JPH034999B2 - - Google Patents
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- JPH034999B2 JPH034999B2 JP62139732A JP13973287A JPH034999B2 JP H034999 B2 JPH034999 B2 JP H034999B2 JP 62139732 A JP62139732 A JP 62139732A JP 13973287 A JP13973287 A JP 13973287A JP H034999 B2 JPH034999 B2 JP H034999B2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000004044 response Effects 0.000 description 5
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 4
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
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- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
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- Static Random-Access Memory (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、電流切換型メモリセルを有するバ
イポーラメモリ回路の如きメモリ回路に関する。
イポーラメモリ回路の如きメモリ回路に関する。
電流切換型メモリセルを有するバイポーラメモ
リ回路は、情報の読み出しサイクルと書き込みサ
イクルの区別を書き込み制御信号を受けることに
よつて行なつている。
リ回路は、情報の読み出しサイクルと書き込みサ
イクルの区別を書き込み制御信号を受けることに
よつて行なつている。
そのため、例えば読み出しサイクル期間におい
て書き込み制御信号に雑音が加わると誤動作の原
因となる。
て書き込み制御信号に雑音が加わると誤動作の原
因となる。
上記の雑音等に対し回路が誤動作しないように
するために特開昭52−35535号公報に記載されて
いるように書き込み制御信号と、これを遅延させ
た信号とを論理合成し、その遅延時間以下のパル
ス雑音を除去する方法がある。しかしながら、上
記の公知の方法によると、論理合成の結果、書き
込み時間が減少するので、外部から供給する書き
込み制御信号のパルス幅を大きくしなければなら
ず、そのため書き込みサイクル期間が長くなつて
しまう。
するために特開昭52−35535号公報に記載されて
いるように書き込み制御信号と、これを遅延させ
た信号とを論理合成し、その遅延時間以下のパル
ス雑音を除去する方法がある。しかしながら、上
記の公知の方法によると、論理合成の結果、書き
込み時間が減少するので、外部から供給する書き
込み制御信号のパルス幅を大きくしなければなら
ず、そのため書き込みサイクル期間が長くなつて
しまう。
この発明は、高速で安定した書き込み動作が行
なわれるメモリ回路を提供することにある。
なわれるメモリ回路を提供することにある。
この発明の他の目的は、書き込み制御信号の印
加タイミングマージンを大きくできるメモリ回路
を提供することにある。
加タイミングマージンを大きくできるメモリ回路
を提供することにある。
この発明の他の目的は、情報読み出し回路の動
作電流の変化によつて生ずる基準電位の小さいメ
モリ回路を提供することにある。
作電流の変化によつて生ずる基準電位の小さいメ
モリ回路を提供することにある。
この発明の更に他の目的は、以下の説明及び図
面から明らかとなるであろう。
面から明らかとなるであろう。
この発明に従うと、外部から供給される書き込
み制御信号に対して所定の時間遅れを有し、か
つ、そのパルス幅に無関係に一定となるパルス幅
の信号を形成するパルス発生回路が設けられ、こ
のパルス発生回路の出力信号が実質的にメモリセ
ルのための書き込み制御信号とされる。
み制御信号に対して所定の時間遅れを有し、か
つ、そのパルス幅に無関係に一定となるパルス幅
の信号を形成するパルス発生回路が設けられ、こ
のパルス発生回路の出力信号が実質的にメモリセ
ルのための書き込み制御信号とされる。
以下、実施例とともに、この発明を詳細に説明
する。
する。
第1図は、この発明の一実施例を示すバイポー
ラメモリ回路のブロツク図である。
ラメモリ回路のブロツク図である。
1はメモリアレイであり、後で第3図から明ら
かとなるような複数の電流切替(エミツタ結合)
型メモリセルと複数のワード線W11ないしW321
と、複数のデイジツト線D1ないしD64とを含んで
いる。
かとなるような複数の電流切替(エミツタ結合)
型メモリセルと複数のワード線W11ないしW321
と、複数のデイジツト線D1ないしD64とを含んで
いる。
2はXアドレスデコーダであり、複数ビツトの
アドレス信号A0ないしA4を受けることにより、
上記メモリアレイ1の複数のワード線のうちの1
本を選択するためのXアドレス選択信号を形成す
る。
アドレス信号A0ないしA4を受けることにより、
上記メモリアレイ1の複数のワード線のうちの1
本を選択するためのXアドレス選択信号を形成す
る。
3はワードドライバであり、上記Xアドレスデ
コーダ2の出力を受けることによつて上記ワード
線の選択を行なう。
コーダ2の出力を受けることによつて上記ワード
線の選択を行なう。
4はYアドレスデコーダであり、複数ビツトの
アドレス信号A5ないしA9を受けることにより上
記メモリアレイの複数のデイジツト線を選択する
ためのYアドレス選択信号Y1ないしY32を形成す
る。
アドレス信号A5ないしA9を受けることにより上
記メモリアレイの複数のデイジツト線を選択する
ためのYアドレス選択信号Y1ないしY32を形成す
る。
5は、デイジツト線選択回路であり、上記Yア
ドレス選択信号によつて上記メモリアレイの複数
のデイジツト線を選択する。
ドレス選択信号によつて上記メモリアレイの複数
のデイジツト線を選択する。
第3図に上記第1図のメモリアレイ1、Xアド
レスデコーダ2、ワードドライバ3及びデイジツ
ト線選択回路5の具体例が示されている。
レスデコーダ2、ワードドライバ3及びデイジツ
ト線選択回路5の具体例が示されている。
メモリアレイ1は、それぞれが抵抗R1,R1、
ダイオードD1,D2及びマルチエミツタトランジ
スタQ1,Q2によつて構成されマトリクス配置さ
れたメモリセルMS11ないしMS22、同一行に配置
された複数のメモリセルに共通に接続されたワー
ド線W11,W21、同一行に配置された複数のメモ
リセルに共通に接続された下側ワード線W12,
W22、上記下側ワード線W12,W22と負電源端子
VEEとの間に接続された保持電流限IR1,IR2及び
同一列に配置された複数のメモリセルに共通に接
続されたデイジツト線D1ないしD4とから構成さ
れている。
ダイオードD1,D2及びマルチエミツタトランジ
スタQ1,Q2によつて構成されマトリクス配置さ
れたメモリセルMS11ないしMS22、同一行に配置
された複数のメモリセルに共通に接続されたワー
ド線W11,W21、同一行に配置された複数のメモ
リセルに共通に接続された下側ワード線W12,
W22、上記下側ワード線W12,W22と負電源端子
VEEとの間に接続された保持電流限IR1,IR2及び
同一列に配置された複数のメモリセルに共通に接
続されたデイジツト線D1ないしD4とから構成さ
れている。
Xアドレスデコーダ2は、入力アドレス信号に
対しその反転信号と非反転信号とを出力するアド
レスバツフアBA0ないしBA4と、それぞれのベー
スに上記アドレスバツフアBA0ないしBA4の出力
信号を選択的に受けるトランジスタQ3ないしQ4
と、ベースに基準電圧E1を受けるトランジスタ
Q5と抵抗R3,R4とから構成されたノア回路2
1′ないし25′とから構成されている。
対しその反転信号と非反転信号とを出力するアド
レスバツフアBA0ないしBA4と、それぞれのベー
スに上記アドレスバツフアBA0ないしBA4の出力
信号を選択的に受けるトランジスタQ3ないしQ4
と、ベースに基準電圧E1を受けるトランジスタ
Q5と抵抗R3,R4とから構成されたノア回路2
1′ないし25′とから構成されている。
ワードドライバ3は、それぞれがエミツタフオ
ロワトランジスタがQ6を含むエミツタフオロワ
回路31ないし35から構成されている。
ロワトランジスタがQ6を含むエミツタフオロワ
回路31ないし35から構成されている。
デイジツト線選択回路5は、書き込み及び読み
出し回路51、選択回路52及び定電流回路53
から構成されている。
出し回路51、選択回路52及び定電流回路53
から構成されている。
書き込み及び読み出し回路51は、デイジツト
線D1ないしD4に対応して設けられたトランジス
タQ7ないしQ10を含んでいる。一対のデイジツト
線D1とD2,D3とD4のうちの一方のデイジツト線
D1,D3にエミツタが接続されたトランジスタQ7
とQ9は、コレクタがセンス線S1に共通接続され、
ベースが書き込み線W1に共通接続されている。
同様に他方のデイジツト線D2,D4に接続された
トランジスタQ8とQ10はコレクタが上記センス線
S1と対をなすセンス線S2に共通接続され、ベース
が上記書き込み線W1と対をなす書き込み線W0に
共通接続されている。
線D1ないしD4に対応して設けられたトランジス
タQ7ないしQ10を含んでいる。一対のデイジツト
線D1とD2,D3とD4のうちの一方のデイジツト線
D1,D3にエミツタが接続されたトランジスタQ7
とQ9は、コレクタがセンス線S1に共通接続され、
ベースが書き込み線W1に共通接続されている。
同様に他方のデイジツト線D2,D4に接続された
トランジスタQ8とQ10はコレクタが上記センス線
S1と対をなすセンス線S2に共通接続され、ベース
が上記書き込み線W1と対をなす書き込み線W0に
共通接続されている。
選択回路52は、上記デイジツト線D1ないし
D4に対応して設けられたトランジスタQ11ないし
Q14を含んでいる。一対のデイジツト線D1とD2に
対応させられたトランジスタQ11とQ12のベース
にはYアドレスデコーダ5のYアドレス選択信号
Y1が供給され、同様に他の一対のデイジツト線
D3とD4に対応させられたトランジスタQ13とQ14
のベースにはYアドレス選択信号Y2が供給され
る。
D4に対応して設けられたトランジスタQ11ないし
Q14を含んでいる。一対のデイジツト線D1とD2に
対応させられたトランジスタQ11とQ12のベース
にはYアドレスデコーダ5のYアドレス選択信号
Y1が供給され、同様に他の一対のデイジツト線
D3とD4に対応させられたトランジスタQ13とQ14
のベースにはYアドレス選択信号Y2が供給され
る。
定電流回路53は、それぞれのデイジツト線
D1ないしD4と負電源端子VEEとの間に接続された
定電流手段IR3ないしIR6から構成されている。
D1ないしD4と負電源端子VEEとの間に接続された
定電流手段IR3ないしIR6から構成されている。
上記メモリアレイ1のメモリセルの選択、非選
択及び選択時の情報の読み出し、書き込みは、デ
イジツト線に共通接続されメモリセルのトランジ
スタと、読み出し書き込み回路51のトランジス
タと選択回路の52のトランジスタとの電流切換
動作に応じて決められる。
択及び選択時の情報の読み出し、書き込みは、デ
イジツト線に共通接続されメモリセルのトランジ
スタと、読み出し書き込み回路51のトランジス
タと選択回路の52のトランジスタとの電流切換
動作に応じて決められる。
すなわち、非選択のワード線は比較的低電位
(以下VLと称する)にされ、選択のワード線はこ
のワード線に接続されたメモリセルにおける2つ
のトランジスタQ1,Q2のコレクタ電位のうちの
低い方の電位が、上記の非選択のワード線に接続
されたメモリセルにおける2つのトランジスタ
Q1,Q2のコレクタ電位のうちの高い方の電位よ
りも高くなるように比較的高電位(以下VHと称
する)にされる。
(以下VLと称する)にされ、選択のワード線はこ
のワード線に接続されたメモリセルにおける2つ
のトランジスタQ1,Q2のコレクタ電位のうちの
低い方の電位が、上記の非選択のワード線に接続
されたメモリセルにおける2つのトランジスタ
Q1,Q2のコレクタ電位のうちの高い方の電位よ
りも高くなるように比較的高電位(以下VHと称
する)にされる。
非選択のYアドレス選択線の電位は、上記VH
よりも若干高いような高電位(以下VYHと称す
る)にされ、選択のYアドレス選択線の電位は、
選択されたワード線に接続されたメモリセルにお
ける2つのトランジスタQ1,Q2の低い方のコレ
クタ電位よりも低い電位(以下VYLと称する)に
される。
よりも若干高いような高電位(以下VYHと称す
る)にされ、選択のYアドレス選択線の電位は、
選択されたワード線に接続されたメモリセルにお
ける2つのトランジスタQ1,Q2の低い方のコレ
クタ電位よりも低い電位(以下VYLと称する)に
される。
書き込み線W1,W0は、読み出し時において、
選択のワード線に接続されたメモリセルのトラン
ジスタQ1のコレクタ電位のトランジスタQ2のコ
レクタ電位との中間の基準電位(以下VRと称す
る)にされ、書き込み時において、書き込むべき
情報に応じて選択された一方が上記の2つのコレ
クタ電位の低い電位よりも低い電位(以下LWLと
称する)にされ他方がほぼ上記の基準電位VRに
される。
選択のワード線に接続されたメモリセルのトラン
ジスタQ1のコレクタ電位のトランジスタQ2のコ
レクタ電位との中間の基準電位(以下VRと称す
る)にされ、書き込み時において、書き込むべき
情報に応じて選択された一方が上記の2つのコレ
クタ電位の低い電位よりも低い電位(以下LWLと
称する)にされ他方がほぼ上記の基準電位VRに
される。
例えば、Yアドレス選択線Y1が非選択の場合、
このYアドレス選択線Y1の高電位VYHによつて選
択回路52のトランジスタQ11とQ12とがオン状
態とされ、定電流手段とIR3,IR4にはこのトラ
ンジスタQ11,Q12から電流が供給される。その
ため、メモリセルMS11及びMS21においてデイジ
ツト線D1,D2に接続されたエミツタl1,l3はオフ
状態のままである。また、読み出し書き込み回路
51のトランジスタQ7,Q8もオフ状態のままで
ある。この場合、上記メモリセルMS11,MS21に
は、保持電流手段IR1,IR2によつて情報保持の
ための電流が流れる。
このYアドレス選択線Y1の高電位VYHによつて選
択回路52のトランジスタQ11とQ12とがオン状
態とされ、定電流手段とIR3,IR4にはこのトラ
ンジスタQ11,Q12から電流が供給される。その
ため、メモリセルMS11及びMS21においてデイジ
ツト線D1,D2に接続されたエミツタl1,l3はオフ
状態のままである。また、読み出し書き込み回路
51のトランジスタQ7,Q8もオフ状態のままで
ある。この場合、上記メモリセルMS11,MS21に
は、保持電流手段IR1,IR2によつて情報保持の
ための電流が流れる。
ワード線W11とYアドレス選択線Y1とによつて
メモリセルMS11が選択される。この場合、デイ
ジツト線D1,D2にエミツタが結合された各トラ
ンジスタ相互のベース電位によつて、選択回路5
2のトランジスタQ11,Q12はオフ状態である。
メモリセルMS11が選択される。この場合、デイ
ジツト線D1,D2にエミツタが結合された各トラ
ンジスタ相互のベース電位によつて、選択回路5
2のトランジスタQ11,Q12はオフ状態である。
特に制限されないが、メモリセルにおける記憶
情報の1がトランジスタQ1のオン状態とトラン
ジスタQ2のオフ状態に対応させられ、0がトラ
ンジスタQ1のオフ状態とQ2のオン状態に対応さ
せられる。
情報の1がトランジスタQ1のオン状態とトラン
ジスタQ2のオフ状態に対応させられ、0がトラ
ンジスタQ1のオフ状態とQ2のオン状態に対応さ
せられる。
読み出し時において上記の選択させたメモリセ
ルMS11の情報が1であるならば、このメモリセ
ルMS11のトランジスタQ1のベース電位はトラン
ジスタQ7のベース電位VRよりも高く、従つて上
記トランジスタQ1のエミツタl1から定電流手段
IR3に電流が流される。これに対し、トランジス
タQ2のベース電位はトランジスタQ8のベース電
位VRよりも低く、上記トランジスタQ8から定電
流手段IR4に電流が流される。上記の電流がセン
ス線S2に接続された負荷抵抗R6に電圧降下を起
させる。すなわち、選択されたメモリセルMS11
における記憶情報の1に応じてセンス線S1が高レ
ベルにされ、S2が低レベルにされる。
ルMS11の情報が1であるならば、このメモリセ
ルMS11のトランジスタQ1のベース電位はトラン
ジスタQ7のベース電位VRよりも高く、従つて上
記トランジスタQ1のエミツタl1から定電流手段
IR3に電流が流される。これに対し、トランジス
タQ2のベース電位はトランジスタQ8のベース電
位VRよりも低く、上記トランジスタQ8から定電
流手段IR4に電流が流される。上記の電流がセン
ス線S2に接続された負荷抵抗R6に電圧降下を起
させる。すなわち、選択されたメモリセルMS11
における記憶情報の1に応じてセンス線S1が高レ
ベルにされ、S2が低レベルにされる。
書き込み時において、例えば書き込み線W1が
低電位VWLにされ、W0が基準電位VRにされる。
この場合、メモリセルMS11のトランジスタQ1の
予めのオン状態、オフ状態に関係なく、このトラ
ンジスタQ1とトランジスタQ7との電流切替動作
により、このトランジスタQ1のエミツタl1から定
電流手段IR3に電流が流される。その結果、トラ
ンジスタQ1がオン状態とされ、メモリセルMS11
には情報としての1が書き込まれることになる。
低電位VWLにされ、W0が基準電位VRにされる。
この場合、メモリセルMS11のトランジスタQ1の
予めのオン状態、オフ状態に関係なく、このトラ
ンジスタQ1とトランジスタQ7との電流切替動作
により、このトランジスタQ1のエミツタl1から定
電流手段IR3に電流が流される。その結果、トラ
ンジスタQ1がオン状態とされ、メモリセルMS11
には情報としての1が書き込まれることになる。
第1図において、B2ないしB4はそれぞれ外部
から入力されるチツプ選択信号B、書き込み
制御信号、データ入力信号Dinを受ける入力
バツフア回路である。
から入力されるチツプ選択信号B、書き込み
制御信号、データ入力信号Dinを受ける入力
バツフア回路である。
上記バツフア回路B2は、バツフア回路B1とゲ
ート回路G1及びG2とに供給するための、入力の
チツプ選択信号と同相の信号を出力する。な
お、この実施例において、後述からも明らかとな
るようにチツプ、すなわちメモリ回路は上記のチ
ツプ選択信号の低レベルによつて選択状態と
され、高レベルによつて非選択状態とされる。
ート回路G1及びG2とに供給するための、入力の
チツプ選択信号と同相の信号を出力する。な
お、この実施例において、後述からも明らかとな
るようにチツプ、すなわちメモリ回路は上記のチ
ツプ選択信号の低レベルによつて選択状態と
され、高レベルによつて非選択状態とされる。
バツフア回路B3は、後述するパルス発生回路
6に供給するための入力の書き込み制御信号
と同相の信号と、上記バツフア回路B1に供給す
るための逆相の信号とを出力する。上記書き込み
制御信号は、メモリセルに情報を書き込むと
きに低レベルにされ、メモリセルから情報を読み
出すときに高レベルにされる。
6に供給するための入力の書き込み制御信号
と同相の信号と、上記バツフア回路B1に供給す
るための逆相の信号とを出力する。上記書き込み
制御信号は、メモリセルに情報を書き込むと
きに低レベルにされ、メモリセルから情報を読み
出すときに高レベルにされる。
バツフア回路B4は、ゲートG1に供給するため
の入力データ信号Dinに対し逆相の信号と、ゲー
ト回路G2に供給するための同相の信号とを出力
する。
の入力データ信号Dinに対し逆相の信号と、ゲー
ト回路G2に供給するための同相の信号とを出力
する。
パルス発生回路6は、第2図に示すように、上
記バツフア回路B3から供給された書き込み制御
信号を遅延させる第1の遅延回路7と、この
遅延回路7から出力される遅延信号と上記書き込
み制御信号とを入力とするNORゲート回路
G3と、このゲート回路G3の出力信号を遅延させ
る第2の遅延回路8と、上記ゲート回路G3の出
力をセツト入力とし、上記第2の遅延回路8の出
力をリセツト入力とするリセツト優先のフリツプ
フロツプ回路9とにより構成され、上記フリツプ
フロツプ回路9の反転出力から上記ゲート回路
G1,G2に入力する書き込み制御信号′を得る
ものである。
記バツフア回路B3から供給された書き込み制御
信号を遅延させる第1の遅延回路7と、この
遅延回路7から出力される遅延信号と上記書き込
み制御信号とを入力とするNORゲート回路
G3と、このゲート回路G3の出力信号を遅延させ
る第2の遅延回路8と、上記ゲート回路G3の出
力をセツト入力とし、上記第2の遅延回路8の出
力をリセツト入力とするリセツト優先のフリツプ
フロツプ回路9とにより構成され、上記フリツプ
フロツプ回路9の反転出力から上記ゲート回路
G1,G2に入力する書き込み制御信号′を得る
ものである。
ゲート回路G1は、上記のような入力バツフア
B2を介したチツプ選択信号とパルス発生回路
6を介した書き込み制御信号′と、バツフア回
路B4を介した入力データ信号Dinの反転信号とを
受けることにより、書き込み線W1に書き込み信
号を出力する。上記書き込み線W1における書き
込み信号は、上記パルス発生回路6から供給され
る書き込み制御信号′が高レベルのとき及び入
力データ信号Dinが情報の0に対応して低レベル
のとき、前記の基準電位VRとされ、上記書き込
み制御信号′が低レベルであり、かつ入力デー
タ信号Dinが情報の1に対応して高レベルである
とき前記の低電位VWLにされる。
B2を介したチツプ選択信号とパルス発生回路
6を介した書き込み制御信号′と、バツフア回
路B4を介した入力データ信号Dinの反転信号とを
受けることにより、書き込み線W1に書き込み信
号を出力する。上記書き込み線W1における書き
込み信号は、上記パルス発生回路6から供給され
る書き込み制御信号′が高レベルのとき及び入
力データ信号Dinが情報の0に対応して低レベル
のとき、前記の基準電位VRとされ、上記書き込
み制御信号′が低レベルであり、かつ入力デー
タ信号Dinが情報の1に対応して高レベルである
とき前記の低電位VWLにされる。
ゲート回路G2は、バツフア回路B4を介して入
力データ信号Dinと同様の信号を受ける他は上記
ゲート回路G1と同様な構成とされ、従つて、書
き込み制御信号′が低レベルであり、かつ入力
データ信号Dinが情報の0に対応して低レベルで
あるときのみ書き込み線W0に低電位VWLのレベ
ルの信号を出力し、それ以外では中間電位VRの
レベルの信号を出力する。
力データ信号Dinと同様の信号を受ける他は上記
ゲート回路G1と同様な構成とされ、従つて、書
き込み制御信号′が低レベルであり、かつ入力
データ信号Dinが情報の0に対応して低レベルで
あるときのみ書き込み線W0に低電位VWLのレベ
ルの信号を出力し、それ以外では中間電位VRの
レベルの信号を出力する。
上記構成の各回路ブロツクは、周知の半導体集
積回路技術によつて、1つの半導体基板上に形成
される。
積回路技術によつて、1つの半導体基板上に形成
される。
第5図は、上記構成のバイポーラメモリ回路の
タイムチヤートを示している。
タイムチヤートを示している。
チツプは、チツプ選択信号が時刻t0におい
て低レベルにされることに応じて選択状態とされ
る。
て低レベルにされることに応じて選択状態とされ
る。
次に、時刻t1においてアドレス信号Aiが選択す
べきメモリセルに対応した状態に設定される。上
記時刻t1から回路における遅延時間の後の時刻t2
において選択されたメモリセルの情報に対応した
信号DOUTが出力する。
べきメモリセルに対応した状態に設定される。上
記時刻t1から回路における遅延時間の後の時刻t2
において選択されたメモリセルの情報に対応した
信号DOUTが出力する。
データを書き込む場合は、例えば時刻t3におい
て入力データDinが設定され、次いで時刻t4にお
いて書き込み制御信号が予めの高レベルから
低レベルにされる。
て入力データDinが設定され、次いで時刻t4にお
いて書き込み制御信号が予めの高レベルから
低レベルにされる。
パルス発生回路6におけるノアゲート回路G3
は、上記の書き込み制御信号が低レベルとさ
れている期間が遅延回路7の遅延時間Z1に達する
とその2つの入力端子に低レベル信号を受けるこ
とになる。すなわち、上記ノアゲート回路G9は、
上記時刻t4から時間Z1が経過した時刻t5において
低レベルから高レベルに変化する信号を出力す
る。RSフリツプフロツプ回路9は、上記時刻t5
における上記ノアゲート回路G3の出力信号によ
りセツトされ、その反転出力端子における書き
込み制御信号′を低レベルにさせる。
は、上記の書き込み制御信号が低レベルとさ
れている期間が遅延回路7の遅延時間Z1に達する
とその2つの入力端子に低レベル信号を受けるこ
とになる。すなわち、上記ノアゲート回路G9は、
上記時刻t4から時間Z1が経過した時刻t5において
低レベルから高レベルに変化する信号を出力す
る。RSフリツプフロツプ回路9は、上記時刻t5
における上記ノアゲート回路G3の出力信号によ
りセツトされ、その反転出力端子における書き
込み制御信号′を低レベルにさせる。
遅延回路8は、上記時刻t5からその遅延時間Z2
を経過した時刻t6において高レベルとなる信号を
出力する。その結果、上記RSフリツプフロツプ
回路9はリセツトされ、その反転出力端子にお
ける書き込み制御信号′を再び高レベルにさせ
る。
を経過した時刻t6において高レベルとなる信号を
出力する。その結果、上記RSフリツプフロツプ
回路9はリセツトされ、その反転出力端子にお
ける書き込み制御信号′を再び高レベルにさせ
る。
従つて、書き込み制御信号の低レベル期間
が遅延回路7の遅延時間Z1より長ければ常にゲー
ト回路G1及びG2は、外部から供給される書き込
み制御信号から時間Z1だけ遅延させられた時
刻から一定時間Z2の間だけ書き込み動作を行うこ
とになる。
が遅延回路7の遅延時間Z1より長ければ常にゲー
ト回路G1及びG2は、外部から供給される書き込
み制御信号から時間Z1だけ遅延させられた時
刻から一定時間Z2の間だけ書き込み動作を行うこ
とになる。
上記の書き込み動作が終了した後の時刻t7にお
いて新たなメモリセルを選択するようにアドレス
信号Aiが変更され、次いで上記と同様に情報の
読み出し動作もしくは書き込み動作が行なわれ
る。
いて新たなメモリセルを選択するようにアドレス
信号Aiが変更され、次いで上記と同様に情報の
読み出し動作もしくは書き込み動作が行なわれ
る。
上記のような電流切換型のメモリセルを有する
バイポーラ回路において、任意のメモリセルに情
報の書き込みをするのに必要な最小の時間tW、す
なわち書き込み制御信号′における最小のパル
ス幅は、第6図の特性曲線Aのようにアドレス信
号Aiに対する書き込み制御信号′のセツトア
ツプ時間tWSAに応じて変化する。従つて、上記書
き込み制御信号′における低レベルの期間すな
わち一定の書き込み時間Z2は上記書き込み時間tW
よりも大きく設定する必要が有る。
バイポーラ回路において、任意のメモリセルに情
報の書き込みをするのに必要な最小の時間tW、す
なわち書き込み制御信号′における最小のパル
ス幅は、第6図の特性曲線Aのようにアドレス信
号Aiに対する書き込み制御信号′のセツトア
ツプ時間tWSAに応じて変化する。従つて、上記書
き込み制御信号′における低レベルの期間すな
わち一定の書き込み時間Z2は上記書き込み時間tW
よりも大きく設定する必要が有る。
この実施例に従えば、ゲート回路G1,G2に供
給する書き込み制御信号′の低レベル期間Z2
は、パルス発生回路6内の遅延回路8によつて一
定に決められ、外部からの書き込み制御信号
の期間が遅延回路7の遅延時間Z1よりも長ければ
この期間に影響されない。
給する書き込み制御信号′の低レベル期間Z2
は、パルス発生回路6内の遅延回路8によつて一
定に決められ、外部からの書き込み制御信号
の期間が遅延回路7の遅延時間Z1よりも長ければ
この期間に影響されない。
上部の外部から供給される書き込み制御信号
WEの低レベル期間は上記書き込み時間tWによつ
て制限されることなく、上記パルス発生回路6の
起動に必要な期間、すなわち遅延時間Z1を若干越
える期間まで短くすることができる。また、上記
のように内部で書き込み制御信号′を形成する
ことから、上記の外部から供給する書き込み制御
信号はそのバツクエツジaをアドレス信号Ai
のバツクエツジbまで遅らせることができる。従
つて、上記の外部から供給する書き込み制御信号
WEは、そのタイミングマージンを大きくするこ
とができる。
WEの低レベル期間は上記書き込み時間tWによつ
て制限されることなく、上記パルス発生回路6の
起動に必要な期間、すなわち遅延時間Z1を若干越
える期間まで短くすることができる。また、上記
のように内部で書き込み制御信号′を形成する
ことから、上記の外部から供給する書き込み制御
信号はそのバツクエツジaをアドレス信号Ai
のバツクエツジbまで遅らせることができる。従
つて、上記の外部から供給する書き込み制御信号
WEは、そのタイミングマージンを大きくするこ
とができる。
メモリアレイにおけるいかなるメモリセルにも
情報の書き込みが生じないとする条件のもので設
定される書き込み制御信号の最大のパルス幅、す
なわちノツト・ライトパルス(Not Write
Pluse)幅tnwpは、第6図の曲線Bのように、ア
ドレス信号に対する書き込み信号のセツトアツプ
時間tWSAによつて変化し、所定のセツトアツプ時
間tのもとで極少になる。上記のセツトアツプ時
間tにおけるように、ノツト・ライト・パルス幅
が小さいということは、書き込み制御信号線にロ
ジツクスレツシヨールド電圧を越えるパルス雑音
が加わつた場合、このパルス雑音が書き込み制御
信号とみなされてしまい、メモリセルに誤つて情
報が書き込まれてしまうことを意味する。
情報の書き込みが生じないとする条件のもので設
定される書き込み制御信号の最大のパルス幅、す
なわちノツト・ライトパルス(Not Write
Pluse)幅tnwpは、第6図の曲線Bのように、ア
ドレス信号に対する書き込み信号のセツトアツプ
時間tWSAによつて変化し、所定のセツトアツプ時
間tのもとで極少になる。上記のセツトアツプ時
間tにおけるように、ノツト・ライト・パルス幅
が小さいということは、書き込み制御信号線にロ
ジツクスレツシヨールド電圧を越えるパルス雑音
が加わつた場合、このパルス雑音が書き込み制御
信号とみなされてしまい、メモリセルに誤つて情
報が書き込まれてしまうことを意味する。
この実施例に従うと、パルス発生回路6が、所
定時間Z1以上のパルス幅の信号によつて初めて起
動される構成とされているので、外部から供給さ
れる書き込み制御信号にパルス雑音が有つて
も、このパルス雑音は、上記パルス発生回路6に
よつて無視される。すなわち、ゲート回路G1,
G2に外部からの雑音が加えられないことにより、
誤つた書き込み動作は生じない。
定時間Z1以上のパルス幅の信号によつて初めて起
動される構成とされているので、外部から供給さ
れる書き込み制御信号にパルス雑音が有つて
も、このパルス雑音は、上記パルス発生回路6に
よつて無視される。すなわち、ゲート回路G1,
G2に外部からの雑音が加えられないことにより、
誤つた書き込み動作は生じない。
この実施例に対し、外部から供給される書き込
み制御信号をバツフア回路B3を介して直接ゲ
ート回路G1,G2に供給するような場合、所定値
以上のノツト・ライト・パルス幅tnwpを得るた
めに、アドレス信号に書き込み制御信号のセツト
アツプ時間tWSAを所定値以上にしなければならな
い。
み制御信号をバツフア回路B3を介して直接ゲ
ート回路G1,G2に供給するような場合、所定値
以上のノツト・ライト・パルス幅tnwpを得るた
めに、アドレス信号に書き込み制御信号のセツト
アツプ時間tWSAを所定値以上にしなければならな
い。
これに対して、この実施例に従うと、内部で形
成される書き込み制御信号′が、外部から供給
される書き込み制御信号に対し、パルス発生
回路6の遅延時間Z1だけ遅延させられることによ
り、アドレス信号Aiのバツクエツジaから外部
の書き込み制御信号のバツクエツジbまでの
時間差を零まで減少させることが可能である。そ
の結果、外部書き込み制御信号のタイミング
マージンを大きくすることができる。
成される書き込み制御信号′が、外部から供給
される書き込み制御信号に対し、パルス発生
回路6の遅延時間Z1だけ遅延させられることによ
り、アドレス信号Aiのバツクエツジaから外部
の書き込み制御信号のバツクエツジbまでの
時間差を零まで減少させることが可能である。そ
の結果、外部書き込み制御信号のタイミング
マージンを大きくすることができる。
この実施例においては前記の理由及び上記の理
由により書き込みサイクルにより高速度にするこ
とができる。
由により書き込みサイクルにより高速度にするこ
とができる。
また実施例のように、書き込み制御信号によつ
て出力バツフア回路B1の動作を制御する構成で
あつて、上記出力バツフア回路B1の動作タイミ
ングをゲート回路G1,G2の動作タイミングと異
ならせる構成とするときは、次のような効果を得
ることができる。
て出力バツフア回路B1の動作を制御する構成で
あつて、上記出力バツフア回路B1の動作タイミ
ングをゲート回路G1,G2の動作タイミングと異
ならせる構成とするときは、次のような効果を得
ることができる。
すなわち、出力バツフア回路B1は、例えば第
4図のように、比較的重い終端抵抗RLを持つて
いる場合、高レベルの出力を生じさせる動作電流
と低レベルの出力を生じさせる動作電流が大きく
異なることになる。例えば高レベルの出力を生じ
させる動作電流は22mA程度の大きい値とされ、
低レベルの出力を生じさせる動作電流は6mA程
度の小さい値とされる。
4図のように、比較的重い終端抵抗RLを持つて
いる場合、高レベルの出力を生じさせる動作電流
と低レベルの出力を生じさせる動作電流が大きく
異なることになる。例えば高レベルの出力を生じ
させる動作電流は22mA程度の大きい値とされ、
低レベルの出力を生じさせる動作電流は6mA程
度の小さい値とされる。
第1図の構成によると、書き込み動作でないと
き、出力バツフア回路B1からは、アドレス信号
Aiによつて選択されたメモリセルの記憶情報に
対応した信号が出力している。上記の出力バツフ
ア回路B1の出力は、書き込み制御信号の低レ
ベルによつて書き込み動作とされたとき、強制的
に低レベルにされる。
き、出力バツフア回路B1からは、アドレス信号
Aiによつて選択されたメモリセルの記憶情報に
対応した信号が出力している。上記の出力バツフ
ア回路B1の出力は、書き込み制御信号の低レ
ベルによつて書き込み動作とされたとき、強制的
に低レベルにされる。
従つて、例えば第5図Dのように、書き込み制
御信号が時刻t10において低レベルにされる
と、この時刻t10とほぼ同じ時刻t11において出力
バツフア回路B1はその出力が高レベルから低レ
ベルに変化させられることになり、その動作電流
が大きく変化することになる。
御信号が時刻t10において低レベルにされる
と、この時刻t10とほぼ同じ時刻t11において出力
バツフア回路B1はその出力が高レベルから低レ
ベルに変化させられることになり、その動作電流
が大きく変化することになる。
メモリ回路の電源線、例えば接地配線GNDの
インダクタンス成分(図示しない)には、上記の
動作電流の大きい変化に応じて電圧が発生させら
れる。そのため、接地配線GNDの電位は、第5
図Iのように変化する。
インダクタンス成分(図示しない)には、上記の
動作電流の大きい変化に応じて電圧が発生させら
れる。そのため、接地配線GNDの電位は、第5
図Iのように変化する。
この実施例のようにすると、外部からの書き込
み制御信号に対して書き込み動作が、遅延回路7
による遅延時間Z1だけ遅らされるので、上記電源
線の変動タイミングと書き込みパルスW0,W1の
フロントエツジ(書き込み動作開始タイミング)
との位相をずらすことができる。従つて、安定し
た電源電圧状態で書き込み動作を行なうことがで
きる。
み制御信号に対して書き込み動作が、遅延回路7
による遅延時間Z1だけ遅らされるので、上記電源
線の変動タイミングと書き込みパルスW0,W1の
フロントエツジ(書き込み動作開始タイミング)
との位相をずらすことができる。従つて、安定し
た電源電圧状態で書き込み動作を行なうことがで
きる。
第7図は、上記電源線における電位の変動を小
さくするため、上記バツフア回路B3から出力さ
れる書き込み制御信号を積分回路10を介して出
力バツフア回路B1に供給しようするものである。
さくするため、上記バツフア回路B3から出力さ
れる書き込み制御信号を積分回路10を介して出
力バツフア回路B1に供給しようするものである。
これにより、バツフア回路B1の制御信号の立
ち上り及び立ち下りの変化率を小さくできるから
電源線GNDの電圧変動を小さくすることができ、
この変動タイミングと書き込みパルスW1との立
ち上りタイミングとが同期したものであつても、
安定した書き込み動作を図ることができるように
なる。
ち上り及び立ち下りの変化率を小さくできるから
電源線GNDの電圧変動を小さくすることができ、
この変動タイミングと書き込みパルスW1との立
ち上りタイミングとが同期したものであつても、
安定した書き込み動作を図ることができるように
なる。
なお、上記出力バツフア回路B1の制御信号WE
は、この信号WEを形成する入力バツフア回路R3
の出力駆動能力を小さくすること等によりその立
ち上り又は立ち下りの変化率を小さくするもので
あつてもよい。
は、この信号WEを形成する入力バツフア回路R3
の出力駆動能力を小さくすること等によりその立
ち上り又は立ち下りの変化率を小さくするもので
あつてもよい。
この発明は、前記実施例に限定されず、パルス
発生回路6は、種々変形でき、論理レベルの採り
方によつては、ゲート回路G3をNANDゲート回
路等用いるものであつてもよい。また、フリツプ
フロツプ回路9と遅延回路8とは、ワンシヨツト
マルチバイブレータに置き換えるものであつても
良い。
発生回路6は、種々変形でき、論理レベルの採り
方によつては、ゲート回路G3をNANDゲート回
路等用いるものであつてもよい。また、フリツプ
フロツプ回路9と遅延回路8とは、ワンシヨツト
マルチバイブレータに置き換えるものであつても
良い。
パルス発生回路6には、第8図のように、抵抗
R7ないしR9、トランジスタQ20ないしQ23、およ
び基準電圧源E2,E3から構成され、チツプ選択
信号と書き込み制御信号を受ける論理回路
から、書き込み制御信号を供給するようにしても
良い。
R7ないしR9、トランジスタQ20ないしQ23、およ
び基準電圧源E2,E3から構成され、チツプ選択
信号と書き込み制御信号を受ける論理回路
から、書き込み制御信号を供給するようにしても
良い。
なお、第8図においては読み出し動作時にトラ
ンジスタQ25とQ26はそのベースが基準電位E4よ
りも高電位にされるのでオン状態にされる。これ
に応じてトランジスタQ27,Q28はオフ状態とさ
れる。トランジスタQ29とQ30のうちの入力デー
タの信号Dinによりオン状態とされるトランジス
タの電流が上記トランジスタのQ25又はQ26を介
して抵抗R10に流されるので、書き込み線W1,
W0の電位はVRと同電位にされる。
ンジスタQ25とQ26はそのベースが基準電位E4よ
りも高電位にされるのでオン状態にされる。これ
に応じてトランジスタQ27,Q28はオフ状態とさ
れる。トランジスタQ29とQ30のうちの入力デー
タの信号Dinによりオン状態とされるトランジス
タの電流が上記トランジスタのQ25又はQ26を介
して抵抗R10に流されるので、書き込み線W1,
W0の電位はVRと同電位にされる。
書き込み動作時において、上記トランジスタ
Q25とQ26はオフ状態とされる。このとき、例え
ば入力データ信号Dinが高レベルであれば、トラ
ンジスタQ29はオン状態、Q30はオフ状態である。
上記トランジスタQ29の電流がトランジスタQ28
を介して抵抗R10とR12に流されるので、書き込
み線W1は低電位VWLにされ、W0は中間電位VRに
される。
Q25とQ26はオフ状態とされる。このとき、例え
ば入力データ信号Dinが高レベルであれば、トラ
ンジスタQ29はオン状態、Q30はオフ状態である。
上記トランジスタQ29の電流がトランジスタQ28
を介して抵抗R10とR12に流されるので、書き込
み線W1は低電位VWLにされ、W0は中間電位VRに
される。
なお、抵抗R7に接続された線lからは、出力
バツフア回路のための制御信号が出力される。
バツフア回路のための制御信号が出力される。
第1図は、この発明の一実施例を示すブロツク
図、第2図は、この発明に係るパルス発生回路の
論理回路図、第3図は、メモリアレイの具体的な
回路図、第4図は、出力バツフア回路の具体的な
回路図、第5図は、この発明に係るバイポーラメ
モリ回路の動作波形図、第6図はバイポーラメモ
リ回路の書き込み特性曲線図、第7図は、この発
明の他の一実施例を示す要部論理回路図、第8図
は、他の実施例の回路図である。 1……メモリアレイ、2……Xアドレスデコー
ダ、3……ワードドライバ、4……Yアドレスデ
コーダ、5……デイジツト線選択回路、6……パ
ルス発生回路、7,8……遅延回路、9……フリ
ツプフロツプ回路、10……積分回路、B1……
出力バツフア回路、B2〜B4……入力バツフア回
路、G1〜G3……ゲート回路。
図、第2図は、この発明に係るパルス発生回路の
論理回路図、第3図は、メモリアレイの具体的な
回路図、第4図は、出力バツフア回路の具体的な
回路図、第5図は、この発明に係るバイポーラメ
モリ回路の動作波形図、第6図はバイポーラメモ
リ回路の書き込み特性曲線図、第7図は、この発
明の他の一実施例を示す要部論理回路図、第8図
は、他の実施例の回路図である。 1……メモリアレイ、2……Xアドレスデコー
ダ、3……ワードドライバ、4……Yアドレスデ
コーダ、5……デイジツト線選択回路、6……パ
ルス発生回路、7,8……遅延回路、9……フリ
ツプフロツプ回路、10……積分回路、B1……
出力バツフア回路、B2〜B4……入力バツフア回
路、G1〜G3……ゲート回路。
Claims (1)
- 1 書き込み制御信号の入力バツフア回路の出力
で読み出し出力バツフア回路を制御するメモリ回
路において、上記出力バツフア回路を制御する書
き込み制御信号は、積分回路を介して上記入力バ
ツフア回路の出力から上記出力バツフア回路に供
給するものであることを特徴とするメモリ回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62139732A JPS63127487A (ja) | 1987-06-05 | 1987-06-05 | メモリ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62139732A JPS63127487A (ja) | 1987-06-05 | 1987-06-05 | メモリ回路 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10915179A Division JPS5634186A (en) | 1979-08-29 | 1979-08-29 | Bipolar memory circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63127487A JPS63127487A (ja) | 1988-05-31 |
JPH034999B2 true JPH034999B2 (ja) | 1991-01-24 |
Family
ID=15252093
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62139732A Granted JPS63127487A (ja) | 1987-06-05 | 1987-06-05 | メモリ回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63127487A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0380494A (ja) * | 1989-08-22 | 1991-04-05 | Fujitsu Ltd | メモリ素子 |
-
1987
- 1987-06-05 JP JP62139732A patent/JPS63127487A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63127487A (ja) | 1988-05-31 |
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