部にマ
グネトロンスパッタカソード122が成膜材料であるR
E金金属TM金金属ら成る角型の合金ターゲット123
を有し、マグネトロン放電を可能にするために永久磁石
124を備え、配置されている。また、前記プラスチッ
ク基板125上の成膜層の成膜時間を調整するために、
前記合金ターゲット123の上方にはシャッター129
が配置されている。
前記合金ターゲット123は、ターゲット電源130が
繋げられており、該合金ターゲット123に適したスパ
ッタパワーを与え、所望の合金薄膜が形成出来るように
なされている。更に、前記合金ターゲラ)123は、前
記基板ホルダー121の移送方向に対して水平直交方向
に延びる矩形状に形成されており、該合金ターゲット1
23の長手方向の長さは通常、前記基板ホルダー121
に並設された前記プラスチック基板125の直径の合計
長に対して約1.6〜2.0倍程度に設定される。
そこで、前記通過成膜方式の連続スパッタ装置では、前
記基板ホルダー121に並設された複数の前記プラスチ
ック基板125が連続移送されながらスパッタを行われ
同時成膜されるので、生産性が大幅に向上する。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、前記通過成膜方式の連続スパッタ装置で
は、前記基板ホルダー121の中央部分に設置されたプ
ラスチック基板125上に形成された薄膜の膜厚分布は
均一化することができるが、前記基板ホルダー121の
移送方向両側端部分に設置されたプラスチック基板12
5上に形成された薄膜の膜厚分布は不均一になると云っ
た問題、更には、両端のプラスチック基板125の膜厚
が中央のものに比べて小さ(なるといった所謂取付は位
置による膜厚差が生じる問題があった。これは、前記基
板ホルダー121の移送方向に対して直交方向に延びる
前記合金ターゲット123の長手方向の長さを十分に長
くすることにより解決されることは分かっていたが、前
記合金ターゲット123の長手方向の長さを長くすると
ターゲット材料の基板への付着効率が減少し、製造コス
トが増加するという問題を生じた。また、前記シャッタ
ーの如き可動部材により成膜時間を調節することは清浄
性の点から望ましくない。
即ち、本発明の目的は上記課題を解消することにあり、
生産性が良く、膜厚分布がターゲットを搬送方向に対し
て直角方向に長くしなくとも均一で高品質な薄膜を形成
することができるスパッタリング装置を提供するもので
ある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の上記目的は、スパッタ室内に連続的に移送され
る基板上に薄膜を形成するため、前記基板に対向して配
設されたターゲットによって連続的にスパッタリングを
行うスパッタリング装置において、前記ターゲットが前
記基板の移送方向に対して直交方向に延びる一平面上に
並んだ複数枚に分離され、且つ前記ターゲットの裏面側
にはターゲット表面の近傍にて該表面に沿った磁界を形
成する磁界発生手段が前記ターゲットの枚数に対応して
設けられており、前記各ターゲットにはそれぞれ独立し
たスパッタ電圧を印加できるように構成されたことを特
徴とするスパッタリング装置により達成される。
以下、本発明の実施態様について詳細に説明する。
〔実施態様〕
第1図は、本発明に基づくスパッタリング装置の要部概
略図を示し、第2図はターゲットと基板の位置関係を示
すための概略平面図である。
第1図及び第2図に示すように、本発明に基づくスパッ
タリング装置は、それぞれ独立した排気系17を持つ複
数の真空室を有しており、そのうち連続して設けられた
スパッタ室14,15.16では連続してスパッタが行
われる。前記スパッタ室14.15゜16はゲートバル
ブ18により連通して分けられている。そして、搬送経
路を形成した搬送ロール11に案内された複数の基板ホ
ルダー7は、前記スパッタ室14.15.16内に連続
して一定速度で移送されるように構成されている。また
、前記基板ホルダー7の本体の下方側に、それぞれ円形
のプラスチソク基板A、B、Cを保持した回転自在なタ
ーンテーブル6を備えている。前記ターンテーブル6は
、その中心に回転軸8を有しており、該回転軸8が前記
基板ホルダー7の本体を貫通して上方に延びており、該
回転軸8の上方端寄りにビニオン9が設けられている。
前記ピニオン9は前記スパッタ室14.15.16に固
定されているラック10に係合し、前記基板ホルダー7
が前記搬送ロール11に沿って移動することにより、前
記ターンテーブル6をそれぞれ所定方向に回転させるこ
とができる。
そして、例えば前記スパッタ室15内には、底部にマグ
ネトロンスパッタカソード3が成膜材料であるRE金金
属TM金金属から成る角型の合金ターゲット1を有し、
マグネトロン放電を可能にするために前記合金ターゲッ
ト1の裏面側に永久磁石2が配置されている。
前記合金ターゲット1は、水平に配設されており且つ前
記基板ホルダー7の移送方向に対して直交方向に延びる
矩形状に形成されており、中央ターゲラ1−1bと両端
の端部ターゲラ)la、lcとの三つの部分に分割され
た構成であり、かつ電気的に絶縁されている。そして、
前記各ターゲラ)1a、lb、lcはそれぞれが別々の
ターゲット電源4(第1図では一つのみ図示)が繋げら
れており、前記各ターゲットla、lb、lcには固有
のスパッタパワー(電力)を加えるが、少なくとも前記
中央ターゲラ)lbよりも前記両端部ターゲットla、
lcに加えるスパッタパワーが大きく出来るように構成
され、所望の薄膜が形成出来るようになされている。
前記合金ターゲット1の裏面側に配置された前記永久磁
石2は、第3図に示すように中央ブロック2bと両端ブ
ロック2a及び2bの3ブロツクに分けられている。前
記各ブロック2a、2b2cは各ブロック中央に矩形の
S極(磁極は図中斜線にて示す)が位置され、且つ該S
極の回りを囲むように方形環状の間隙5を空けて方形環
状のN極が形成されている。そして、前記各ブロック2
a、2b、2cは前記各ターゲットla、lb、lcに
対応している。なお、第4図には前記間隙5が長円形及
び円形に構成された永久磁石2を図示している。
そこで、上記のように構成されたスパッタリング装置の
スパッタ室15にアルゴン(Ar)ガス等の不活性ガス
をガス導入口19から導入し、且つ前記合金ターゲット
1に適宜スパッタパワーを付加させた状態にしておき、
前記基板ホルダー7に予め誘電体層が形成された前記プ
ラスチック基板AB、Cを連続して次々に装着する。
前記基板ホルダー7は連続して前記スパッタ室15に移
送されて行き、前記ターンテーブル6がスパッタ室内に
て回転しながら前記プラスチック基板A、B、C上に薄
膜が形成される。
このように、本発明によれば、複数の前記プラスチック
基板A、B、Cは前記基板ホルダー7に保持されて連続
的に移送されながらスパッタリングされるので、生産性
を向上させることができる。また、前記プラスチック基
板A、B、Cは前記スパッタリング室15内においてそ
れぞれ回転しながら移送される。また、前記両端部ター
ゲット1a、lcに加える電力(スパッタパワー)は同
じにして前記中央ターゲット1bに加える電力よりも大
きく設定する。これにより前記各ターゲットla、Ib
、lcの表面に各々形成されるターゲット放電中におけ
る各プラズマ密度は、前記各ターゲラ)la及び1cが
前記中央ターゲット1bに比較して高い状態になってい
る。即ち、前記合金ターゲット1の長手方向両端部分に
おいて、上方に向かって飛散するスパッタ粒子が多くな
る。
従って、前記プラスチック基板A、B、Cに付着するス
パッタ粒子は、従来のように前記スパッタ室15の中央
置部に位置して移動される前記プラスチック基板Bが多
くなることが避けられ、前記プラスチック基板A、Cの
ごとくスパッタ室両端部分を通過する基板にも前記プラ
スチック基板Bと同量のスパッタ粒子を付着させること
ができるので、前記プラスチック基板の取付は位置によ
る成膜速度のばらつきが解消され、基板間の膜厚分布が
均一にでき、当然、一つの基板内における膜厚分布の均
一性も向上し動特性の良好な光磁気ディスクを提供する
ことができる。
前記実施態様においては、前記合金ターゲット1及び前
記永久磁石2を3つのブロックに分けたが、本発明の装
置はこれに限るものではなく4つ以上でもよく、また、
磁石の構成は第5図および第6図に示すように2つの分
離構造であってもよい。
なお、第5図及び第6図に示す磁石20は、2つのブロ
ック20a 、 20bからなり、前記実施態様と同様
に前記基板ホルダー7の移送方向に対して直角方向に長
い矩形の部分された合金ターゲットに対応して配置され
ている。第5図には異極間が矩形環状の間隙25によっ
て分離された前記磁石20を示し、第6図には最外周輪
郭が長円形である共に異極間の間隙25が長円環状に構
成された前記磁石20が示されている。この装置の場合
は、スパッタパワーは左右同じだけ加えるようにするが
、前記実施態様と同様に、スパッタ粒子の飛散状態がス
バタ室の搬送中央ライン(基板ホルダーの移送方向に対
し直角方向の中央)に集中することが実質的に回避でき
、従来のようにスパッタ室の中央野郎に位置して移動さ
れる前記プラスチック基板Bが多くなることが避けられ
、前記プラスチック基板A、Cのごとくスパッタ室両端
部分を通過する基板にも前記プラスチック基板Bと同様
にスパッタ粒子を付着させることができる。
尚、前記実施態様においてはRE金金属TM金金属から
成る合金ターゲットを用いたが、本発明はこれに限るも
のではなく、他のターゲット材料を用いても良い。
また、前記実施態様では、前記基板ホルダー7のそれぞ
れのターンテーブル6に一枚の前記プラスチック基板を
対応させて計3枚装着して自転させながら移送する例を
示したが、本発明はこれに限るものではなく、基板ホル
ダーに複数の基板を装着して該基板を公転成いは自公転
させながら移送して成膜を行っても充分な効果が期待で
きることは言うまでもない。
前記各実施態様においてはターゲット裏面の磁石の極性
は、隣合うブロック間にて同極が隣接するように配置し
たが、本発明はこれに限るものではな(異極を隣接する
ように構成してもよい。
〔発明の効果〕
以上述べたように、本発明のスパッタリング装置は、ス
パッタ室内に連続的に移送される基板上に薄膜を形成す
る連続的にスパッタリングを行う構成であるので、基板
ホルダーのセツティングに要する時間中も連続してスパ
ッタリングを行うことができて生産性が向上するだけで
なく、前記ターゲットが前記基板の移送方向に対して直
交方向に延びる一平面上に並んだ複数枚に分離され、且
つ前記ターゲットの裏面側の磁石が設けられており、前
記各ターゲットにはそれぞれ独立したスパッタ電圧を印
加できるように構成されたことにより、前記ターゲット
に長手方向両端部におけるスパッタ粒子の蒸発量を高め
ることができるので、基板ホルダーに保持された複数の
基板に均一な膜厚の薄膜を成膜するために従来のように
ターゲット長手方向にターゲット材料を大きくしなくて
も基板の基板ホルダーへの装着位置による膜厚差が回避
できるので、製品の品質のバラ付きを無くすことができ
るだけでなく、該ターゲット材料の節約でき極めて高い
生産効率を得ることができる。
〔実施例〕
以下、実施例により本発明の効果を更に明確にすること
ができる。
実施目上 第1図〜第3図に示す本発明のスパッタリング装置を用
いて試料光磁気ディスクを作製した。
合金ターゲット1はスパッタ室15内に、幅:130m
m、長さ:300nua、厚さ:5mmの大きさのTb
z* Feyo Co7材料の中央ターゲット1bと、
幅:130閣、長さ:150am、厚さ:5IIIIl
の大きさのTbz、 Fe、。Co、材料の両端部ター
ゲットla、lcが一平面を構成するように水平に配置
されており、その長手方向が基板の移送方向に対して直
交方向に延びるように組み込まれている。
また、厚さ:1.2鵬、直径:130Mのプラスチック
基板A、B、Cは、それぞれ中心距離150III11
で基板ホルダー7に装着し、前記合金ターゲット1と前
記プラスチック基板A、B、Cとの垂直距離は100閤
とした。
そして、前記スパッタ室15内の圧力を5X10−’T
 orrまで真空排気した後、前記ガス導入口19から
Arガスを403CCM導入しガス圧を2.0m T 
orrとした。次に、前記中央ターゲット1bに2.0
kWの放電パワー(DC電力)を印加し、かつ前記両端
部ターゲラ)Ia、lcに3.0kWの放電パワー(D
C電力)を印加してスパッタ放電を維持した後、前記基
板ホルダー7は前記プラスチック基板A、B、Cをそれ
ぞれ2rpmで回転させながら150 arm / m
inの搬送速度で移送させ、前記プラスチック基板A、
B、C上に磁性膜を形成した。このときの前記スパッタ
室15の左右方向(基板搬送方向とは直角水平方向)の
基板位置における膜厚比を第7図に示す。また、成膜後
、前記各基板に付着したTb2. Fe、。Co−1膜
の膜厚を段差計により測定した。その結果を表1に示す
(以下余白) 表1 表1より明らかなように、膜厚のバラ付きは±2.0%
以内と極めて良好な結果が得られた。
実事自粗え 第1図および第2図に示す本発明のスパッタリング装置
とほぼ同じ構成の装置であるが、カソード部分を第5図
に示すように2つのブロックに構成した装置を用いて試
料光磁気ディスクを作製した。
合金ターゲットlはスパッタ室I5内に、幅:130n
nm、長さ:300+m++、厚さ:5ffII11ノ
大きさのTb13 Fe、。Co、材料の2つの合金タ
ーゲットが一平面を構成するように電気的に絶縁されて
水平に配置されており、その長手方向が基板の移送方向
に対して直交方向に延びるように組み込まれている。ま
た、厚さ:1.2M、直径:130mのプラスチック基
板A、B、Cは、それぞれ中心距離150mで基板ホル
ダー7に装着し、前記合金ターゲット1と前記プラスチ
ック基板A、B、Cとの垂直距離は100mmとした。
そして、前記スパッタ室15内の圧力を5X10−’T
 orrまで真空排気した後、前記ガス導入口19から
Arガスを403CCM導入しガス圧を2.0mTor
rとした。次に、前記両合金ターゲットには各々4.0
kWの放電パワー(DC電力)を印加してスパッタ放電
を維持した後、前記基板ホルダー7は前記プラスチック
基板A、B、Cをそれぞれ2rpmで回転させながら1
50mm/剛inの搬送速度で移送させ、前記プラスチ
ック基板A。
B、C上に磁性膜を形成した。このときの前記スパッタ
室15の左右方向(基板搬送方向とは直角水平方向)の
基板位置における膜厚比を第8図に示す。また、成膜後
、前記各基板に付着したTbt、F8?。Co7膜の膜
厚を段差計により測定した。
その結果を表2に示す。
表2 表2より明らかなように、膜厚のバラ付きは±2.0%
以内と極めて良好な結果が得られた。
且」動差 次に、上記実施例1.2に対する比較として、第9図に
示すような従来のスパッタリング装置を用いた。
合金ターゲット123はスパッタ室127内に、幅:1
27mm、長さ:610mm、厚さ:5mn+の大きさ
の一枚のTbzs Fe7゜Cod材料の矩形の構成で
あり、その長手方向が基板の移送方向に対して直交方向
に延びるように組み込まれている。また、厚さ:1,2
肺、直径;130mmのプラスチック基板A、B、Cは
、それぞれ中心距離150Mで基板ホルダー121に装
着し、前記合金ターゲット123と前記プラスチック基
板A、B、Cとの垂直距離は100順とした。
そして、前記スパッタ室15内の圧力を5X10−’T
 artまで真空排気した後、前記ガス導入口19から
Arガスを403CCM導入しガス圧を2. 0mTo
rrとした。次に、前記合金ターゲット123に8.0
kWの放電パワー(DC電力)を印加してスパッタ放電
を維持した後、前記基板ホルダー7は前記プラスチック
基板A、B、Cをそれぞれ2rpmで回転させながら1
50 mm/lll1nの搬送速度で移送させ、前記プ
ラスチック基板A、 B。
C上に磁性膜を形成した。このときの前記スパッタ室1
27の左右方向(基板搬送方向とは直角水平方向)の基
板位置における膜厚比を第10図に示す。また、成膜後
、前記各基板に付着したT b z :lFe7゜Co
2膜の膜厚を段差針により測定した。その結果を表3に
示す。
表3 表1〜表3並びに第7図、第8図及び第10図から判る
ように、従来の場合に置いては膜厚のバラ付きは±4.
0%程度となり、本発明の実施例においてはバラ付きが
±2.0%以内となりはるかに良好な結果が得られた。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に基づくスパッタリング装置の要部概
略図、第2図はターゲットと基板の位置関係を示すため
の概略平面図、第3図及び第4図は陰極が3分割に構成
されたときの磁極形状を示す平面図、第5図及び第6図
は陰極が2分割に構成されたときの磁極形状を示す平面
図、第7図及び第8図は本発明の実施例におけるスパッ
タ室左右方向(基板搬送方向とは直角水平方向)の基板
位置と膜厚比との関係を示す分布図、第9図は従来の通
過成膜方式の連続スパッタリング装置、第10図は従来
の装置におけるスパッタ室左右方向(基板搬送方向とは
直角水平方向)の基板位置と膜厚比との関係を示す分布
図である。 (図中の符号) ■・・・合金ターゲット、 2・・・永久磁石、3・・
・マグネトロンスパッタカソード、4・・・ターゲット
電源、  6・・・ターンテーブル、7・・・基板ホル
ダー   8・・・回転軸、9・・・ピニオン、   
 10・・・ラック、11・・・搬送ロール、 14.15.16・・・スパッタ室、 17・・・排気系、    18・・・ゲートパルプ、
19・・・ガス導入口、 120・・・搬送ロール、 121・・・基板ホルダ、
122・・・マグネトロンスパッタカソード、123・
・・合金ターゲット、 124・・・永久磁石、  125・・・プラスチック
基板、126、127.128・・・スパッタ室、12
9・・・シャッター  130・・・スパ゛ツタ電源、
131・・・ゲートバルブ。 (ばか3名) 第 7 図 第 図 第 図 箇 0 図 オ嗅d^A1置 (−) 手続補正書 平成1年10月y日

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1).スパッタ室内に連続的に移送される基板上に薄
    膜を形成するため、前記基板に対向して配設されたター
    ゲットによって連続的にスパッタリングを行うスパッタ
    リング装置において、前記ターゲットが前記基板の移送
    方向に対して直交方向に延びる一平面上に並んだ複数枚
    に分離され、且つ前記ターゲットの裏面側にはターゲッ
    ト表面の近傍にて該表面に沿った磁界を形成する磁界発
    生手段が前記ターゲットの枚数に対応して設けられてお
    り、前記各ターゲットにはそれぞれ独立したスパッタ電
    圧を印加できるように構成されたことを特徴とするスパ
    ッタリング装置。
JP21149889A 1989-08-18 1989-08-18 スパッタリング装置 Pending JPH0375368A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21149889A JPH0375368A (ja) 1989-08-18 1989-08-18 スパッタリング装置

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