JPH0358550A - データ処理系監視装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、装置内ブロックおよびブロック間の監視手段
に関する。

〔概要〕

本発明は、データ処理系のブロックおよびブロック間の
監視手段において、 テストパターンのチェック結果をテストパターンの一部
として多重してデータ信号の空ビットに入れ込むことに
より、 １箇所ですべてのテストパターンのチェック結果を監視
することができるようにしたものである。

〔従来の技術〕

データ信号の中にテストパターンを挿入し、装置内のブ
ロック内またはブロック間のデータ信号の状態を監視す
る従来例を第２図に示す。

従来例では、第２図に示すよう？で、データ信号２２０
の空ビットに第１のブロック２０１の人口でテストパタ
ーンを挿入し、第１のブロックの出口でテストバクーン
の検出を行い、第１のブロック２０１内の障害を監視す
る第１のエラー検出信号２２１を出力し、テストパター
ンをつけなおして第２のブロック２０２に送出する。第
２のブロック２０２では、人口でテストパターンの検出
を行い、第１のブロック２０１　と第２ブロック２０２
の間の障害を監視し、テストパターンをつけなおしてブ
ロソク内に信号を送出する。第２のブロック２０２の出
口でテストパターンの検出を行い、第２のブロック２０
２内の障害を監視し、テストパターンの付け直しを行っ
て次のブロックにデータを送出する。第２のブロノク２
０２から第１のブロック２０１と第２のブ口ツク２０２
の間の障害を監視する第２のエラー検出信号２２２と、
第２のブロック２０２内の障害を示す第３のエラー検出
信号２２３　とが出力される。

〔発明が解決しようとする問題点〕

このような従来例では、各ブロック内および各ブロック
間のデータ信号のテストパターンによる障害の結果が各
ブロックごとに出力される。一般に各ブロックはパッケ
ージまたはユニットなどを示すものであり、各ブロック
の監視結果を収集するには、パラレルで収集する場合は
多数のパラレル信号を監視部に収集するので、多数の接
続線が必要になる欠点がある。また、各ブロックから監
視結果をシリアルで収集する場合はブロック数が増すと
収集時間が長くなり、切替などの制御が遅くなる欠点が
ある。

本発明は、このような欠点を除去するもので、少ない接
続線を用いて短時間に監視結果の収集が行えるデータ処
理系監視装置を提供することを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は、データ信号が到来する入力端子、このデータ
信号を処理する内部回路およびこの内部回路で処理され
たデータ信号が経由する出力端子を備え、縦続接続され
た複数個の装置に含まれるデータ処理系監視装置におい
て、データ信号の空ピントにテストパターンを挿入する
第一多重手段およびデータ信号の空ビットに挿入された
テストパターンを検定し、この検定結果情報を含む新た
なテストパターンを生成し、この新たなテストパターン
をこのデータ信号の空ビットにさらに挿入する第二多重
手段を有し、信号源に接続される装置は、自装置の入力
端子と自装置の内部回路との間の経路に第一多重手段を
備え、自装置の内部回路と自装置の出力端子との間の経
路に第二多重手段を備え、信号源に接続される装置を除
く装置は、自装置の入力端子と自装置の内部回路との間
の経路および自装置の内部回路と自装置の出力端子との
間の経路に第二多重手段を備え、上記縦続接続された複
数個の装置の最終段の装置は、自装置の内部回路と自装
置の出力端子との間の経路に挿入された第二多重手段か
ら続出される新たなテストパターンが通過する端子を備
えたことを特徴とする。

〔作用〕

到来するデータ信号の空ビットにデータ信号チェック用
のテストパターンを挿入したデータ信号のチェックを第
１のブロックの出口で行い、データ信号の空ビットにテ
ストパターンおよびチェック結果を多重し、第２のブロ
ックに送出する。第２のブロック入口では、同様にテス
トパターンのチェックを行い、その結果をさらに多重し
たデータ信号はパターン検出される。ここで、通過した
テストパターン検出ナ段での検出結果が集中監視される
。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を図面に基づき説明する。

第１図はこの実施例の構戊を示し、第３図にこの実施例
で用いられるクレームのフォーマットの変遷を示す。

この実施例は、第１図に示すように、テストパターン発
生回路１０１と、テストパターン挿入回路１０２と、内
部回路ｌ１２、テストパターン検出回路１０３、テスト
パターン発生回路１０４およびテストパターン挿入回路
１０５からなる第１のブロック１１４と、テストパター
ン検出回路１０６、テストパターン発生回路１０７、テ
ストパターン挿入回路１０８、内部回路１１３、テスト
パターン検出回路１０９、テストパターン発生回路１１
０およびテストパターン挿入回路１１１からなる第２の
ブロック１１５とで構或される。すなわち、この実施例
は、データ信号が到来する入力端子１０（１１）、この
データ信号を処理する内部回路１１２　（１１３）およ
びこの内部回路１１２（１１３）で処理されたデータ信
号が経由する出力端子２０（２１）を備え、縦続接続さ
れた複数個の装置１１４（１１５）に含まれ、データ信
号の空ビットにテストパターンを挿入する第一多重手段
であるテストパターン挿入回路１０２およびテストパタ
ーン発生回路１０１ならびにデータ信号の空ビットに挿
入されたテストパターンを検定し、この検定結果情報を
含む新たなテストパターンを生成し、この新たなテスト
パターンをこのデータ信号の空ビットにさらに挿入する
第二多重手段であるテストパターン検出回路、テストパ
ターン発生回路およびテストパターン挿入回路を有し、
信号源に接続される装置１１４は、自装置の入力端子１
０と自装置の内部回路１１２との間の経路に第一多重手
段を備え、自装置の内部回路１１２と自装置の出力端子
２０との間の経路に第二多重手段を備え、信号源に接続
される装置を除く装置１１５は、自装置の入力端子１１
と自装置の内部回路１１３との間の経路および自装置の
内部回路１１３と自装置の出力端子２ｌとの間の経路に
第二多重手段を備え、上記縦続接続された複数個の装置
の最終段の装置１１５は、自装置の内部回路１１３と自
装置の出力端子２ｌとの間の経路に挿入された第二多重
手段から読出される新たなテストパターンが通過する端
子である抽出端子３１を備える。

次に、この実施例の動作を説明する。

テストパターン挿入回路１０２は、入力したデータ信号
１２０の空ビットに第１のテストパターンを挿入し、内
部回路１１２に送出する。テストパターン検出回路１０
３でこの出力と第１のテストパターンとを比較して第１
のテストパターンに誤りがあるか否かをチェックし、そ
の結果をテストパターン発生回路１０４に送出する。テ
ストパターン発生回路１０４では、第１のテストパター
ンにチェック結果のビットを加えた第２のテストパター
ンを作戊し、テストパターン挿入回路１０５でデータ信
号の空ビットに多重して第２のブロック１１５に送出す
る。テストパターン検出回路１０６では、データ信号の
中の第２テストパターン検出を行い、第２テストパター
ンのチェック結果とテストパターン検出回路１０３のチ
ェック結果とをテストパターン発生回路１０７に送出す
る。テストパターン発生回路１０７では、テストパター
ン検出回路１０３のチェック結果とテストパターン検出
回路１０６のチェック結果とを示すビットを含んだ第３
のテストパタ一ンを作或し、テストパターン挿入回路１
０８でデータ信号の空ビットに多重して内部回路１１３
に送出する。同様に、テストパターン検出回路１０９で
は、第３のテストパターンを検出し、チェック結果と前
段でチェックしたチェック結果とを送出する。テストパ
ターン発生回路１１０では、第４のテストパターンを作
戒し、テストパターン挿入回路１１１でデータ信号に多
重して送出する。これを繰り返し行うことにより、各テ
ストパターン検出回路でのチェック結果がテストパター
ンと共に多重され、データ信号と共に伝送される。この
ようにすれば、最後のブロックのテストパターン検出回
路で検出したテストパターンを見るだけでそれ以前のテ
ストパターン検出回路のチェック結果を集中監視するこ
とができる。

〔発明の効果〕

本発明は、以上説明したように、各ブロックでのテスト
パターンのチェック結果をテストパターンの一部として
多重してデータ信号の空ビットに入れ込むので、１箇所
ですべてのテストパターンのチェック結果を監視するこ
とができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明実施例の，溝或を示すブロック構戊図
。 第２図は、従来例の構或を示すブロック構戊図。 第３図は、実施例に用いられるフレームのフォーマット
の変遷を示す状態図。 １０、１１・・・入力端子、２０、２１・・・出力端子
、３１・・・抽出端子、１０１　、１０４　、１０７　
、１１０　，　２０４　、２０７、２１０　、２１３・
・・テストパターン発生回路、１０２、１０５、１０８
、１王１、２０３、２０６、２０９、２１２・・・テス
トパターン挿入回路、１０３　、１０６　、１０９　、
２０５　、２０８、２１１・・・テストパターン検出回
路、１１２　、１１３、２１４、２１５・・・内部回路
、１１４　、２０１・・・第１ブロソク、１１５、２０
２・・・第２ブロック。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、データ信号が到来する入力端子、このデータ信号を
   処理する内部回路およびこの内部回路で処理されたデー
   タ信号が経由する出力端子を備え、縦続接続された複数
   個の装置に含まれるデータ処理系監視装置において、 データ信号の空ビットにテストパターンを挿入する第一
   多重手段およびデータ信号の空ビットに挿入されたテス
   トパターンを検定し、この検定結果情報を含む新たなテ
   ストパターンを生成し、この新たなテストパターンをこ
   のデータ信号の空ビットにさらに挿入する第二多重手段
   を有し、信号源に接続される装置は、自装置の入力端子
   と自装置の内部回路との間の経路に第一多重手段を備え
   、自装置の内部回路と自装置の出力端子との間の経路に
   第二多重手段を備え、 信号源に接続される装置を除く装置は、自装置の入力端
   子と自装置の内部回路との間の経路および自装置の内部
   回路と自装置の出力端子との間の経路に第二多重手段を
   備え、 上記縦続接続された複数個の装置の最終段の装置は、自
   装置の内部回路と自装置の出力端子との間の経路に挿入
   された第二多重手段から読出される新たなテストパター
   ンが通過する端子を備えたことを特徴とするデータ処理
   系監視装置。