JPH0354811A - 固体電解コンデンサ - Google Patents
固体電解コンデンサInfo
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- JPH0354811A JPH0354811A JP8886389A JP8886389A JPH0354811A JP H0354811 A JPH0354811 A JP H0354811A JP 8886389 A JP8886389 A JP 8886389A JP 8886389 A JP8886389 A JP 8886389A JP H0354811 A JPH0354811 A JP H0354811A
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Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、外部引出しリード線の表面をエッチング粗面
化，拡面化し、固体電解質として加熱溶融した７．７，
８，８．テトラシアノキノジメタンのイオンラジカルコ
ンプレックス塩（以下ＴＣＮＱ塩と云う）を含浸させた
固体電解コンデンサに関するものである。
化，拡面化し、固体電解質として加熱溶融した７．７，
８，８．テトラシアノキノジメタンのイオンラジカルコ
ンプレックス塩（以下ＴＣＮＱ塩と云う）を含浸させた
固体電解コンデンサに関するものである。
従来の技術
近年、電子機器のデジタル化に伴なって使用されるコン
デンサの高周波低インピーダンス化に対する要望が強く
なっている。また電解コンデンサは従来小形大容量の特
徴を生かして、バイパス用コンデンサとして利用されて
いるが、これも最近の電子機器の発展の中で、特に高周
波低インピーダンス化の改良が望まれている。このため
、従来の電解コンデンサのもつ小形大容量という特徴を
生かしつつ、高周波低インピーダンス化を実現するため
に、表面の平滑な外部引出しリード線を用いた固体電解
質として加熱溶融したＴＣＮＱ塩を含浸させた固体電解
コンデンサが提案されている。また、電子機器の軽薄短
小化に伴なって使用されるコンデンサの低背化径化に対
する要望が強くなっており、僅かな面積の電極箔と表面
の平滑な外部引出しリード線を接続し、セバレー夕を介
して巻回し固体電解質として加熱溶融したＴ．ＣＮＱ塩
を含浸させた固体電解コンデンサが提案されている。
デンサの高周波低インピーダンス化に対する要望が強く
なっている。また電解コンデンサは従来小形大容量の特
徴を生かして、バイパス用コンデンサとして利用されて
いるが、これも最近の電子機器の発展の中で、特に高周
波低インピーダンス化の改良が望まれている。このため
、従来の電解コンデンサのもつ小形大容量という特徴を
生かしつつ、高周波低インピーダンス化を実現するため
に、表面の平滑な外部引出しリード線を用いた固体電解
質として加熱溶融したＴＣＮＱ塩を含浸させた固体電解
コンデンサが提案されている。また、電子機器の軽薄短
小化に伴なって使用されるコンデンサの低背化径化に対
する要望が強くなっており、僅かな面積の電極箔と表面
の平滑な外部引出しリード線を接続し、セバレー夕を介
して巻回し固体電解質として加熱溶融したＴ．ＣＮＱ塩
を含浸させた固体電解コンデンサが提案されている。
発明が解決しようとする課題
しかし、表面の平滑な外部引出しリード線を用いた場合
、その実効表面積は投影面積と等しく小さく、製品静電
容量に対して、外部引出しリード線部分は寄与しない。
、その実効表面積は投影面積と等しく小さく、製品静電
容量に対して、外部引出しリード線部分は寄与しない。
また、陽極リードは、陽極箔と共に陽極酸化を行ない、
表面に陽極酸化皮膜を形威するが、熱衝撃試験を行なう
と、外部引出しリード線表面の陽極酸化皮膜に熱ストレ
スによる亀裂が生じ、漏れ電流が著しく増大してしまう
。また、製品内部と外部雰囲気を遮断する目的で行なわ
れている封口体による封止で、封口体と外部引出しリー
ド線の接触部分が、封口体および、外部引出しリード線
表面が平滑なため、製品内部から外部への径路が短かく
、寿命試験中に静電容量が大きく減少してしまうという
３つの重大な欠点があった。
表面に陽極酸化皮膜を形威するが、熱衝撃試験を行なう
と、外部引出しリード線表面の陽極酸化皮膜に熱ストレ
スによる亀裂が生じ、漏れ電流が著しく増大してしまう
。また、製品内部と外部雰囲気を遮断する目的で行なわ
れている封口体による封止で、封口体と外部引出しリー
ド線の接触部分が、封口体および、外部引出しリード線
表面が平滑なため、製品内部から外部への径路が短かく
、寿命試験中に静電容量が大きく減少してしまうという
３つの重大な欠点があった。
本発明は、この様な従来の欠点を解決するもので、外部
引出しリード線の表面をエッチング粗面化し、面積拡大
を図り、しかも、陽極酸化皮膜の破壊を極小にするもの
で、外部引出しリード線の部分の静電容量を電極箔の静
電容量に付加し、さらに漏れ電流の増大なく、静電容量
の減少も小さい、小形大容量で安定した特性を有する高
信頼性の固体電解質として加熱溶融したＴＣＮＱ塩を含
浸させた固体電解コンデンサを提供しようとするもので
ある。
引出しリード線の表面をエッチング粗面化し、面積拡大
を図り、しかも、陽極酸化皮膜の破壊を極小にするもの
で、外部引出しリード線の部分の静電容量を電極箔の静
電容量に付加し、さらに漏れ電流の増大なく、静電容量
の減少も小さい、小形大容量で安定した特性を有する高
信頼性の固体電解質として加熱溶融したＴＣＮＱ塩を含
浸させた固体電解コンデンサを提供しようとするもので
ある。
課題を解決するための手段
この目的を達戒するために本発明は、外部引出しリード
線の表面をエッチング粗面化，拡面化し、固体電解質と
して加熱溶融したＴＣＮＱ塩を含浸させた固体電解コン
デンサとするものである。
線の表面をエッチング粗面化，拡面化し、固体電解質と
して加熱溶融したＴＣＮＱ塩を含浸させた固体電解コン
デンサとするものである。
作用
前記のように構威された固体電解コンデンサにおいて、
外部引出しリード線の表面をエッチング粗面化，拡面化
することにより、外部引出しリード線の部分の静電容量
を電極箔の静電容量に付加し、熱ストレスによる漏れ電
流の増大なく、寿命試験での容量減少も僅かの、小形大
容量で安定した特性を有する高信頼性のものである。
外部引出しリード線の表面をエッチング粗面化，拡面化
することにより、外部引出しリード線の部分の静電容量
を電極箔の静電容量に付加し、熱ストレスによる漏れ電
流の増大なく、寿命試験での容量減少も僅かの、小形大
容量で安定した特性を有する高信頼性のものである。
実施例
以下、従来例および本発明の実施例を添付の図面を用い
て説明する。
て説明する。
先ず、従来の加熱溶融したＴＣＮＱ塩を固体電解質とし
て用いた固体電解コンデンサは、第１図において、１は
アルミニウムよりなるケースであり、このケース１には
コンデンサ素子２が収納されている。このコンデンサ素
子２は、アルミニウム箔をエッチングなどの方法により
表面積を拡大した後、陽極酸化させた陽極箔３と陽極酸
化させた陽極引出しリード線４を接続し、さらに同様の
処理を施した陰極箔５と陰極引出しリード線６を接続し
た後、紙などのセパレータ７を介して巻回して構威され
ており、この巻回素子を２７０（％）４０秒間加熱溶融
させたＴＣＮＱ塩に浸漬し、浸漬後１５秒で急激に室温
まで冷却させＴＣＮＱ塩を固化させた。この際巻回素子
は加熱容融したＴＣＮＱ塩を含浸する直前に２７０ （
℃）まで予熱しておいた７このようにして加熱溶融した
ＴＣＮＱ塩を含浸し冷却固化したコンデンサ素子を封口
体８でケース１の開口部に封着させて固体電解コンデン
サを構威されている。
て用いた固体電解コンデンサは、第１図において、１は
アルミニウムよりなるケースであり、このケース１には
コンデンサ素子２が収納されている。このコンデンサ素
子２は、アルミニウム箔をエッチングなどの方法により
表面積を拡大した後、陽極酸化させた陽極箔３と陽極酸
化させた陽極引出しリード線４を接続し、さらに同様の
処理を施した陰極箔５と陰極引出しリード線６を接続し
た後、紙などのセパレータ７を介して巻回して構威され
ており、この巻回素子を２７０（％）４０秒間加熱溶融
させたＴＣＮＱ塩に浸漬し、浸漬後１５秒で急激に室温
まで冷却させＴＣＮＱ塩を固化させた。この際巻回素子
は加熱容融したＴＣＮＱ塩を含浸する直前に２７０ （
℃）まで予熱しておいた７このようにして加熱溶融した
ＴＣＮＱ塩を含浸し冷却固化したコンデンサ素子を封口
体８でケース１の開口部に封着させて固体電解コンデン
サを構威されている。
次に、本発明の実施例による加熱溶融したＴＣＮＱ塩を
固体電解質として用いた固体電解コンデンサは、第１図
において、陽極引出しリード線４および陰極引出しリー
ド線６の表面をエッチング粗面化，拡面化した構成とな
っており、その他の部品材料および、固体電解コンデン
サの作り方は、従来例と全く同じである。
固体電解質として用いた固体電解コンデンサは、第１図
において、陽極引出しリード線４および陰極引出しリー
ド線６の表面をエッチング粗面化，拡面化した構成とな
っており、その他の部品材料および、固体電解コンデン
サの作り方は、従来例と全く同じである。
上記の陽極引出しリード線４と陰極引出しリード線のエ
ッチング粗面化，拡面化については、各各、陽極箔３お
よび陰極箔５と同じである。この様な引出しリードを用
いると、第２図の中のＣいおよびＣ１。がエッチング拡
面化した分だけ大きくなり、全体静電容量も大きくなる
。また、熱衝撃試験を行なうと、陽極引出しリード線４
の素材と表面の陽極酸化皮膜の線膨脹率の違いがあって
も、粗面化によってバッファ一効果が得られ、陽極酸化
皮膜に熱ストレスによる亀裂が生じることがなく、従っ
て第２図のＲｔ が小さくなることなく安定した漏れ電
流特性を引出すことが可能である。また、製品内部と外
部雰囲気を遮断する目的で行なわれている封口体による
封止で、封口体と接触する外部引出しリード線表面が粗
面化されており、製品内部から外部への径路が長くなり
、寿命試験中でも静電容量が大きく減少してしまうこと
なく、きわめて安定した特性を引き出すことができ、高
信頼性となることが可能である。
ッチング粗面化，拡面化については、各各、陽極箔３お
よび陰極箔５と同じである。この様な引出しリードを用
いると、第２図の中のＣいおよびＣ１。がエッチング拡
面化した分だけ大きくなり、全体静電容量も大きくなる
。また、熱衝撃試験を行なうと、陽極引出しリード線４
の素材と表面の陽極酸化皮膜の線膨脹率の違いがあって
も、粗面化によってバッファ一効果が得られ、陽極酸化
皮膜に熱ストレスによる亀裂が生じることがなく、従っ
て第２図のＲｔ が小さくなることなく安定した漏れ電
流特性を引出すことが可能である。また、製品内部と外
部雰囲気を遮断する目的で行なわれている封口体による
封止で、封口体と接触する外部引出しリード線表面が粗
面化されており、製品内部から外部への径路が長くなり
、寿命試験中でも静電容量が大きく減少してしまうこと
なく、きわめて安定した特性を引き出すことができ、高
信頼性となることが可能である。
又、従来の陽極引出しリード線と陰極引出しリード線を
用いた場合、その表面は平滑である。
用いた場合、その表面は平滑である。
そのため、第２図の中のＣｌ＾とＣｌ．はきわめて小さ
く、電極箔の静電容量と比較するとＯに等しく全体静電
容量は電極箔の静電容量で示される。また、熱衝撃試験
を行なうと、陽極引出しリード線４の素材と表面の陽極
酸化皮膜の線膨脹率の違いによって陽極酸化皮膜に熱ス
トレスによる亀裂が生じ、第２図のＲｌ が小さくなり
、従って漏れ電流が増大する。また、寿命試験を行なう
と外部引出しリード線の封口体と接触する部分が平滑な
ため製品内部と外部への径路が短く静電容量が大きく減
少してしまい、きわめて不安定な製品特性となる。
く、電極箔の静電容量と比較するとＯに等しく全体静電
容量は電極箔の静電容量で示される。また、熱衝撃試験
を行なうと、陽極引出しリード線４の素材と表面の陽極
酸化皮膜の線膨脹率の違いによって陽極酸化皮膜に熱ス
トレスによる亀裂が生じ、第２図のＲｌ が小さくなり
、従って漏れ電流が増大する。また、寿命試験を行なう
と外部引出しリード線の封口体と接触する部分が平滑な
ため製品内部と外部への径路が短く静電容量が大きく減
少してしまい、きわめて不安定な製品特性となる。
以上の様に本発明の固体電解コンデンサは、製品静電容
量を増大させ且つ安定した漏れ電流特性を実現でき、静
電容量電化率の小さい高い信頼性を実現できるものであ
る。
量を増大させ且つ安定した漏れ電流特性を実現でき、静
電容量電化率の小さい高い信頼性を実現できるものであ
る。
以下、本発明による具体例について述べる。
（実施例１）
陽極引出しリード線および陰極引出しリード線を正りん
酸２（％’）８０ （’Ｃ）の水溶液中に１分浸漬脱脂
し水洗ののち、塩酸１０（％）２５ （℃）の水溶液中
で５ （Ｈｚ）の正弦波交流を０．１（Ａ／ ｃｎ？
）の電流密度で３分印加してエッチングを行ない、硫酸
５（％）６０（’Ｃ）水溶液に１分間浸漬し、塩素分を
取除き、水洗，乾燥させた後、それぞれ、陽極箔，陰極
箔と接続し、１６（Ｖ）／（μＦ）（φ３ｘ５ｅ）の定
格で内部素子を巻取り、電解液を含浸して組立て、エー
ジング処理を施し、固体電解コンデンサを作製した。
酸２（％’）８０ （’Ｃ）の水溶液中に１分浸漬脱脂
し水洗ののち、塩酸１０（％）２５ （℃）の水溶液中
で５ （Ｈｚ）の正弦波交流を０．１（Ａ／ ｃｎ？
）の電流密度で３分印加してエッチングを行ない、硫酸
５（％）６０（’Ｃ）水溶液に１分間浸漬し、塩素分を
取除き、水洗，乾燥させた後、それぞれ、陽極箔，陰極
箔と接続し、１６（Ｖ）／（μＦ）（φ３ｘ５ｅ）の定
格で内部素子を巻取り、電解液を含浸して組立て、エー
ジング処理を施し、固体電解コンデンサを作製した。
（実施例２）
陽極引出しリード線および陰極引出しリード線を正りん
酸２（％）８０（℃）の水溶液中に１分浸漬脱脂し水洗
ののち、塩酸１０（％）３０（℃〉の水溶液中で１５（
Ｈｚ）の正弦波交流を０．２（ Ａ ／ ｃｄ ）の電
流密度で１分３０秒印加し、エッチングを行ない、硫酸
５（％）６０ １）水溶液に１分間浸漬し、塩素分を取
除き、水洗，乾燥させた後、実施例１と同じ方法で固体
電解コンデンサを作製した。
酸２（％）８０（℃）の水溶液中に１分浸漬脱脂し水洗
ののち、塩酸１０（％）３０（℃〉の水溶液中で１５（
Ｈｚ）の正弦波交流を０．２（ Ａ ／ ｃｄ ）の電
流密度で１分３０秒印加し、エッチングを行ない、硫酸
５（％）６０ １）水溶液に１分間浸漬し、塩素分を取
除き、水洗，乾燥させた後、実施例１と同じ方法で固体
電解コンデンサを作製した。
（実施例３〉
陽極引出しリード線および陰極引出しリード線を正りん
酸２（％）８０（℃）の水溶液中に１分浸漬脱脂し水洗
ののち、塩酸１０（％）５５ （’Ｃ）の水溶液中で１
２０（Ｈｚ）の正弦波交流を０．８（ Ａ ／ ｃｎｒ
）の電流密度で２０秒印加し、エッチングを行ない、
硫酸５（％）６０ （℃）水溶液に１分間浸漬し、塩素
分を取除き、水洗，乾燥させた後、実施例１と同じ方法
で固体電解コンデンサを作製した。
酸２（％）８０（℃）の水溶液中に１分浸漬脱脂し水洗
ののち、塩酸１０（％）５５ （’Ｃ）の水溶液中で１
２０（Ｈｚ）の正弦波交流を０．８（ Ａ ／ ｃｎｒ
）の電流密度で２０秒印加し、エッチングを行ない、
硫酸５（％）６０ （℃）水溶液に１分間浸漬し、塩素
分を取除き、水洗，乾燥させた後、実施例１と同じ方法
で固体電解コンデンサを作製した。
（従来例）
陽極引出しリード線および陰極引出しリード線を正りん
酸２（％）８０ （℃）の水溶液中に１分浸漬脱脂し、
水洗，乾燥ののち、陽極引出しリード線および陰極引出
しリード線の表面が平滑な状態で実施例１と同じ方法で
固体電解コンデンサを作製した。
酸２（％）８０ （℃）の水溶液中に１分浸漬脱脂し、
水洗，乾燥ののち、陽極引出しリード線および陰極引出
しリード線の表面が平滑な状態で実施例１と同じ方法で
固体電解コンデンサを作製した。
実施例および従来例で用いた固体電解コンデンサの静電
容量，損失角の正接，漏れ電流の初期特性を第１表に示
す。また、−５５〜＋１０５（℃）の熱衝撃試験後の静
電容量，損失角の正接，漏れ電流の測定結果を第２表に
示す。また、１０５（℃）寿命試験の静電容量変化率の
グラフを第３図に示す。
容量，損失角の正接，漏れ電流の初期特性を第１表に示
す。また、−５５〜＋１０５（℃）の熱衝撃試験後の静
電容量，損失角の正接，漏れ電流の測定結果を第２表に
示す。また、１０５（℃）寿命試験の静電容量変化率の
グラフを第３図に示す。
第１表 初期待性 ｎ＝５
〈以
下
余
白）
第２表
５５〜＋１０５（’Ｃ）熱衝撃試験後の製品特性
ｎ＝５ 以上の結果からもわかる様に、実施例ｌ，２．３は従来
例に比べ、初期の静電容量が大きく、熱衝撃試験後の漏
れ電流も初期特性に対して劣化も小さく、静電容量変化
率も小さい高い信頼性をもつ優れた特性を示すことは明
らかである。
ｎ＝５ 以上の結果からもわかる様に、実施例ｌ，２．３は従来
例に比べ、初期の静電容量が大きく、熱衝撃試験後の漏
れ電流も初期特性に対して劣化も小さく、静電容量変化
率も小さい高い信頼性をもつ優れた特性を示すことは明
らかである。
発明の効果
以上のように本発明は、製品静電容量を増大させ、且つ
熱ストレスによる漏れ電流の増大をきたすことなく、静
電容量変化率が小さい高信頼性の小形大容量で安定した
製品特性を有する固体電解質として加熱容融したＴＣＮ
Ｑ塩を含浸させた固体電解コンデンサを安価に提供する
もので、その実用的効果は大なるものである。
熱ストレスによる漏れ電流の増大をきたすことなく、静
電容量変化率が小さい高信頼性の小形大容量で安定した
製品特性を有する固体電解質として加熱容融したＴＣＮ
Ｑ塩を含浸させた固体電解コンデンサを安価に提供する
もので、その実用的効果は大なるものである。
第１図は本発明の一実施例による固体電解質として加熱
容融したＴＣＮＱ塩を含浸させた固体電解コンデンサの
構造を示す斜視図、第２図は固体電解コンデンサの等価
回路図、第゛３図は本発明の実施例および従来例の固体
電解コンデンサの寿命試験における静電容量変化率の特
性図である。 １・・・・・・ケース、２・・・・・・コンデンサ素子
、３・・・・・・陽極箔、４・・・・・・陽極引出しリ
ード線、６・・・・・・陰極箔、６・・・・・・陰極引
出しリード線、７・・・・・・セパレータ、８・・・・
・・封口体。
容融したＴＣＮＱ塩を含浸させた固体電解コンデンサの
構造を示す斜視図、第２図は固体電解コンデンサの等価
回路図、第゛３図は本発明の実施例および従来例の固体
電解コンデンサの寿命試験における静電容量変化率の特
性図である。 １・・・・・・ケース、２・・・・・・コンデンサ素子
、３・・・・・・陽極箔、４・・・・・・陽極引出しリ
ード線、６・・・・・・陰極箔、６・・・・・・陰極引
出しリード線、７・・・・・・セパレータ、８・・・・
・・封口体。
Claims (1)
- 電極箔に接続される外部引出しリード線の表面をエッチ
ング粗面化，拡面化し、有機半導体を含浸してなる固体
電解コンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8886389A JPH0354811A (ja) | 1989-04-07 | 1989-04-07 | 固体電解コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8886389A JPH0354811A (ja) | 1989-04-07 | 1989-04-07 | 固体電解コンデンサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0354811A true JPH0354811A (ja) | 1991-03-08 |
Family
ID=13954840
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8886389A Pending JPH0354811A (ja) | 1989-04-07 | 1989-04-07 | 固体電解コンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0354811A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10003261B4 (de) * | 1999-01-27 | 2006-08-03 | Nichicon Corp. | Aluminium-Elektrolyt-Kondensator |
| DE10081696B4 (de) * | 1999-06-04 | 2006-10-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma | Kondensator und Verfahren zum Herstellen desselben |
-
1989
- 1989-04-07 JP JP8886389A patent/JPH0354811A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10003261B4 (de) * | 1999-01-27 | 2006-08-03 | Nichicon Corp. | Aluminium-Elektrolyt-Kondensator |
| DE10081696B4 (de) * | 1999-06-04 | 2006-10-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma | Kondensator und Verfahren zum Herstellen desselben |
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