JPH0347529B2 - - Google Patents
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- JPH0347529B2 JPH0347529B2 JP59032684A JP3268484A JPH0347529B2 JP H0347529 B2 JPH0347529 B2 JP H0347529B2 JP 59032684 A JP59032684 A JP 59032684A JP 3268484 A JP3268484 A JP 3268484A JP H0347529 B2 JPH0347529 B2 JP H0347529B2
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- JP
- Japan
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- pen
- point
- tablet
- switch
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- Prior art date
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 38
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Description
【発明の詳細な説明】
〔要約〕
タブレツトとペンを用いて文字、図形等の手書
きを行う場合等に用いられる座標読取り方法に関
し、サンプリングによる手書き文字、図形等の再
現における読取り誤差を減少させ再現性能を向上
させることを目的とし、 タブレツト上を移動する記入用ペン内に、タブ
レツトに対し所定距離以内に近づいた場合に信号
を検出可能な検出器およびペンがタブレツトに接
触しているか否かを検出可能なペンスイツチを内
蔵させ、該検出器により所定サンプリング周期で
検出された全ての検出信号を座標読取り部へ導
き、該ペンスイツチからの信号をペンスイツチ検
出部へ導き、文字軌跡の末端部においては、前記
ペンスイツチ検出部で検出されるペンダウン点又
はペンアツプ点を含むそれぞれのサンプリング周
期の始点及び終点における検出信号に応じた距離
情報を用い、該サンプリング周期内におけるペン
ダウン点又はペンアツプ点に基づきそれぞれ比例
配分を行い、ペンダウン点又はペンアツプ点の近
似距離をそれぞれ求め、座標読取りを行う。
きを行う場合等に用いられる座標読取り方法に関
し、サンプリングによる手書き文字、図形等の再
現における読取り誤差を減少させ再現性能を向上
させることを目的とし、 タブレツト上を移動する記入用ペン内に、タブ
レツトに対し所定距離以内に近づいた場合に信号
を検出可能な検出器およびペンがタブレツトに接
触しているか否かを検出可能なペンスイツチを内
蔵させ、該検出器により所定サンプリング周期で
検出された全ての検出信号を座標読取り部へ導
き、該ペンスイツチからの信号をペンスイツチ検
出部へ導き、文字軌跡の末端部においては、前記
ペンスイツチ検出部で検出されるペンダウン点又
はペンアツプ点を含むそれぞれのサンプリング周
期の始点及び終点における検出信号に応じた距離
情報を用い、該サンプリング周期内におけるペン
ダウン点又はペンアツプ点に基づきそれぞれ比例
配分を行い、ペンダウン点又はペンアツプ点の近
似距離をそれぞれ求め、座標読取りを行う。
本発明は、情報処理装置においてタブレツトと
ペンを用いて文字、図形等の手書きを行う場合等
に用いられる、座標読取り方法に関する。
ペンを用いて文字、図形等の手書きを行う場合等
に用いられる、座標読取り方法に関する。
一般に、情報処理装置においてタブレツトとペ
ンを用いて文字、図形等の手書きを行う場合に、
タブレツトにペンが接しているか否かを、第1図
Aに示すように一定間隔のサンプリングにより行
つている。この場合、最初のサンプリング点P1
より以前の部分(手書き開始部分ST)および最
後のサンプリング点P6より以後の部分(手書き
終末部分ED)はデータが得られないため、第1
図Aに示すサンプリングにもとづいて、第1図B
に示すように文字の再現を行おうとすると、手書
き開始部分STおよび手書き終末部分EDの再現性
が劣化するという問題点がある。
ンを用いて文字、図形等の手書きを行う場合に、
タブレツトにペンが接しているか否かを、第1図
Aに示すように一定間隔のサンプリングにより行
つている。この場合、最初のサンプリング点P1
より以前の部分(手書き開始部分ST)および最
後のサンプリング点P6より以後の部分(手書き
終末部分ED)はデータが得られないため、第1
図Aに示すサンプリングにもとづいて、第1図B
に示すように文字の再現を行おうとすると、手書
き開始部分STおよび手書き終末部分EDの再現性
が劣化するという問題点がある。
この再現性劣化は、サンプリング間隔を短くす
ることにより一応の回避が可能であるが、各サン
プリング点の座標計算を行うために時間が必要と
される関係上、サンプリング間隔には例えば20m
sという限界値があり、この限界値より短くする
ことは不可能である。すなわち、座標計算回路の
側からの要求による、サンプリング間隔の限界値
が存在する。それゆえ、手書き文字の再現性を充
分に高めることが困難であるという問題点があ
る。
ることにより一応の回避が可能であるが、各サン
プリング点の座標計算を行うために時間が必要と
される関係上、サンプリング間隔には例えば20m
sという限界値があり、この限界値より短くする
ことは不可能である。すなわち、座標計算回路の
側からの要求による、サンプリング間隔の限界値
が存在する。それゆえ、手書き文字の再現性を充
分に高めることが困難であるという問題点があ
る。
本発明の目的は、前述の従来形における問題点
にかんがみ、ペンダウン点を含むサンプリング周
期の始点および終点の距離情報を用い、該サンプ
リング周期内におけるペンダウン点にもとづく比
例配分を行うという構想にもとづき、サンプリン
グによる手書き文字、図形等の再現における読取
り誤差を減少させ、再現性能を向上させることに
ある。
にかんがみ、ペンダウン点を含むサンプリング周
期の始点および終点の距離情報を用い、該サンプ
リング周期内におけるペンダウン点にもとづく比
例配分を行うという構想にもとづき、サンプリン
グによる手書き文字、図形等の再現における読取
り誤差を減少させ、再現性能を向上させることに
ある。
本発明においては、タブレツト上を移動する記
入用ペン内に、タブレツトに対し所定距離以内に
近づいた場合に信号を検出可能な検出器およびペ
ンがタブレツトに接触しているか否かを検出可能
なペンスイツチを内蔵させ、該検出器により所定
サンプリング周期で検出された全ての検出信号を
座標読取り部へ導き、該ペンスイツチからの信号
をペンスイツチ検出部へ導き、文字軌跡の末端部
においては、前記ペンスイツチ検出部で検出され
るペンダウン点又はペンアツプ点を含むそれぞれ
のサンプリング周期の始点及び終点における検出
信号に応じた距離情報を用い、該サンプリング周
期内におけるペンダウン点又はペンアツプ点に基
づきそれぞれ比例配分を行い、ペンダウン点又は
ペンアツプ点の近似距離をそれぞれ求めることを
特徴とする座標読取り方法、が提供される。
入用ペン内に、タブレツトに対し所定距離以内に
近づいた場合に信号を検出可能な検出器およびペ
ンがタブレツトに接触しているか否かを検出可能
なペンスイツチを内蔵させ、該検出器により所定
サンプリング周期で検出された全ての検出信号を
座標読取り部へ導き、該ペンスイツチからの信号
をペンスイツチ検出部へ導き、文字軌跡の末端部
においては、前記ペンスイツチ検出部で検出され
るペンダウン点又はペンアツプ点を含むそれぞれ
のサンプリング周期の始点及び終点における検出
信号に応じた距離情報を用い、該サンプリング周
期内におけるペンダウン点又はペンアツプ点に基
づきそれぞれ比例配分を行い、ペンダウン点又は
ペンアツプ点の近似距離をそれぞれ求めることを
特徴とする座標読取り方法、が提供される。
本発明による座標読取り方法の原理が第2図の
説明図を用いて説明される。本発明による座標読
取り方法は、座標読取りは前述したように座標計
算回路の演算速度に依存するが、ペンがタブレツ
トに接触したか否かの検出に要する時間は、座標
読取りに要する時間より短いという事実に一つの
根拠をおいている。
説明図を用いて説明される。本発明による座標読
取り方法は、座標読取りは前述したように座標計
算回路の演算速度に依存するが、ペンがタブレツ
トに接触したか否かの検出に要する時間は、座標
読取りに要する時間より短いという事実に一つの
根拠をおいている。
第2図において横軸は時間tを、縦軸は距離x
をあらわす。第2図において太い実線は手書き線
を示し、手書き線上のペンダウン点より前の最後
のサンプリング点をA、ペンダウン点をD、手書
き線上のペンダウン点以後の最初のサンプリング
点をBとする。AとBは1つのサンプリング周期
のそれぞれ始点、終点である。サンプリング点
A、ペンダウン点D、サンプリング点Bに対応す
る時間はそれぞれta,tp,tbである。サンプリン
グ周期TはT=tb−taで与えられる。サンプリン
グ点A、サンプリング点Bに対応する距離をそれ
ぞれa,bであるとし、サンプリング点Cに対応
する距離cを補間的に求めることを考えた。
をあらわす。第2図において太い実線は手書き線
を示し、手書き線上のペンダウン点より前の最後
のサンプリング点をA、ペンダウン点をD、手書
き線上のペンダウン点以後の最初のサンプリング
点をBとする。AとBは1つのサンプリング周期
のそれぞれ始点、終点である。サンプリング点
A、ペンダウン点D、サンプリング点Bに対応す
る時間はそれぞれta,tp,tbである。サンプリン
グ周期TはT=tb−taで与えられる。サンプリン
グ点A、サンプリング点Bに対応する距離をそれ
ぞれa,bであるとし、サンプリング点Cに対応
する距離cを補間的に求めることを考えた。
第2図において、a,b−a,tb−ta、および
tp−taが与えられた場合に下記の比例配分の式: c=a+(b−a)×tp−ta/tb−ta により、C点に相当する距離cを計算により補間
的に求めることができる。このようにして求めら
れたC点をペンダウン点Dの近似点とみることが
できる。
tp−taが与えられた場合に下記の比例配分の式: c=a+(b−a)×tp−ta/tb−ta により、C点に相当する距離cを計算により補間
的に求めることができる。このようにして求めら
れたC点をペンダウン点Dの近似点とみることが
できる。
このようなC点が求められなければ、ペンダウ
ン点の距離について、最大で、b−aの誤差範囲
があつたのに対し、C点が求められたことによ
り、ペンダウン点の距離についてc−dの誤差範
囲となり、誤差が顕著に減少する。
ン点の距離について、最大で、b−aの誤差範囲
があつたのに対し、C点が求められたことによ
り、ペンダウン点の距離についてc−dの誤差範
囲となり、誤差が顕著に減少する。
以上において、本発明による手書き文字の座標
読取り方法の原理を手書き開始位置のペンダウン
点について説明したが、手書き終末位置のペンア
ツプ点についても、ペンダウン点の場合を逆にし
たものとして、全く同様に説明することができ
る。
読取り方法の原理を手書き開始位置のペンダウン
点について説明したが、手書き終末位置のペンア
ツプ点についても、ペンダウン点の場合を逆にし
たものとして、全く同様に説明することができ
る。
本発明の一実施例としての手書き文字の座標読
取り方法を行う装置が第3図に示される。第3図
装置は、タブレツト1とペン3の組合せからなる
文字手書き装置を有する。タブレツト1はタブレ
ツト駆動部2により駆動され磁界を発生してい
る。タブレツト駆動部2は座標読取部42により
起動がかけられる。タブレツト1の所定の座標軸
方向に沿うて直線近似的に変化している磁界にも
とづき、タブレツト1上に接して移動するペン3
内の検出器としてのコイル33に信号が発生す
る。ペン3にはまた、ペン接触検出スイツチ31
が設けられ、ペン3がタブレツト1に接触したか
否かが検出される。
取り方法を行う装置が第3図に示される。第3図
装置は、タブレツト1とペン3の組合せからなる
文字手書き装置を有する。タブレツト1はタブレ
ツト駆動部2により駆動され磁界を発生してい
る。タブレツト駆動部2は座標読取部42により
起動がかけられる。タブレツト1の所定の座標軸
方向に沿うて直線近似的に変化している磁界にも
とづき、タブレツト1上に接して移動するペン3
内の検出器としてのコイル33に信号が発生す
る。ペン3にはまた、ペン接触検出スイツチ31
が設けられ、ペン3がタブレツト1に接触したか
否かが検出される。
コイル32の信号は制御装置4の座標読取部4
2に、ペン接触検出スイツチ31の信号は制御装
置4のペンスイツチ接触検出部41に供給され
る。ペン位置座標の読取りおよびペンスイツチが
オンとなつたことの検出はフアームウエアにより
標本化される。制御装置4としてはマイクロコン
ピユータが用いられる。制御装置4にはCPU4
4、バツフア部43、ROM45、RAM46、
インタフエイス部47が設けられる。コイル32
の信号およびペン接触検出スイツチ31の信号に
もとづき、制御回路において所定の演算が行わ
れ、インタフエイス部47に生ずる情報が表示用
(DISP)として用いられる。
2に、ペン接触検出スイツチ31の信号は制御装
置4のペンスイツチ接触検出部41に供給され
る。ペン位置座標の読取りおよびペンスイツチが
オンとなつたことの検出はフアームウエアにより
標本化される。制御装置4としてはマイクロコン
ピユータが用いられる。制御装置4にはCPU4
4、バツフア部43、ROM45、RAM46、
インタフエイス部47が設けられる。コイル32
の信号およびペン接触検出スイツチ31の信号に
もとづき、制御回路において所定の演算が行わ
れ、インタフエイス部47に生ずる情報が表示用
(DISP)として用いられる。
サンプリングされた情報のうち、ペンスイツチ
3のスイツチオフからスイツチオンへ、およびス
イツチオンからスイツチオフへの変化点について
は、第2図に示される原理により補間が行われ
る。まず、標本点Aを時間原点とし(ta=0)、
aを初期値とする。サンプリング周期をTとす
る。taよりT経過した時点をtbとし、時点tbにお
ける距離をbとする。ペン接触検出スイツチから
の信号によりペンダウンの時点tpが求められる。
このようにして得られたデータta,tb,tp,a,
bを用いて下記式により計算を行う。
3のスイツチオフからスイツチオンへ、およびス
イツチオンからスイツチオフへの変化点について
は、第2図に示される原理により補間が行われ
る。まず、標本点Aを時間原点とし(ta=0)、
aを初期値とする。サンプリング周期をTとす
る。taよりT経過した時点をtbとし、時点tbにお
ける距離をbとする。ペン接触検出スイツチから
の信号によりペンダウンの時点tpが求められる。
このようにして得られたデータta,tb,tp,a,
bを用いて下記式により計算を行う。
c=a+(b−a)×tp−ta/tb−ta
このような計算により求められた距離cは、空
間点ab間の直線距離を時間tb−taとtp−taを用い
て比例配分した点Cの距離である。第2図に見ら
れるように、この点Cは実際のペンダウン点Dに
ついての近似点である。
間点ab間の直線距離を時間tb−taとtp−taを用い
て比例配分した点Cの距離である。第2図に見ら
れるように、この点Cは実際のペンダウン点Dに
ついての近似点である。
ここに第2図におけるサンプリング点Aの検出
の状況が第6図a,b参照しつつ説明される。第
6図bにおいては、タブレツト面に沿うX方向を
横軸とし、タブレツト面に対し垂直のZ方向を縦
軸として、文字手書きに際してのペン先の軌跡が
示される。
の状況が第6図a,b参照しつつ説明される。第
6図bにおいては、タブレツト面に沿うX方向を
横軸とし、タブレツト面に対し垂直のZ方向を縦
軸として、文字手書きに際してのペン先の軌跡が
示される。
ペン先とタブレツトの距離が所定値、実際には
約10mm以下になるとペン先の座標の読取りを行う
ことができる。ペン先がタブレツトに接触(D
点)する直前には、ペン先はタブレツトに充分接
近していることになり、この距離10mmは1サンプ
リング周期におけるペン先の移動距離に比べて充
分に大であるから、ペン先がタブレツトに接触す
る前とサンプリング周期T、例えば20ms、の時
点taにおいてペン先位置Aの座標aの読取りが行
われる。
約10mm以下になるとペン先の座標の読取りを行う
ことができる。ペン先がタブレツトに接触(D
点)する直前には、ペン先はタブレツトに充分接
近していることになり、この距離10mmは1サンプ
リング周期におけるペン先の移動距離に比べて充
分に大であるから、ペン先がタブレツトに接触す
る前とサンプリング周期T、例えば20ms、の時
点taにおいてペン先位置Aの座標aの読取りが行
われる。
このように、ペン先位置Aの座標は、ペン先が
タブレツトに接触した後の最初にサンプリング
(時点tb)される座標bの1サンプル前の座標a
である。このようにして、標本点Aの検出を行う
ことができる。このことは、ペンアツプ点(座標
u)の後のサンプリング点V(座標v)の検出の
場合についても同様である。
タブレツトに接触した後の最初にサンプリング
(時点tb)される座標bの1サンプル前の座標a
である。このようにして、標本点Aの検出を行う
ことができる。このことは、ペンアツプ点(座標
u)の後のサンプリング点V(座標v)の検出の
場合についても同様である。
第3図装置における制御装置4の動作のフロー
チヤートが第4図および第5図に示される。第4
図には主プログラムが、第5図にはペン接触検出
スイツチ動作についての割込みプログラムが示さ
れる。主プログラムにおいてはステツプS1でta=
0、a=初期値として初期設定を行い、ステツプ
S2でtを現在時刻、nを整数、Tをサンプリン
グ周期としてt=nTであるか否かの判定を行い、
判定がイエスであればステツプS3でtb=tとし、
ステツプS4でb点の座標算出を行う。ステツプ
S5でペン接触検出スイツチのフラグがオンかオ
フかの判定を行い、オフであればステツプS8へ
進み、オンであればステツプS6で前述の計算式
によりC点座標の計算を行い、ステツプS7でデ
イスプレイとしてC点表示を行う。ステツプS8
でデイスプレイとしてB点表示を行う。ステツプ
S9でta=tb、a=bとし、ステツプS10でペン接
触検出スイツチのフラグをオフとする。
チヤートが第4図および第5図に示される。第4
図には主プログラムが、第5図にはペン接触検出
スイツチ動作についての割込みプログラムが示さ
れる。主プログラムにおいてはステツプS1でta=
0、a=初期値として初期設定を行い、ステツプ
S2でtを現在時刻、nを整数、Tをサンプリン
グ周期としてt=nTであるか否かの判定を行い、
判定がイエスであればステツプS3でtb=tとし、
ステツプS4でb点の座標算出を行う。ステツプ
S5でペン接触検出スイツチのフラグがオンかオ
フかの判定を行い、オフであればステツプS8へ
進み、オンであればステツプS6で前述の計算式
によりC点座標の計算を行い、ステツプS7でデ
イスプレイとしてC点表示を行う。ステツプS8
でデイスプレイとしてB点表示を行う。ステツプ
S9でta=tb、a=bとし、ステツプS10でペン接
触検出スイツチのフラグをオフとする。
割込みプログラムにおいてはステツプS101でtp
=tとし、ステツプS102でペン接触検出スイツ
チフラグをオンとし、ステツプS103で割込みプ
ログラムを終了する。
=tとし、ステツプS102でペン接触検出スイツ
チフラグをオンとし、ステツプS103で割込みプ
ログラムを終了する。
以上文字を例にとつて説明したが図形の場合も
同様に適用できる。
同様に適用できる。
本発明によればペンダウン点を含むサンプリン
グ周期の始点および終点の距離情報を用い、該サ
ンプリング周期内におけるペンダウン点にもとづ
く比例配分が行われ、サンプリングによる手書き
文字、図形等の再現における読取り誤差を減少さ
せることができ、再現性能を向上させることがで
きる。
グ周期の始点および終点の距離情報を用い、該サ
ンプリング周期内におけるペンダウン点にもとづ
く比例配分が行われ、サンプリングによる手書き
文字、図形等の再現における読取り誤差を減少さ
せることができ、再現性能を向上させることがで
きる。
第1図A,Bはタブレツトとペンを用いての文
字の手書きおよび再現の状況を説明する図、第2
図は本発明による手書き文字の座標読取り方法の
原理を説明する図、第3図は本発明の一実施例と
しての手書き文字の座標読取り方法を行う装置を
示す図、第4図および第5図は第3図装置におけ
る制御装置の動作のフローチヤートを示す図、第
6図a,bは本発明による座標読取り方法におけ
るタブレツトに対するペン先の運動の軌跡を説明
する図である。 1……タブレツト、2……タブレツト駆動部、
3……ペン、31……ペン接触検出スイツチ、3
2……コイル、4……制御装置、41……ペン接
触検出部、42……座標読取り部、43……バツ
フア、44……CPU、45……ROM、46……
RAM、47……インタフエイス部。
字の手書きおよび再現の状況を説明する図、第2
図は本発明による手書き文字の座標読取り方法の
原理を説明する図、第3図は本発明の一実施例と
しての手書き文字の座標読取り方法を行う装置を
示す図、第4図および第5図は第3図装置におけ
る制御装置の動作のフローチヤートを示す図、第
6図a,bは本発明による座標読取り方法におけ
るタブレツトに対するペン先の運動の軌跡を説明
する図である。 1……タブレツト、2……タブレツト駆動部、
3……ペン、31……ペン接触検出スイツチ、3
2……コイル、4……制御装置、41……ペン接
触検出部、42……座標読取り部、43……バツ
フア、44……CPU、45……ROM、46……
RAM、47……インタフエイス部。
Claims (1)
- 1 タブレツト上を移動する記入用ペン内に、タ
ブレツトに対し所定距離以内に近づいた場合に信
号を検出可能な検出器およびペンがタブレツトに
接触しているか否かを検出可能なペンスイツチを
内蔵させ、該検出器により所定サンプリング周期
で検出された全ての検出信号を座標読取り部へ導
き、該ペンスイツチからの信号をペンスイツチ検
出部へ導き、文字軌跡の末端部においては、前記
ペンスイツチ検出部で検出されるペンダウン点又
はペンアツプ点を含むそれぞれのサンプリング周
期の始点及び終点における検出信号に応じた距離
情報を用い、該サンプリング周期内におけるペン
ダウン点又はペンアツプ点に基づきそれぞれ比例
配分を行い、ペンダウン点又はペンアツプ点の近
似距離をそれぞれ求めることを特徴とする座標読
取り方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59032684A JPS60179819A (ja) | 1984-02-24 | 1984-02-24 | 座標読取り方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59032684A JPS60179819A (ja) | 1984-02-24 | 1984-02-24 | 座標読取り方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60179819A JPS60179819A (ja) | 1985-09-13 |
JPH0347529B2 true JPH0347529B2 (ja) | 1991-07-19 |
Family
ID=12365698
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59032684A Granted JPS60179819A (ja) | 1984-02-24 | 1984-02-24 | 座標読取り方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60179819A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58189787A (ja) * | 1982-04-28 | 1983-11-05 | Fujitsu Ltd | 線図形の直線・円弧近似方式 |
-
1984
- 1984-02-24 JP JP59032684A patent/JPS60179819A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58189787A (ja) * | 1982-04-28 | 1983-11-05 | Fujitsu Ltd | 線図形の直線・円弧近似方式 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60179819A (ja) | 1985-09-13 |
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