JPH0373827A - 生化学分析装置における測光系の異常検知方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、試料液中の特定成分を化学的に分析する生化
学分析装置における測光系の異常検知方法、特に試料液
と呈色反応する試薬を含む化学分析スライドやテストフ
ィルム等の検査体を用い、呈色反応したそれらの光学濃
度を測定するようにした生化学分析装置における測光系
の異常検知方法に関するものである。

（従来の技術） 試料液の中の特定の化学成分を定性的もしくは定量的に
分析することが、様々な分野において広く行なわれてい
る。特に血液や尿等、生物体液中の化学成分または有形
成分を定量分析することは、臨床生化学分野において極
めて重要である。

近年、試料液の小滴を点着供給するだけでこの試料液中
に含まれている特定の化学成分または有形成分の物質濃
度を測定できるドライタイプの化学分析スライドが開発
され（特公昭５３−２１６７７号。

特開昭５５−１８４３５８号等）実用化されている。こ
れらの化学分析スライドを用いると、従来の湿式分析法
に比べてより簡単かつ迅速に試料液を分析できるので、
この化学分析スライドは、数多くの試料液を分析する必
要のある医療機関、研究所等において特に好適に利用さ
れつつある。

このような化学分析スライドを用いて試料ｌ＆中の特定
成分の物質濃度を求めるには、試料液を化学分析スライ
ドに計量点着させた後、これをインキュベータ（恒温器
）内で所定時間恒温保持（インキュベーション）して呈
色反応（色素生成反応）させ、次いで化学分析スライド
の種類（試料液中の成分と化学分析スライドの試薬層に
含まれる試薬との組合わせ）により予め選定された波長
を含む測定光をこの化学分析スライドに照射して、その
反射光量を測定し、その１ｌＦＪ光値に基づいて検査体
の光学濃度を求める。

また自動的かつ連続的に試料液の分析を行なうため、上
記スライドの代りに試薬を含有させた長尺テープ状のテ
ストフィルムを収容しておき、このテストフィルムを順
次引き出して試料液の点着、インキュベーション、測定
を行なう装置も提案されている（例えば米国特許明細書
第３，５２８．４８０号）。

上記のスライドやテストフィルム等の検査体を用いる生
化学分析装置においては一般に、複数の項目について定
量分析ができるように、複数種類の検査体が利用可能と
なっている。その場合、検査体の種類、つまり分析項目
に応じて固有の波長のＭ１定光を用意する必要があるが
、多くの場合は、光源を１つだけ用意し、そこから発せ
られた光を複数の干渉フィルタのうちの１つに選択的に
通すことにより、相異なる波長の測定光を得るようにし
ている。

（発明が解決しようとする課８） このような化学分析スライドやテストフィルム等の検査
体を用いる生化学分析方法におけるハｊ定データの異常
の中で、測光系の異常、例えば光源ランプの経時変化に
よる光量表化、干渉フィルタの経時変化による吸光度変
化、透過光特性変化、測光ヘッド、フィルターホイール
、光源ランプ等の位置ずれなどによるものがある。この
ような干渉フィルタの経時劣化や光源ランプの経時劣化
、測光系の機械的位置ずれは、分析結果の精度低下を抽
くことになる。

本発明は上記のような１１情に鑑みてなされたものであ
り、測光系の異常、例えば干渉フィルタの劣化、光源ラ
ンプの劣化、測光系の位置ずれなどを特別な装置を必要
とせずに、簡Ｉｌｔに検出することができる生化学分析
装置の４ＩＩＩ光系の異常検知方法を提供することを目
的とするものである。

（課題を解決するための手段） 本発明による生化学分析装置におけるＪｌ光系の異常検
知方法は、 複数の干渉フィルタを通過した。１ｐ１定光を順次基準
濃度板に照射してその反射光量を；ｌ１ｌｌ定し、これ
ら複数の反射光量を示す１ＩＦＪ光データを互いの間で
比較し、その比較結果に裁づいて測光系の異常を検知す
るようにしたことを特徴とするものである。

なお基準黒板からの反射光量は基準白板からの反射光量
に対して非常に低く、干渉フィルタが劣化した際の反射
光量変動も少なくなるので、基準白板を用いるのがより
好ましい。

（作　　用） 複数の干渉フィルタの全てが、はぼ同時に劣化する可能
性は非常に低い。特にその数が、多くの生化学分析装置
におけるように数個あるいはそれ以上である場合は、全
ての干渉フィルタがほぼ同時に劣化することは事実上者
えられない。そこで、上述のような複数の測光データを
互いに比較することにより、干渉フィルタの劣化を検出
可能となる。すなわち例えばａ、ｂＳｃという干渉フィ
ルタに関する上記測光データをＸａ　、、ｘｂ　ＳＸｃ
としたとき、Ｘｂ／Ｘａの値が各干渉フィルタが正常時
の値（これは予め求めておくことができる）から大きく
外れ、その一方Ｘｃ／Ｘａの値は正常時の値と近くなっ
ていれば、測光データｘｂが異常すなわち干渉フィルタ
ｂが劣化しているとみなすことができる。また上記の例
で、Ｘｂ／ＸａとＸｃ　／Ｘａの値が双方とも正常時の
値から大きく外れていれば、測光データＸａが異常すな
わち干渉フィルタａが劣化しているとみなすことができ
る。

（実　施　例） 以下、図面に基づいて本発明の実施例について説明する
。

第２図は本発明の方法を実施する生化学分析装置の一例
を示す斜視図である。本体１０の内部にはインキュベー
タ、スライド搬送手段、スライド挿入手段等が配されて
おり、それらはカバー１１によって覆われている。この
生化学分析装置の外部には、測定データ等の表示を行な
うデイスプレィ部１３、この表示されたデータがプリン
トアウトされたシート１２Ａを送り出す送出口１２、こ
の表示等の操作のための操作キー１４が設けられている
。さらに、右側のスライド特機部１５には未使用の化学
分析スライドを保持するスライドガイド１５ａが形成さ
れており、このスライドガイド１５ａに未使用の化学分
析スライドが通常複数枚重ねて保持される。

なお、このスライドガイド１５ａに化学分析スライドを
複数枚重ねて収納保持したカートリッジを取り付けるよ
うにしてもよい。このスライド特機部１５の奥側には、
化学分析スライドの試薬層上に所定の試料液を点着する
ための点着手段２０が配設されている。点着手段２０は
、前方に突出し後端を中心に上下に回動する点着アーム
２１と、点着アーム２１の前端から下方に延びた点着ピ
ペット２２と、点着アーム２１の上下動および点着ピペ
ット２２への試料液の吸引・点着を行なわせるための操
作ボタン２３とからなる。この点着手段２０により点着
を行なうときには操作ボタン２３を操作することにより
、点着アーム２１を上方へ回動させて点着ピペット２２
を持ち上げ、容器に入れた試料液中に点着ピペット２２
の先端を進入させて、点着ピペット２２内に所定員の試
料液を吸引させ、次いで点着アーム２１を再び下方へ回
動させて、点着ピペット２２からその下方に位置する化
学分析スライドの試薬層上へ所定瓜の試料液を点着する
。

第３図は、第２図に示す生化学分析装置の主要部をカバ
ーを取り外して示すものであり、第４図は第３図のＩ−
Ｉ線に沿った部分の断面図である。

以下、両図を参照してこの生化学分析装置の内部構造に
ついて説明する。

生化学分析装置の内部には、上記点着手段２ｏにより試
料液が点着供給された化学分析スライド１を恒温保持す
るインキュベータ３０と、この恒温保持された化学分析
スライド１の呈色度合（光学反射濃度）をＡｐｌ定する
測定手段４０とが配され、さらに、化学分析スライド１
をスライド特機部１５からインキュベータ３０の各収納
室３３内まで搬送するスライド搬送系を有している。こ
のスライド搬送系については、後に第６図を参照して詳
述する。なお、上記手段に加えて、電源ｌＧ１制御回路
用プリント配線板１７、測定手段４０用の光源１８ａお
よび磁気ディスクドライブ機構１８ｂ等が配されている
が、これらの詳細説明は省略する。また、以後の説明に
おいては、矢印Ｆで示す方向を前方、矢印Ｒで示す方向
を後方、第３図における右方および左方をそれぞれ右方
および左方と称する。

インキュベータ３０は、左右方向に延びる状態とされ、
その内部には複数の収納室３３，３３．・・・３３が左
右方向に並んで形成されている。これらの収納室３３．
３３．・・・３３はそれぞれ入口開口および出口開口を
有し、人口開口は収納室３３の後方に左右に並んで形成
され、出口開口は収納室３３の前方に左右に並んで形成
されている。化学分析スライド１は入口開口から収納室
３３内に挿入され、出口開口から排出されるように構成
されており、出口開口から排出された化学分析スライド
１はインキュベータ３０の前方側に設置された廃却箱８
０内に廃却される。

また、収納室３３は化学分析スライド１が載置される下
部部材３２と、この下部部材３２に載置された化学分析
スライド１を上から押さえる上部部材３ｔとを何し、両
部材３１．３２によって化学分析スライド１が恒温保持
される。

上記の下部部材３２はその下方に、収納室３３内に収納
された化学分析スライド１の反射光学濃度を測定するた
めの測定ヘッド４１を受容して左右方向に延びる長溝３
２ｂ１および測定ヘッド４１により上記反射光学濃度を
測定するための開口３２ｃを有している。

上記測定ヘッド４１は、これを保持する保持台４２に連
結されたワイヤ４４が駆動モータ４５により牽引される
ことにより、ガイドロッド４３ａ、４３ｂにガイドされ
て上記長溝３２ｂ内を左右に移動し、収納室３３内に収
納された各化学分析スライド１の反射光学濃度をＡｐｌ
定する。以下、第７図を参照して、この測定ヘッド４（
を詳しく説明する。７１１１１定ヘツド４１には、光フ
アイバ８９の一端が固定されている。この光フアイバ８
９の他端は、光源１８ａに対向する位置に固定されてい
る。光源ｆ８ａが発した光９２ａはコリメータレンズ９
Ｂによって平行光化され、フィルタ板９０を介して集光
レンズ９７に通され、該集光レンズ９７によって集光さ
れた上で光フアイバ８９の他端に照射される。フィルタ
板９０は第８図に示すように、−例として７つの干渉フ
ィルタ９０ａ、９０ｂ。

９０ｃ、９０ｄ、９０ｅ、９０ｆ、９０ｇが取り付けら
れたものであり、パルスモータ９１によって回転される
ことにより、上記干渉フィルタ９０ａ〜９０ｇのうちの
１つを上記光９２ａの光路に選択的に配置する。各干渉
フィルタ９０ａ〜９０ｇは、化学分析スライド１の試薬
と試料岐との組合せに応じた固有の波長の光を透過させ
る。

干渉フィルタ９０ａ〜９０ｇのうちの１つに通されて所
定の波長とされたａｌｌｌ定光９２は、上述のようにし
て光フアイバ８９内に入射せしめられ、測定へラド４１
内において、光フアイバ８９の一端から出射する。この
測定光９２は集光レンズ９８によって集光された上で、
化学分析スライド１に照射される。このとき化学分析ス
ライド１で反射した反射光９２Ｒは、集光レンズ９９に
よって集光されて光検出器９４に受光され、その光量が
該光検出器９４によって検出される。この光量を示す光
検出器９４の出力Ｑは測光回路９５に人力され、そこで
増幅、ディジタル化等の処理を受け、反射光量データと
して出力される。上記反射光量のＡｌ１定は１つのスラ
イド１について、例えば１０〜１５秒おきに所定の時間
（−例として５〜６分間程度）行なわれる。

またこのｉ’ｌＰｌ定ヘッド４１は、濃度基準板である
白板２ａと黒板２ｂの下方にも移動し、較正のためにこ
れらの濃度基準板２ａ、２ｂからの反射光量もａｌｌＪ
定する。さらにこの測定ヘッド４１は、供給台１９の下
方にも移動し、スライド特機部１５の化学分析スライド
１が後述する供給レバー５２により移送される途中で、
該化学分析スライド１の反射光学濃度（カブリ）を測定
する。なお、スライド特機部１５から供給台１９までの
スライド移送経路の下方にバーコードリーダ２５が備え
られており、化学分析スライド１がそこを通過する際、
化学分析スライド１のマウントに記載された試薬の種類
、ロット番号等を表わすバーコードが読み取られる。

第５図は、インキュベータ３０の内部を恒温保持するた
めのヒータの配置を示した、インキュベータ３０の正面
図である。以下、第３図、第４図およびこの第５図を参
照して、インキュベータ３０のヒータの配置について説
明する。

インキュベータ３０の下部部材３２の溝３２ｂを挾んで
下方に延びる部分（第４図参照）の、左右方向の両端部
付近に縦にヒータ３２ｄ、３２ｅ；３２ｒ、３２ｇが配
されている。ヒータ３２ｄのさらに左側には温度セフサ
３２ｈが配置されており、該温度センサ３２ｈが常に一
定温度を示すように左側のヒータ３２ｄ、３２ｅの電流
が制御される。ヒータ３２ｒのさらに右側には温度セン
サ３２１が配置されており、該温度センサ３２１が常に
一定温度を示すように右側のヒータ３２ｆ’、３２ｇの
電流が制御される。

インキュベータ３０の上部部材３１には３つのヒータ３
１ａ、３１ｂ、３１ｃが横に配されている。またヒータ
３１ａの左方には温度センサ３１ｄが配置されている。

これらのヒータ３１ａ、３１ｂ、３１ｃはインキュベー
タ３０を上方からほぼ均一に熱するためのものであり、
温度センサ３１ｄが常に一定温度を示すようにこれらの
ヒータ３１ａ、３１ｂ、３１ｃに流れる電流が制御され
る。

次に第６図を参照して、スライド搬送系について説明す
る。前後方向に延びる２本のガイドロッド５０には、そ
れに沿って移動自在にブロック５１が保持されており、
このブロック５１にはスライド供給レバー５２が取り付
けられている。該ブロック５１は、供給レバー駆動モー
タ５３によって前後動する。

前述したスライド特機部１５の後方には供給台１９が配
され、そのさらに後方には、左右方向に移動するシャト
ル（左右移動台）５４が位置するようになっている。こ
のシャトル５４は保持台５５の上部に固定されており、
該保持台５５は２本のがイドロッド５Ｂに沿って移動自
在とされている。そしてこの保持台５５にはエンドレス
状に張架されたワイヤ５７（第４図参照）の一部が係止
され、このワイヤ５７がシャトル駆動モータ５８によっ
て移動されることにより、保持台５５すなわちシャトル
５４が左右方向に移動する。シャトル５４の上方位置に
は、前後動自在に保持されたスライド挿入バー５９が保
持されている。またこのスライド挿入バー５９は、イン
キュベータ３０の各収納室３３の人口開口に対向する位
置に挿入爪６０を有している。このスライド挿入バー５
９は、挿入バー駆動モータ６１により、上記の方向に移
動される。

以下、上記構成のスライド搬送系の作動を説明する。ま
ずブロック５１は第６図図示の位置、つまりスライド供
給レバー５２がスライド特機部１５の前方に位置する状
態とされる。この状態からレバー駆動モータ５３が作動
し、ブロック５１が後方側に移動されると、スライド特
機部１５上において例えばカートリッジに収納して重ね
られている化学分析スライド１の最下位のものが、スラ
イド供給レバー５２に押されて供給台１９上に移載され
る。供給台１９には開口１９ａが設けられており、この
開口１９ａを通して前記測定ヘッド４１により、化学分
析スライド１のカブリ濃度がａＰＪ定される。

その後化学分析スライド１には前記点着ピペット２２に
より、所定量の試料液が点着される。次いでスライド供
給レバー５２がさらに後方に移動されることにより、化
学分析スライド１はシャトル５４上に移載される。化学
分析スライド１がこの位置まで送られると、レバー駆動
モータ５３が逆転され、ブロック５１は第６図図示の位
置に戻される。なおこうしてブロック５１が原位置に戻
る際、スライド供給レバー５２がスライド特機部１５上
のスライド１を動かすことがないように、スライド供給
レバー５２は先端が後方を向く方向には揺動自在とされ
ている。

上記のようにしてシャトル５４上に化学分析スライド１
が移載されると、シャトル駆動モータ５８が作動し、シ
ャトル５４は所定の収納室３３に対向する位置まで移動
される。そして次に挿入バー駆動モータ６１が作動し、
スライド挿入バー５９が第６図図示の位置から前方側に
所定距離移動される。それによりシャトル５４上の化学
分析スライド１が、スライド挿入バー５９の挿入爪６０
によって前方に押され、前記人口開口を通って収納室３
３内に収められる。なおこのとき収納室３３内に光学濃
度４夢１定済みのスライド１が有れば、そのスライド１
は新たに挿入されるスライド１に押されて、廃却箱８０
中に落とされる。

以上のようにして収納室３３内に収納された化学分析ス
ライド１は、前述のようにして恒温保持され、試料液と
反応して呈色した部分の光学濃度が測定ヘッド４１によ
り測定される。

なお本実施例では、一連の生化学分析において最後に各
収納室３３に収められた化学分析スライド１を廃却でき
るように、シャトル５４上でスライド１の左右側端をガ
イドする部材の一方は、スライド廃却レバーとしても作
用するように構成されている。すなわちこのスライド廃
却レバー６２は内側に当接突起６３を備えた上で、シャ
トル５４上で前後方向に移動自在とされ、図示しない付
勢手段により後方側に付勢されている。そして上記最後
の化学分析スライド１を廃却する際、シャトル５４はこ
のスライド廃却レバー６２が収納室３３の中央部分に対
向する位置で停止される。この状態でスライド抽入バー
５９が前述のように前方に移動すると、その押入爪６０
が上記当接突起６３に当接してスライド廃却レバー６２
を抑す。それにより該レバー６２は上記付勢の力に抗し
て前方に移動し、収納室３３内のスライド１を廃却箱８
０中に落とし込む。

前述のようにして測光回路９５が出力するスライド１、
基準白板２ａおよび基準黒板２ｂについての反射光量測
定データＳＳ前およびＢは演算部６５に入力され、これ
らの測定データＳＳＷ、Ｂから、スライド１の反射光学
濃度ＯＤが演算される。この演算は下記の式 ただし　Ｗ：基準白板２ａの１４１１１光データＢ：基
準黒板２ｂの　　　〃 Ｓニスライド１の　　　〃 ＯＤｗ：？ｌＪ度基準基準機る白板２ａのＯＤ値ＯＤｂ
：濃度及重機による黒板２ｂのＯＤ値によりなされる。

そして、以上のようにして求められた複数の反射光学濃
度ＯＤの値から、例えば点着後所定の分析時間を経過し
た時点の光学濃度値が求められ、その光学濃度値から分
析対象の特定成分の物質濃度りが求められる。

廣鼻部６５は、こうして求めた物質濃度りの値を示す信
号を、第３．４図図示の制御部６６に送る。

制御部６６は、この信号が示す物質濃度値をデイスプレ
ィ部１３において表示させ、また図示しないプリンタに
おいて記ｉＡシート１２Ａに記録させて、送出口１２（
第２図参照）から排出させる。

第１図は、本発明の異常検知のための処理を示している
。以下この処理について、第７図も参照して説明する。

ステップＰ１で処理がスタートすると、まずステップＰ
２において測定ヘッド４１の移動機構等が初期状態に設
定される。次にステップＰ３において基準白板２ａから
の反射光量Ａ１１ｌ定が行なイつれる。このとき、第７
図に示した測光回路９５のゲインは１倍とされる。また
この際、フィルタ板９０を回転させながら、各干渉フィ
ルタ９０ａ〜９０ｇを通過した７通りの波長の測定光９
２が基準白板２ａに照射され、各場合の基準白板２ａか
らの反射光９２Ｒの光量が次々と測定される。光検出器
９４の出力電圧をデジタル化して得られた７通りの測光
データＸａ％ＸｂＳＸｃ、Ｘｄ、Ｘｅｓ　Ｘｒ、Ｘｇは
、制御部６６の内部メモリに記憶される。

次にステップＰ４において、上記測光データＸａ−Ｘｇ
のうちの１つ、−例として測光データＸａが所定のしき
い値Ｃ１と比較され、もしＣＩ　＞Ｘａであれば、光源
１８ａの光量不足とみなされて、ステップＰ５において
「ランプ光量不足」の警告が出される。この警告は、例
えば前述の記録シート１２Ａを用いて出力される。それ
とともにステップＰ６において、測光システム全体が停
止される。

上記のステップＰ４において、Ｃ１≦Ｘａと判定された
場合、次にステップＰ７において、上記しきい値Ｃ，よ
りも大きいしきい値Ｃ２と測光データＸａとが比較され
、Ｃ２〉Ｘａであれば光源１８ａが寿命に近付いている
と見なして、ステップＰ８で「ランプ交換」のメツセー
ジが出される。

このメツセージは、例えばデイスプレィ部１３において
表示される。

Ｃ２≦Ｘａであれば光源１８ａが正常であると見なされ
、次にステップ９で、測光データＸａを基準としてＸａ
に対する測光データｘｂの比Ｘｂ／Ｘａと、０．９　Ｅ
、および１．Ｉ　Ｅ、なる値との大小関係が判定される
。Ｅｌは、干渉フィルタ９０ａおよび９０ｂがともに正
常のときに、予めｌｐｊ先データＸ　ａ　ＳＸ　ｂを求
めた際のＸｂ／Ｘａの値である。

この値Ｅｌに対して ０．９　Ｅｌ　＜Ｘｂ　／Ｘａ　＜１．１　Ｅ１であれ
ば、つまりＸｂ／ＸａがＥｌの値の±１０％の範囲に収
まっていれば、測光データＸａ、Ｘｂはともに正常であ
ると見なせる。つまり前述した通り、干渉フィルタ９０
ａと９０ｂとが同時に劣化する可能性は極めて低いから
である。こうして、０．９　Ｅｌ　＜Ｘｂ　／Ｘａ　＜
１．Ｉ　Ｅｌであった場合は、次に ０．９　ＥＺ　＜Ｘｃ　／Ｘａ　＜１．Ｉ　Ｅｌである
か否か、そしてもしそうならば、次に０．９　Ｅ３　＜
ｘｃｔ　／Ｘａ　＜１．１　Ｅ３であるか否かというよ
うにして、 ０．９　Ｅ６　＜　Ｘｇ　／　Ｘａ　＜　１．Ｉ　Ｅｓ
であるか否かの判定まで、順次判定処理が続けられる。

Ｅｌは上記Ｅｌと同じように、干渉フィルタ９０ａおよ
び９０ｃがともに正常のときに、予めΔｐ１光データＸ
ａ％ＸＣを求めた際のＸｃ／Ｘａの値であり、Ｅ３以下
も同様である。第１図においては０．９　Ｅ６　＜　Ｘ
ｇ　／　Ｘａ　＜　１．Ｉ　Ｅｓの判定処理をステップ
ＰＩＯとして示しであるが、このステップＰｌＯとステ
ップｐＨとの間には、同様の判定処理が４回行なわれる
。

これら６回の判定処理において、いずれか１回でも不等
式が成立しない場合は、ステップｐＨにおいて「フィル
タ異常」のメツセージが出され、それとともにステップ
Ｐ１２において、測光システム全体が停止される。この
メツセージは、例えば記録シート１２Ａへの記録の形で
出される。そしてこのメツセージにおいては、どの干渉
フィルタが異常であるかが併せて示される。すなわち、
もし０．９　Ｆ！＜Ｘｂ　／Ｘａ　＜１．Ｉ　Ｅｌが成
立しなければ、そのときは干渉フィルタ９０ｂが異常で
あると、また、 ０．９　Ｅ３　＜Ｘｄ　／Ｘａ　＜１．Ｉ　Ｅ３が成立
しなければ、そのときは干渉フィルタ９０ｄが異常であ
ると示される。そして、上記６通りの不等式がすべて成
立しない場合は、干渉フィルタ９０ａが異常であると示
される。このようにして干渉フィルタ９０ａ〜９０ｇの
異常を検出可能である理由は、先に述べた通りである。

一方、上記６通りの不等式がすべて成立した場合は、ス
テップＰ１３において測光回路９５のゲインが自動設定
される。このゲイン設定後ステップＰ１４において、各
干渉フィルタ毎に基準白板２ａからの反射光ｆｆ１７１
１１Ｊ定が行なわれる。次に、この際得られた７通りの
測光データＸａ’〜Ｘｇ′の各々が、所定の下限値Ｇ１
と上限値Ｇ２との間に収まっているか否かが判定される
。もし、測光データＸａ〜Ｘｇ゛のうちの１つでも下限
値Ｇ１を下回り、あるいは上限値Ｇ２を上回ると、その
場合はステップＰｌＢにおいて、例えば前記記録シート
１２Ａを用いて「ゲイン設定エラー」のメツセージが出
され、次にステップＰ１７において測光システムの動作
が停止される。そうでない場合は、測定ヘッド４１がす
べて正常であると見なして、ステップＰ１８において化
学分析スライド１からの反射光ｍ測定に入る。なお上記
下限値Ｇｌと上限値Ｇ２の値は、各干渉フィルタ毎に異
なる値とされてもよい。

以上のようにして測定ヘッド４１が化学分析スライド１
に対する７Ｉ−１光動作に入った後も、所定の時間間隔
で測光値がチエツクされる（ステップＰ１９）。すなわ
ちａｐｊ定ヘッド４１は、並置された複数のスライド１
に沿って１往復する毎に、較正のために基準白板２ａお
よび基準黒板２ｂからの反身・１光量を測定するが、そ
の際、まず最初に測定ヘッド４１が基準白板２ａに対向
する位置に戻って来ると、干渉フィルタ９０ａ、　９０
ｂ、　９０ｃを通した測定光９２が基準白板２ａに照射
され、その反射光量が１１１Ｊ定される。

そして次に測定ヘッド４１が１往復して基準白板２ａに
対向する位置に戻って来ると、干渉フィルタ９０ｄ、９
０ｅ、９０ｆについて上記と同様の操作がなされる。

また次に測定ヘッド４１が１往復して基準白板２ａに対
向する位置に戻って来ると、干渉フィルタ９０ｇについ
て上記と同様の操作がなされる。例えば測定ヘッド４１
が１往復に１３秒を要するならば、個々の干渉フィルタ
については約３９秒に１回、その性能チエツクのための
測光がなされることになる。

上述のようにして得られた各干渉フィルタ毎の４ヤ１光
データＸｎは、ステップＰ２０において前回の測光デー
タＸ旧と比較され、その差の絶対値が所定のしきい値Ｈ
以下となっているかどうか判定される。そうなっていれ
ば、前回の測光時から今回の測光までの間に、測光系の
位置関係に異常が生していないと見なすことができる。

したがってその場合は、各スライド１についてのａｐｌ
光データがそのまま出力され（ステップＰ２３）、次い
で測光動作が終了する（ステップＰ２４）。一方上記２
回の測光データＸｎ、Ｘ旧の差の絶対値がしきい値Ｈを
超えている場合は、干渉フィルタに異常が生じたと見な
すことができる。その場合はステップＰ２＋において、
そのような異常が今測定中に初めて起きたものであるか
否かが判定され、もしそうであれば処理の流れはステッ
プＰ２に戻り、移動機構初期化がなされた後、以上述べ
た処理が繰り返される。一方上述の異常が初めてではな
い場合は、ステップＰ２２において「測光異常」のメツ
セージを出力させる。このメツセージ出力は、例えば前
記記録シート１２Ａへの記なの形でなされる。

このメツセージが出されれば、装置オペレータは、求め
られた物質濃度りの値の信頼性が低いと判断することが
できる。

なお上記ステップＰ１９〜Ｐ２２の処理は、必ずしも行
なう必要はない。しかしこの処理を行なえば、生化学分
析装置が稼動中にｌＰ１光系のα置関係が変化したよう
な場合にもその旨を装置オペレータに知らせることがで
きるので、より好ましいと言える。

さらに本発明は、先に述べたようなテストフィルムを用
いる生化学分析装置においても適用可能である。

（発明の効果） 以上詳細に説明した通り、本発明の方法においては、複
数の干渉フィルタの各々を通過した１ｌｌｌｌ定光を共
通の濃度基準板に照射してその反射光量を１１ｐｊ定し
、これらの反射光量を示す測光データを互いの間で比較
するようにしたから、干渉フィルタの劣化、光源ランプ
の劣化、測光系の位置ずれなどの測光系の崇常を確実に
検出可能となる。したがって本方法によれば、不適当な
波長の測定光を用いて検査体の光学濃度を測定すること
を防止して、生化学分析装置の信頼性を高めることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明方法におけるＡＨＨデータの処理の流
れを示すフローチャート、 第２図は、本発明の方法を実施する生化学分析装置の一
例を示す斜視図、 第３図は、第２図に示す生化学分析装置の主要部をカバ
ーを取り外して示す平面図、 第４図は、第３図の１−１線に沿った部分の断面形状を
示す断面図、 第５図は、ヒータの配置を示した、インキュベータの正
面図、 第６図は、上記生化学分析装置のスライド搬送系を示す
斜視図、 第７図は、上記生化学分析装置の７測定ヘツドとその周
囲部分を示す概略正面図、 第８図は上記測定ヘッドのフィルタ板を示す平面図であ
る。 １・・・化学分析スライド　２ａ・・・基準白板２ｂ　
　・・・基準黒板　　　　１５・・・スライド特機部１
５ａ・・・スライドガイド　１８ａ・・・光　　源２０
・・・点着手段　　　　　２５・・・バーコードリーダ
３０・・・インキュベータ　　３１・・・上部部材３１
ａ、３１ｂ、３１ｃ４２ｄ、３２ｅ、３２１’、３２ｇ
　−−−ヒータ３１ｄ、３２ｈ、３２１・・・温度セン
サ３２・・・下部部材　　　　　３３・・・収納室４０
・・・測定手段　　　　　４１・・・測定ヘッド４２・
・・保持台　　　　　　５２・・・スライド供給レバー
５３・・・供給レバー駆動モータ　５４２．・シャトル
５８・・・シャトル駆動モータ ５９・・・スライド挿入バー　　６０・・・挿入爪６１
・・・仲人バー駆動モータ　６５・・・演算部６６・・
・制御部　　　　　　　９０・・・フィルタ板９０ａ　
、　９０ｂ　、　９０ｃ　、　９０ｄ　、　９０ｅ　、
　９０１’　、　９０ｇ・・・干渉フィルタ 第 ５ 図 第 図 第 図

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）試料液中の特定成分と化学反応する試薬を含む検
   査体に試料液を点着し、該検査体を恒温保持しつつその
   光学濃度を測定して、試料液中の特定成分の物質濃度を
   求める生化学分析装置における測光系の異常検知方法で
   あって、 複数の干渉フィルタを通過した測定光を順次基準濃度板
   に所定時間間隔で照射してその反射光量を測定し、 これら複数の反射光量を示す測光データを互いの間で比
   較し、その比較結果に基づいて測光系の異常を検知する
   ようにしたことを特徴とする生化学分析装置における測
   光系の異常検知方法。
2. （２）前記測光系の異常が、干渉フィルタの異常である
   ことを特徴とする請求項１記載の測光系の異常検知方法
   。
3. （３）前記測光系の異常が、光源ランプの異常であるこ
   とを特徴とする請求項１記載の測光系の異常検知方法。
4. （４）前記測光系の異常が、測光系の位置の異常である
   ことを特徴とする請求項１記載の測光系の異常検知方法
   。