JPH0351965A - パターンマッチング処理装置 - Google Patents

パターンマッチング処理装置

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JPH0351965A
JPH0351965A JP1187911A JP18791189A JPH0351965A JP H0351965 A JPH0351965 A JP H0351965A JP 1187911 A JP1187911 A JP 1187911A JP 18791189 A JP18791189 A JP 18791189A JP H0351965 A JPH0351965 A JP H0351965A
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JP
Japan
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image
dissidence
mismatch
points
memory
Prior art date
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Pending
Application number
JP1187911A
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English (en)
Inventor
Tomohiro Murakami
知広 村上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SANTETSUKU KK
Sunoco Inc R&M
Original Assignee
SANTETSUKU KK
Sunoco Inc R&M
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Publication date
Application filed by SANTETSUKU KK, Sunoco Inc R&M filed Critical SANTETSUKU KK
Priority to JP1187911A priority Critical patent/JPH0351965A/ja
Publication of JPH0351965A publication Critical patent/JPH0351965A/ja
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  • Image Analysis (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は物品の検査工程等に用いられ、基準画像と検出
された入力画像との一致を判別するパターンマッチング
を行うパターンマソチング処理装置に関するものである
〔従来の技術〕
電子部品や電子回路を実装した基板等の外観を検査する
外観検査としては、目視による検査から自動による検査
が行われるようになっている。特に電子部品が微細化し
たり基板の高密度化に伴って目視検査が不可能となるた
め、外観検査の自動化が進められている。そのため自動
外観検査装置としては高分解能の画像データを取込み処
理することができる画像処理装置が必要となる。
このような画像処理装置としては、高速で入力画像と基
準画像との一致を判定することができるパターンマッチ
ング法が広い分野で用いられている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかるにこのようなパターンマソチング法では、基準画
像と入力画像とを比較し全画面に渡って不一致点を計数
し、得られた不一致点数と許容不一致点数とを比較する
ことによって入力画像の良否を判定するようにしている
。しかしこのようなパターンマソチング処理方法におい
て通常入力画像にはノイズが含まれているため、基準画
像と一致した物品を画像データとして取込んでパターン
マッチングを行う場合にも、不一致点数は零とはならず
ある値となる。そして画像処理系のピクセル数を多くし
高い分解能とした場合には、ノイズが検出され易く実際
の不一致部分である欠陥のピクセル数よりもノイズによ
り生じる不一致点数が多くなる場合がある。例えばピク
セルを256 X 256の分解能を有する画像処理装
置によって不一致点数を判別する場合、ノイズにより平
均1個の不一致点が生したとすると、(2048 X 
2048)の画素数を持つ画像処理装置では64個のノ
イズによる不一致点が常に生じている。従って画素数を
増加しても入力画像の細かい欠陥は全く検出できないこ
とがあるという問題点があった。
本発明はこのような従来のパターンマソチング法の問題
点に鑑みてなされたものであって、ノイズに基づく不一
致点数は全画面に渡ってほぼ均等に分布するという経験
則に基づいて、画像の同一性を正確に判別できるように
することを技術的課題とする。
〔課題を解決するための手段] 本発明は(X,Y)のピクセルの二値画像から戊る少な
くとも■つの基準画像データ、及びこれと同一のピクセ
ルを有する画像データとのピクセル単位の不一致数によ
り画像の同一性を判別するパターンマッチング処理装置
であって、基準画像データを保持する画像メモリと、基
準画像データと同一のピクセルを有しライン毎に得られ
る入力画像信号に同期して、順次画像メモリの画像デー
タを走査して読出す読出手段と、入力画像信号と画像メ
モリから読出された信号が与えられピクセル毎にその不
一致を判別する不一致判別回路と、読出手段のX方向及
びY方向のアドレスの上位ビットがアドレス信号として
与えられ基準画像をX方向及びY方向に複数の領域に分
割した各領域についての不一致点数を保持する不一致点
計数メモリと、読出手段の上位アドレス出力によって指
定され、分割された各領域について不一致点数のデータ
と不一致判別回路の出力とを加算して再び不一致点メモ
リに書込む加算手段と、加算手段より得られる各領域に
ついての不一致点数を所定の閾値レベルで判別すること
により画像の同一性を判別する制御手段と、を有するこ
とを特徴とするものである。
〔作用〕
このような特徴を有する本発明によれば、入力画像信号
に同期して画像メモリに保持された基準画像データを読
出手段によって読出してその2つの画像データの不一致
点数を計数している。そして読出アドレスの上位ビット
をデコードすることにより画像メモリの画像を複数の領
域に分割し、夫々の領域毎の不一致点数を保持する不一
致点メモリより読出し、不一致状態があれば加算手段に
より加算して同一領域に書込むことによって各領域毎の
不一致点数を計数している。従って分割された各領域で
所定数以下の不一致点数を除いてそれを越える不一致点
数に基づいて基準画像と入力画像データとの同一性を判
別するようにしている。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例によるパターンマ・ノチング
処理装置の全体構戒を示すプロソク図である。さて本実
施例のパターンマソチング処理装置には物品からの信号
を図示しない画像入力装置、例えばCCDカメラ等によ
って取込んだ入力画像信号が加えられる。入力画像信号
は各ライン毎にX方向に走査されてシリアル信号として
伝えられる。又本実施例では入力画像信号と所定のピク
セル数、例えば(2048 X 2048) ピクセル
の基準パターンを記憶する基準画像メモリ1を有してい
る。
基準画像メモリ1は第2図(alに示すように基準画像
、例えばrTJの画像を保持するメモリとする。
そしてこの入力画像信号に同期して基準画像メモリlよ
り読出手段2によって基準画像信号が読出される。読出
手段2は例えば第1図に示すように入力画像の各ドット
の走査時間に対応した周波数を発振するクロック発生器
3、及びその出力が与えられるX方向の読出アドレスカ
ウンタ4,そのオーバーフロー出力が与えられるY方向
の読出アドレスカウンタ5を有している。X方向読出ア
ドレスカウンタ4は基準画像のX方向のピクセル数、即
ち2048のクロフクを計数するカウンタである。
又Y方向読出アドレスカウンタもこの基準画像のライン
数、本実施例では2048ラインを計数するカウンタと
する。X方向及びY方向のアドレスカウンタ4,5の計
数出力は基準画像メモリ1にアドレス信号として加えら
れ、基準画像メモリ1より第2図に示す基準画像パター
ンが読出される。そして読出された信号と入力画像信号
とが一致判別回路、本実施例では排他的論理和回路(以
下EOR回路という〉 6によって不一致が検出される
EOR回路6の出力は加算器7の一方の入力端Aに与え
られる。一方読出手段2のX方向及びY方向の上位ビッ
ト、本実施例では夫々2ビット分の上位アドレスがア.
ドレスセレクタ8に与えられる。
アドレスセレクタ8は後述するマイクロコンピュータ9
より得られるアドレスとこの上位各2ビットのアドレス
とを選択するものであり、その出力は不一致点計数メモ
リ10にアドレス信号として与えられる。
さてX方向及びY方向の読出力ウンタ4,5から与えら
れる上位アドレスを夫々2ビットとすると、第2図に示
した基準画像パターンの領域をX方向及びY方向に4分
割、即ち全画像をl6分割することとなり、基準画像の
読出走査時にそのときの分割された領域が指定される。
そしてこの分割された夫々の領域について不一致点計数
メモリIOで不一致点数を計数するようにしている。従
ってこの不一致点計数メモリ10はl6ワード分の記憶
容量を有するものとする。そして不一致点計数メモリ1
0より読出された出力は加算器7の他方の人力端B及び
データバンファ1lに加えられる。
加算器7はこの信号と不一致検出用のEOR回路6の出
力とにより不一致があれば読出された不一致点数をイン
クリメントしてデータセレクタ12に与える。又データ
バノファ11はこの信号を保持してデータセレクタ12
とマイクロコンピュータ9に与える。データセレクタ1
2はこれらの信号を選択し、加算時には再び不一致点計
数メモリ10の同一領域に書込むようにしている。又マ
イクロコンピュータ9は所定のプログラムを記憶するリ
ードオンリメモリ (R O M)及びデータを一時保
持するランダムアクセスメモリ (RAM)を有し、ア
ドレスセレクタ8とデータセレクタ12を制御すると共
に後述する処理手順に従って分割された領域についての
不一致点数に基づいてパターンマソチングの良否を判別
するものである。
次に本実施例の動作についてフローチャートを参照しつ
つ説明する。まず動作を開始するとマイクロコンピュー
タ9はアドレスセレクタ8のアドレスをマイクロコンピ
ュータ9の出力側に切換え、データ入力もマイクロコン
ピュータ9より与えることによって不一致点計数メモリ
lOの全ての領域に零をセントする(ステソプ21)。
そしてステソプ22に進んでアドレスセレクタ8及びデ
ータセレクタl2を読出千段2の上位アドレス及び加算
器7のデータに選択し、1画面の画像を入力する。
そして同時にクロック発生器3より出力されるクロック
をX方向読出アドレスカウンタ4及びY方向読出アドレ
スカウンタ5によって計数して入力画像と同期した基準
画像データを読出してEOR凹路6に与える。このとき
アドレスセレクタ8によってX方向及びY方向の上位ア
ドレスが選択されて不一致点計数メモリ10に与えられ
るため、第2図(a)に示すように夫々の走査の点で分
割された領域の不一致点数が読出されて加算器7の一方
の入力端に加えられている。従ってEOR回路6が不一
致を検出すればその出力とメモリの不一致点数が加算さ
れてデータセレクタ12を介して不一致点計数メモリ1
0に与えられる。従って1入力画面を全て掃引すること
によって分割された各領域(x,  y)毎に不一致点
計数メモリ10に不一致点数N (x,  y)が計数
される。さてマイクロコンピュータ9はステップ23に
進んでアドレスセレクタ8及びデータセレクタ12を夫
々マイクロコンピュータ9からのアドレスとデータバッ
ファ11のデータとに切換える。そして不一致点計数メ
モリ10の不一致点数N (x,y)を読取る。
そしてステップ24に進んで1つの領域で許容される不
一致点数Nthと計数された不一致点数N (x,y)
とを夫々の領域について比較する。前述したようにピク
セル数を多くすれば、゛各領域についてノイズ等によっ
て不一致点が図示のように検出される。しかしこの不一
致点数は分割された各領域毎に所定数、例えば4ピクセ
ル分の不一致数が平均してほぼ均等に分布するものとす
れば、このピクセル数Nth,例えば5ピクセル分以下
の不一致点数は無視すると共に、それを越える不一致点
数が得られたときには人力された画像画像の物品が良品
でないものと判別する。即ちステソプ25においてNt
h以上の領域が正常な物品と判別し(ステソプ26) 
、Nthを越える領域があれば不良品と判定して処理を
終了する。又第2図fb)に示すように入力画像に太り
欠陥31や細り欠陥32がある場合には、この点で多く
のピクセルについて不一致点が表れるため、所定の不一
致点を越える場合には画像が一敗していないものと判断
する。このような判別方法は通常のパターンマソチング
法による処理と同様である。
このように本発明では71パターンを複数の領域に分割
し、これによってノイズ等による不一致点数を除いて不
一致点数が多数表れる領域からの不一致点を検出するよ
うにしている。
又本実施例は1つの基準画像を基準画像メモリ1に記憶
し、排他的論理和によって入力画像信号との不一致点を
検出するようにしているが、基準画像より許容される範
囲で膨張した状態の膨張基準画像及び基準画像より許容
される範囲で縮小した縮小基準画像を基準画像メモリに
記憶し、その間の入力画像信号があれば許容される範囲
内とし、縮小基準画像より小さく又は膨張基準画像より
大きい入力画像が得られたときに不一致と判別するよう
にしてもよい。
〔発明の効果〕
そのため本発明によれば、入力画像信号の中にノイズ等
による不一致点が含まれる場合にも、不一致点は分割さ
れた各領域に分布しているためこのような不一致点数を
判定から除くことができる。
従って基準画像データのピクセル数を多くしても正確に
画像の同一性を判別することができるという効果が得ら
れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例によるパターンマッチング処
理装置の全体構戒を示すブロック図、第2図(a)はそ
の基準パターンの一例を示す図、第2図(blは入力画
像の一例を示す図、第3図は本実施例の動作を示すフロ
ーチャートである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)(X,Y)のピクセルの二値画像から成る少なく
    とも1つの基準画像データ、及びこれと同一のピクセル
    を有する画像データとのピクセル単位の不一致数により
    画像の同一性を判別するパターンマッチング処理装置で
    あって、 前記基準画像データを保持する画像メモリと、前記基準
    画像データと同一のピクセルを有しライン毎に得られる
    入力画像信号に同期して、順次前記画像メモリの画像デ
    ータを走査して読出す読出手段と、 前記入力画像信号と画像メモリから読出された信号が与
    えられピクセル毎にその不一致を判別する不一致判別回
    路と、 前記読出手段のX方向及びY方向のアドレスの上位ビッ
    トがアドレス信号として与えられ前記基準画像をX方向
    及びY方向に複数の領域に分割した各領域についての不
    一致点数を保持する不一致点計数メモリと、 前記読出手段の上位アドレス出力によって指定され、分
    割された各領域について不一致点数のデータと不一致判
    別回路の出力とを加算して再び不一致点メモリに書込む
    加算手段と、 前記加算手段より得られる各領域についての不一致点数
    を所定の閾値レベルで判別することにより画像の同一性
    を判別する制御手段と、を有することを特徴とするパタ
    ーンマッチング処理装置。
JP1187911A 1989-07-19 1989-07-19 パターンマッチング処理装置 Pending JPH0351965A (ja)

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JP1187911A Pending JPH0351965A (ja) 1989-07-19 1989-07-19 パターンマッチング処理装置

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JP (1) JPH0351965A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011109729A (ja) * 2011-03-10 2011-06-02 Mega Chips Corp 画像処理装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011109729A (ja) * 2011-03-10 2011-06-02 Mega Chips Corp 画像処理装置

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