JPH0345122Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0345122Y2 JPH0345122Y2 JP13177384U JP13177384U JPH0345122Y2 JP H0345122 Y2 JPH0345122 Y2 JP H0345122Y2 JP 13177384 U JP13177384 U JP 13177384U JP 13177384 U JP13177384 U JP 13177384U JP H0345122 Y2 JPH0345122 Y2 JP H0345122Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ink
- film thickness
- ink film
- depth
- groove
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000007639 printing Methods 0.000 claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000007645 offset printing Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の技術分野〕
本考案は、印刷機（オフセツト印刷機、オフセ
ツト校正印刷機等）のインキローラ表面のインキ
膜厚を測定する装置に関する。
ツト校正印刷機等）のインキローラ表面のインキ
膜厚を測定する装置に関する。
印刷機、例えばオフセツト校正印刷機において
は、校正刷の基準を明確にするためにインキロー
ラ表面のインキ膜厚を計測し、計測結果に基づき
インキローラ表面のインキ膜厚のバラツキを無く
す作業が行なわれている。
は、校正刷の基準を明確にするためにインキロー
ラ表面のインキ膜厚を計測し、計測結果に基づき
インキローラ表面のインキ膜厚のバラツキを無く
す作業が行なわれている。
また、オフセツト印刷機においては、インキキ
ーシステムのインキキー開度を設定するための基
準ゲージとして、インキローラのインキ膜厚を測
定するインキ膜厚測定装置が用いられ、その他活
版印刷などのように粘性の比較的大きいインキを
使用する印刷方式のインキの膜厚を測定するため
にインキ膜厚測定装置が用いられる。
ーシステムのインキキー開度を設定するための基
準ゲージとして、インキローラのインキ膜厚を測
定するインキ膜厚測定装置が用いられ、その他活
版印刷などのように粘性の比較的大きいインキを
使用する印刷方式のインキの膜厚を測定するため
にインキ膜厚測定装置が用いられる。
従来、インキ膜厚を物理的に測定する装置とし
て、第３図及び第４図に示される如くのインキ膜
厚測定装置が知られている。
て、第３図及び第４図に示される如くのインキ膜
厚測定装置が知られている。
かかるインキ膜厚測定装置は、プーリー形状を
した本体１０の両側につまみ１１，１１が取りつ
けられており、本体１０の両側の凸部１２，１２
は真円で、中央の凸部１３のみが第３図に示され
る如く円周上の位置により中心からの距離が異な
つている、換言すれば両側の凸部１２，１２より
低くなつており、さらに本体１０の側面に両側の
凸部１２，１２と中央の凸部１３との高低差がイ
ンキ膜厚の目盛として表示されているものであ
る。
した本体１０の両側につまみ１１，１１が取りつ
けられており、本体１０の両側の凸部１２，１２
は真円で、中央の凸部１３のみが第３図に示され
る如く円周上の位置により中心からの距離が異な
つている、換言すれば両側の凸部１２，１２より
低くなつており、さらに本体１０の側面に両側の
凸部１２，１２と中央の凸部１３との高低差がイ
ンキ膜厚の目盛として表示されているものであ
る。
このインキ膜厚測定装置の使用に際しては、両
側のつまみ１１，１１を指で支えて本体１０の周
面をインキローラに当接せしめるとともに回転さ
せ、これにより、インキ膜厚に相当する部分ま
で、中央の凸部１３にインキが付着するので、そ
の位置の目盛を読めばインキ膜厚を知ることがで
きるものである。
側のつまみ１１，１１を指で支えて本体１０の周
面をインキローラに当接せしめるとともに回転さ
せ、これにより、インキ膜厚に相当する部分ま
で、中央の凸部１３にインキが付着するので、そ
の位置の目盛を読めばインキ膜厚を知ることがで
きるものである。
しかしながら、このような従来知られているイ
ンキ膜厚測定装置であれば、中央の凸部１３を真
円である両側の凸部１２，１２に対して精度良く
偏心させうる必要があり、製作加工が非常に困難
である問題点があつた。
ンキ膜厚測定装置であれば、中央の凸部１３を真
円である両側の凸部１２，１２に対して精度良く
偏心させうる必要があり、製作加工が非常に困難
である問題点があつた。
この考案は上記従来技術に鑑みなされたもので
あり、インキ膜厚測定が容易に行なえ、かつ製造
が容易なインキ膜厚測定装置を提供することにあ
る。
あり、インキ膜厚測定が容易に行なえ、かつ製造
が容易なインキ膜厚測定装置を提供することにあ
る。
上記目的を達成すべくなされたこの考案は、印
刷機のインキローラ表面のインキ膜厚を測定する
装置であつて、前記インキローラ表面に当接する
円筒１を備え、円筒の表面に周方向に延在する溝
５を複数本設け、それぞれの溝の深さは各溝毎に
一定の深さを有し、かつ、各溝間の深さは異なつ
ているものであるインキ膜厚測定装置である。
刷機のインキローラ表面のインキ膜厚を測定する
装置であつて、前記インキローラ表面に当接する
円筒１を備え、円筒の表面に周方向に延在する溝
５を複数本設け、それぞれの溝の深さは各溝毎に
一定の深さを有し、かつ、各溝間の深さは異なつ
ているものであるインキ膜厚測定装置である。
以下にこの考案の一実施例を第１図及び第２図
に基づき詳細に説明する。
に基づき詳細に説明する。
第１図はこの考案のインキ膜厚測定装置の平面
図であり、第２図はその使用方法の説明図であ
る。
図であり、第２図はその使用方法の説明図であ
る。
第１図に示されるように、円筒１の表面に周方
向に延在する複数本の溝５1，５2，…，５o-1，
５ｎを設ける。この複数本の溝５1，５2，…，５
ｏ−１，５ｎは互いに円筒周面からの深さが異なつ
ており、例えば溝を８本設けるとすれば、その深
さを各々5μm，10μm，15μm，20μm，25μm，
30μm，40μm，50μmの如く設定する。
向に延在する複数本の溝５1，５2，…，５o-1，
５ｎを設ける。この複数本の溝５1，５2，…，５
ｏ−１，５ｎは互いに円筒周面からの深さが異なつ
ており、例えば溝を８本設けるとすれば、その深
さを各々5μm，10μm，15μm，20μm，25μm，
30μm，40μm，50μmの如く設定する。
このような溝の本数及び深さは、任意に設定す
ることができ、測定範囲を広げたい場合は溝の本
数を多くとり、種々の深さを設定すれば良く、ま
た、測定精度を上げたい場合は溝の深さのピツチ
を細かく設定すれば良い。
ることができ、測定範囲を広げたい場合は溝の本
数を多くとり、種々の深さを設定すれば良く、ま
た、測定精度を上げたい場合は溝の深さのピツチ
を細かく設定すれば良い。
上記の如くの複数本の溝が形成された円筒１
は、その中心軸を中心に回転するように治具２に
取り付けられ、さらに握り部となる柄３が治具２
に取りつけられている。
は、その中心軸を中心に回転するように治具２に
取り付けられ、さらに握り部となる柄３が治具２
に取りつけられている。
この考案のインキ膜厚測定装置は上述の如くの
構成を有するものであり、次にその作用を説明す
る。
構成を有するものであり、次にその作用を説明す
る。
第２図に示されるように、印刷機のインキが塗
着したインキローラ３１の表面にインキ膜厚測定
装置の円筒１の表面を当接せしめ、回転させる。
着したインキローラ３１の表面にインキ膜厚測定
装置の円筒１の表面を当接せしめ、回転させる。
これにより、ローラ３１上のインキ膜厚よりも
浅い溝にはその底面にインキが付着し、深い溝に
はその底にまでインキが達しないので色がつかな
い。
浅い溝にはその底面にインキが付着し、深い溝に
はその底にまでインキが達しないので色がつかな
い。
従つて、底面にインキが付着した溝のうち最も
深い溝の深さがインキ膜厚であるとみなすことが
でき、各々の溝の深さの値は予めわかつているの
でその溝の深さの値を読めばインキ膜厚を知るこ
とができる。
深い溝の深さがインキ膜厚であるとみなすことが
でき、各々の溝の深さの値は予めわかつているの
でその溝の深さの値を読めばインキ膜厚を知るこ
とができる。
この考案は以上に述べた如くであり、インキ膜
厚測定後の読みとりが、インキが埋まつているか
いないかだけの判断で良いため極めて容易に行な
うことができ、また測定範囲及び測定精度も溝の
本数、深さを変えることで種々設定でき、さらに
従来技術に比べて製作加工技術が容易である等の
優れた効果を奏するものである。
厚測定後の読みとりが、インキが埋まつているか
いないかだけの判断で良いため極めて容易に行な
うことができ、また測定範囲及び測定精度も溝の
本数、深さを変えることで種々設定でき、さらに
従来技術に比べて製作加工技術が容易である等の
優れた効果を奏するものである。
第１図はこの考案のインキ膜厚測定装置の平面
図、第２図は同じく使用方法の説明図、第３図及
び第４図は従来のインキ膜厚測定装置の説明図で
ある。 １……円筒、２……治具、５1，５2，５3，…
５o-1，５ｎ……溝。
図、第２図は同じく使用方法の説明図、第３図及
び第４図は従来のインキ膜厚測定装置の説明図で
ある。 １……円筒、２……治具、５1，５2，５3，…
５o-1，５ｎ……溝。
Claims (1)
- 印刷機のインキローラ表面のインキ膜厚を測定
する装置において、前記インキローラ表面に当接
する円筒１を備え、円筒の表面に周方向に延在す
る溝５を複数本設け、それぞれの溝の深さは各溝
毎に一定の深さを有し、かつ、各溝間の深さは異
なつていることを特徴とするインキ膜厚測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13177384U JPS6146404U (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | インキ膜厚測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13177384U JPS6146404U (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | インキ膜厚測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6146404U JPS6146404U (ja) | 1986-03-28 |
| JPH0345122Y2 true JPH0345122Y2 (ja) | 1991-09-24 |
Family
ID=30690347
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13177384U Granted JPS6146404U (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | インキ膜厚測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6146404U (ja) |
-
1984
- 1984-08-30 JP JP13177384U patent/JPS6146404U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6146404U (ja) | 1986-03-28 |
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