JPH0348852U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0348852U JPH0348852U JP10902789U JP10902789U JPH0348852U JP H0348852 U JPH0348852 U JP H0348852U JP 10902789 U JP10902789 U JP 10902789U JP 10902789 U JP10902789 U JP 10902789U JP H0348852 U JPH0348852 U JP H0348852U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection device
- backscattered electron
- utility
- scope
- model registration
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
Description
第1図は本案の一実施例を示す断面図、第2図
は本案の反射電子検出素子取り付けの詳細断面図
、第3図は本案の一実施例を示す信号系統図であ
る。 1……電子ビーム、2…対物レンズ、3……試
料、5……反射電子信号、6……特性X線、7…
…X線取り出し孔、8……反射電子検出素子、9
……光フアイバー、11……光電子増倍管、12
……プリアンプ。
は本案の反射電子検出素子取り付けの詳細断面図
、第3図は本案の一実施例を示す信号系統図であ
る。 1……電子ビーム、2…対物レンズ、3……試
料、5……反射電子信号、6……特性X線、7…
…X線取り出し孔、8……反射電子検出素子、9
……光フアイバー、11……光電子増倍管、12
……プリアンプ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 試料から発生する反射電子信号を検出し、像
観察する走査形電子顕微鏡の反射電子検出装置に
おいて、対物レンズ下部磁極の特性X線取り出し
孔に装備できる構造を有することを特徴とする反
射電子検出装置。 2 実用新案登録請求の範囲第1項において、前
記反射電子検出器は複数個を設けることを特徴と
する反射電子検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10902789U JPH0348852U (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10902789U JPH0348852U (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0348852U true JPH0348852U (ja) | 1991-05-10 |
Family
ID=31657631
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10902789U Pending JPH0348852U (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0348852U (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010212233A (ja) * | 2009-02-10 | 2010-09-24 | Univ Of Tokyo | 透過型電子顕微鏡 |
WO2013077217A1 (ja) * | 2011-11-25 | 2013-05-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置 |
JP2014229551A (ja) * | 2013-05-24 | 2014-12-08 | Toto株式会社 | 反射電子検出器 |
US9153417B2 (en) | 2011-11-25 | 2015-10-06 | Totoltd. | Back scattered electron detector |
-
1989
- 1989-09-20 JP JP10902789U patent/JPH0348852U/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010212233A (ja) * | 2009-02-10 | 2010-09-24 | Univ Of Tokyo | 透過型電子顕微鏡 |
WO2013077217A1 (ja) * | 2011-11-25 | 2013-05-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置 |
JP2013114763A (ja) * | 2011-11-25 | 2013-06-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置 |
US9053902B2 (en) | 2011-11-25 | 2015-06-09 | Hitachi High-Technologies Corporation | Charged-particle radiation apparatus |
US9153417B2 (en) | 2011-11-25 | 2015-10-06 | Totoltd. | Back scattered electron detector |
JP2014229551A (ja) * | 2013-05-24 | 2014-12-08 | Toto株式会社 | 反射電子検出器 |
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