JPH033399A - 電子部品の実装位置の検出方法 - Google Patents

電子部品の実装位置の検出方法

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JPH033399A
JPH033399A JP1138448A JP13844889A JPH033399A JP H033399 A JPH033399 A JP H033399A JP 1138448 A JP1138448 A JP 1138448A JP 13844889 A JP13844889 A JP 13844889A JP H033399 A JPH033399 A JP H033399A
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JP
Japan
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reference point
point
mounting position
master
master reference
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Pending
Application number
JP1138448A
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English (en)
Inventor
Toshiaki Nakajima
俊明 中島
Toru Akasaka
赤阪 徹
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は電子部品の実装位置の検出方法に関し、基板の
伸縮や撓みによる誤差を補正して、電子部品の正確な実
装位置を求めるための方法に関する。
(従来の技術) ICチップ、LSIチップ等の電子部品を基板に実装す
るにあたっては、基板をXY子テーブル上クランプ部材
により位置決めし、基板に形成された回路パターンの位
置ずれが検出される。
第3図はその従来手段を示すものであって、100は基
板、101はクランプ部材、A、  Bは基板100の
対角線上に形成された位置ずれ検出用の第1及び第2の
基準点、AO,BOはコンピュータ等の制御装置に記憶
された第1及び第2のマスター基準点、0は基準座標の
原点である。マスター基準点AO,BOの座標位置(x
ol、yoi:+ 、  (x02.y02)は既知で
ある。
次に操作手順を説明すると、まずマスター基準点AO付
近をカメラにより観察することにより、基準点Aの座標
位置x1.ylを検出し、これから基板100のXY力
方向位置ずれΔX。
△yを算出する。次いでマスター基準点BO付近を観察
することにより、基準点Bの座標位置(x 2.  y
 2)を検出するとともに、マスター基準点AO,BO
を結ぶ線aに対する基準点A。
Bを結ぶ線すの回転方向の位置ずれ△θを算出する。
このようにして基板100のXY力方向び回転方向の位
置ずれ△X、△y、△θを検出したならば、続いて実装
装置により、電子部品を基+i i o oに実装する
。その場合、XY力方向位置ずれ△X、△yは、電子部
品を吸着して基板100に移送搭載するノズルのXY方
向ストロークを、加減したり、あるいは基板100を位
置決めするXY子テーブルXY大ストローク加減するこ
とにより補正する。また回転方向の位置ずれ八〇は、ノ
ズルをその軸心を中心に回転させることにより補正する
(発明が解決しようとする課題) ところで近年、基板が大形化するにともない、温度変化
、あるいは基板生成過程等による基板の伸縮や撓みに基
づく基板の寸法誤差が無視できなくなってきている。と
ころが上記従来手段はクランプ部材101に位置決めさ
れた基板100の位置ずれの検出と補正は行っているが
、基板100自体の寸法誤差は考慮していないため、殊
に大きな寸法誤差を生じやすい大形の基板の場合、電子
部品の実装精度があがらない問題があった。
したがって本発明は、基板の伸縮や撓みによる寸法誤差
を検出して、電子部品の正確な実装位置を検出できる手
段を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段) このために本発明は、第1のマスター基準点と、第2の
マスター基準点と、電子部品の実装予定位置を設定し、
基板に設けられた第1及び第2の基準点のうちの一方の
基準点をカメラにより観察して、この基準点の位置を検
出し、次いで上記一方のマスター基準点をXY力方向平
行移動させて、このマスター基準点を上記一方の基準点
に一致させるとともに、基板に設けられた他方の基準点
をカメラにより観察して、この基準点の位置を検出し、
次いで第1の基準点と第2の基準点を結ぶ線の上記第1
のマスター基準点と第2のマスター基準点を結ぶ線に対
する回転方向の位置ずれを求め、次いで上記第1及び第
2のマスター基準点と実装予定位置を結ぶ仮想三角形を
、上記のようにして一致させた基準点を中心に回転させ
て、他方のマスター基準点を上記第1の基準点と第2の
基準点を結ぶ線上に移動させ、次いでこのマスター基準
点が他方の基準点に合致するよう上記仮想三角形を拡大
若しくは縮小し、この拡大縮小により、上記実装予定位
置が移動した位置を、電子部品の実装位置とするように
したものである。
(作用) 上記構成において、一方のマスター基準点を基板の一方
の基準点に一致させ、次いで一致させた基準点を中心に
仮想三角形を回転させて、他方のマスター基準点を基板
の2つの基準点を結ぶ線上に移動させる。次いで他方の
マスター基準点が他方の基準点に一致するように仮想三
角形を拡縮させることにより、電子部品の正確な実装位
置を求める。
(実施例) 次に、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図は基板の観察装置を示すものであって、1は基板
であり、XY子テーブル、3上のクランプ部材4.4に
挟み付けられて位置決めされている。MX、MYはXY
子テーブル、3の駆動用モータである。基板1には回路
パターン5が印刷されており、またその対角線上には、
位置ずれ検出用の第1の基準点Aと、第2の基準点Bが
、印刷手段により形成されている。6は基板1の上方に
設けられたカメラ、7はコンピュータのような制御装置
である。
第2図(a)、  (b)は、上記観察装置により、電
子部品の正確な実装位置を求めるための操作手順をあら
れす平面図であって、次にこの図を参照しながら、操作
手順の説明を行う。
同図(a)において、AOl、BOIは上記制御装置7
に記憶された第1及び第2のマスター基準点、Molは
電子部品の実装予定位置であり、各座標位置(XOI、
yol)、  (x。
2、y02)、  (xml、yml) 、基準点A0
1、BOIを結ぶ線aの長さLOl及びその傾斜角θ0
は既知である。
まずカメラ6により一方のマスター基準点A01付近を
観察することにより、一方の基準点への座標位置(x 
1.  y 1)と、基板1のXY力方向位置ずれ△X
、△yを検出する。次いでXY子テーブル、3を移動さ
せて、カメラ6により他方のマスター基準点BOI付近
を観察し、他方の基準点Bの座標位置(x 2.  y
 2)を検出する。図示するように、温度変化等に基づ
く基板1の伸縮や撓み等の為に、基準点Bはマスター基
準点BOIからかなり位置ずれしている。
このように画点A、Bの座標位置を検出したならば、そ
の結果から、基準点A、 Bを結ぶ線すの長さしと、そ
の傾斜角θを算出し、更に線すのVAaに対する回転方
向の位置ずれ△θを算出する。次に、マスターの各点A
O1,BOI。
Molを結ぶ仮想三角形をXY力方向△X、△y移動さ
せることにより、一方のマスター基準点AOIを一方の
基準点Aに一致させる(同図鎖線参照)。AO2,BO
2,Mo2は移動した新たな各点である。
次に同図(b)に示すように、上記のようにして一致さ
せたマスター基準点AO2を中心にして、仮想三角形を
矢印(イ)方向に回転させて、他方のマスター基準点B
O2を基準点A。
Bを結ぶ線す上に移動させる。AO3,BO3゜Mo3
は、上記回転による新たな点である。次に、マスター基
準点BO3が基準点Bに一致するように、仮想三角形を
拡大する。AO4,BO4、Mo2は拡大させたことに
よる新たな点である。すると、実装予定位置はMo3か
らMo2へ移動し、この位置MO4が、電子部品の正確
な実装位置である。以上のように本手段によれば、電子
部品の正確な実装装置MO4を簡単に求めることができ
る。
上記実施例においては、長さLOは長さしよりも短く、
マスター基準点BO3は基準点Bの手前側であるため、
仮想三角形を拡大して、マスター基準点BO3を基準点
已に一致させたものであるが、長さLOが長さしよりも
長く、マスター基準点BO3が基準点Bの外方に位置す
るときは、仮想三角形を縮小させて、マスター基準点B
O3を基準点Bに一致させる。また上記実施例は、第1
のマスター基準点AOIを第1の基準点Aに一致させて
、回転操作や拡大操作を行ったが、第2のマスター基準
点BOIを第2の基準点Bに一致させて、回転操作や拡
縮操作を行ってもよいものである。
(発明の効果) 以上説明したように本発明によれば、簡単な操作手順に
より、基板の伸縮や撓み等に基づく誤差を補正して、正
確な電子部品の実装位置を求めることができるものであ
り、殊に大きな寸法誤差を生じやすい大形の基板に電子
部品を実装する場合にきわめて有用である。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例を示すものであって、第1図は基板
の観察装置の斜視図、第2図(a)。 (b)は操作手順をあられす平面図、第3図は従来手段
の操作中の平面図である。 1 ・ ・ ・ 基早反 6・・・カメラ A、B・・・基板の基準点 AO,BO・・・マスター基準点 MO・・・実装予定位置 ・マスター基準点を結ぶ線 ・基準点を結ぶ線 b ・ ・

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  第1のマスター基準点と、第2のマスター基準点と、
    電子部品の実装予定位置を設定し、基板に設けられた第
    1及び第2の基準点のうちの一方の基準点をカメラによ
    り観察して、この基準点の位置を検出し、次いで上記一
    方のマスター基準点をXY方向に平行移動させて、この
    マスター基準点を上記一方の基準点に一致させるととも
    に、基板に設けられた他方の基準点をカメラにより観察
    して、この基準点の位置を検出し、次いで第1の基準点
    と第2の基準点を結ぶ線の上記第1のマスター基準点と
    第2のマスター基準点を結ぶ線に対する回転方向の位置
    ずれを求め、次いで上記第1及び第2のマスター基準点
    と実装予定位置を結ぶ仮想三角形を、上記のようにして
    一致させた基準点を中心に回転させて、他方のマスター
    基準点を上記第1の基準点と第2の基準点を結ぶ線上に
    移動させ、次いでこのマスター基準点が他方の基準点に
    合致するよう上記仮想三角形を拡大若しくは縮小し、こ
    の拡大縮小により、上記実装予定位置が移動した位置を
    、電子部品の実装位置とすることを特徴とする電子部品
    の実装位置の検出方法。
JP1138448A 1989-05-31 1989-05-31 電子部品の実装位置の検出方法 Pending JPH033399A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009070889A (ja) * 2007-09-11 2009-04-02 Juki Corp 部品搭載装置
JP2012103099A (ja) * 2010-11-10 2012-05-31 Yazaki Corp 部品位置計測方法

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