JPH0335501A - Ptcサーミスタの製造方法 - Google Patents
Ptcサーミスタの製造方法Info
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- JPH0335501A JPH0335501A JP17083889A JP17083889A JPH0335501A JP H0335501 A JPH0335501 A JP H0335501A JP 17083889 A JP17083889 A JP 17083889A JP 17083889 A JP17083889 A JP 17083889A JP H0335501 A JPH0335501 A JP H0335501A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は、PTCサーミスタの改善された製造方法に係
り、特にカラーTV消磁用素子の如く、頻繁にスイッチ
ングされるPTCサーよスタにおいて、その耐久性を向
上する製造方法に関するものである。
り、特にカラーTV消磁用素子の如く、頻繁にスイッチ
ングされるPTCサーよスタにおいて、その耐久性を向
上する製造方法に関するものである。
(背景技術)
従来から、BaTi0.磁器を与える原料に、S r
T i Osの如きキュリー点を変化させるシフターを
添加し、またその原子価を制御する異種原子(例えば、
La、Bi、Sb、Ta、Nb等)を半導体化酸化物と
して微量配合して、坑底することにより得られるBaT
iO2系半導体磁器は、正の抵抗−温度特性を有し、所
謂PTCサーミスタとして、広く用いられてきている。
T i Osの如きキュリー点を変化させるシフターを
添加し、またその原子価を制御する異種原子(例えば、
La、Bi、Sb、Ta、Nb等)を半導体化酸化物と
して微量配合して、坑底することにより得られるBaT
iO2系半導体磁器は、正の抵抗−温度特性を有し、所
謂PTCサーミスタとして、広く用いられてきている。
而して、カラーTV消磁用素子の如く、頻繁にスイッチ
ングされるPTCサーξスタにあっては、そのスイッチ
ングに伴なう温度上昇による熱サイクル疲労や、また大
電流スイッチングによる材料の変質、劣化等が問題とな
っている。
ングされるPTCサーξスタにあっては、そのスイッチ
ングに伴なう温度上昇による熱サイクル疲労や、また大
電流スイッチングによる材料の変質、劣化等が問題とな
っている。
(解決課題)
本発明は、かかる事情を背景にして為されたものであっ
て、その課題とするところは、熱サイクル疲労や耐熱衝
撃性の改善された、耐久性に優れたPTCサーミスタを
製造することにある。
て、その課題とするところは、熱サイクル疲労や耐熱衝
撃性の改善された、耐久性に優れたPTCサーミスタを
製造することにある。
(解決手段)
そして、本発明は、かかる課題解決のために、式: B
a I−x−yS r XT I +−yO3−y
(但し、χ=O〜0.4.y=o、005〜0.05
)にて示されるB a T i Oz系磁器組成に所
定の半導体化酸化物を配合してなる組成の仮焼粉に対し
て、CaTi01がyモル、Sin、が0.005〜0
.04モル、TiO2が0.001〜0.02モル、M
nOが0.0003〜o、 o o o sモルの割合
となるように、それぞれの原料を添加して混合せしめた
後、所望の形状に成形し、更に焼成して、相対密度が8
0〜90%の焼成体を得ることを特徴とするPTCサー
ミスタの製造方法を、その要旨とするものである。
a I−x−yS r XT I +−yO3−y
(但し、χ=O〜0.4.y=o、005〜0.05
)にて示されるB a T i Oz系磁器組成に所
定の半導体化酸化物を配合してなる組成の仮焼粉に対し
て、CaTi01がyモル、Sin、が0.005〜0
.04モル、TiO2が0.001〜0.02モル、M
nOが0.0003〜o、 o o o sモルの割合
となるように、それぞれの原料を添加して混合せしめた
後、所望の形状に成形し、更に焼成して、相対密度が8
0〜90%の焼成体を得ることを特徴とするPTCサー
ミスタの製造方法を、その要旨とするものである。
(作用)
要するに、このような本発明は、熱サイクル特性に関し
て、それにはスイッチングした場合の温度上昇が低いこ
と望まれるところから、各種の添加物について種々検討
した結果、BaTi0.の一部をCa T i O:l
で置換することにより、そのような置換を行なわないも
のに比べて、スイッチング時の平衡温度を約25°Cも
低下させ得ることを見い出したことに基づいて、完成さ
れたものである。
て、それにはスイッチングした場合の温度上昇が低いこ
と望まれるところから、各種の添加物について種々検討
した結果、BaTi0.の一部をCa T i O:l
で置換することにより、そのような置換を行なわないも
のに比べて、スイッチング時の平衡温度を約25°Cも
低下させ得ることを見い出したことに基づいて、完成さ
れたものである。
そしてまた、耐熱衝撃特性の改善に関しては、開式にて
示されるBaTi0i系磁器組成を与えるBaC0,,
5rCO,、TiO2の如き原料と、sb、o、等の所
定の半導体化酸化物とを混合し、仮焼したものに、Ca
Ti0.、S io□。
示されるBaTi0i系磁器組成を与えるBaC0,,
5rCO,、TiO2の如き原料と、sb、o、等の所
定の半導体化酸化物とを混合し、仮焼したものに、Ca
Ti0.、S io□。
Tie2.MnOを与える原料を必要量添加して、常法
に従って混合、成形、坑底することにより、相対密度が
80〜90%と低下し、耐熱衝撃性が改善された焼成体
(半導体磁器)が得られることを見い出し、本発明に到
達したのである。
に従って混合、成形、坑底することにより、相対密度が
80〜90%と低下し、耐熱衝撃性が改善された焼成体
(半導体磁器)が得られることを見い出し、本発明に到
達したのである。
(具体的構成)
ところで、かくの如き本発明において、開式にて示され
るBaTiO3系磁器組成は、従来と同様の原料を用い
て形成され、例えばBaC0=。
るBaTiO3系磁器組成は、従来と同様の原料を用い
て形成され、例えばBaC0=。
5rCO,及びTie、の必要量を混合して仮焼するこ
とにより、形成することが出来る。なお、Sr戒成分、
よく知られているように、(Ba。
とにより、形成することが出来る。なお、Sr戒成分、
よく知られているように、(Ba。
5r)Tie、の複合酸化物の形態を採るものであって
、その添加によってBaTi0.のキュリー温度を低温
側に移行させるシフターとして機能するものであり、例
えば、カラーTV消磁用素子においては、スイッチング
温度を変化させるパラメーターであって、その量、即ち
χの値によって、目的とするスイッチング温度に設定す
ることが出来る。そして、このχの値が0.01で、約
−3,5°C変動するものであるところから、目的とす
るPTCサーミスタを常温で用いるには、χの値を0.
4以下とする必要があるのである。
、その添加によってBaTi0.のキュリー温度を低温
側に移行させるシフターとして機能するものであり、例
えば、カラーTV消磁用素子においては、スイッチング
温度を変化させるパラメーターであって、その量、即ち
χの値によって、目的とするスイッチング温度に設定す
ることが出来る。そして、このχの値が0.01で、約
−3,5°C変動するものであるところから、目的とす
るPTCサーミスタを常温で用いるには、χの値を0.
4以下とする必要があるのである。
また、かかるBaTiO3系磁器組成を示す前記式中の
yは、後述するCaTi0+で置換されるBaTi0.
量を示すものであって、そのようなりaTiOs磁器組
戒にC組成iOsを加えた合計量が1モルとなるように
、それぞれの添加量が調整されるのである。
yは、後述するCaTi0+で置換されるBaTi0.
量を示すものであって、そのようなりaTiOs磁器組
戒にC組成iOsを加えた合計量が1モルとなるように
、それぞれの添加量が調整されるのである。
さらに、かかるBaTi0.系磁器組戊を与える原料に
は、従来と同様な半導体化のための原子、例えばBi、
Sb、Nb、Ta、La、Dy、Y。
は、従来と同様な半導体化のための原子、例えばBi、
Sb、Nb、Ta、La、Dy、Y。
その他の希土類元素等が酸化物の形態において、換言す
れば半導体酸化物として、従来と同様な割合において配
合され、仮焼せしめられて、仮焼粉とされることとなる
。
れば半導体酸化物として、従来と同様な割合において配
合され、仮焼せしめられて、仮焼粉とされることとなる
。
本発明は、このような仮焼粉に対して、CaTi01が
yモル、5totがO,OO5〜0.04モル、Tie
、が0.001〜0.02モル、MnOが0、0003
〜0.0008モルの割合となるように、それぞれの原
料が添加され、混合せしめられるのである。
yモル、5totがO,OO5〜0.04モル、Tie
、が0.001〜0.02モル、MnOが0、0003
〜0.0008モルの割合となるように、それぞれの原
料が添加され、混合せしめられるのである。
なお、それぞれの成分は、そのままの形態において添加
配合せしめられる他、よく知られているように、焼成に
よって分解し、目的とする成分を与える化合物を原料と
して用いることも可能であり、例えばCa T i O
zにあっては、Ca COzとTie、を、CaTi0
コとしてyモルとなるように組み合わせて用いることが
出来、またMnOにあっては、それを均一に混合せしめ
ることが望ましいところから、溶液形態と為し得るMn
O生戒生金化合物適に選択され、特に水溶液の形態で用
い得るMn (NO:+)zが有利に用いられることと
なる。
配合せしめられる他、よく知られているように、焼成に
よって分解し、目的とする成分を与える化合物を原料と
して用いることも可能であり、例えばCa T i O
zにあっては、Ca COzとTie、を、CaTi0
コとしてyモルとなるように組み合わせて用いることが
出来、またMnOにあっては、それを均一に混合せしめ
ることが望ましいところから、溶液形態と為し得るMn
O生戒生金化合物適に選択され、特に水溶液の形態で用
い得るMn (NO:+)zが有利に用いられることと
なる。
ところで、仮焼粉に対するC a T i Oxの添加
量(y)が0.005モルよりも少なくなると、このC
a T i O3によるBaTi0.の置換効果が少な
く、従ってスイッチング時における温度上昇を充分に抑
制し得なくなるのであり、一方0.05モルを越えるよ
うになると、第二相が析出して、PTCサー稟スタの特
性を劣化させる問題を発生する。従って、本発明にあっ
ては、CaTiO2はO,OO5〜0.05モルの範囲
内において添加せしめる必要があるが、特にそのような
範囲内での添加により、また、得られる焼成体(PTC
サー5スタ)の有効な密度低下効果も享受し得るのであ
る。
量(y)が0.005モルよりも少なくなると、このC
a T i O3によるBaTi0.の置換効果が少な
く、従ってスイッチング時における温度上昇を充分に抑
制し得なくなるのであり、一方0.05モルを越えるよ
うになると、第二相が析出して、PTCサー稟スタの特
性を劣化させる問題を発生する。従って、本発明にあっ
ては、CaTiO2はO,OO5〜0.05モルの範囲
内において添加せしめる必要があるが、特にそのような
範囲内での添加により、また、得られる焼成体(PTC
サー5スタ)の有効な密度低下効果も享受し得るのであ
る。
また、Sin、の添加量に関して、0. OO5モルよ
りも少ないと充分な耐圧特性が得られず、−方0.04
モルを越えて添加しても、大きな特性の改善は認められ
ないところから1、かかるSin。
りも少ないと充分な耐圧特性が得られず、−方0.04
モルを越えて添加しても、大きな特性の改善は認められ
ないところから1、かかるSin。
の添加量は0.0 O5〜0.04モルの範囲内とすべ
きである。
きである。
さらに、Tie、を0.001モル以上添加することに
より、有効な耐圧特性の向上が認められるが、その添加
量が0.02モルを越えるようになると、PTC特性が
劣化するようになるところから、その添加量は0.00
1〜0.02モルとすべきであり、更にまたMnOの添
加量が0.0003モル未満では、良好なPTC特性を
得ることが出来ず、またその添加量がo、 o o o
sモルを越えるようになると、常温抵抗値が著しく上
昇するところから、かかるMnOは0. OOO3〜o
、 o o o sモルの範囲内において添加せしめる
必要がある。
より、有効な耐圧特性の向上が認められるが、その添加
量が0.02モルを越えるようになると、PTC特性が
劣化するようになるところから、その添加量は0.00
1〜0.02モルとすべきであり、更にまたMnOの添
加量が0.0003モル未満では、良好なPTC特性を
得ることが出来ず、またその添加量がo、 o o o
sモルを越えるようになると、常温抵抗値が著しく上
昇するところから、かかるMnOは0. OOO3〜o
、 o o o sモルの範囲内において添加せしめる
必要がある。
そして、このように、CaTi0t 、S iO,。
TiO2及びMnOの各成分を与える原料が所定割合に
て前記の仮焼粉にそれぞれ添加混合せしめられ、更に必
要に応じて従来と同様な添加剤、例えばバインダ、潤滑
剤、離型剤等が添加された後、従来と同様にして、所望
の形状に成形され、そして焼成操作が施され、以て相対
密度が80〜90%の焼成体(PTCサーミスタ)とさ
れるのである。なお、得られる焼成体の相対密度が80
%よりも低いと、初期抵抗が上昇し、また吸湿性が高く
なり、抵抗が変化する等の問題を惹起するのであり、ま
た相対密度が90%を越えると、耐熱衝撃性が充分でな
く、PTCサーξスタの繰り返し使用によって割れ易く
、その耐久性が充分と言えなくなる。
て前記の仮焼粉にそれぞれ添加混合せしめられ、更に必
要に応じて従来と同様な添加剤、例えばバインダ、潤滑
剤、離型剤等が添加された後、従来と同様にして、所望
の形状に成形され、そして焼成操作が施され、以て相対
密度が80〜90%の焼成体(PTCサーミスタ)とさ
れるのである。なお、得られる焼成体の相対密度が80
%よりも低いと、初期抵抗が上昇し、また吸湿性が高く
なり、抵抗が変化する等の問題を惹起するのであり、ま
た相対密度が90%を越えると、耐熱衝撃性が充分でな
く、PTCサーξスタの繰り返し使用によって割れ易く
、その耐久性が充分と言えなくなる。
(実施例)
以下に、本発明の幾つかの実施例を示し、本発明を更に
具体的に明らかにすることとするが、本発明が、そのよ
うな実施例の記載によって、何等の制約をも受けるもの
でないことは、言うまでもないところである。
具体的に明らかにすることとするが、本発明が、そのよ
うな実施例の記載によって、何等の制約をも受けるもの
でないことは、言うまでもないところである。
また、本発明には、以下の実施例の他にも、更には上記
の具体的記述以外にも、本発明の趣旨を逸脱しない限り
において、当業者の知識に基づいて種々なる変更、修正
、改良等を加え得るものであることが、理解されるべき
である。
の具体的記述以外にも、本発明の趣旨を逸脱しない限り
において、当業者の知識に基づいて種々なる変更、修正
、改良等を加え得るものであることが、理解されるべき
である。
先ず、下記第1表に示されるような仮焼粉組成となるよ
うに、BaCO2の0.67〜0.77モル、S r
Co、の0.23モル、Tietの0.9〜1モルを配
合すると共に、更にo、ootモルの5b20、を配合
せしめて、湿式混合手法にて均一な原料混合物を調製し
た後、1150°Cで2.5時間仮焼し、粉砕して、仮
焼粉を得た。
うに、BaCO2の0.67〜0.77モル、S r
Co、の0.23モル、Tietの0.9〜1モルを配
合すると共に、更にo、ootモルの5b20、を配合
せしめて、湿式混合手法にて均一な原料混合物を調製し
た後、1150°Cで2.5時間仮焼し、粉砕して、仮
焼粉を得た。
次いで、かかる仮焼粉に対して、下記第1表に示される
如き割合において、CaTi0.、TiOH、S i
02及びMn (NO3)zを添加して湿式混合せしめ
、得られた混合スラリーに、通常のバインダ、潤滑剤及
び離型剤を添加した後、スプレードライヤーにより約0
.1 mの径に造粒した。
如き割合において、CaTi0.、TiOH、S i
02及びMn (NO3)zを添加して湿式混合せしめ
、得られた混合スラリーに、通常のバインダ、潤滑剤及
び離型剤を添加した後、スプレードライヤーにより約0
.1 mの径に造粒した。
そして、この造粒粉を1トン/ clの圧力にて、厚さ
が3.2 m、直径が19nmの円板をプレス成形した
後、かかる円板を大気中において1350°Cの温度で
2.5時間焼成した。
が3.2 m、直径が19nmの円板をプレス成形した
後、かかる円板を大気中において1350°Cの温度で
2.5時間焼成した。
また、比較のために、上記の如き仮焼粉への添加に代え
て、そのような仮焼粉を与える原料混合物(B a C
Oz =0.745モル、5rCO,=0.23モル、
TiO□=0.975モル)に、直接に、所定量のCa
TiO3,TiO2,SiO。
て、そのような仮焼粉を与える原料混合物(B a C
Oz =0.745モル、5rCO,=0.23モル、
TiO□=0.975モル)に、直接に、所定量のCa
TiO3,TiO2,SiO。
及びM n (N 0z)zを配合せしめて(−括混合
方式)、上記と同様にして仮焼、成形、焼成して、B
a T i Os系半導体磁器円板を作成した。
方式)、上記と同様にして仮焼、成形、焼成して、B
a T i Os系半導体磁器円板を作成した。
かくして得られた各種の焼成円板について、それぞれの
相対密度を測定すると共に、それぞれの電気特性を測定
し、それらの結果を、下記第1表に併わせ示した。なお
、電気的特性の評価に際しては、それぞれの焼成円板に
オーミック銀及び半田付は用の銀のペーストを塗布、焼
付し、更にリード線を半田付(すした後、樹脂モールド
したものを用いた。
相対密度を測定すると共に、それぞれの電気特性を測定
し、それらの結果を、下記第1表に併わせ示した。なお
、電気的特性の評価に際しては、それぞれの焼成円板に
オーミック銀及び半田付は用の銀のペーストを塗布、焼
付し、更にリード線を半田付(すした後、樹脂モールド
したものを用いた。
下記第1表中の平衡温度上昇とは、AC100■印加時
の素子表面の温度上昇であり、また耐熱衝撃性は、それ
ぞれの素子に対して、135VX1分→冷却5分のサイ
クルを1万回繰り返した結果を示すものであって、表中
の記号に関し、×:クランク発生20%以上、Δ:クラ
ック発生20%未満、○:クラック発生なし、を示し、
更に抵抗変化率は、常温の抵抗値について、各赤子の初
期抵抗に対する前記耐熱衝撃性評価後の素、Zの抵抗値
(クラック発生のないものについての平均値)の上昇割
合を示すものである。
の素子表面の温度上昇であり、また耐熱衝撃性は、それ
ぞれの素子に対して、135VX1分→冷却5分のサイ
クルを1万回繰り返した結果を示すものであって、表中
の記号に関し、×:クランク発生20%以上、Δ:クラ
ック発生20%未満、○:クラック発生なし、を示し、
更に抵抗変化率は、常温の抵抗値について、各赤子の初
期抵抗に対する前記耐熱衝撃性評価後の素、Zの抵抗値
(クラック発生のないものについての平均値)の上昇割
合を示すものである。
\
\
\
かかる第1表の結果から明らかなように、本発明に従っ
て、仮焼粉に対して、特定量のCaTi0.、’Ti○
z、5tot及びpA n (N 03)zを添加して
、焼成することにより、得られたPTCサー暑スタ(焼
成体)にあっては、抵抗温度の上昇が低く、しかも耐熱
衝撃性に著しく優れていることが認められ、また常温の
抵抗値についての抵抗変化率も低く、PTC特性の耐久
性において優れているのである。
て、仮焼粉に対して、特定量のCaTi0.、’Ti○
z、5tot及びpA n (N 03)zを添加して
、焼成することにより、得られたPTCサー暑スタ(焼
成体)にあっては、抵抗温度の上昇が低く、しかも耐熱
衝撃性に著しく優れていることが認められ、また常温の
抵抗値についての抵抗変化率も低く、PTC特性の耐久
性において優れているのである。
(発明の効果)
以上の説明から明らかなように、本発明に従うPTCサ
ーξスクの製造方法によれば、得られるP i’ Cサ
ーミスタの熱サイクル疲労や耐熱衝撃PLが改善され、
以てその耐久性が効果的に高められ得、そこに本発明の
大きな工業的意義が存するものである。
ーξスクの製造方法によれば、得られるP i’ Cサ
ーミスタの熱サイクル疲労や耐熱衝撃PLが改善され、
以てその耐久性が効果的に高められ得、そこに本発明の
大きな工業的意義が存するものである。
Claims (1)
- 式:Ba_1_−_x_−_ySr_xTi_1_−
_yO_3_−_y(但し、x=0〜0.4,y=0.
005〜0.05)にて示されるBaTiO_3系磁器
組成に所定の半導体化酸化物を配合してなる組成の仮焼
粉に対して、CaTiO_3がyモル、SiO_2が0
.005〜0.04モル、TiO_2が0.001〜0
.02モル、MnOが0.0003〜0.0008モル
の割合となるように、それぞれの原料を添加して混合せ
しめた後、所望の形状に成形し、更に焼成して、相対密
度が80〜90%の焼成体を得ることを特徴とするPT
Cサーミスタの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17083889A JPH0335501A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | Ptcサーミスタの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17083889A JPH0335501A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | Ptcサーミスタの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0335501A true JPH0335501A (ja) | 1991-02-15 |
Family
ID=15912267
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17083889A Pending JPH0335501A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | Ptcサーミスタの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0335501A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6984355B2 (en) * | 1999-11-02 | 2006-01-10 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Semiconducting ceramic material, process for producing the ceramic material, and thermistor |
DE112004000186B4 (de) * | 2003-02-21 | 2009-10-15 | Murata Mfg. Co., Ltd., Nagaokakyo-shi | Mehrschicht-Keramik-Elektronikkomponenten und Verfahren zur Herstellung derselben |
-
1989
- 1989-06-30 JP JP17083889A patent/JPH0335501A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6984355B2 (en) * | 1999-11-02 | 2006-01-10 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Semiconducting ceramic material, process for producing the ceramic material, and thermistor |
DE10053768B4 (de) * | 1999-11-02 | 2009-04-23 | Murata Mfg. Co., Ltd., Nagaokakyo-shi | Laminierter PTC-Thermistor und Verfahren zu seiner Herstellung |
DE112004000186B4 (de) * | 2003-02-21 | 2009-10-15 | Murata Mfg. Co., Ltd., Nagaokakyo-shi | Mehrschicht-Keramik-Elektronikkomponenten und Verfahren zur Herstellung derselben |
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