JPH0369853U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0369853U JPH0369853U JP13118189U JP13118189U JPH0369853U JP H0369853 U JPH0369853 U JP H0369853U JP 13118189 U JP13118189 U JP 13118189U JP 13118189 U JP13118189 U JP 13118189U JP H0369853 U JPH0369853 U JP H0369853U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- electron microscope
- scanning electron
- electron detector
- secondary electron
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
Description
第１図は本発明の一実施例を説明するための装
置構成図、第２図はその要部拡大図、第３図は筒
状コレクタネツトの各部における２次電子の検出
効率を示す図、第４図は従来例を説明するための
図である。 １……電子銃、２……集束レンズ、３……対物
レンズ、４……試料、５……光学顕微鏡、６……
光源、７……集光レンズ、８……接眼レンズ、９
……ハーフミラー、１０……反射鏡、１１ａ，１
１ｂ……反射形対物レンズ、１２……２次電子検
出器、１３……コレクタネツト、１４……シンチ
レータ、１５……ライトガイド、１６……２次電
子増倍管、１７……増幅器、１８……遮光板。
置構成図、第２図はその要部拡大図、第３図は筒
状コレクタネツトの各部における２次電子の検出
効率を示す図、第４図は従来例を説明するための
図である。 １……電子銃、２……集束レンズ、３……対物
レンズ、４……試料、５……光学顕微鏡、６……
光源、７……集光レンズ、８……接眼レンズ、９
……ハーフミラー、１０……反射鏡、１１ａ，１
１ｂ……反射形対物レンズ、１２……２次電子検
出器、１３……コレクタネツト、１４……シンチ
レータ、１５……ライトガイド、１６……２次電
子増倍管、１７……増幅器、１８……遮光板。
Claims (1)
- 試料を観察するための可視光学系と試料から放
出される２次電子を検出するための２次電子検出
器を備えた走査電子顕微鏡において、前記２次電
子検出器のコレクタネツトの前方に遮光板を設け
たことを特徴とする走査電子顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13118189U JPH0369853U (ja) | 1989-11-10 | 1989-11-10 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13118189U JPH0369853U (ja) | 1989-11-10 | 1989-11-10 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0369853U true JPH0369853U (ja) | 1991-07-11 |
Family
ID=31678704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13118189U Pending JPH0369853U (ja) | 1989-11-10 | 1989-11-10 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0369853U (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009026750A (ja) * | 2007-06-18 | 2009-02-05 | Fei Co | チャンバ内電子検出器 |
| KR101406834B1 (ko) * | 2011-10-21 | 2014-06-18 | (주)블루이엔지 | 스큐를 조절할 수 있는 번인 테스트 장치 및 그 제어 방법 |
-
1989
- 1989-11-10 JP JP13118189U patent/JPH0369853U/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009026750A (ja) * | 2007-06-18 | 2009-02-05 | Fei Co | チャンバ内電子検出器 |
| KR101406834B1 (ko) * | 2011-10-21 | 2014-06-18 | (주)블루이엔지 | 스큐를 조절할 수 있는 번인 테스트 장치 및 그 제어 방법 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4211924A (en) | Transmission-type scanning charged-particle beam microscope | |
| US4990776A (en) | Electron microscope | |
| JPS60102868U (ja) | 電子顕微鏡 | |
| JPS63165761U (ja) | ||
| JPH0369853U (ja) | ||
| JPH0685023B2 (ja) | 高倍率内視鏡用照明光学系 | |
| JPH01149354A (ja) | 電子顕微鏡 | |
| JPH0228609Y2 (ja) | ||
| CN212521786U (zh) | 一种束光组件及x射线源组件 | |
| JPS58155380A (ja) | 電子検出器 | |
| JP2948662B2 (ja) | 放射線像拡大観察装置 | |
| JPH0792596B2 (ja) | 放射線像読取り装置 | |
| JPS62145262U (ja) | ||
| JPH0348852U (ja) | ||
| JPS60144646A (ja) | カソ−ドルミネツセンス観察・分析装置 | |
| JPS5910687Y2 (ja) | 光学観察装置を備えた電子線装置 | |
| JPS55128242A (en) | Reflection electron detector | |
| JPH01122555A (ja) | 粒子線マイクロアナライザー | |
| JPS6326926Y2 (ja) | ||
| US20040159804A1 (en) | Prism use for CR collector efficiency boost | |
| JPH0719446Y2 (ja) | 角膜形状測定装置 | |
| JPH0227656U (ja) | ||
| JP3466209B2 (ja) | 荷電粒子を探針とした形態観察装置 | |
| JPH02304316A (ja) | 超高感度光計測装置 | |
| JPH0378230U (ja) |