JPH0368458B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

［産業上の利用分野］ 本発明は記録媒体検査装置に関し、データ処理
により記録媒体の性能（記録媒体上におけるエラ
ーの位置、エラー分布等）や記録再生装置の性能
（光学系、サーボ系、電気回路部、変調方式など
記録データの品質等）の評価、検討を行なうもの
である。 ［従来の技術］ 従来、デイスク上のエラー発生位置を検出する
装置が実開昭61−21060号公報により提案されて
いる。このエラー位置検出装置はデイスク１回転
の間で所定のクロツクパルスをカウントして位置
情報を発生するカウンタを備えており、前記デイ
スクを検査する過程で発生するエラー信号に同期
して前記カウンタのカウント値をエラー位置情報
として記憶手段に記憶する。またデイスク回転速
度の変動に対処するために、１回転分のカウント
値をその都度読取り、この１回転分のカウント値
の大きさに応じて前記記憶したエラー位置情報
（カウント値）を修正し、正しい位置情報を求め
るものである。 ［発明が解決しようとする問題点］ 従来のエラー位置検出装置はエラー情報を記録
するメモリのアドレスがクロツクパルスをカウン
トするカウンタにより決定され、各アドレスには
クロツクパルスに応答してエラー識別信号が書込
まれる。このためメモリは大容量を必要としコス
トの増大を招く。更にデイスク回転速度の変動に
対処するために、１回転分のカウント値をその都
度読取る必要性がある等の欠点があつた。 本発明は上述の点に鑑みてなされたものであ
り、記録媒体の検査データを大容量のメモリを必
要とすることなく記録することが可能な、記録媒
体検査装置を提供するものである。 更に本発明の記録媒体検査装置はエラーパター
ン信号及びデイスク基準位置検出信号を全て取込
む方式をとるため、コンピユータで本装置が取込
んだデータを処理することにより、デイスク上で
エラー位置がどのように発生しているか調べ、エ
ラーの分布を知ることができる。またソリツドバ
ーストエラー長（誤つたシンボルが連続したも
の）、EFラン長（正しいシンボルが連続したも
の）の分布を作図することによつて、エラーがラ
ンダムに発生するものなのか、バースト状に発生
するものなのかを知ること等、種々の評価、検討
が可能となる。 ［問題点を解決するための手段］ 記録媒体に所定のデータを記録再生し、その過
程で生じるエラーを検出することにより記録媒体
の検査を行なう、記録媒体検査装置において、前
記データの単位データをもつて、記録再生エラー
の有無を検出し、該記録再生エラー検出の有無に
応じて第１及び第２の状態をとるエラーパターン
信号を発生するエラーパターン発生手段と、前記
単位データと同一周期のカウントパルスを発生す
るカウントパルス発生手段と、前記記録媒体の基
準位置表わす、基準位置検出信号を出力する位置
検出手段と、前記エラーパターン信号の状態反転
時及び基準位置検出信号入力時にクリアパルスを
出力するクリアパルス発生手段と、前記カウント
パルスでカウントし、前記クリアパルスでカウン
ト値をクリアする第１のカウンタ手段と、前記ク
リアパルスでカウントする第２のカウンタ手段
と、書込み制御信号に基づき、前記第２のカウン
タ手段のカウント値で指定されるアドレスに、前
記エラーパターン信号及び前記第１のカウンタ手
段のカウント値からなる書込みデータをメモリす
るメモリ手段と、前記メモリ手段に書込み制御信
号を出力する書込み制御信号発生手段を備える。 ［作用］ 第１のカウンタ手段はカウントパルスをカウン
トすることによつて、そのカウント値がEFラン
またはソリツドバーストエラーの連続数を示し、
第２のカウンタ手段はクリアパルスをカウントす
ることによつて、そのカウント値がメモリ手段の
アドレスを示す。メモリ手段は第２のカウンタ手
段により指定されたアドレスに、エラーパターン
信号及び第１のカウンタ手段のカウント値からな
る書込みデータを記録する。この書込みデータの
エラーパターン信号は、EFランかソリツドバー
ストエラーかの書込みデータ種類を示し、第１の
カウンタ手段のカウント値はその長さを示す。 ［実施例］ 以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら
詳細に説明する。 第１図は本発明の記録媒体検査装置を示すブロ
ツク図、また第２図ａ〜ｃは第１図に示される記
録媒体検査装置の一動作例を示すタイミングチヤ
ートである。 １はデータ発生器２にデータクロツクRDCK
を出力すると共に、コントロールラインC₁によ
り、データ系列Mseqのスタート、ストツプ等の
制御を行なう記録系コントローラである。２はデ
イスクに記録するデータ系列Mseqをデータクロ
ツクRDCKに同期して出力するデータ発生器で
ある。８ビツトのシンボル単位からなる、データ
系列Mseqのパターンを以下に示すが、各シンボ
ルのデータ値は16進法による値を用いている。 …00 00 00 00 00 00 FF FF FF FF FF M₁
M₂ M₃…Mn−₁ Mn 00 00 00 00 00 00 00
… ｜←――開始パターン――→｜←―テ
ストパターン―→｜←―終了パターン―→｜ 上記データ系列Mseqは３回以上連続するデー
タ［00］に続いて、データ［FF］が５回連続す
ることで示される開始パターンと、擬似ランダム
系列である20次のＭ系列（周期は2²⁰−１ビツト）
で示されるテストパターンと、データ［00］が５
回連続することで示される終了パターンから形成
されている。またテストパターンの長さは記録時
間に合わせて決められ、記録時間の長いときは同
じ系列が繰返される。 ３はEFM変調器を示し、記録系コントローラ
１からのデータクロツクRDCK及びデータ発生
器２から出力される８ビツトシンボルのデータ系
列Mseqを夫々入力してEFM変調を行なつた後、
データクロツクRDCKに同期して14ビツトシン
ボルのデータ系列M.Mseqを出力する。 ４は光学的記録再生装置を示し、EFM変調器
３から出力されるデータ系列M.Mseqを、１フレ
ーム588チヤンネルビツトからなる以下のフオー
マツトに従つて被検査デイスク（図示しない）に
線速度一定（CLV制御）で記録する。 ｜Sync＋Sub code｜D₁｜D₂｜D₃｜……｜D₃₁
｜D₃₂｜ ｜←44channel bit〓〓〓32×17channel bit→
｜ ｜←―１ Frame（588channel bit）―→｜ 上記フオーマツトの各データD₁〜D₃₂はデータ
系列M.Mseqの各データ（14ビツト）にエキスト
ラビツト（３ビツト）を付け加えたものである。
この記録フオーマツトはコンパクトデイスク
（CD）フオーマツトに準じたもので、主に光学的
記録再生装置４の再生時におけるCLV制御を正
確に動作させる為に必要とする。 また光学的記録再生装置４は、再生時において
位置検出手段（図示しない）により、デイスク１
回転毎に１パルスのデイスク基準位置検出信号
RSYNCを、後述する再生系コントローラ８に出
力する。この位置検出手段は、例えば被検査デイ
スクのレーベル部に貼られたラベルを光学的に検
出することにより実現できる。また、デイスク駆
動方式がダイレクトドライブ方式の場合はモータ
から信号を得ることも可能であるがデイスクのエ
ラー位置を検出するためには前者が好ましい。 ５はデータクロツクPDCKを出力すると共に、
光学的記録再生装置４から出力される再生データ
M.PBD（14ビツト）を再生データPBD（８ビツ
ト）にEFM復調するEFM復調器である。 ６はEFM復調器５から出力されるデータクロ
ツクPDCKに同期して、データ系列Mseqを出力
するデータ発生器であるが、このデータ系列
Mseqはデータ発生器２から出力されるデータ系
列Mseqのテストパターンと同一のものである。 ７はEFM復調器５から、データクロツク
PDCKに同期してパラレル状態で出力される再生
データPBDと、データ発生器６からパラレル状
態で出力されるデータ系列Mseqを、シンボル単
位（８ビツト）毎に比較するデータ比較器であ
り、再生データPBDとデータ系列Mseqが同一の
場合は“Ｈ”信号に、異なる場合は“Ｌ”信号に
なるエラーパターンCOMPを出力する。 ８は再生系コントローラ、９は16ビツトのラン
長カウンタ、１０は14ビツトのアドレスカウン
タ、１１は4Kワード（１ワード＝16ビツト）の
ランダムアクセスメモリ（以下RAM１１と略
す）を夫々示す。 再生系コントローラ８は、EFM復調器５から
出力されるデータクロツクPDCK、再生データ
PBDが夫々入力され、再生データPBDを読取る
ことにより開始パターン、終了パターンを検出す
る。そしてコントロールラインC₂によりデータ
発生器６から出力されるデータ系列Mseqのスタ
ート、ストツプ制御を行なう。 再生系コントローラ８とラン長カウンタ９間、
及びアドレスカウンタ１０間は夫々コントロール
ラインC₃，C₄で接続され、再生系コントローラ
８からは初期リセツト信号が、またアドレスカウ
ンタ１０、ラン長カウンタ９からはオーバーフロ
ー検出信号が夫々出力される。 また再生系コントローラ８はカウントクロツク
ECKをラン長カウンタ９の入力端子に、クリア
信号CLRをラン長カウンタ９のクリア端子とア
ドレスカウンタ１０の入力端子に夫々出力する。
カウントクロツクECKはデータクロツクPDCK
と同一周期で所定時間遅延された信号であり、エ
ラーパターンの測定中出力される。クリア信号
CLRは、エラーパターンCOMPの極性反転時ま
たはラン長カウンタ９のオーバーフロー検出時に
は１パルスのパルス信号として、また基準位置検
出信号RSYNCの入力時には２パルスのパルス信
号として、夫々後述するタイミングで出力され
る。 ラン長カウンタ９は、カウントクロツクECK
を逐次カウントしてこのカウントデータを常時
RAM１１のデータ入力端子に出力するが、クリ
ア信号CLRの入力毎に０スタートを繰り返す。
一方アドレスカウンタ１０はクリア信号CLRを
逐次カウントし、このカウント値をアドレスとし
て常時RAM１１のアドレス入力端子に出力す
る。 RAM１１はラン長カウンタ９のカウントデー
タと共に、エラーパターンCOMPを遅延回路１
５及びインバータINV１６を介して形成された
極性信号KSを書込みデータとして入力する。そ
して、再生系コントローラ８から出力される書込
み制御信号が“Ｌ”信号になつたとき、アド
レスカウンタ１０のカウントデータにより指定さ
れるアドレスに書込みデータを書込む。 なおRAM１１は、再生系コントローラ８から
出力される読出し制御信号が“Ｌ”信号の時
に、指定されるアドレスのデータを出力する。ま
た書込み制御信号はデータクロツクPDCKと
同一周期で遅延された反転パルス信号であるが、
基準位置検出信号RSYNCの入力時には、２パル
スの反転信号が後述するタイミングで重畳され
る。 RAM１１に書込まれる書込みデータは、16ビ
ツトのデータをビツト列とし、最上位ビツトをビ
ツト極性信号KSのデータとする第１のブロツク
と、下位15ビツトをラン長カウンタ９のカウント
データとする第２のブロツクとからなる。このビ
ツト列の最上位ビツトの“０”、“１”は、ビツト
極性信号KSの“Ｌ”、“Ｈ”に夫々対応し、後述
する如く、下位15ビツトのデータ種類を表わして
いる。また下位15ビツトが全て０の場合は最上位
ビツトに関係なく基準位置検出信号を示す。 次に、データクロツクPDCKの１周期間におい
て、上記再生系コントローラ８から出力されるカ
ウントクロツクECK、クリア信号CLR及び書込
み制御信号WEの出力順序を説明する。 １） エラーパターンCOMPの極性が同一の時
は、カウントクロツクECK、書込み制御信号
WEの順序で出力される。 ２） エラーパターンCOMPの極性反転時また
はラン長カウンタ９のオーバーフロー検出時
は、クリア信号CLR、カウントクロツクECK、
書込み制御信号の順序で出力される。 ３） 基準位置検出信号RSYNCが入力された時
は、後述するタイミングでクリア信号CLR、
書込み制御信号の順序で交互に２回づつ、
追加出力される。 １２はコンピユータであり、コンピユータ１２
と再生系コントローラ８はコントロールライン
C₅により相互の制御が行なわれる。コンピユー
タ１２はアドレスカウンタ１０のカウントデータ
が入力され、テストデータの測定終了時にそのカ
ウント値をアドレスの最終値として読取る。また
コンピユータ１２はRAM１１に書込まれたデー
タを取込むべく、コントロールラインC₅により
再生系コントローラ８から出力される読出し制御
信号を制御して、RAM１１のデータを取込
む。 １３はプリンタ、１４はデイスプレイであり、
コンピユータ１２が取込んだデータのデータ処理
結果を表示する。 以下、第２図ａ〜ｃのタイミングチヤートに従
つてこれ等の一動作例を説明する。 なお、＜ ＞内に付した番号は動作順序を示し、
［ ］内に付した値はデータ値を示す。 再生データPBDはそのシンボル値［D₁］〜
［Dn］に記号′が付されるとエラーが発生したシ
ンボル値とし、またラン長カウンタ９及びアドレ
スカウンタ１０のカウント値表現には10進法によ
る値を用いている。 (1) データ系列の記録 データ発生器２は記録系コントローラ１の制
御により、開始パターン、テストパターン、終
了パターンの順序でデータ系列Mseqを出力す
る。このデータ系列MseqはEFM変調器３で
EFM変調され、光学的記録再生装置４により
前記した規定のフオーマツトで被検査デイスク
（図示しない）に記録される。 (2) テストデータの測定 次にデータ系列Mseqが記録された被検査デ
イスクは光学的記録再生装置４により再生され
る。光学的記録再生装置４から出力される再生
データM.PBDはEFM復調器５によりEFM復
調され、再生データPBDとなる。 再生系コントローラ８はEFM復調器５から
出力されるデータクロツクPDCKのタイミング
で再生データM.PBDの値を読取り、その開始
パターンの検出を行なう。再生系コントローラ
８は開始パターンを検出すると、コントロール
ラインC₂によりデータ発生器６を制御し、再
生データPBDとデータ発生器６から出力され
るデータ系列Mseqのテストパターンの同期を
取る。以後再生データPBDとデータ系列Mseq
はデータクロツクPDCKに同期して出力され
る。 また再生系コントローラ８は再生データ
PBDの開始パターンを検出すると、コントロ
ールラインC₃，C₄によりラン長カウンタ９及
びアドレスカウンタ１０を夫々初期リセツト
し、そのカウント値をクリアする。 データ比較器７は、同期した再生データ
PBDとデータ系列Mseqのデータ値を比較し、
再生データPBDのエラーを判別する。 第２図ａに示されるように、データ比較器７
はデータクロツクPDCK＜０＞に同期する再生
データPBD＜１＞のシンボル値［D₁］とデー
タ系列Mseq＜１＞のシンボル値［d₁］を同一
と判断し、エラーパターンCOMP＜２＞を
“Ｈ”信号とする。次に、ラン長カウンタ９は
再生系コントローラ８から出力されるカウント
クロツクECK＜３＞により、そのカウント値
＜４＞を［１］とする。RAM１１は書込み制
御信号WE＜５＞により、アドレスカウンタ１
０のカウント値（以下アドレス値と称す）［０］
のアドレスに書込みデータを書込むが、このと
き書込みデータの第１のブロツクである最上位
ビツトは極性信号KSの“Ｌ”信号に対応する
［０］となり、また第２のブロツクである下位
15ビツトで示す値はラン長カウンタ９のカウン
ト値［１］となる。 次にデータ比較器７はデータクロツクPDCK
＜６＞に同期する再生データPBD＜７＞のシ
ンボル値［D₂′］とデータ系列Mseq＜７＞のシ
ンボル値［d₂］を異なると判断し、エラーパタ
ーンCOMP＜８＞を“Ｌ”信号とする。これ
に伴つて再生系コントローラ８からクリア信号
CLR＜９＞が出力され、ラン長カウンタ９の
カウント値＜10＞はクリアされて［０］とな
り、アドレスカウンタ１０のカウント値＜11＞
は［１］となる。次にラン長カウンタ９はカウ
ントクロツクECK＜12＞により、そのカウン
ト値＜13＞を［１］とする。ここでエラーパタ
ーンCOMP＜８＞が“Ｌ”信号になつてから
の経過時間が遅延回路１５で設定した遅延時間
となり、極性信号KS＜14＞が“Ｈ”信号とな
る。次にRAM１１は書込み制御信号＜15
＞により、アドレス値［１］のアドレスに、第
１のブロツクの値［１］、第２のブロツクの値
［１］の書込みデータを書込む。 次にデータ比較器７はデータクロツクPDCK
＜16＞に同期する再生データPBD＜17＞のシ
ンボル値［D₃′］とデータ系列Mseq＜17＞のシ
ンボル値［d₃］を異なると判断し、エラーパタ
ーンCOMP＜18＞を“Ｌ”信号とする。従つ
て、ラン長カウンタ９はカウントクロツク
ECK＜19＞により、そのカウント値＜20＞を
［２］とする。RAM１１は書込み制御信号
＜21＞により、アドレス値［１］のアドレス
に、第１のブロツクの値［１］、第２のブロツ
クの値［２］の書込みデータを書き込んで、そ
の書込みデータを更新する。 次にデータ比較器７はデータクロツクPDCK
＜22＞に同期する再生データPBD＜23＞のシ
ンボル値［D₄］とデータ系列Mseq＜23＞のシ
ンボル値［d₄］を同一と判断し、エラーパター
ンCOMP＜24＞を“Ｈ”信号とする。この極
性反転に伴つて出力されるクリア信号CLR＜
25＞により、ラン長カウンタ９のカウント値＜
26＞がクリアされて［０］となり、アドレスカ
ウンタ１０のカウント値＜27＞は［２］とな
る。次にラン長カウンタ９はカウントクロツク
ECK＜28＞により、そのカウント値＜29＞を
［１］とする。ここでエラーパターンCOMP＜
24＞の極性反転から所定時間経過し、極性信号
KS＜30＞が“Ｌ”信号となる。RAM１１は
書込み制御信号＜31＞により、アドレス値
［２］のアドレスに、第１のブロツク値［０］、
第２のブロツク値［１］の書込みデータを書込
む。 次にデータ比較器７はデータクロツクPDCK
＜32＞に同期する再生データPBD＜33＞のシ
ンボル値［D₅］とデータ系列Mseq＜33＞のシ
ンボル値［d₅］を同一と判断し、エラーパター
ンCOMP＜34＞を“Ｈ”信号とする。従つて
ラン長カウンタ９はカウントクロツクECK＜
35＞により、そのカウント値＜36＞を［２］と
する。 以下同様にデータ比較器７はデータクロツク
PDCK＜38＞、＜44＞に同期する両シンボル値
を同一と判断するもので、ラン長カウンタ９は
カウントクロツクECK＜41＞、＜47＞によりそ
のカウント値＜42＞、＜48＞を［３］、［４］と
し、書込み制御信号＜43＞、＜49＞により
RAM１１のアドレス値［２］のアドレスに書
き込まれる、書込みデータの第２のブロツクの
値は［３］、［４］と更新される。 次にデータ比較器７はデータクロツクPDCK
＜50＞に同期する再生データPBD＜51＞のシ
ンボル値［D₈′］とデータ系列Mseq＜51＞のシ
ンボル値［d₈］を異なると判断し、エラーパタ
ーンCOMP＜52＞を“Ｌ”信号とする。この
極性反転に伴つて出力されるクリア信号CLR
＜53＞により、ラン長カウンタ９のカウント値
＜54＞がクリアされて［０］となり、アドレス
カウンタ１０のカウント値＜55＞は［３］とな
る。次にラン長カウンタ９はカウントクロツク
ECK＜56＞により、そのカウント値＜57＞を
［１］とする。ここでエラーパターンCOMP＜
52＞の極性反転から所定時間が経過し、極性信
号KS＜58＞が“Ｈ”信号となる。RAM１１
は書込み制御信号＜59＞により、アドレス
値［３］のアドレスに第１のブロツクの値
［１］、第２のブロツクの値［１］の書込みデー
タを書込む。 以上のようにRAM１１にはEFラン長及びソ
リツドバーストエラー長の書込みデータが順次
書込まれていく。 次にEFラン長をカウント中に基準位置検出
信号RSYNCが入力された場合を第２図ｂに想
定して説明する。 データ比較器７はデータクロツクPDCK＜60
＞に同期する再生データPBD＜61＞のシンボ
ル値［D₉］とデータ系列Mseq＜61＞のシンボ
ル値［d₉］を同一と判断し、エラーパターン
COMP＜62＞を“Ｈ”信号とする。この極性
反転に伴つて出力されるクリア信号CLR＜63
＞により、ラン長カウンタ９のカウント値＜64
＞がクリアされて［０］となり、アドレスカウ
ンタ１０のカウント値＜65＞は［４］となる。
次にラン長カウンタ９はカウントクロツク
ECK＜66＞により、そのカウント値＜67＞を
［１］とする。ここでエラーパターンCOMP＜
62＞の極性反転から所定時間が経過し、極性信
号KS＜68＞が“Ｌ”信号となる。RAM１１
は書込み制御信号＜74＞により、アドレス
値［４］のアドレスに第１のブロツクの値
［０］、第２のブロツクの値［１］の書込みデー
タを書込む。 以下同様にデータ比較器７は、データブロツ
クPDCK＜70＞、＜76＞に同期する両シンボル
値を夫々同一と判断し、ラン長カウンタ９はカ
ウントクロツクECK＜73＞、＜79＞によりその
カウント値＜74＞、＜80＞を［２］、［３］とし、
RAM１１アドレス値［４］のアドレスに書き
込まれる書込みデータの第２のブロツクの値
は、書込み制御信号＜75＞、＜81＞により
［２］、［３］と更新される。 次にデータ比較器７はデータクロツクPDCK
＜82＞に同期して再生データPBD＜83＞のシ
ンボル値［D₁₂］とデータ系列Mseq＜83＞の
シンボル値［d₁₂］を同一と判断し、エラーパ
ターンCOMP＜85＞を“Ｈ”信号とする。再
生系コントローラ８は、光学的記録再生装置４
から出力される基準位置検出信号RSYNCを、
書込み制御信号の立下りのタイミングで取
込む。そして次のカウントクロツクECKを出
力する間にクリア信号CLR、書込み制御信号
WEの順序で交互に２回各パルス信号を出力す
るが、１回目のクリア信号の出力タイミング
は、エラーパターンCOMPの極性反転時に出
力するクリア信号のタイミングと一致するよう
に設定されている。従つて書込み制御信号
＜81＞の立下り時に、基準位置検出信号
RSYNCを取込むと、１パルス目のクリア信号
CLR＜85＞により、そのカウント値＜86＞が
クリアされて［０］となり、アドレスカウンタ
１０のカウント値＜87＞は［５］となる。
RAM１１はクリア信号CLR＜85＞の後に出力
される書込み制御信号＜88＞により、アド
レス値［５］のアドレスに第１のブロツクの値
［０］、第２のブロツクの値［０］の書込みデー
タを書込む。そして２パルス目のクリア信号
CLR＜89＞により、ラン長カウンタ９のカウ
ント値＜90＞は再度クリアされて［０］とな
り、アドレスカウンタ１０はそのカウント値＜
91＞は［６］となる。RAM１１はクリア信号
CLR＜89＞の後に出力される書込み制御信号
WE＜92＞により、アドレス値［６］のアドレ
スに第１のブロツクの値［０］、第２のブロツ
クの値［０］の書込みデータを書込む。そして
ラン長カウンタ９はカウントクロツクECK＜
93＞により、そのカウント値＜94＞を［１］と
する。RAM１１は書込み制御信号WE＜95＞
により、アドレスカウンタ１０のカウント値
［６］のアドレスに、第１のブロツクの値
［０］、第２のブロツクの値［１］の書込みデー
タを再び書込む。 以下同様にして、書込みデータの書込みが行
なわれ、カウントクロツクECK＜114＞の出力
までに、RAM１１のアドレス値［６］のアド
レスに書き込まれる書込みデータの第２のブロ
ツクの値は［４］となる。 次にEFランが連続し、ラン長カウンタ９の
下位15ビツトがオーバーフロー（カウント値
［32767］）した場合を第２図Ｃに想定して説明
する。 データ比較器７はデータクロツクPDCK＜
114＞に同期する再生データPBD＜115＞のシ
ンボル値［D₁₆］とデータ系列Mseq＜115＞の
シンボル値［d₁₆］を同一と判断し、エラーパ
ターンCOMP＜116＞を“Ｈ”信号とする。そ
の後もEFランが連続することにより、データ
比較器７は両データを同一と判断し続ける。そ
して書込み制御信号＜123＞が出力された
段階において、RAM１１のアドレス値［６］
のアドレスに書き込まれる書込みデータの第２
のブロツクの値は［32766］となる。 更に、データ比較器７はデータクロツク
PDCK＜124＞に同期する再生データPBD＜
125＞のシンボル値［D₃₂₇₇₈］とデータ系列
Mseq＜125＞のシンボル値［d₃₂₇₇₈］を同一と
判断し、エラーパターンCOMP＜126＞を
“Ｈ”信号とする。ラン長カウンタ９はカウン
トクロツクECK＜127＞により、そのカウント
値＜128＞を［32767］とする。この時点で、ラ
ン長カウンタ９はオーバーフロー検出信号を再
生系コントローラ８に出力する。再生系コント
ローラ８はこのオーバーフロー検出信号を入力
すると、エラーパターン信号COMPの極性反
転時に出力するクリア信号の出力タイミングで
クリア信号CLR＜133＞を出力する。RAM１
１は書込み制御信号＜129＞により、アド
レス値［６］のアドレスに第１のブロツクの値
［０］、第２のブロツクの値［32767］の書込み
データを書込む。 次にデータ比較器７はデータクロツクPDCK
＜130＞に同期する再生データPBD＜131＞の
シンボル値［D₃₂₇₇₉］とデータ系列Mseq＜131
＞のシンボル値［d₃₂₇₇₉］を同一と判断し、エ
ラーパターンCOMP＜132＞を“Ｈ”信号とす
る。ここで前述したラン長カウンタ９のオーバ
ーフロー検出によるクリア信号CLR＜133＞に
より、ラン長カウンタ９のカウント値＜134＞
がクリアされて［０］となり、アドレスカウン
タ１０のカウント値＜135＞は［７］となる。
次にラン長カウンタ９はカウントクロツク
ECK＜136＞により、そのカウント値＜137＞
を［１］とする。RAM１１は書込み制御信号
WE＜138＞により、アドレス値［７］のアド
レスに、第１のブロツク値［０］、第２のブロ
ツクの値［１］の書込みデータを書込む。 以下同様にデータ比較器７はデータクロツク
PDCK＜139＞、＜145＞、＜151＞に同期する両
シンボル値を夫々同一と判断するもので、
RAM１１のアドレス値［７］のアドレスに書
き込まれる書込みデータの第２のブロツクの値
は［２］、［３］、［４］と更新される。 以上のようにテストデータが順次比較され、
RAM１１は本発明のビツト列表示方法による
書込みデータを記録していく。そして再生系コ
ントローラ８が再生データPBDの終了パター
ンを検出するとテストデータの測定を終了す
る。 上記動作例においてRAM１１に記録された
書込みデータ内容を表１に示す。

【表】 なお、アドレス［７］のデータ値
［0000000000000100］は必ずしも最終値ではな
く、例えば次の再生データPBD［D₃₂₇₈₃］とデ
ータ系列Mseq［d₃₂₇₈₃］が同一であれば増加す
る。 表１に示されるように、RAM１１の各アド
レスにはテストデータの測定開始後、EFラン
長が１シンボル、ソリツドバーストエラー長が
２シンボル、EFラン長が４シンボル、ソリツ
ドバーストエラー長が１シンボル、EFラン長
が３シンボル、基準位置検出信号、EFラン長
が32767シンボル、EFラン長が４シンボル、…
…と記録媒体の検査結果が順次記録されてい
る。 (3) データ処理 テストデータの測定が終了するとコンピユー
タ１２はRAM１１のデータを取込み、各種の
プログラムによりデータ処理を行なう。 コンピユータ１２はRAM１１の使用された
アドレスの最終値を知るためアドレスカウンタ
１０のカウントデータを読み取る。次に、コン
ピユータ１２は所要のプログラムにより、順次
アドレスを０から最終値まで指定し、また再生
系コントローラ８から出力される読出し制御信
号を所要のタイミングで“Ｌ”信号にして、
RAM１１に記録されたデータを読出し、内部
RAM（図示しない）に取込む。次にコンピユ
ータ１２は所要の評価プログラムによりデータ
処理を行ない、その結果をプリンタ１３、デイ
スプレイ１４に表示をする。 第３図、第４図は実際の測定結果を表示したも
ので、そのときの測定データは以下の通りであ
る。 デイスク ：追加型光デイスク 記録レーザーパワー ：4.8（mW） 再生レーザーパワー ：0.3（mW） 線速度 ：1.8（ｍ／ｓ） 測定時間 ：59（sec） 総データ数 ：4096 総シンボル数 ：14046359 誤りシンボル数 ：2896 シンボル誤り率 ：2.06D−04 基準位置検出信号 ：591 第３図ａは横軸をシンボル数、縦軸をトラツク
数とし以下の条件によりデイスク上のエラー分布
を示したものである。 １） RAM１１の各アドレスに記録された書込
みデータの第２ブロツクのカウント値を、横軸
のスケールに従つて左から右へアドレス順に並
べる。 ２） 書込みデータの第１のブロツクの値が
［０］の場合、即ち第２のカウント値がEFラン
長を示すときは、相当する長さだけ黒印字し、
第１のブロツクの値が［１］の場合、即ち第２
のブロツクのカウント値がバーストエラー長を
示すときは、相当する長さだけ空白とする。 ３） 書込みデータの第２のブロツクの値が
［０］の基準位置検出信号のときは、次のトラ
ツクに移る。 以上の条件で表示することにより、デイスク上
のキズ、ホコリ等による記録再生時のエラー部分
を視覚的に確認できる。また各トラツク毎のシン
ボル数（グラフ上の右端部の位置）を比較するこ
とで光学的記録再生装置４のCLV制御状態が判
る。 第３図ｂは第３図ａの横軸をデイスクの回転角
度として表示したもので、この表示方法によれば
エラー位置およびその大きさがトラツク数及び角
度から正確に検出することができる。 第４図ａ及びｂは、夫々横軸をシンボル数、縦
軸をその発生回数としたEFラン長分布及びソリ
ツドバーストエラー長分布を示している。また、
図中の実線Ａ，Ｂはエラーがランダムに発生する
場合の分布を計算によつて求めたものである。第
４図の例ではこの実線から大きくはずれており、
バースト状のエラーが多く発生していることが判
る。 なお、本発明は上記実施例に限定されることな
く、種々の態様を取得るものである。 例えば第５図に示す如く、第２図ａの極性信号
KS以下の動作タイミングをΔtだけずらすことも
出来る。またこの場合には書込み制御信号の
出力回数を減らすことも出来る。つまりエラーパ
ターンCOMPの極性反転を検出した後、書込み
制御信号を出力するように構成すれば、最終
的にRAM１１にメモリされる書込みデータを変
えることなく、極性反転を検出しないときの書込
み制御信号（第５図中、＜18＞、＜34＞、＜40
＞、＜46＞）は省略することが出来る。 上記実施例ではエラーパターン信号COMPを
再生データPBDとデータ系列Mseqをシンボル単
位の比較によつて検出しているが、ビツト単位の
比較によつて検出したり、誤り訂正用エンコー
ダ、デコーダを用いることによる検出や、再生信
号のドロツプアウトによつて検出することも出来
る。またテストパターンに擬似ランダム系列を用
いているが一定系列を用いることも出来る。 また光学的記録再生装置４はデイスク型記録媒
体に記録再生を行うものとしているが、カード型
記録媒体等、記録媒体の形式に関係はなく、また
記録再生方法も光学的に限定されることなく、磁
気的等によることも出来る。 更に検査デイスクの記録再生に際して、変調方
式、フオーマツトの方式の変更や、誤り訂正用エ
ンコーダ、デコーダを介することもできる。 ［発明の効果］ 以上のように本発明装置によると、記録再生の
エラー情報を大量のメモリを必要とすることなく
検出できる、記録媒体検査装置が提供できる。 更に本発明の記録媒体検査装置によるとエラー
パターン信号及び基準位置検出信号を全て取込む
方式をとるため、コンピユータで本装置が取込ん
だデータを演算処理、作図することによつて、デ
イスク上でエラーがどのように発生しているかを
調べ、エラーの分布を知ることができる。また
EFラン、ソリツドバースト分布を同様に作図す
ることによつて、エラーがランダムに発生するも
のか、バースト上に発生するものなのかを知るこ
とができる等、種々の評価、検討に用いることが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る記録媒体検査装置の一実
施例を示すブロツク図、第２図ａ〜ｃ及び第５図
は第１図に示される記録媒体検査装置の一動作例
を示すタイミングチヤート、第３図ａ，ｂ及び第
４図ａ，ｂは第１図に示される記録媒体検査装置
の表示例を示す図である。 １……記録系コントローラ、２，６……データ
発生器、３……変調器、４……光学的記録再生装
置、５……復調器、７……データ比較器、８……
再生系コントローラ、９……ラン長カウンタ、１
０……アドレスカウンタ、１１……RAM、１２
……コンピユータ、１３……プリンタ、１４……
デイスプレイ、１５……遅延回路、１６……イン
バータINV。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 記録媒体に所定のデータを記録再生し、その
   過程で生じるエラーを検出することにより記録媒
   体の検査を行なう、記録媒体検査装置において、 前記データの単位データをもつて、記録再生エ
   ラーの有無を検出し、該記録再生エラー検出の有
   無に応じて第１及び第２の状態をとるエラーパタ
   ーン信号を発生するエラーパターン発生手段と、 前記単位データと同一周期のカウントパルスを
   発生するカウントパルス発生手段と、 前記記録媒体の基準位置表わす、基準位置検出
   信号を出力する位置検出手段と、 前記エラーパターン信号の状態反転時及び基準
   位置検出信号入力時にクリアパルスを出力するク
   リアパルス発生手段と、 前記カウントパルスでカウントし、前記クリア
   パルスでカウント値をクリアする第１のカウンタ
   手段と、 前記クリアパルスでカウントする第２のカウン
   タ手段と、 書込み制御信号に基づき、前記第２のカウンタ
   手段のカウント値で指定されるアドレスに、前記
   エラーパターン信号及び前記第１のカウンタ手段
   のカウント値からなる書込みデータをメモリする
   メモリ手段と、 前記メモリ手段に書込み制御信号を出力する書
   込み制御信号発生手段を備えたことを特徴とする
   記録媒体検査装置。 ２ 前記エラーパターン発生手段は復調器５、デ
   ータ発生器６、データ比較器７及びパターン同期
   制御手段からなり、該パターン同期制御手段は前
   記復調器５から出力される再生データPBDと前
   記データ発生器６から出力されるデータ系列
   Mseqの同期制御を行ない、またデータ比較器７
   は前記再生データPBDと前記データ系列Mseqを
   シンボル単位で比較することを特徴とする特許請
   求の範囲第１項記載の記録媒体検査装置。 ３ 前記データ比較器７は前記再生データPBD
   と前記データ系列Mseqが同一の場合に“Ｈ”信
   号、また異なる場合に“Ｌ”信号となるエラーパ
   ターン信号を出力することを特徴とする特許請求
   の範囲第２項記載の記録媒体検査装置。 ４ 前記第１のカウンタ手段は16ビツトのカウン
   タで構成したことを特徴とする特許請求の範囲第
   １項記載の記録媒体検査装置。 ５ 前記メモリ手段は１ワード16ビツトからなる
   4Kワードのランダムアクセスメモリで構成した
   ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の記
   録媒体検査装置。 ６ 前記メモリ手段の前記書込みデータは最上位
   ビツトが遅延回路１５を介したエラーパターン信
   号COMPとし、下位15ビツトをラン長カウンタ
   ９のカウント値とすることを特徴とする特許請求
   の範囲第３項、第４項及び第５項記載の記録媒体
   検査装置。 ７ 前記カウントパルス発生手段、前記クリアパ
   ルス発生手段および書込み制御信号発生手段は再
   生系コントローラ８で構成されたことを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項記載の記録媒体検査装
   置。