JPH036076A - 半導体レーザ装置 - Google Patents

半導体レーザ装置

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JPH036076A
JPH036076A JP13921989A JP13921989A JPH036076A JP H036076 A JPH036076 A JP H036076A JP 13921989 A JP13921989 A JP 13921989A JP 13921989 A JP13921989 A JP 13921989A JP H036076 A JPH036076 A JP H036076A
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JP
Japan
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semiconductor laser
light
faraday rotator
light intensity
laser device
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JP13921989A
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English (en)
Inventor
Yuichi Togano
祐一 戸叶
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Tokin Corp
Original Assignee
Tokin Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、コンパクトディスクやレーザディスク等に用
いられている半導体レーザ(略称LD)の発振戻り光に
よる発振光の雑音を低減させる半導体レーザ装置に関す
る。
[従来の技術] 現在、コンパクトディスクやレーザディスク等に用いら
れている半導体レーザ(略称LD)が用いられている。
発振されたレーザ光の内、幾分かは、レンズやデバイス
内の反射によって、半導体レーザ発振素子に戻ってきて
しまう。
この戻り光は、モードホッピングを引き起こし、半導体
レーザ素子の光の発振を不安定にしてしまう原因となり
、コンパクトディスクやレーザディスクにおけるノイズ
となってあられれる。
これを防止するように、半導体レーザ素子を覆うキャッ
プのレーザ光を出射する窓に、ファラデー回転素子を設
けた半導体レーザ素子用キャップが提案されている(特
願平1−85702号)[発明が解決しようとする課題
] しかしながら、ただ単にファラデー回転素子を半導体レ
ーザ素子用キャップの窓材に用いてしまうと、半導体レ
ーザ素子から発振されたレーザ光は、ファラデー回転素
子の表面で反射してしまい、この近端反射が生じてしま
うとかえって戻り光雑音を大きくしてしまう。
第3図はマルチモード発振をする半導体レーザの放射特
性を示す図である。第3図において、半導体レーザ30
から発振された放射光31.32について、この放射方
向に垂直な面内において、X、Y軸を夫々強度として、
これに垂直に交差する方向Y、Xでの各位置における分
布(垂直横モード7及び水平横モード)34.35を求
めたものが、第4図(a)、第4図(b)である。
第4図(a)、第4図(b)は、放射角度が大きくなる
に従って、半導体レーザの光出力が次第に弱くなってい
くことを示している。
半導体レーザ素子から放射された光は、マルチモードで
ある場合は、第3図、第4図のように発散していく。こ
の放射される全ての光の近端反射を防ぐために、ファラ
デー回転素子を傾斜させるとLD自体が大型化してしま
う。
従って、効率の良いファラデー回転素子の傾斜角度を設
定することか重要になってくる。
そこで、本発明の技術的課題は、戻り光り雑音の少なく
、効率の良い傾斜角度を有するファラデー回転素子を備
えたキャップを有する半導体レーザ装置を提供すること
にある。
[課題を解決するための手段] 本発明によれば、シングルモード発振をする半導体レー
ザ素子を覆うキャップに、磁気飽和した状態で光偏波面
を45度回転させることができるファラデー回転子を取
り付けて、前記ファラデー回転子により前記半導体レー
ザ素子からの出射光の反射戻り光を防止する半導体レー
ザ装置において、前記ファラデー回転素子は前記半導体
レーザ素子からの発振光強度が最大光強度分布の出力の
30%以下の光強度を示す放射角度成分を直角に入射さ
せるような面上に配されていることを特徴とする半導体
レーザ装置が得られる。
[作 用] 原理的に半導体レーザ発振素子に戻ってくる戻り光は、
雑音防止のために完全に遮断することが難しいが、シン
グルモードの発振においては、発振偏波に対して直交す
る偏波を持つ戻り光であれば、雑音発生の原因とならな
い。
従って、偏光素子を持つ光アイソレータを用いる必要は
ない。つまり、ファラデー回転素子のみを用い、発振−
波を45度回転させ、半導体レーザ発振素子に戻る反射
戻り光が、発振偏波に対して直交するようにすれば、光
雑音を低減し、戻り光を低減させる、言わば、光アイソ
レータとして充分機能することになる。本発明の半導体
レーザ装置においては、シングルモード発振をする半導
体レーザ素子を覆うキャップ、磁気飽和した状態で光偏
波面を45度回転させることができるファラデー回転子
を取り付けて、前記半導体レーザ素子からの出射光の反
射戻り光を防止する機能を備えている。
このファラデー回転素子は、この半導体レーザ素子から
の発振光強度が最大光強度分布の出力の30%以下の光
強度を示す放射角度成分を直角に入射させるような面上
に配されている。
このため、安定な光を発振させることができる。
[実施例] 以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図(a)及び第1図(b)は本発明の第1の実施例
に係る半導体レーザ装置の構成を示す図で、(a)は斜
視図、(b)は断面図である。
第1図(a)及び第1図(b)において、半導体レーザ
装置10は、シングルモードの光を発振するレーザチッ
プ1を固定し、下端に延在する3本のビン2aを有する
半導体レーザ素子と、下端に鍔状の板体3aを有し、こ
のレーザチップ1を覆う筒状のキャップ3と、このキャ
ップの上端に傾斜して設けられたファラデー回転素子4
と、このファラデー回転素子4の周囲に配され、レーザ
チップ1から放射された光1aの放射方向に磁化Mされ
た筒状マグネット5とを備えている。
筒状のキャップ3の先端は、光の出力偏波に対して、所
定角度θをもって傾斜して配されている。
また、ファラデー回転素子4はARコートを施されてい
る。
第2図(a)及び第2図(b)は本発明の第2の実施例
に係る半導体レーザ装置の構成を示す図で、(a)は斜
視図、(b)は断面図である。
第2図(a)及びTJ2図(b)において、半導体レー
ザ装置20は、レーザチップ11を固定し、下端に延在
する3本のビン12aを有する半導体レーザ素子と、レ
ーザチップ11から放射されたシングルモードの光11
aの放射方向に磁化Mされた筒状マグネット21と、こ
のマグネット21内にレーザ光11aの偏波に対して、
所定角度θをもって傾斜して配されているファラデー回
転素子23とを備えている。
また、ファラデー回転素子23は第1の実施例と同様に
、ARコートを施されている。
尚、図中の符号12bは、12aから12を貫通して延
出した通電用のビンの一端である。
第1及び第2の実施例の実施例に使用した、ARコート
を施したファラデー回転素子は、0. 3%以下の反射
係数を持つので、ある程度の光出力の強い領域で近端反
射がおこならなければ、充分な機能が得られることにな
る。
従って、最大反射戻り光強度を半導体レーザの最大光出
力の0.1%以下にするには、反射戻り光となる光の光
強度を30%以下にすれば良いことになる。
この反射戻り光となる光の光強度を30%にするために
は、半導体レーザからの光を入射するファラデー回転素
子は、この半導体レーザ素子の発振面に対しての傾斜角
度θを、例えば、第4図(a)及び(b)を例に挙げる
と、第4図(a)または(b)のような最大出力光の強
度の30%となる角度θ゛2 θ゛°に調整されなけれ
ばならない。
従って、本実施例では、半導体レーザ装置において、フ
ァラデー回転素子を傾斜角度θが、その半導体レーザ光
の光強度が最大光分布の30%以下の光強度を示す放射
角度の成分が直角に入射するような面上になるように(
即ち、偏波に傾斜して)、半導体レーザ用キャップに取
り付けている。
このことによって、ファラデー回転素子自体での戻り光
を、実質、全体光量の0.001%以下に抑えることが
できるため、反射戻り光による雑音を防止することがで
きる。これは、この半導体レーザを用いるコンパクトデ
ィスクにおけるノイズ防止にもつながってくる。
本発明の実施例に係る半導体レーザ装置の製造方法につ
いて述べる。
第1図に示す第1の実施例の半導体レーザ装置は次のよ
うに製造された。比較のために、ファラデー回転素子が
傾斜していない半導体レーザ装置を製造した。夫々のフ
ァラデー回転素子4は、(GdBl)3  (FeAI
Ga)5012なる組成のガーネット厚膜4aをLPE
法で育成し、ファラデー回転角が45度となるように研
磨加工を施した。この研磨加工終了時のファラデー回転
角は、傾斜型に用いたものが44.8degで、傾斜し
ていない比較例では、44.6degで、夫々挿入損失
2.1dB、消光比が35dB以上であった。
次に、これらのファラデー回転素子に、両面対空気AR
コートを施し、反射係数を0.3%以下に抑えた。
マグネット5は、希土類プラスチックマグネットに防塵
用塗装を施し、ファラデー回転素子にかかるビーム出射
方向の磁界強度が500 0e以上になるように、設計
製作したものを用いた。
半導体レーザ発振素子1は、シングルモードの発振で波
長0.78μm(規定値)、最大放射発散角(ビームの
拡がり角ψ)は48degのものを用いた。傾斜角度θ
の決定は、(最大放射発散角度/2)Xo、25を基に
算出し、6degとした。
このマグネット5、半導体レーザ発振素子1、ファラデ
ー回転素子4は、第1図のように別のLDキャップ2を
6deg傾くように斜めに研磨し、ガーネット膜4側が
、ビーム出射側になるように、配置して接着して、半導
体レーザ装置゛(第1の実施例)とした。
これとは別に、比較のために、実施例と同様のマグネッ
ト5、実施例と同様の半導体レーザ発振素子1、前述し
たファラデー回転素子54を用意し、まず、第5図のよ
うに、LDキャップ53上に丸く切り抜いたガーネット
膜54をガーネットM 54 a側が半導体レーザ発振
素子1からのビーム出射側になるように配置して接着し
て、比較例の半導体レーザ装置50とした。
第1図、第5図のように、マグネット5は、夫々のガー
ネット膜の中心点がマグネット中間位置に位置するよう
に浮かせて接着した。マグネット5の磁化方向は、第1
図及び第5図に示した方向Mとなるように配置した。
このようにして製作したファラデー回転素子付きの半導
体レーザ装置10.50を用いて、発振光に対する反射
光の比率によって、どの程度の戻り光雑音が防止できる
かを調査した。
この時の半導体レーザ1の出力は、波長o、78μmで
ガーネット膜の挿入損失を考慮して、5μmとした(素
子出力は3 m W )。
M1定結果は、比較例及び第1の実施例の双方とも光ア
イソレータ付きであれば、1,0%の戻り光に対しても
一140dB以下のRIN特性を示し、安定な出力が得
られることが分かった。
また、傾斜型と無傾斜型の比較を行うために、第1の実
施例及び比較例において、同一なシングルモード半導体
レーザ素子を使用して、光スペクトルの測定を行ったと
ころ、比較例の半導体レーザ装置50では、使用波長付
近での小さなモードホッピングが確認されたものの、第
1の実施例の半導体レーザ装置10では確認できなかっ
た。
従って、傾斜型である第1及び第2の実施例の半導体レ
ーザ装置10.20の優れていることが証明された。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、戻り光り雑音の
少なく、安定な光を発生するとともに、効率の良い傾斜
角度を有するファラデー回転素子を備えた半導体レーザ
素子用キャップを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)及び(b)は本発明の第1の実施例に係る
半導体レーザ装置の構成を示す図で、(a)は斜視図、
(b)は断面図、第2図(a、 )及び(b)は本発明
の第2の実施例に係る半導体レーザ装置の構成を示す図
で、(a)は斜視図、(b)は断面図、第3図は半導体
レーザの放射パターンを示す図、第4図は半導体レーザ
の放射角度における光出力特性を示す図、第5図は比較
例に係る半導体レーザ装置を構成を示す断面図である。 図中1はレーザチップ、2は台座、2aはピン、3aは
鍔、3はキャップ、4はファラデー回転素子、4aはガ
ーネット膜、5はマグネット、8はピン、10は半導体
レーザ装置、11はレーザチップ、12a、12bはピ
ン、21はマグネット、23はファラデー回転素子、3
0は半導体レーザチップ、31は放射光、34は放射光
の垂直横モード、35は放射光の水平横モード、5oは
半導体レーザ装置、53はキャップ、54はファラデー
回転素子である。 第1図((1) 第3図 と 第4図 第2図(α) 第2図(b) 第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、シングルモード発振をする半導体レーザ素子を覆う
    キャップに、磁気飽和した状態で光偏波面を45度回転
    させることができるファラデー回転子を取り付けて、前
    記ファラデー回転子により前記半導体レーザ素子からの
    出射光の反射戻り光を防止する半導体レーザ装置におい
    て、 前記ファラデー回転素子は、前記半導体レーザ素子から
    の発振強度を示す光強度が最大光強度分布の出力の30
    %以下の光強度を示す放射角度成分を直角に入射させる
    面上に配されていることを特徴とする半導体レーザ装置
JP13921989A 1989-06-02 1989-06-02 半導体レーザ装置 Pending JPH036076A (ja)

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JP13921989A JPH036076A (ja) 1989-06-02 1989-06-02 半導体レーザ装置

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JP13921989A JPH036076A (ja) 1989-06-02 1989-06-02 半導体レーザ装置

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JPH036076A true JPH036076A (ja) 1991-01-11

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ID=15240287

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JP13921989A Pending JPH036076A (ja) 1989-06-02 1989-06-02 半導体レーザ装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2004088129A (ja) * 2003-12-08 2004-03-18 Sony Corp レーザ光発生装置
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